JPH0521486B2 - - Google Patents

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JPH0521486B2
JPH0521486B2 JP61208555A JP20855586A JPH0521486B2 JP H0521486 B2 JPH0521486 B2 JP H0521486B2 JP 61208555 A JP61208555 A JP 61208555A JP 20855586 A JP20855586 A JP 20855586A JP H0521486 B2 JPH0521486 B2 JP H0521486B2
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JP
Japan
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grating
light source
light
pitch
optical displacement
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Soji Ichikawa
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Mitutoyo Corp
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Priority to DE3727188A priority patent/DE3727188C2/de
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Description

【発明の詳細な説明】 【産業上の利用分野】
本発明は、光学式変位検出器に係り、特に、二
つの部材の相対位置を、光学的な格子の形成され
たメインスケールと対応する光学的な格子を形成
したインデツクススケールとの相対変位によつて
生ずる光電変換信号の変化から検出する光学式変
位検出器の改良に関するものである。
【従来の技術】
工作機械や測定機などの分野において、第8図
に示す如く、相対移動する部材の一方に第1の格
子16を設けたメインスケール14を固定し、他
方の部材に、第2の格子20を設けたインデツク
ススケール18、例えば光源10及びコリメータ
レンズ12から構成される照明手段及び例えば受
光素子22から構成される光電変換手段を有する
スライダを固定して、第1の格子16と第2の格
子20との相対移動によつて生ずる光量変化を光
電変換し、得られた信号を付属する計数回路で補
間及びパルス化して計数することにより変位量を
測定する光学式変位測定装置が普及している。 このような測定装置においては、例えばインデ
ツクススケール18に設けられた第2の格子22
は、第8図に示した如く、位相0°、90°、180°、
270°の区分けが施されており、プリアンプ24
A,24Bで差動増幅することによつて、メイン
スケール14のx方向への変位に対応して、ほぼ
Asinθ、Acosθで近似できる2相の検出信号が得
られるようにされている。 このような測定装置においては、加工技術の高
度化と共に、測定分解能をより細分化することが
要求されており、メインスケール14の第1の格
子16の格子ピツチPが小さくなりつつある。従
来、格子ピツチPは20μm程度であつたが、最近
は10μm以下の仕様が要求されている。 高分解能化に有利な検出器として、メインスケ
ールの第1の格子のピツチPに対して、得られる
検出信号のピツチtがP/2などPを細分化した
ものである、いわゆる光学的分割を行う検出器が
提案されている。 本出願人は先に、メインスケール上の第1の格
子のピツチP、インデツクススケール上の第2の
格子のピツチP/(2n)(nは2以上の整数)の
ときに、検出信号としてピツチP/(2n)の信
号が得られる検出器を提案している。 この場合、第1の格子は光透過又は反射部と遮
光部とは略1:1の設定であつたが、第1の格子
はピツチPの基本波成分の他にピツチP/nの高
調波成分を有しており、この高調波成分の影像と
第2の格子との重なり合いによつて検出信号が得
られたものと推定される。これは、波長をλとし
たとき格子間隔が主に(P/n)2/λの半整数倍
の所で良好な信号が得られていることからも裏付
けられている。 例えば第1の格子としてピツチがPで光透過又
は反射部と遮光部とが正確に1:1である格子
F1(x)を想定し、これをフーリエ解析すると、
定数を除いて次式のようになる。 F1(x)=1/2 +0.6sin(2πx/P) +0.2sin(3.2πx/P) +0.1sin(5.2πx/P) +… 従つて、F1(x)には、基本波の他に3次、5
次などの高調波が含まれていることがわかる。同
様に第1の格子として光透過又は反射部と遮光部
とが5:7と仮定してフーリエ解析すると、更に
2次、4次などの高調波も含まれることが導出さ
れる。 一般に第1の格子は、光透過又は反射部と遮光
部との比1:1を目標にして製作されるが、製造
技術的にばらつきが生じて1:1にはならないた
め、全ての次数の高調波成分が含まれていると考
えられ、上記検出器はこれらの高調波成分を利用
したものである。
【発明が解決しようとする問題点】
しかしながら、この検出器は照明光を良好な平
行光線とするための、高精度で焦点距離の長いコ
リメータレンズが必要である。従つて検出器が大
型化するという問題点がある。 更に光学的分割の増大と共にインデツクススケ
ール上の第2の格子のピツチを細分化する必要が
ある。インデツクススケールはメインスケールと
は異なり、数mmもあれば充分であるため本質的な
障害ではないが、ピツチの細分化に伴い歩留りが
悪化するという問題点は残る。
【発明の目的】
本発明は、前記従来の問題点を解消するべくな
されたもので、2枚の格子で光の回折現象による
高調波成分を利用して光学的分割を行うことがで
き、しかも、高精度なコリメータレンズを用いる
必要がなく、インデツクススケールの製作も容易
な光学式検出器を提供することを目的とする。
【問題点を解決するための手段】 光源と、該光源からの拡散光がコリメータレン
ズを介さずに照射される第1の格子が形成された
メインスケールと、第2の格子が形成されたイン
デツクススケールと、前記第1の格子と第2の格
子間の距離vを一定に保ちつつ、前記メインスケ
ールとインデツクススケールを相対移動可能に保
持する手段と、前記拡散光による第1の格子の影
像と第2の格子との重なり合いによる光量変化を
光電変換する受光素子と、を備えた光学式変位検
出器において、前記光源と第1の格子の距離を
u、第1の格子の格子ピツチをP、第2の格子の
格子ピツチをq、光学系の光の感度スペクトルの
平均値での波長をλ、光学系の倍率MをM=(u
+v)/uと定義するとき、mを2以上の整数と
して、 Q=P/m 及び q=MQ/2 の関係を満足させることにより、前記受光素子が
Q/2のピツチの検出信号を出力するように構成
して、前記目的を達成したものである。 又、本発明の実施態様は、前記受光素子が、第
1の格子で反射した後、第2の格子を透過した前
記光源からの光を検出するように配置したもので
ある。 又、本発明の実施態様は、前記光源として点光
源が用いたものである。 又、本発明の実施態様は、前記光源として、第
1の格子の格子幅方向に配向される線光源を用い
たものである。 又、本発明の実施態様は、前記距離vが、nを
1以上の整数とするとき、 v≒(n−0.5)MQ2/λ の関係を満足するようにしたものである。
【作用】
まず、本発明の検出原理を簡略に説明する。 第1図に示す如く、格子ピツチPの第1の格子
16の前に、間隔uを隔てて拡散光源(例えば点
光源)30を配置する。ここで第1の格子16
は、m次(mは2以上の整数)の高調波成分を有
すると仮定すると、第1の格子の代わりにピツチ
Q(但しQ=P/m)で表わされる格子があると
考えてよい。すると、第1の格子16から間隔v
を隔てた影像面Sには、直感的にはピツチQの格
子の拡大された影が形成される。実際には回折の
効果により影の光量分布はuやvの値によつて
様々に変化する。 簡単のため、ピツチQの格子の光の振幅透過率
f(x)を次式で表し、Principles of Optics,
6th edition(MAX BORN &EMIL WOLF,
Pergamon Press,1980)の第383頁にあるフレ
ネル回折の理論を用いて、間隔vの影像面Sでの
影像分布g(x)を計算した結果を以下に示す。 f(x)=1+cos(2πx/Q) ……(1) ここで、拡散光源30の発光スペクトル及び受
光素子の波長感度を考慮した、この光学系におけ
る光のスペクトルの平均値における波長をλとお
き、nを自然数(1以上の整数)として、この系
の第1格子の倍率MをM=(u+v)/uで定義
する。 まず間隔vが、次の(2)式で表されるv1(n)と
ほぼ等しいときには、比例定数を除いて、次の(3)
式に示す関係が成立する。 vv1(n) =(n−0.5)MQ2/λ ……(2) g(x)≡g1(x) 4+cos[4πux/{(u+v)Q}]
……(3) 上記(2)式は、 vv1(n) =u(n−0.5)Q2 /{λu−(n−0.5)Q2} と等価である。但し、g1(x)は、vが変化して
もあまり変化しないので、(2)式は厳密なものでは
ない。 一方、間隔vが、次の(4)式で表されるv2(n)
にほぼ等しいときには、比例定数を除いて、次の
(5)式の関係が成立する。 vv2(n) =nMQ2/λ ……(4) g(x)≡g2(x) 1+cos[2πux/{(u+v)P}]
……(5) (2)式及び(3)式から、間隔uがv1(n)近傍の影
像面Sには、格子ピツチqが(u+v)Q/
(2u)の第2の格子を配置することによつて検出
信号を得ることができることがわかる。この影像
は、直観的な影像に対して格子ピツチが1/2であ
り、第1の格子16がQ即ちP/mだけ変位する
と、検出信号は2ピツチ分変化するという大きな
特徴がある。 一方、(4)式及び(5)式からは、間隔vがv2(n)
近傍の影像面Sには、格子ピツチqが(u+v)
Q/uの第2の格子を配置することにより、検出
信号を得ることができることがわかる。この影像
は直観的な影像に対応するので、第1の格子16
がQ即ちP/mの変位によつて、検出信号も1ピ
ツチ分変化する。 なお、第1の格子の高調波成分に対応して影像
面Sには様々なピツチの波形が存在するが、第2
の格子はその内特定の成分をフイルタリングする
と考えてもよい。 これまでは、拡散光源30、特に点光源とし
て、発光部が小さく且つ出力の大きなものがなか
つたこと、又、格子ピツチPが大きい場合には必
要性が少なかつたことなどによつて、本発明に係
るような検出器が深く検討されたことはなかつ
た、。ところが、点光源として理想的であるレー
ザダイオードのコストダウン及び格子ピツチPの
微小化に伴う問題点の克服の必要性などの技術的
背景の変化によつて、本願の発明者が検討した結
果、前出(3)式及び(5)式を導出し、前記のような検
出器の実用性を確認したものである。 本発明は、このような研究結果に基づいてなさ
れたもので、前記光源と第1の格子16の距離を
u、第1の格子の格子ピツチをP、第2の格子の
格子ピツチをq、光学系の光の感度スペクトルの
平均値での波長をλ、光学系の倍率MをM=(u
+v)/uと定義するとき、mを2以上の整数と
して、 Q=P/m 及び q=MQ/2 の関係を満足させることにより、前記受光素子が
Q/2のピツチの検出信号を出力するように構成
している。従つて、2枚の格子で光の回折現象に
よる高調波成分を利用して光学的分割を行うこと
ができ、高精度で焦点距離の長いコリメータレン
ズを用いる必要がなく、しかも、インデツクスス
ケールの加工が容易となる。
【実施例】
以下図面を参照して、本発明の実施例を詳細に
説明する。 本発明の第1実施例は、m次の高調波成分を用
いる前出(2)式及び(3)式の関係を用いたもので、第
2図に示す如く、コリメータレンズを介さずメイ
ンスケール14を照明するレーザダイオード32
と、該レーザダイオード32からの間隔がuであ
る位置に配置された、格子ピツチPで高調波成分
を含む第1の格子16が形成されたメインスケー
ル14と、前記第1の格子16からの間隔がvで
ある位置に配置された、格子ピツチqの第2の格
子20が形成されたインデツクススケール18
と、前記両スケール14,18が相対移動したと
きの、レーザダイオード32による第1の格子1
6の影像と第2の格子20との重なり合いによる
光量変化を光電変換する、位相がそれぞれ0°、
90°とされた2個の受光素子22A,22Bと、
該受光素子22A,22Bの出力をそれぞれ増幅
するプリアンプ24A,24Bとから構成されて
いる。 ここで第1の格子16はm次の高調波成分を持
つと仮定し、第2図ではピツチQ=P/mの格子
で第1の格子を表現している。第1の格子として
は、例えば光透過部と遮光部とが略1:1の格子
などが用いられる。 前記レーザダイオード32としては、発光部の
サイズが数μm角程度、波長λが約0.78μmのレー
ザダイオード(例えば日立製作所のHL−7801E
等)を用いることができる。 前記第1の格子16と第2の格子20の間隔v
及び前記第2の格子20の格子ピツチqは、次式
の関係を満足するようにされている。 v(n−0.5)MQ2/λ ……(6) q=(u+v)Q/(2u) ……(7) ここで、nは、1以上の整数である。しかし、
(6)式の条件はそれほど厳密なものでなく、実験の
結果でもあまり厳密に維持される必要はないこと
がわかつている。 具体的には、m=2,u,vを共に約5mmに設
定し、第1の格子の格子ピツチPを16μm(Q=
8μm)とした場合、第2の格子20の格子ピツチ
qは、(7)式の関係からQと同じく8μmでよい。 一方、位相のずれた信号を得るために偏差δを以
て区分された第2の格子20の偏差δについて
は、位相差として90°±10°を得るためには、格子
ピツチqが8μmであるため、偏差δは(2±0.2)
μmでよい。なお、バーニヤ方式を採用した場合
には、第2の格子20は格子ピツチqを前出(7)式
と異なる値にして、受光素子22A,22Bを位
相が90°異なる位置に配置すればよい。 又、メインスケール14が変位する場合の間隔
u,vの変動によつて生ずる第2の格子20のピ
ツチqと影像のピツチとのずれによる影響は、受
光素子22A,22Bのx方向の幅を小さくする
ことで回避できる。 この実施例の構成では、メインスケール14の
第1の格子16がx方向にQ即ちP/mだけ変位
しても、得られる影像は2ピツチ変化する。従つ
て、プリアンプ24A,24Bからは、ピツチt
=Q/2(この場合はピツチ4μm)の2相の検出
信号が得られる。即ち、光学的4分割が行われ
る。 前記第1実施例においては、レーザダイオード
32をそのまま点光源として使用していたが、点
光源の種類はこれに限定されず、例えば第3図に
示す第2実施例のように、レーザダイオード32
の発光部の前面に、直径が500μm程度の発散角抑
制用の半球レンズ34を設けたものを使用するこ
とも可能である。この場合には、レーザダイオー
ド32からの照明光を発散角が抑制されて、発光
効率が改善されるが、前出(7)式におけるuの値は
実際の間隔よりも大きめに換算する必要がある。
更に、点光源として、レーザダイオードと発光ダ
イオードとの中間的形態にある高出力発光ダイオ
ードなどを使用することもできる。 なお、同じ格子を用いてu=3mm、v=6mm程
度に設定した場合は、光学系の倍率M=3であ
り、検出信号のピツチは8/3μmとなる。 次に本発明の第3実施例を詳細に説明する。 この第3実施例は、第4図に示す如く、拡散光
源として、第1の格子16の格子幅方向に配向さ
れた、例えばスリツト状発光ダイオードからなる
線光源40を用いたものである。他の点について
は、受光素子22A,22B,22C,22Dが
位相0°,180°,90°,270°で区分けされて4個設け
られている点を除き、前記第1実施例と同様であ
るので説明を省略する。 光源として一般の発光ダイオードを用いた場
合、点光源とするために発光部を単に小さくする
と発光出力が減少して、プリアンプの増幅度を大
きくしなければならずSN比が悪化する。そのた
めこの第3実施例では、点光源ではなく線光源と
して用いている。 前記線光源40としては、出願人が既に提案し
ている、第5図および第6図に示すような、発光
部42がスリツト状の発光ダイオードを用いるこ
とができる。この発光ダイオードは、例えばN型
GaAsの基板44に、幅Wが約50μm、長さLが
約400μmのスリツト状にP型GaAsを拡散形成
し、下面には電極膜46を、上面には絶縁膜48
を介して電極膜46を蒸着したものとなつてい
る。50はリード線である。このような発光ダイ
オードはスリツト状に発光するため、全体として
出力は減少せず、線光源として好適である。 このようにして、発光ダイオードのスリツト状
発光部42の長手方向をメインスケール14の第
1の格子16の格子幅方向に配向することで、格
子幅方向には線光源であつても、格子のx方向に
は点光源となり、実質的に点光源として作用す
る。 この場合、線光源の前面に発散角抑制用のシリ
ンドルカルレンズなどを設けてもよい。 なお、前記実施例においては、いずれも本発明
が透過型検出器に適用されていたが、本発明の適
用範囲はこれに限定されす、例えば第7図に示す
第4実施例の如く、反射型の検出器にも同様に適
用することができる。 又第1の格子としては、高調波成分を有してい
る格子であればどのような形状のものでもよい。 前記実施例においては、本発明がいずれも、第
2の格子が区分して2個以上設けられた直線変位
検出器に適用されていたが、本発明の適用範囲は
これに限定されず、第2の格子に区分のないモア
レ縞方式の検出器や回転変位検出器(ロータリエ
ンコーダ)にも同様に適用することができる。
【発明の効果】
以上説明したとおり、本発明によれば、格子2
枚の構成で光の回折現象による高調波成分を利用
して光学的多分割が達成できる。又、点光源又は
線光源をそのまま拡散光源として用いることがで
き、高精度なコリメータレンズを用いる必要がな
い。更に、インデツクススケールのピツチをメイ
ンスケールのピツチよりも大幅に小さくする必要
がなく、インデツクススケールの製造も容易であ
る等の優れた効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の検出原理を説明するための
線図、第2図は、本発明に係る光学式変位検出器
の第1実施例の構成を説明するための断面図、第
3図は、同じく第2実施例の構成を説明するため
の要部断面図、第4図は、同じく第3実施例の構
成を説明するための斜視図、第5図は、前記第3
実施例で用いられている線光源の構成を説明する
ための正面図、第6図は、第5図の−線に沿
う横断面図、第7図は、本発明の第4実施例の構
成を説明するための断面図、第8図は、従来の光
学式変位検出器の一例の構成を示す斜視図であ
る。 14……メインスケール、16……第1の格
子、18……インデツクススケール、20……第
2の格子、22,22A,22B,22C,22
D……受光素子、P,q……格子ピツチ、u,v
……間隔、30……拡散光源、32……レーザダ
イオード、34……半球レンズ、40……線光
源。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 光源と、 該光源からの拡散光がコリメータレンズを介さ
    ずに照射される第1の格子が形成されたメインス
    ケールと、 第2の格子が形成されたインデツクススケール
    と、 前記第1の格子と第2の格子間の距離vを一定
    に保ちつつ、前記メインスケールとインデツクス
    スケールを相対移動可能に保持する手段と、 前記拡散光による第1の格子の影像と第2の格
    子との重なり合いによる光量変化を光電変換する
    受光素子と、 を備えた光学式変位検出器において、 前記光源と第1の格子の距離をu、第1の格子
    の格子ピツチをP、第2の格子の格子ピツチを
    q、光学系の光の感度スペクトルの平均値での波
    長をλ、光学系の倍率MをM=(u+v)/uと
    定義するとき、mを2以上の整数として、 Q=P/m 及び q=MQ/2 の関係を満足させることにより、 前記受光素子がQ/2のピツチの検出信号を出
    力するように構成したことを特徴とする光学式変
    位検出器。 2 前記受光素子が、第1の格子と第2の格子を
    透過した前記光源からの光を検出するように配置
    されている特許請求の範囲第1項記載の光学式変
    位検出器。 3 前記受光素子が、第1の格子で反射した後、
    第2の格子を透過した前記光源からの光を検出す
    るように配置されている特許請求の範囲第1項記
    載の光学式変位検出器。 4 前記光源として点光源が用いられている特許
    請求の範囲第1項記載の光学式変位検出器。 5 前記光源として、第1の格子の格子幅方向に
    配向される線光源が用いられている特許請求の範
    囲第1項記載の光学式変位検出器。 6 前記距離vが、nを1以上の整数とすると
    き、 v≒(n−0.5)MQ2/λ の関係を満足するようにされている特許請求の範
    囲第1項記載の光学式変位検出器。
JP20855586A 1986-08-15 1986-09-04 光学式変位検出器 Granted JPS6363917A (ja)

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GB8719257A GB2194044B (en) 1986-08-15 1987-08-14 Optical type displacement detecting device
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