JPS6357160A - ダイヤモンドの研磨方法 - Google Patents
ダイヤモンドの研磨方法Info
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- JPS6357160A JPS6357160A JP19890086A JP19890086A JPS6357160A JP S6357160 A JPS6357160 A JP S6357160A JP 19890086 A JP19890086 A JP 19890086A JP 19890086 A JP19890086 A JP 19890086A JP S6357160 A JPS6357160 A JP S6357160A
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Landscapes
- Grinding And Polishing Of Tertiary Curved Surfaces And Surfaces With Complex Shapes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明(よ、CVD法により析出したダイヤモント薄摸
の凹凸面、またはグイヤ七ント粒Yの汀、負の部位面を
低負伺上のもとて容易に平滑研磨しくH7るようにした
グイヤ[ンドの研磨方法に関づる。
の凹凸面、またはグイヤ七ント粒Yの汀、負の部位面を
低負伺上のもとて容易に平滑研磨しくH7るようにした
グイヤ[ンドの研磨方法に関づる。
従来の技術
グイN)[ンド薄膜1よ、半59体、半導体ヒートシン
クあるい(よ光学系のレンズ、ミラー等の応用か明持さ
れている。そのためには、当然のことイ【かう平滑な而
を具(diすることか必要不可欠である。
クあるい(よ光学系のレンズ、ミラー等の応用か明持さ
れている。そのためには、当然のことイ【かう平滑な而
を具(diすることか必要不可欠である。
また、ダイA]七ンド中結晶等の粒子を一■業用あるい
は装飾用に使用する場合においても、イr危の部位面を
平滑に研磨ηることかφ廿である。
は装飾用に使用する場合においても、イr危の部位面を
平滑に研磨ηることかφ廿である。
従来一般に採用されているタイN・シントの(di I
r方法としては、天然または人工の中結晶タイ■[ンド
について1.i、共)nり研磨法あるいi、L高速回転
!JA♀久熊トへの1甲(=1け研磨2人である。
r方法としては、天然または人工の中結晶タイ■[ンド
について1.i、共)nり研磨法あるいi、L高速回転
!JA♀久熊トへの1甲(=1け研磨2人である。
一方グイへ7モンド薄l19の研磨についてtよ、木I
j適当な研磨方法か開発されていないのか現状である。
j適当な研磨方法か開発されていないのか現状である。
発明か解決しようとする問題点
上記、従来の基円り研磨’Jiヤ高速同転14鉄Qにへ
の押(=jけ回漕払で(ま、波器)2体と研l暑祠に高
f1荷かかかるため、双方の消耗か激しいこと、また回
層作業としても危険であり、安全管理面においてら問題
がある等の欠点か在る。
の押(=jけ回漕払で(ま、波器)2体と研l暑祠に高
f1荷かかかるため、双方の消耗か激しいこと、また回
層作業としても危険であり、安全管理面においてら問題
がある等の欠点か在る。
ところで、グイV[ンド甲結晶のh1磨の場合には、上
述のような欠点を有するか、ダイヤモンド薄膜に上記ぜ
るような従来の研磨法による高負荷の回漕を施1と、そ
の薄膜(よ剥離・破nか起こってしまい、実用に共し得
られなくなる。
述のような欠点を有するか、ダイヤモンド薄膜に上記ぜ
るような従来の研磨法による高負荷の回漕を施1と、そ
の薄膜(よ剥離・破nか起こってしまい、実用に共し得
られなくなる。
本発明は、ダイヤモンド薄膜J:たは中結晶の任怠の部
位面を平滑に研磨するに当り、化学反応を利用すること
により被研磨体とfIFIr会材【こかかるh荷を激減
させて、研摩面の荒れ或いは被研磨体の剥離・破損を招
くことなく容易に平滑回層のて′きる新規のダイヤ[ン
l−の回層方法を提供づることを目的とするものである
。
位面を平滑に研磨するに当り、化学反応を利用すること
により被研磨体とfIFIr会材【こかかるh荷を激減
させて、研摩面の荒れ或いは被研磨体の剥離・破損を招
くことなく容易に平滑回層のて′きる新規のダイヤ[ン
l−の回層方法を提供づることを目的とするものである
。
問題点を解決するための手段
遷移金属は炭素と反応して炭化物(カーバイト)を生成
する。特にIvab’z(Ti、7r、1−(f)、V
a族(V、Nb、Ta)の炭化物は、第5図(金属学会
会報:旦(1969)、49P、成■1肖−〕に示され
るよう(こ、生成自由エネルギー(kca 1.、zm
o l )が低り1」つ反応1斗か高い。
する。特にIvab’z(Ti、7r、1−(f)、V
a族(V、Nb、Ta)の炭化物は、第5図(金属学会
会報:旦(1969)、49P、成■1肖−〕に示され
るよう(こ、生成自由エネルギー(kca 1.、zm
o l )が低り1」つ反応1斗か高い。
またIV a fr5.、■a族遷移金属を主成分とす
る合金においても同様な性71を発現する。これら金属
又1、土合金よりなる金属板をhO然してダイアモンド
と接触させると炭化物の生成反応か起こりグイ)7[ン
トが千1学的に消耗する。本発明者らはこの事実をダイ
ヤモンドのrII磨技術に応用づることを考えて本発明
を開発したのである。
る合金においても同様な性71を発現する。これら金属
又1、土合金よりなる金属板をhO然してダイアモンド
と接触させると炭化物の生成反応か起こりグイ)7[ン
トが千1学的に消耗する。本発明者らはこの事実をダイ
ヤモンドのrII磨技術に応用づることを考えて本発明
を開発したのである。
本発明を実施するに際し、予め板状に加工したIV a
l)>またtよVa族の遷移金属もしくはその合金を
適当な温度に1)[1然しておく、被研磨体としてダイ
ヤモンド薄膜の析出した基板またはダイヤモンド中結晶
を回転軸状に構成したホルダーのト端面部に接石材によ
って固着し、加熱された前記舎属板面トに軽く東ぜて置
くだけて炭化物生成反応によってグイAアモンドは或程
度消耗するか、反応で脆化したグイヤtンド部分をホル
ダーの回転による軽い摩隙によって取り除く作用手段を
加えるとより効果的である。この回転速度はごく遅い(
く1100pp>もので充分で必る。さらに被研磨体と
金属板との間には特別筒中をかける必要はなく、ホルダ
ー等の山手(20〜50 g、/ cti )がかかる
程度でよい。
l)>またtよVa族の遷移金属もしくはその合金を
適当な温度に1)[1然しておく、被研磨体としてダイ
ヤモンド薄膜の析出した基板またはダイヤモンド中結晶
を回転軸状に構成したホルダーのト端面部に接石材によ
って固着し、加熱された前記舎属板面トに軽く東ぜて置
くだけて炭化物生成反応によってグイAアモンドは或程
度消耗するか、反応で脆化したグイヤtンド部分をホル
ダーの回転による軽い摩隙によって取り除く作用手段を
加えるとより効果的である。この回転速度はごく遅い(
く1100pp>もので充分で必る。さらに被研磨体と
金属板との間には特別筒中をかける必要はなく、ホルダ
ー等の山手(20〜50 g、/ cti )がかかる
程度でよい。
上記のような方法を採ることによって被研磨体にかがる
9伺は従来法に比へて箸しく減少させることができる。
9伺は従来法に比へて箸しく減少させることができる。
したかつて、ダイアモンド薄膜又はダイヤモンド中結晶
の冊磨に好適なH磨方法となりうる。
の冊磨に好適なH磨方法となりうる。
上記金属板の加熱lよ、その仮下部よりヒーターでの加
熱あるいは外部より赤外線加熱等、何れの加熱方法でも
よい。その加熱温度は使用16金属板の4手類によって
適IT温度を異にするが、経験的には700〜800℃
が適当な温度である。余り温度が高いとダイヤモンドの
変質(黒14)化等)か起こる場合があるので、安全を
図るために^くても900 °C以下とすることか望ま
しい。
熱あるいは外部より赤外線加熱等、何れの加熱方法でも
よい。その加熱温度は使用16金属板の4手類によって
適IT温度を異にするが、経験的には700〜800℃
が適当な温度である。余り温度が高いとダイヤモンドの
変質(黒14)化等)か起こる場合があるので、安全を
図るために^くても900 °C以下とすることか望ま
しい。
また、酸素の存在雰囲気化で1よ、ダイヤモンドの燃焼
による消耗、さらに金属板やヒーター等の酸化か起こり
りfましくないこともめるため、本発明を実施づる伺磨
装置は不活性カス等の非酸化fl雰囲気に置換可能な容
器内に装備するのか望まし。
による消耗、さらに金属板やヒーター等の酸化か起こり
りfましくないこともめるため、本発明を実施づる伺磨
装置は不活性カス等の非酸化fl雰囲気に置換可能な容
器内に装備するのか望まし。
い。
反応によって金属板面には炭化物層が幾らか形成される
か、IV a tj% (またはVa族)遷移金属の炭
化物中の炭素の拡散は速いことか知られている。
か、IV a tj% (またはVa族)遷移金属の炭
化物中の炭素の拡散は速いことか知られている。
したかつて、金属板表面に取込まれた炭素は、炭化物層
を拡散して未反応のバルク部分へ伝わり炭化物の生成反
応が継続覆る。そのため1記金属板はかなり長時間の使
用に耐える。但し、理想的には、金属板表面層の多量の
炭素を分散させるため、定期的に無負荷で1000〜1
100℃の温度王て昭換雰囲気中加熱づる工程を付加η
るとより効果的である。
を拡散して未反応のバルク部分へ伝わり炭化物の生成反
応が継続覆る。そのため1記金属板はかなり長時間の使
用に耐える。但し、理想的には、金属板表面層の多量の
炭素を分散させるため、定期的に無負荷で1000〜1
100℃の温度王て昭換雰囲気中加熱づる工程を付加η
るとより効果的である。
上述のように、炭化物生成反応を利用して、タイヤ[ン
ト幼膜または11i結晶を研磨づるので必るか、炭素か
表面から内部により拡散しやづく1−るためには、金騰
板面に適度なピンホール必るい(1クラツクか存ft”
4ることか’l+宋的て必ろ。そのためには、予め真空
然肴法もしくはスパック法(なるべく高速)で金属板面
に適度なピンホールあるいはクラックをもつ膜を既)小
の遷移金属またはその合金で形成させるとより効果的と
なり得る。
ト幼膜または11i結晶を研磨づるので必るか、炭素か
表面から内部により拡散しやづく1−るためには、金騰
板面に適度なピンホール必るい(1クラツクか存ft”
4ることか’l+宋的て必ろ。そのためには、予め真空
然肴法もしくはスパック法(なるべく高速)で金属板面
に適度なピンホールあるいはクラックをもつ膜を既)小
の遷移金属またはその合金で形成させるとより効果的と
なり得る。
本発明で述べられる、Ti、7r、If、V、Nb、T
aの1種もしくは2種以上を1−成分とする合金組成の
例を次表に示す、 合金組成表 数字は標準成分量の% 合金の場合、IV a族、Va族の金属か50巾量%以
上の範囲が適当であり、90弔吊%以七が望ましい。
aの1種もしくは2種以上を1−成分とする合金組成の
例を次表に示す、 合金組成表 数字は標準成分量の% 合金の場合、IV a族、Va族の金属か50巾量%以
上の範囲が適当であり、90弔吊%以七が望ましい。
上記遷移金属成分の含右量50重量%未満では、本発明
の目的とする作用・効果が劣る。
の目的とする作用・効果が劣る。
次に、4体的な実施例についで詳細に説明4る。
実施例1
ヘリウムで置換した容器内に、第1図に承りような研磨
装置を装備した。板状に加JしたT1↑属板(1)は支
脚によって水平に保1¥1さUて、ぞの板の下部からタ
ングステンヒーター(2)で加熱して板温750℃とし
/Joグイヤモン]−a9膜(5〉 (厚さ20 u
m )を析出させた”[)mmφの3iウエハー(こう
)を棒状のアルミノシコホルグー(4)の下端面部にセ
ラミックス接石材(6)によって固るさせた。前記ホル
ダーは[−クーによって回転可能にしである。そして固
着させたダイヤモンド薄膜面をFにしてTi板面上に乗
せてホルダーを1100roで回転を始めた。なお容器
内はほぼ常圧のため、ダイへ’ [ン1へ薄膜とl−i
板にかかる負荷はホルダー(接ン1材、ウェハーを含む
)の自重30 (1/ c肩程磨であった。ホルダーを
回転してから1時間後のダイt’ [ンド薄膜面は第2
図に示づように、膜中央部3irunφを残して他1よ
鏡面状の平滑面となった。(7られた平滑面部をレーザ
ーラマン分光によって、観察したところ、1240cm
”のダイヤモンドピークが鋭く出現し、他のピークは存
在しなかった為、この部分は膜状ダイヤモンドか変7ゴ
することなく平滑何層されたものと判断てきた。
装置を装備した。板状に加JしたT1↑属板(1)は支
脚によって水平に保1¥1さUて、ぞの板の下部からタ
ングステンヒーター(2)で加熱して板温750℃とし
/Joグイヤモン]−a9膜(5〉 (厚さ20 u
m )を析出させた”[)mmφの3iウエハー(こう
)を棒状のアルミノシコホルグー(4)の下端面部にセ
ラミックス接石材(6)によって固るさせた。前記ホル
ダーは[−クーによって回転可能にしである。そして固
着させたダイヤモンド薄膜面をFにしてTi板面上に乗
せてホルダーを1100roで回転を始めた。なお容器
内はほぼ常圧のため、ダイへ’ [ン1へ薄膜とl−i
板にかかる負荷はホルダー(接ン1材、ウェハーを含む
)の自重30 (1/ c肩程磨であった。ホルダーを
回転してから1時間後のダイt’ [ンド薄膜面は第2
図に示づように、膜中央部3irunφを残して他1よ
鏡面状の平滑面となった。(7られた平滑面部をレーザ
ーラマン分光によって、観察したところ、1240cm
”のダイヤモンドピークが鋭く出現し、他のピークは存
在しなかった為、この部分は膜状ダイヤモンドか変7ゴ
することなく平滑何層されたものと判断てきた。
さらに3時間の研磨では膜全面を鏡面状に研磨すること
かできた。この時点での膜厚は約1611 mmで、f
!I磨速度は1 、 Ourrwn、/h rと弁用さ
れた。
かできた。この時点での膜厚は約1611 mmで、f
!I磨速度は1 、 Ourrwn、/h rと弁用さ
れた。
実施例2
天黙甲結晶ダイヤモンド(粒径〜3mm)(7>を第1
図に承りホルダー(4)の下端面部にセラミックス接谷
村(6)で第3図に示すように固着ざぜた。このように
固着させたグイV七ンド巾結晶の2試料のそれぞれの結
晶(111)面、(100)而を磨くべく、向を合せて
800 °Cに加熱されているTi板上面部に乗せて、
ホルダーを回転させながら研磨した。それぞれの試料を
5!1!1間研磨した後の回層面は何れも平滑で光輝の
あるものか得られた。朗磨後の耗り厚みから研磨速度(
311,2μIrur1./11 rと弁用された。
図に承りホルダー(4)の下端面部にセラミックス接谷
村(6)で第3図に示すように固着ざぜた。このように
固着させたグイV七ンド巾結晶の2試料のそれぞれの結
晶(111)面、(100)而を磨くべく、向を合せて
800 °Cに加熱されているTi板上面部に乗せて、
ホルダーを回転させながら研磨した。それぞれの試料を
5!1!1間研磨した後の回層面は何れも平滑で光輝の
あるものか得られた。朗磨後の耗り厚みから研磨速度(
311,2μIrur1./11 rと弁用された。
実施例3
1−i板(1)の上面部には、上記の成膜条イ1によっ
て王i膜(1−>104/mを形成した。この状態を第
4図tこ例示した。
て王i膜(1−>104/mを形成した。この状態を第
4図tこ例示した。
成肱条イ′1
i 0 K W F ’S’!電子銃ニテ、2X10
−3forrの真空中で基板・蒸盾源間距離24(J)
rrrm、電力5Kwにして王1をTi板而面に蒸若速
葭2o。
−3forrの真空中で基板・蒸盾源間距離24(J)
rrrm、電力5Kwにして王1をTi板而面に蒸若速
葭2o。
OA/minて゛蒸着さt!7j。
このように条(iで形成されたT1蒸石膜【31、ピン
ホールを有していた。
ホールを有していた。
上記蒸着され1.: −T−i仮GJE実施例1に示さ
れる非酸化雰囲気の容器内に装備される研磨装置にしI
Jかい、基板としてのT i仮(1)の上方よりタング
ステンヒーター(2)で750℃に加熱した。
れる非酸化雰囲気の容器内に装備される研磨装置にしI
Jかい、基板としてのT i仮(1)の上方よりタング
ステンヒーター(2)で750℃に加熱した。
厚さ20μ!′!7mのダイA7[ント薄膜(5)か析
出した10mmφ3iウェハー(3)を回転可能なアル
ミナ:歿ホルグー(4)の下端面部に耐熱11接右祠(
6)で固着させた。ホルダーを回転(100r[)m)
さ1!ながらダイA7T:ント薄膜面をTl板の、笠着
膜(1−)而に店りイ」りて6月磨した。この仙I暑部
tこかかる負間はホルダーの自重(〜30 g、/孟)
程度であった。1 n、If間の研磨を行なったところ
、はぼ薄膜(5)仝而が平滑に111′I磨されていた
。
出した10mmφ3iウェハー(3)を回転可能なアル
ミナ:歿ホルグー(4)の下端面部に耐熱11接右祠(
6)で固着させた。ホルダーを回転(100r[)m)
さ1!ながらダイA7T:ント薄膜面をTl板の、笠着
膜(1−)而に店りイ」りて6月磨した。この仙I暑部
tこかかる負間はホルダーの自重(〜30 g、/孟)
程度であった。1 n、If間の研磨を行なったところ
、はぼ薄膜(5)仝而が平滑に111′I磨されていた
。
この平滑度を表面粗さ測定計で測定したところ、Rma
x=0.08〜0.15μmmの範囲におさまっていた
。なお、研磨前の薄膜く5)の曲部はRmax=1.0
へ−1,2μmmであった。
x=0.08〜0.15μmmの範囲におさまっていた
。なお、研磨前の薄膜く5)の曲部はRmax=1.0
へ−1,2μmmであった。
また中央の薄膜厚さの変化をマイクロメーターで読みと
ると研磨速度は〜1.45μmm/hrと→出された。
ると研磨速度は〜1.45μmm/hrと→出された。
比較のために蒸着膜(1−)を施さないT1板を用い、
仙の条11を本例と同様にして1時間研磨を行なった場
合は、研磨速度はほぼ1.0μ、rrwn、/ ’n
rであった。このように蒸着膜を付けることにより、研
磨速度が上がる傾向が明らかとなった。
仙の条11を本例と同様にして1時間研磨を行なった場
合は、研磨速度はほぼ1.0μ、rrwn、/ ’n
rであった。このように蒸着膜を付けることにより、研
磨速度が上がる傾向が明らかとなった。
実施例4
実施例1で使用したと同様な研磨装置中に、スパッタ法
によってTi蒸着膜10μmを形成したTi板を用いた
。前記、熱4膜は、プレーJ−−マグネトロンスパック
H1によって王iグーゲットと早板距tdl 38 m
m、アルゴンカス斤ツノ5×10′″′1−orr、人
q4電力約3Kwの条件でl−i膜を蒸着した。蒸首速
度は約4000人/minであった。
によってTi蒸着膜10μmを形成したTi板を用いた
。前記、熱4膜は、プレーJ−−マグネトロンスパック
H1によって王iグーゲットと早板距tdl 38 m
m、アルゴンカス斤ツノ5×10′″′1−orr、人
q4電力約3Kwの条件でl−i膜を蒸着した。蒸首速
度は約4000人/minであった。
上記のようにして得られた王i蒸石膜は成膜速度か速い
ために、ピンホールがかなり存在していた。蒸着膜をも
つTi板の温度800℃、Heカス置換雰囲気中で、例
3にしたがって、クイA’ tンド薄膜面を平滑に研磨
した。このときの研磨速度は〜1.52μmm/ h
rと篩用された。
ために、ピンホールがかなり存在していた。蒸着膜をも
つTi板の温度800℃、Heカス置換雰囲気中で、例
3にしたがって、クイA’ tンド薄膜面を平滑に研磨
した。このときの研磨速度は〜1.52μmm/ h
rと篩用された。
実施例5
合金組成 T−i −5A I −2,5Sn α相
安定形の金属板(1)を用いて実施例1と同様な研磨装
置に組み入れた。金属板を750 ℃に1111熱し、
1−10ガス置換雰囲気中で1時間f1月磨したところ
、第2図に近い状態まで鏡面状となった。
安定形の金属板(1)を用いて実施例1と同様な研磨装
置に組み入れた。金属板を750 ℃に1111熱し、
1−10ガス置換雰囲気中で1時間f1月磨したところ
、第2図に近い状態まで鏡面状となった。
発明の効果
本発明(よ、化学反応を利用するために非常に小さい負
荷下で且つ速い研磨速度でダーイヤLンド博膜また(よ
甲結晶を簡便に研磨することかで′きる。
荷下で且つ速い研磨速度でダーイヤLンド博膜また(よ
甲結晶を簡便に研磨することかで′きる。
しかも研磨の触さをなす遷移金属又はその合金よりなる
金属板、その板の均一な加熱@T夫1れば、グイ入〕七
ンド薄膜の面積についての自由度が大きい研磨方法とな
り得る。更にダイヤモンド中結晶にJ5いてし、化学反
応を利用づるが!こめに、ダイヤ[ント結晶の最も硬い
(111)而も、他の面と同程度の負部で且つ充分に速
い研磨速度で研磨することができる。
金属板、その板の均一な加熱@T夫1れば、グイ入〕七
ンド薄膜の面積についての自由度が大きい研磨方法とな
り得る。更にダイヤモンド中結晶にJ5いてし、化学反
応を利用づるが!こめに、ダイヤ[ント結晶の最も硬い
(111)而も、他の面と同程度の負部で且つ充分に速
い研磨速度で研磨することができる。
このように、本発明(よ仝く新規な研磨方法であって、
半導体や光学分野、ぞのだの分野に利用が明侍されるも
のである。
半導体や光学分野、ぞのだの分野に利用が明侍されるも
のである。
第1図は本発明を実施する研磨装置の説明図、第2図は
実施例1における1時間仙1名後のグイA7tンド薄膜
の状態を承り平面図、第3図はダイへ7[ン1〜中結晶
をホルダーに固着させた状態を示す説明図、第4図(3
工チタン板面部にブタン蒸着させた状態を示寸説明図、
第5図(、まIV a frχ、Va族の炭化物生成反
[芯の標準自由下ネルギーを示1図表である。 1・・・金属板、1′・・・蒸着膜、2・・・ヒーター
、33・訂りエハー、4・・・ホルダー、5・・・グイ
A7[ンド薄肱、6・・・接青祠、7・・・ダイt71
ンド甲結晶Cある。。 第 / 図 第 3 図 第 5 図 ンA M (’Q’。 0 /θ00 2000 1変(]
実施例1における1時間仙1名後のグイA7tンド薄膜
の状態を承り平面図、第3図はダイへ7[ン1〜中結晶
をホルダーに固着させた状態を示す説明図、第4図(3
工チタン板面部にブタン蒸着させた状態を示寸説明図、
第5図(、まIV a frχ、Va族の炭化物生成反
[芯の標準自由下ネルギーを示1図表である。 1・・・金属板、1′・・・蒸着膜、2・・・ヒーター
、33・訂りエハー、4・・・ホルダー、5・・・グイ
A7[ンド薄肱、6・・・接青祠、7・・・ダイt71
ンド甲結晶Cある。。 第 / 図 第 3 図 第 5 図 ンA M (’Q’。 0 /θ00 2000 1変(]
Claims (4)
- (1)ダイヤモンドを、IVa族またはVa族遷移金属も
しくはこれらを主成分とする合金から選ばれた金属板と
加熱下で摺り合せ研磨することを特徴とするダイヤモン
ドの研磨方法。 - (2)金属板の加熱温度が900℃以下である特許請求
の範囲第1項記載の方法。 - (3)金属板の表面が上記遷移金属またはこれらを主成
分とする合金の蒸着膜である特許請求の範囲第1項記載
の方法。 - (4)回転可能なホルダーにダイヤモンド薄膜又は粒子
を固定して上記金属板もしくは蒸着膜と摺り合せ研磨す
る特許請求の範囲第1項記載の方法
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19890086A JPS6357160A (ja) | 1986-08-27 | 1986-08-27 | ダイヤモンドの研磨方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19890086A JPS6357160A (ja) | 1986-08-27 | 1986-08-27 | ダイヤモンドの研磨方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6357160A true JPS6357160A (ja) | 1988-03-11 |
Family
ID=16398808
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19890086A Pending JPS6357160A (ja) | 1986-08-27 | 1986-08-27 | ダイヤモンドの研磨方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6357160A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6705806B2 (en) | 1998-12-28 | 2004-03-16 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | Cutting tool coated with diamond |
CN1313244C (zh) * | 2004-09-03 | 2007-05-02 | 沈阳理工大学 | 金刚石膜高速精密抛光装置及抛光方法 |
CN101972979A (zh) * | 2010-08-30 | 2011-02-16 | 南京航空航天大学 | 一种金刚石表面化学机械复合加工方法与装置 |
-
1986
- 1986-08-27 JP JP19890086A patent/JPS6357160A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6705806B2 (en) | 1998-12-28 | 2004-03-16 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | Cutting tool coated with diamond |
US7179022B2 (en) | 1998-12-28 | 2007-02-20 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | Cutting tool coated with diamond |
CN1313244C (zh) * | 2004-09-03 | 2007-05-02 | 沈阳理工大学 | 金刚石膜高速精密抛光装置及抛光方法 |
CN101972979A (zh) * | 2010-08-30 | 2011-02-16 | 南京航空航天大学 | 一种金刚石表面化学机械复合加工方法与装置 |
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