JPS6356927A - Lsi検査ハンドリングシステム - Google Patents

Lsi検査ハンドリングシステム

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JPS6356927A
JPS6356927A JP61201161A JP20116186A JPS6356927A JP S6356927 A JPS6356927 A JP S6356927A JP 61201161 A JP61201161 A JP 61201161A JP 20116186 A JP20116186 A JP 20116186A JP S6356927 A JPS6356927 A JP S6356927A
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lsi
chuck
test
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Eiichi Suda
須田 栄一
Tadashi Uchino
正 内野
Shigematsu Igarashi
五十嵐 繁松
Masabumi Nakamura
中村 正文
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この発明はLSI試験装置にロボットを組み合わせるこ
とによって、LSIを試験ソケット部にセットし常温或
いは所定の温度を印加した状態で試験を行い、試験が終
了した後はその結果に応じたマークを記入して回収する
といった一連の作業を所定の位置に配されている全ての
LSIについて自動的に行うLSI検査ハンドリングシ
ステムに関する。
「従来技術」 LSI試験装置にロボットを組み合わせた従来のLSI
検査ハンドリングシステムにおいては、ロボットコント
ロール部へ入力されたプログラムに従って作業が実行さ
れるロボットのチャック (以後単にチャックと称する
)によって、定められた位置に正確に配されているLS
Iを把持しこれをプレヒート部にセットし所定の温度を
印加した後に再びLSIをチャックで把持し試験ソケッ
ト部へ搬送しセットし、試験終了後にこれを回収してい
る。
「発明が解決しようとする問題点」 従来の方法によればチャックによるLSI把持の確度は
、所定の位置に配されているLSIの位置決め精度とロ
ボットのvJ作精度及びロボットコントロール部より入
力される作業プログラムに於いて指示されているLSI
把持ポイントの的確さに起因している。このことは例え
ば把持されるべきLSIの位置が所定の位置よりズして
いたとしてもチャックは只単に予め指示されたポイント
において把持動作を行うのみであるがためにチャックに
よる把持が不可能となる場合が生したり、或ぃは把持す
ることが出来たとしても不確実な把持であるがために搬
送の途中でLSIが脱落したり、更に又把持しているL
SIを試験ソケット又は他のソケット等への挿入の際に
LSIのリードとソケ、7トとの位置ズレ等の障害が発
生し検査工程が中断され操作者の介入を余儀なくされる
場合がある。
「問題点を解決する手段」 ロボノi・のチャックに近接する場所に装備されチャッ
クと共に移動する視覚装置によって、所定の位置に配さ
れているLSIの位置及び水平方向の傾きを検出しこれ
をロボットコントロール部へ送信する。このデーターに
基づいてチャックが適切な位置に移動或いは回転してL
SIを確実に把持し、次にロボ・ノド座標系に於いて常
時固定されている別の視覚装置によってLSIを把持す
るために生じたチャックの水平方向の回転角とLSIと
の相対的な位置ズレを検出しこの補正を行った上で、プ
レヒート部にセットし所定の温度を印加した後には再び
チャックでLSIを把持し、次にチャックに近接する場
所に装備された視覚装置によってソケットボードに付さ
れた視覚装置感知マークを認識することによって試験ソ
ケット部の位置を検出しLSIを試験ソケットに確実に
セットできるようにする。
「実施例」 次にロボットの動作を中心に、本発明のLSI検査ハン
ドリングシステムを用いて実際にLSIの検査を行う際
の作業工程を記す。
尚、本発明のLSI検査ハンドリングシステムの全体図
を第12図に示す。
〔準備作業)  LSIが載せられているトレイが収納
されたトレイマガジン(6a〜6d)を第1図に示すよ
うにテーブル(10)の所定の位置にセットする。この
作業のみ、操作者が行いこれから後の作業は全て予めロ
ボットコン)・ロール部(26)から入力されたプログ
ラムに従って実行される。
■、トレイ (7)をセットする。
第2図の如くトレイ (7)を、トレイハンド(5a、
  5 b)によってトレイマガジン(6a)から引き
出しν;験トレイステージ(17)にセットする。(第
3図) ■、トレイ (7)上のLSIを把持して、固定CCD
カメラ(9)の視界内に政道する。
ロボットのチャックに近接する場所に装備されチャック
と共に移動するCCDカメラ(以後移動CCDカメラと
称する)(3)が、トレイ(7)における定められた一
区画内に於いてLSIが存在するか否かを検出する。こ
こでLSIの存在が確認出来ない場合は、移動CCDカ
メラ(3)が順次、次の区画に移動しLSIの存在が確
認できるまでこの作業をKn ?rjtする。ここで仮
に試験トレイステージ(17)にセットされてし3るト
レイ (7)の全区画に於いてL SIが存在しないこ
とを認識した場合は、トレイ(7)を元のトレイマガジ
ン(6a)に収納した後に別のトレイに対して、■、■
の作業が続けられる。
ある区画内において移動CCDカメラ(3)がLSI 
 (15a)の存在をもi認した場合は、専用のプログ
ラムによりその外形から移動CCDカメラ(3)の座標
系に於けるLSI (15a)の中心位置と水平方向の
傾き角とが検出される。この値がロボットコントロール
部(26)へ送信されると第4図に示すようにチャック
(2)が適切な位置に移動、又は回転してLSI(15
a)を把持しく第5図)、テーブル(10)に固定され
ているCCDカメラ(以後固定CCDカメラと称する)
(9)の視界内に搬送する。
■、LSI  (15a)の位置補正を行い、第1プレ
ヒート部(11)にセットする。
■に於いて視界内に搬送されてきたチャック(2)によ
って把持されているLSI  (15a)を固定CCD
カメラ(9)によって下側より認識させ(第6回)、こ
のときのLSI(15a)の位置が固定CCDカメラ(
9)の視覚座標に於いて49位位置一対してどの程度ズ
しているかを検出させる。この検出値がロボ7・トコン
トロール部(26)に送られることによってLSI  
(15a)の位置補正が行なわれ第7図の如く第1プレ
ヒート部(11)にセットされる・この際、LSI(1
5a)にリード曲がり等が発生しているがためにチャッ
クく2)によって一定値以上の圧力をかけても第1プレ
ヒート部(11)にセット出来ない場合にはこの■。
5l(15a)を再試験トレイ (8)に収納する。こ
れは第2プレヒート部(12)及び試験ソケット部(1
4)に於いて、LSIに一定値以上の圧力をかけてもセ
ラ[・出来ない場合にも同様に再試験トレイ (8)に
収納される。
ここで基準位iAとは、第1プレヒート部(11)に予
めセットされたLSIをチャック(2)で把持し、これ
を固定CCDカメラ(9)の視界内の定められた位置に
崖道し静止させた時のLSIの位置のことでありこの時
のチャック(2)とLSIとの相対的な位置ズレは0で
ある。実際の検査工程に於いてLSI(15a)を把持
しているチャック(2)が固定CCDカメラ(9)の視
界内に於ける所定の位置で静止したときにLSI(15
a)の位置が基!ぜ位置Aと一致すればそのまま位置補
正を行うことなく第1プレヒート部(11)に挿入可能
となる。
第1プレヒート部(11) 、及び以下に記す第2プレ
ヒート部(12) 、試験ソケット部(14)において
はセラI〜されたLSIに所定の温度を印加するために
静電防止処理が施された温風が温風排出ノズル(133
〜13C)より吹き付けられるようになっている。
■、トレイ (7)上のLSI  (15b)を把持し
て、固定CCDカメラ(9)の視界内に搬送する。
■と同じ原理で作業が実行される。
■、LSI  (15b)の位置補正を行い1、第2プ
レヒート部(12)にセットする。
■に於いて視界内に搬送されてきたチャック(2)に把
持されているLSI  (15b)を固定CCDカメラ
(9)によって下側より認識させ(第5図)、このとき
のLSI  (15b)の位置が固定CCDカメラ(9
)の視覚座標に於いて基準位IBに対してどの程度ズし
ているかを検出させる。この検出値がロボットコントロ
ール部(26)に送られることによってLSI(15b
)の位置補正が行なわれ第2プレヒート部(12)にセ
ットされる。(第7図)ここで基準位置Bとは、第2プ
レヒート部(12)に予めセットされたLSIをチャッ
ク(2)で把持し、これを固定CODカメラ(9)の視
界内の定められた位置に搬送し静止させた時のLSIの
位置のことでありこの時のチャックとLSIとの相対的
な位置ズレはOである。
実際の検査工程に於いてLSI  (15b)を把持し
ているチャ・ツク(2)が固定CCDカメラ(9)の視
界内に於ける所定の位置で静止したときに基準位置Bと
一致すればそのまま位置補正を行うことなく第2プレヒ
ート部(12)に挿入可能となる。
■、第1プレヒート部(11)にセットされていLSI
  (15a)を、試験ソケット部(14)にセットす
る。
第1プレヒート部(11)にセットされているLSI 
 (15a)をチャック(2)によって把持し試験ソケ
ット部(14)へ搬送した後、クランプ解除ハンド(1
8)でデバイスクランパ(20a、20a)をオープン
状態にしてLSI  (15a)を試験ソケット部(1
4)へセットする(第9図、第10図)。この際にロボ
ット(1)の座標系に対して常に固定状態となっている
第1プレヒート部(11)或いは第2プレヒート部(1
2)にセットされているLSIをプログラムによって動
作が実行されその動作精度が比較的高いチャック(3)
によって把持した場合のチャック(3)とLSIとの相
対的な位置関係は非常に安定しているが、試験ソケッI
−(14)への着脱が頻繁に行われその取りつけ位置精
度の低いソケットボード(21)上にある試験ソケット
部(14)の位置は着脱の度に異なってしまう。この問
題点を解消してLSIを正確に試験ソケット部(14)
ヘセソトするために次の様な方法を採用している。
ソケットボード(21)にはCODカメラがその位置を
認識することのできる視覚装置感知マーク(22a、 
 22 b)が2箇所に取りつけられており、これらを
移動CCDカメラ(3)が認識することによりロボット
座標系における試験ソゲフト部(14)の位置と水平方
向の傾きを検出する。この値がロボットコントロール部
(26)へ送られることによってチャック(2)が適切
に移動しLSI(15a)を試験ソケット部(14)に
確実に挿入する(第10図)、LSI  (15a)を
試験ソケット部(14)にセットした後にクランプ解除
ハンド(19)がデバ・イスクランパ(20a、  2
0 b)を開放することによって、LSI  (15a
)は一定の圧力で試験ソケット部(14)とコンタクト
することになる。
■、トレイ (7)上のLS I  (15c)を把持
して、固定CCDカメラ(9)の視界内に搬送する。
■と同じ原理で作業が実行される。
■、LSI  (15c)の位置補正を行い、第1プレ
ヒート部(11)にセットする。
■と同じ原理で作業が実行される。
■、試験の終了したLSI  (15a)にマークを記
入した後光の位置へ収納する。
試験の終了したLSI  (15a)にマーキングユニ
ット(4)によって試験結果に応じたマークを記入しく
第11図)、トレイ (7)の元の位置に収納する。
■、第2プレヒート部(12)にセットされているLS
I  (15b)を、試験ソケット部(14)ヘセフト
する。
■と同じ原理で作業が実行される。
■、トレイ (7)上のLSI  (15d)を把持し
て、固定CCDカメラ(9)の視界内に搬送する。
■と同じ原理で作業が実行される。
@、LSI  (15d)の位置補正を行い、第2プレ
ヒート(12)にセットする。
■と同じ原理で作業が実行される。
■、試験の終了したLSI  (15b)にマークを記
入した後光の位置に収納する。
試験の終了したLSI  (15b)にマーキングユニ
ット(4)によって試験結果に応じたマークを記入し、
トレイ (7)の元の位置に収納する。
■、■〜0の作業をトレイ (7)に載せられている全
てのLSIの試験が終了するまで繰り返し行なう。
[相]、トレイ (7)に載せられている全てのLSI
の試験が終了するとトレイ (7)をトレイ搬送ハンド
(3)によって把持し、作業■に於いて引き出した元の
トレイマガジン(6a)に収納する。
この後は、新たな別のトレイに対して上記の作業■〜■
が順に繰り返される。
以上のような作業がテーブル(10)上に配されている
トレイマガジン(62〜6d)に収納すれた全てのトレ
イに載せられているLSIの試験が終了するまで繰り返
し行われる。
本実施例においては2箇所のプレヒート部を設け、ここ
にセットされたLSIに静電防止処理の施された温風を
吹き付けることによって所定の温度を印加しているが、
このプレヒート部は必ずしも2箇所である必要はなく1
箇所或いは3箇所以上であっても差支えなく、さらに検
査をするL SIに温度を加える必要がない場合におい
ては、トレイに載せられているLSIを把持し位置補正
を行なった後にプレヒート部にセットすることなく直接
試験ソケットを検出してセットするようにしても良い。
「発明の効果」 以上述べたように本考案のLSI検査検査子ステ1よれ
ば、試験トレイに載せられているLSIの位置及び水平
力の傾きを移動CCDカメラで険出し、これにハンドの
中心位置と傾きとを一致させて把持しているためにトレ
イに於いてLSIが正確に位置決めされていなくても確
実な把持がなされ搬送の途中で落下するようなことがな
い。更にプレヒート部にセットする場合においても固定
CCDカメラによってLSI把持の際に生じたハンドの
水平方向の回転角と、LSIとの相対的な位置ズレを検
出しこれを補正してプレヒート部にセットし、又試験ソ
ケット部ヘセソトする場合にはソケットボードに移動C
CDカメラが認識する事の出来る視覚装置感知マークを
取り付けておきこのマークよりソケットの位置を検出し
てLSIをセットするため、セットの際にLSIのリー
ドとソケットの位置ズレのためにソケットに挿入が出来
ない等と言うようなトラブルがなくなる。
従って試験トレイに載せられているLSIは比較的粗く
位置決めがなされているだけで長時間にわたる多数のL
SIの無人検査が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は操作者によってLSIの収納されているトレイ
マガジンをテーブル上の所定の位置に配した状態を示し
、第2図はトレイマガジンよりトレイを引き出している
状態を、第3図はこの引き出したト・レイを試験トレイ
ステージヘセットが終了した状態を示す。第4図は移動
CCDカメラによって試験トレイステージにセットされ
ているトレイ上にあるLSIの位置及び傾きを検出し7
て、これにチャックの位置と向きを合わせる工程を示し
ている。第5図はチャックでトレー上にあるl5Slを
把持した状態を示している。第6図はテーブルに固定さ
れているCCDカメラによって第5図においてLSIを
把持した際に生じた、チャックの水平方向の傾きと、L
SIとの相対的な位置ズレを検出している状態を示して
いる。第7図、第8図はチャックによってLSIをそれ
ぞれ第1プレヒート部及び第2プレヒート部にセットし
ている状態を示している。第9図、第10図は第1プレ
ヒート部に於いて所定の温度が印加されたLSIを抜き
去り試験ソケット部ヘセソトしている状態を示している
。第11図は試験の終了したLSIに試験の結果を表す
マークを記入している状態を示している。第12図は本
発明のLSI検査ハンドリングシステムの全体概略図を
示している1;ロボット本体 2;チャック 3;移動CODカメラ 4;マーキングユニット 5a、5b;)レイ参道ハンド 6a〜6d;トレイマガジン 7; トレイ 8;再試験トレイ 9;固定CCDカメラ 10;テーブル 11;第1プレヒート部 12;第2プレビート部 133〜13c;温風排出ノズル 14;試験ソケット部 15a 〜15d;LSI 16;再試験トレイマガジン 17:試験トレイステージ 18;再試験トレイステージ 19;クランプ解除ハンド 20a、20b;デバイスクランパ 21;ソケットボード 22a、20b;視覚装置感知マーク 23;LSI試験装置 24:モニターTV 25;ロボットビジョン 26;ロボットコントローラー 27;システム電源

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 試験パターン信号を被試験素子に与え記憶させ、これを
    読み出して期待値と比較することによって素子の良否を
    判定するLSI試験装置と、コントロール部より入力さ
    れるプログラムによって作業が実行されるロボットを用
    いたハンドリング装置より成るLSI検査システムにお
    いて、 (1)、ロボットのチャックに近接する場所に装備され
    た視覚装置によってLSIの位置及び水平方向の傾きを
    検出してこれをチャックで把持し、さらにロボット座標
    系に於いて常時固定されている別の視覚装置によってL
    SI把持の際に生じたチャックの水平方向の回転角と、
    LSIとの相対的な位置ズレを検出しこれを補正してプ
    レヒート部にセットし所定の温度を印加した後、再びL
    SIをチャックで把持しプレヒート部より抜去し試験ソ
    ケット部の近傍に搬送し、この時にロボットのチャック
    に近接する場所に装備された視覚装置がLSI試験装置
    のソケットボードに付されている視覚装置感知マークを
    認識することによって試験ソケット部の位置を検出して
    LSIを、プレヒート部と同様に所定の温度を印加する
    手段の講じられている試験ソケット部にセットし、試験
    が終了した後にはLSIに試験結果に応じたマークを記
    入し回収することを特徴とするLSI検査ハンドリング
    システム。 (2)、複数のプレヒート部を有することを特徴とする
    特許請求の範囲第1項記載のLSI検査ハンドリングシ
    ステム。 (3)、プレヒート部と試験ソケット部に於いて静電防
    止処理が施された温風を吹きつけることによって所定の
    温度を印加することを特徴とする特許請求の範囲第1項
    及び第2項記載のLSI検査ハンドリングシステム。 (4)、固定されている視覚装置によって、LSI把持
    の際に生じたチャックの水平方向の回転角と、LSIと
    の相対的な位置ズレを検出しこれを補正した後、ロボッ
    トのチャックに近接する場所に装備された視覚装置がL
    SI試験装置のソケットボードに付されている視覚装置
    感知マークを認識することによって試験ソケット部の位
    置を検出してLSIを試験ソケット部にセットすること
    を特徴とする特許請求の範囲第1項記載のLSI検査ハ
    ンドリングシステム。
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