JPS6356918A - 半導体素子の製造方法 - Google Patents
半導体素子の製造方法Info
- Publication number
- JPS6356918A JPS6356918A JP20205286A JP20205286A JPS6356918A JP S6356918 A JPS6356918 A JP S6356918A JP 20205286 A JP20205286 A JP 20205286A JP 20205286 A JP20205286 A JP 20205286A JP S6356918 A JPS6356918 A JP S6356918A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor substrate
- photosensitive resin
- film
- photosensitive
- resist film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 55
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 9
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 46
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract description 26
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims abstract description 26
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims abstract description 12
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims abstract description 12
- 238000004070 electrodeposition Methods 0.000 claims abstract description 8
- 238000005868 electrolysis reaction Methods 0.000 claims abstract description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 13
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 5
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000003973 paint Substances 0.000 claims description 4
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims description 4
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 claims 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 abstract description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 6
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 abstract 1
- 230000001376 precipitating effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 24
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 12
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 2
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 2
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 2
- SHXWCVYOXRDMCX-UHFFFAOYSA-N 3,4-methylenedioxymethamphetamine Chemical compound CNC(C)CC1=CC=C2OCOC2=C1 SHXWCVYOXRDMCX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- 238000007761 roller coating Methods 0.000 description 1
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 1
- 238000000992 sputter etching Methods 0.000 description 1
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 1
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は半導体素子の製造に関し、特に半導体基板の
表面に感光性レジスト膜を形成する方法に関するもので
ある。
表面に感光性レジスト膜を形成する方法に関するもので
ある。
半導体素子の製造には、¥−導体基板の表面の半導体】
、酸化膜、窒化膜等の誘電体層、及び配線用金属層の上
に感光性レジスト膜を形成し、これに所望のパターンの
露光を行った上で現像処理を施してレジスト膜パターン
を得て、更に、これをマスクにして上記表面の各種の表
面層をプラズマや腐食液を用いて化学触該したり・イオ
ンエッチ等の物理蝕刻を施して、所望のパターンを得る
方法が古くから用いられている。該半導体基板の表面に
感光性レジスト膜を形成する従来の方法としては、液体
レジスト材をローラーコーティングやスピンコーティン
グ等の方法で塗布する方法がとられていた。第3図は一
般的なスピンコーティングの方法を示す工程図で、モー
ター(図示せず)等の回転を伝える軸(1)の先端に設
けられたステージ(2)の表面に真空吸着等で半導体基
板(3)が固定されている図1(a)。この半導体基板
(3)の上に液体状レジスト(4)が滴下されるLll
l (b)。その後回転軸(1)を高速回転させる事に
より半導体基板(3)を回転させる図1(c)。その結
果半導体基板の上に均一に塗布される(5)。
、酸化膜、窒化膜等の誘電体層、及び配線用金属層の上
に感光性レジスト膜を形成し、これに所望のパターンの
露光を行った上で現像処理を施してレジスト膜パターン
を得て、更に、これをマスクにして上記表面の各種の表
面層をプラズマや腐食液を用いて化学触該したり・イオ
ンエッチ等の物理蝕刻を施して、所望のパターンを得る
方法が古くから用いられている。該半導体基板の表面に
感光性レジスト膜を形成する従来の方法としては、液体
レジスト材をローラーコーティングやスピンコーティン
グ等の方法で塗布する方法がとられていた。第3図は一
般的なスピンコーティングの方法を示す工程図で、モー
ター(図示せず)等の回転を伝える軸(1)の先端に設
けられたステージ(2)の表面に真空吸着等で半導体基
板(3)が固定されている図1(a)。この半導体基板
(3)の上に液体状レジスト(4)が滴下されるLll
l (b)。その後回転軸(1)を高速回転させる事に
より半導体基板(3)を回転させる図1(c)。その結
果半導体基板の上に均一に塗布される(5)。
〔発明が解決しようとする問題点〕
従来は以上のように、液体状レジストを遠心力により均
一に塗布していたため、レジストの大部分は飛ばされ、
使用される量はわずかしかないという不経済的であった
。さらに従来の方法では、高々10μm未満の厚みにし
か塗布できず、また比較的厚く塗布すると半導体基板の
周辺の厚みが厚くなりすぎて均一に塗布できない等の欠
点があった。また、1〜2μm程度の薄い膜を塗布する
と、半導体表面に形成された凹凸のため、均一に塗布す
ることができず、凹凸を完全に覆い切れなかったりする
欠点があった。そのために、第4図に示す様に露光現像
して形成したパターン(6)に電気メッキ等で金属層を
選択的に析出(16)する工程において、レジスト膜(
5)より厚く析出する場合、レジスト膜(5)の上に広
がって析出する(7)欠点を有していた。一方、第5図
に示す様に露光現像により形成したパターン(6)の部
分をレジスト膜(5)をマスクにしてエツチングする(
8)場合、レジスト膜(5)にできた被覆不良個所(9
)の下部(10)が同様にエンチングされる等の欠点を
有していた。
一に塗布していたため、レジストの大部分は飛ばされ、
使用される量はわずかしかないという不経済的であった
。さらに従来の方法では、高々10μm未満の厚みにし
か塗布できず、また比較的厚く塗布すると半導体基板の
周辺の厚みが厚くなりすぎて均一に塗布できない等の欠
点があった。また、1〜2μm程度の薄い膜を塗布する
と、半導体表面に形成された凹凸のため、均一に塗布す
ることができず、凹凸を完全に覆い切れなかったりする
欠点があった。そのために、第4図に示す様に露光現像
して形成したパターン(6)に電気メッキ等で金属層を
選択的に析出(16)する工程において、レジスト膜(
5)より厚く析出する場合、レジスト膜(5)の上に広
がって析出する(7)欠点を有していた。一方、第5図
に示す様に露光現像により形成したパターン(6)の部
分をレジスト膜(5)をマスクにしてエツチングする(
8)場合、レジスト膜(5)にできた被覆不良個所(9
)の下部(10)が同様にエンチングされる等の欠点を
有していた。
この発明は、以上のような問題点を解消するためになさ
れたもので、半導体基板の表面全面に感光性樹脂を材料
のロスなく、均一に、しかも半導体基板表面の凹凸をも
完全に被覆できると共に、1μm程度から数+μmの厚
みまで任意の厚みの精度良く塗布できる方法を得ること
を目的としている。
れたもので、半導体基板の表面全面に感光性樹脂を材料
のロスなく、均一に、しかも半導体基板表面の凹凸をも
完全に被覆できると共に、1μm程度から数+μmの厚
みまで任意の厚みの精度良く塗布できる方法を得ること
を目的としている。
この発明に係る半導体素子の製造方法では、電着塗装用
電解槽に収容した水溶性感光樹脂に13光性樹脂を塗布
する表面に導電性膜を形成した半導体基板を浸漬もしく
は、半導体基板の感光性膜を形成する主面を水溶性感光
樹脂に接触させ、もしくは、半導体基板の感光膜を形成
する主面に水溶性感光樹脂を流すことによって、直流電
解で感光膜を析出させる。
電解槽に収容した水溶性感光樹脂に13光性樹脂を塗布
する表面に導電性膜を形成した半導体基板を浸漬もしく
は、半導体基板の感光性膜を形成する主面を水溶性感光
樹脂に接触させ、もしくは、半導体基板の感光膜を形成
する主面に水溶性感光樹脂を流すことによって、直流電
解で感光膜を析出させる。
この発明では、電解槽に収容した電着塗料化水溶性感光
樹脂に半4体基板を浸漬もしくは半導体基板の一生面を
接触させ、また半導体基板の一生面に誤水溶性恐光樹脂
を流して直流電解によって、半導体基板上に感光性樹脂
を析出させ、その後に加熱乾燥することにより感光膜を
得るもので、材料のロスがなく均一で、半導体基板表面
の凹凸を完全に被覆し、任意の膜厚に精度良(塗布形成
できるゆ 〔実施例〕 第1Mはこの発明の一実施例の実施状況を示す断面図で
、 (11)は電解槽、 (12)はその中に収容され
た半導体基板(3)を浸漬する電着塗料化された水溶性
感光樹脂、 (13)は半導体基板(3)と対向して浸
漬されたステンレス鋼かららなる陰極、(1,1)は液
撹拌用空気吹出しパイプである。半導化法板の樹脂を塗
布したい面にはあらかじめへl、Cu等の金属層やIT
O(インジウム浅酸化物)層等の導電層(15)が形成
されている。
樹脂に半4体基板を浸漬もしくは半導体基板の一生面を
接触させ、また半導体基板の一生面に誤水溶性恐光樹脂
を流して直流電解によって、半導体基板上に感光性樹脂
を析出させ、その後に加熱乾燥することにより感光膜を
得るもので、材料のロスがなく均一で、半導体基板表面
の凹凸を完全に被覆し、任意の膜厚に精度良(塗布形成
できるゆ 〔実施例〕 第1Mはこの発明の一実施例の実施状況を示す断面図で
、 (11)は電解槽、 (12)はその中に収容され
た半導体基板(3)を浸漬する電着塗料化された水溶性
感光樹脂、 (13)は半導体基板(3)と対向して浸
漬されたステンレス鋼かららなる陰極、(1,1)は液
撹拌用空気吹出しパイプである。半導化法板の樹脂を塗
布したい面にはあらかじめへl、Cu等の金属層やIT
O(インジウム浅酸化物)層等の導電層(15)が形成
されている。
半導体基板(3)の表面の導電層(15)と陰極(13
)との間に200v程度の直流電圧を印加することによ
って、液(12)中に溶解または分散してマイナスに帯
電していた感光性樹脂が、才・、7体基板(3)表[T
・iの導電層(15)の表面上に電着し、膜厚の増大に
従って電流は低下し、一定の膜厚を得ると同時に悦水も
行われる。その後に、半導体基板(3)を引き上げて加
熱乾燥させることによって感光膜が得られる。
)との間に200v程度の直流電圧を印加することによ
って、液(12)中に溶解または分散してマイナスに帯
電していた感光性樹脂が、才・、7体基板(3)表[T
・iの導電層(15)の表面上に電着し、膜厚の増大に
従って電流は低下し、一定の膜厚を得ると同時に悦水も
行われる。その後に、半導体基板(3)を引き上げて加
熱乾燥させることによって感光膜が得られる。
本発明の方法で形成されたレジスト膜は数+μmと厚く
形成することができるため、第2図に示す様に露光現像
後パターン(6)に選択的に電気メッキした場合レジス
ト(5)の上面を越えて高くメッキする必要がなく、パ
ターン形状に一敗したメッキ(6′)が可能となる。
形成することができるため、第2図に示す様に露光現像
後パターン(6)に選択的に電気メッキした場合レジス
ト(5)の上面を越えて高くメッキする必要がなく、パ
ターン形状に一敗したメッキ(6′)が可能となる。
一方、レジスト膜形成21 n光現像後パターン内をエ
ツチングするに当たり、半導体基板の表面の凹凸はは完
全に被覆されているので第5図に示した被覆欠陥(9)
がなく、下地の異常エツチングも生しることはない。尚
、下地導電膜は不要の場合レジストを除去後エツチング
等で除去する。
ツチングするに当たり、半導体基板の表面の凹凸はは完
全に被覆されているので第5図に示した被覆欠陥(9)
がなく、下地の異常エツチングも生しることはない。尚
、下地導電膜は不要の場合レジストを除去後エツチング
等で除去する。
他の実施例としては、半導体基板を電解槽に浸漬するこ
となく半導体基手反の表面を電着塗料化された水溶性感
光樹脂に接触させたり、樹脂水溶液を半導体表面に吸付
けて流したりする方法であってもよい、第6図に他の一
実施例を示す。図ユこおいて半導体基板(3)は表面の
導電層(15)を電(7塗料化された水溶性感光樹脂液
(12)に接触する様に電解槽(11)に保持されてい
る。電解槽(11)は上記水溶性感光樹脂(12)が流
れ上る内筒部(lla)と半導体基板に電着後もとのタ
ンク(図示セず)に戻る外筒(llb)からなり、内筒
内には半導体基板(3)と対向する様に網状もしくは格
子状の陰極電極(13)が設jりされている。さらに半
導体基板(3)の表向の導電層(15)には外部の陽極
(16)に接続されている。
となく半導体基手反の表面を電着塗料化された水溶性感
光樹脂に接触させたり、樹脂水溶液を半導体表面に吸付
けて流したりする方法であってもよい、第6図に他の一
実施例を示す。図ユこおいて半導体基板(3)は表面の
導電層(15)を電(7塗料化された水溶性感光樹脂液
(12)に接触する様に電解槽(11)に保持されてい
る。電解槽(11)は上記水溶性感光樹脂(12)が流
れ上る内筒部(lla)と半導体基板に電着後もとのタ
ンク(図示セず)に戻る外筒(llb)からなり、内筒
内には半導体基板(3)と対向する様に網状もしくは格
子状の陰極電極(13)が設jりされている。さらに半
導体基板(3)の表向の導電層(15)には外部の陽極
(16)に接続されている。
なお、上側では陰極(13)にステンレス針1板を用い
たが、炭素やその他の導電材を用いても良い。
たが、炭素やその他の導電材を用いても良い。
また、上記実施例では半導体基板(3)を陽極としたが
、印加電圧の極性を逆にして、半導体メ、(機を陰極に
し、それに適した電着感光性樹脂を用いても良い。
、印加電圧の極性を逆にして、半導体メ、(機を陰極に
し、それに適した電着感光性樹脂を用いても良い。
以ト説明したように、この発明はその表面に導電層を形
成した半導体基板表面への感光性膜の形成を電着塗−シ
によるようにしたので、材料のロスがなく、表面に凹凸
があっても完全に被覆し、任意の厚みの均一膜が得られ
る効果がある。
成した半導体基板表面への感光性膜の形成を電着塗−シ
によるようにしたので、材料のロスがなく、表面に凹凸
があっても完全に被覆し、任意の厚みの均一膜が得られ
る効果がある。
第1図は 本発明の一実施例を示す断面図第2図は 本
発明の一実施例のレジストにバターニングし、メッキす
る所の断面図 第3図は 従来の一実施例の工程を示す断面図第4図は
従来の一実施例レジストにバターニングし、メッキず
ろ所の断面図 第5図は 従来の一実施例レジストにバターニングし、
エツチングする所の断面図 第6図は 本発明の他の実施例を示す断面図である。 (3)は1も導体基板、 (11)は電解槽、 (12
)は水)容性感光樹脂、 (13)は陰極、 (15)
は導電性層である。
発明の一実施例のレジストにバターニングし、メッキす
る所の断面図 第3図は 従来の一実施例の工程を示す断面図第4図は
従来の一実施例レジストにバターニングし、メッキず
ろ所の断面図 第5図は 従来の一実施例レジストにバターニングし、
エツチングする所の断面図 第6図は 本発明の他の実施例を示す断面図である。 (3)は1も導体基板、 (11)は電解槽、 (12
)は水)容性感光樹脂、 (13)は陰極、 (15)
は導電性層である。
Claims (4)
- (1)半導体素子の製造に当たり、半導体基板の表面に
感光性レジスト膜を形成するに際し、上記半導体基板の
表面に導電性膜を形成後、上記半導体基板を電着塗装槽
に収容した電着塗料化水溶性感光樹脂に浸漬して直流電
解によって感光性レジスト膜を析出させる工程を有する
ことを特徴とする半導体素子の製造方法。 - (2)その表面に導電性膜を形成した半導体基板を電着
塗料水溶性感光樹脂の液面に上記導電性膜を形成した面
を接触させ、もしくは、上記導電性膜を形成した面に上
記感光性樹脂を流し、直流電解によって感光性レジスト
膜を析出させる工程を有することを特徴とする特許請求
の範囲第1項記載の半導体素子の製造方法。 - (3)感光性レジスト膜に写真製版技術によりパターン
を焼付現像後、下地導電性膜に通電して上記パターン部
に選択的に金属メッキを形成する工程を有することを特
徴とする特許請求の範囲第1項または第2項記載の半導
体装置の製造方法。 - (4)感光性レジスト膜に写真製版技術によりパターン
を焼付現像後、上記レジストをマスクにして露出した下
地導電層を化学触刻もしくは物理触刻する工程、および
該下地導電層をマスクとして下地半導体基板を化学触刻
する工程を有することを特徴とする特許請求の範囲第1
項または第2項記載の半導体装置の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20205286A JPS6356918A (ja) | 1986-08-27 | 1986-08-27 | 半導体素子の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20205286A JPS6356918A (ja) | 1986-08-27 | 1986-08-27 | 半導体素子の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6356918A true JPS6356918A (ja) | 1988-03-11 |
Family
ID=16451140
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20205286A Pending JPS6356918A (ja) | 1986-08-27 | 1986-08-27 | 半導体素子の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6356918A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01261852A (ja) * | 1988-04-12 | 1989-10-18 | Fuji Plant Kogyo Kk | リードフレームへの部分メッキ方法 |
WO1995004370A1 (fr) * | 1993-07-30 | 1995-02-09 | Nippon Paint Co., Ltd. | Procede de depot electrolytique de photoresist |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60207139A (ja) * | 1984-03-07 | 1985-10-18 | チバ‐ガイギー アクチエンゲゼルシヤフト | 画像形成方法 |
-
1986
- 1986-08-27 JP JP20205286A patent/JPS6356918A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60207139A (ja) * | 1984-03-07 | 1985-10-18 | チバ‐ガイギー アクチエンゲゼルシヤフト | 画像形成方法 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01261852A (ja) * | 1988-04-12 | 1989-10-18 | Fuji Plant Kogyo Kk | リードフレームへの部分メッキ方法 |
WO1995004370A1 (fr) * | 1993-07-30 | 1995-02-09 | Nippon Paint Co., Ltd. | Procede de depot electrolytique de photoresist |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3419901A (en) | Method for producing flakes of nickel | |
US11492717B2 (en) | Manufacturing apparatus of electrolytic copper foil | |
CA1268728A (en) | Photoelectroforming mandrel | |
JPS6356918A (ja) | 半導体素子の製造方法 | |
KR101843035B1 (ko) | 모판 및 마스크의 제조 방법 | |
US3729389A (en) | Method of electroplating discrete conductive regions | |
US4302316A (en) | Non-contacting technique for electroplating X-ray lithography | |
US2230868A (en) | Method of manufacturing reticulated metal sheets | |
JP2622589B2 (ja) | 電気化学測定用微小電極セルおよびその製造方法 | |
JPS5929679B2 (ja) | 金属板への部分着色法 | |
JP3400535B2 (ja) | 電着転写用原版およびその製造方法 | |
US20230035647A1 (en) | Electroforming process | |
US3729388A (en) | Method of preparing at least one conductive form | |
SU779446A1 (ru) | Устройство дл нанесени гальванических покрытий контактным способом | |
JP2000021916A (ja) | 半導体装置とその製造方法 | |
JPH0539595A (ja) | 電着塗装方法及び装置 | |
JPH09506468A (ja) | プリント回路基板の製造方法 | |
JP3517286B2 (ja) | 電着転写用原版およびその製造方法 | |
KR102325254B1 (ko) | 모판, 모판의 제조 방법 및 마스크의 제조 방법 | |
KR100219757B1 (ko) | 적층형 박막 인덕터의 제조 방법 | |
JPH0713213Y2 (ja) | 化成装置 | |
CN117936604A (zh) | 一种金属栅线、制备方法及包括金属栅线的光伏电池 | |
JPH0718499A (ja) | 電解メッキ装置 | |
JPH0254927A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPH0120740B2 (ja) |