JPS6355861B2 - - Google Patents

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JPS6355861B2
JPS6355861B2 JP9602683A JP9602683A JPS6355861B2 JP S6355861 B2 JPS6355861 B2 JP S6355861B2 JP 9602683 A JP9602683 A JP 9602683A JP 9602683 A JP9602683 A JP 9602683A JP S6355861 B2 JPS6355861 B2 JP S6355861B2
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waveguide
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mold resin
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Yasumasa Noda
Yoichi Suzuki
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Toshiba Corp
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Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
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    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/50Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
    • H01L21/56Encapsulations, e.g. encapsulation layers, coatings
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C45/00Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor
    • B29C45/17Component parts, details or accessories; Auxiliary operations
    • B29C45/46Means for plasticising or homogenising the moulding material or forcing it into the mould
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    • HELECTRICITY
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  • Processing And Handling Of Plastics And Other Materials For Molding In General (AREA)
  • Casting Or Compression Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明はCPU、マイクロプロセツサ等の半導
体装置の製造に用いられる樹脂封止装置における
モールド樹脂の予熱装置に関する。
〔発明の技術的背景とその問題点〕
半導体樹脂封止装置は、第1図に示すように、
リードフレーム1上にマウントされた半導体ペレ
ツト(図示せず)を保護するために樹脂2により
封止する装置であり、一般には複数個の素子を同
時に樹脂封止をするようになつている。
半導体樹脂封止装置は、第2図に示すように、
基本的には上型(金型)3およびこれと対をなす
下型(金型)4と、その上型3と下型4の間に出
入りしてリードフレームを搬入、搬出するリード
フレームローダ5と、同じく下型4に設けられた
ポツト6(第3図参照)内にタブレツト(封止樹
脂を円柱状等に成形したもの)を挿入するタブレ
ツトローダ7とより成る。
第3図は下型4の平面図であり、上型3との対
向面に複数のキヤビテイ8と隣接するキヤビテイ
8の相互間に樹脂注入用のポツト6が設けられて
いる。図示しないが上型3にも下型4のキヤビテ
イ6に対応して同様なキヤビテイが設けられてい
る。なお、9はポツト6からキヤビテイ8に流動
状態にある樹脂を導入するためのゲートである。
次に動作を説明する。まず、上型3が上昇し、
上型3と下型4の間にリードフレームローダ5が
入り込み、リードフレーム1を下型4に搬入す
る。次いで、リードフレームローダ5が引込んだ
のちタブレツトローダ7がタブレツトを搬入して
ポツト6内に落し込む。このとき、下型4はタブ
レツトを溶かして流動状態にしうる温度(180℃)
に加熱されている。次いで、タブレツトローダ7
が引込んだのち上型3が下降して下型4と合わさ
れる。これにより、上型3と下型4の合せ面には
相互のキヤビテイ6により、第1図の樹脂部2に
対応する形状のキヤビテイが形成される。次い
で、ポツト6内に設けられたプランジヤーが上昇
して流動樹脂を押上げ、ゲート9を介して流動樹
脂をキヤビテイ内に注入する。注入が完了する
と、樹脂は熱硬化性なので短時間で硬化する。次
いで、上型3を上昇させ、樹脂封止された半導体
装置が第1図に示す態様で取出されて封止工程を
終了する。なお、その後の工程で各キヤビテイに
分離されるが、本発明とは関係ないので説明は省
略する。
上述の半導体樹脂封止装置において、ポツト6
内にタブレトを投入した後タブレツトが常温から
溶融成形温度(170〜190℃)に達するまでには数
秒〜十数秒かかる。この時間はタブレツトの大き
さによつて異なる。生産性向上の見地から成形サ
イクル時間を短縮するためには樹脂が熱硬化する
までに要する時間を短くする必要がある。そのた
めに一般には樹脂内の硬化促進剤を増量して硬化
速度を上げる方法を採つている。しかし、この硬
化促進剤の増量は製品の耐湿性を低下させるので
好ましくない。
一方、金型内で樹脂タブレツトを予熱する場合
にどうしてもある一定の時間が必要となる。もし
予熱が不充分な場合には成形時間が長くなつた
り、ワイヤー流れが起こる。このことは、マイク
ロプロセツサ等の大型素子をモールドする場合に
は特に問題となる。また、加熱温度を高くすると
加熱時間の短縮が可能となるものの、成形条件の
不安定化を招き、未充填が起こる。
このように、金型のポツト6内に予熱なしのタ
ブレツトを投入し予熱を行うことは、成形時間、
製品の品質に与える影響が大きく種々の問題が生
じることとなる。
そこで、ポツト6内にタブレツトを投入する前
にタブレツトを予熱して半溶融状態にしておくこ
とにより成形サイクル時間を短縮化する等の方法
により上述の問題を解決することが考えられる。
予熱装置として、例えば高周波(570MHz)によ
る加熱(いわゆる高周波加熱)を用いることが考
えられるが、特にマルチポツト式金型に用いる小
タブレツトに適用する場合に、タブレツトの大き
さに合せて加熱電極を小さくし、かつ接近させな
ければ均一な予熱ができないという問題がある。
〔発明の目的〕
このようなことから、本発明はモールド樹脂の
形態(すなわち、タブレツトか粉末か)にかかわ
らず、また、タブレツトの大小にかかわらず容易
かつ均一に予熱することができ、さらに、モール
ド装置への組み込みが容易で、半導体素子の成形
時間の短縮化を可能とする自動化に適した予熱装
置を提供することを目的とする。
〔発明の概要〕
上記目的を達成するために、本発明による予熱
装置は、 半導体素子の樹脂封止装置において、モールド
用金型にモールド樹脂を充填する前に当該モール
ド樹脂を予熱する装置であつて、 マイクロ波発生源と、このマイクロ波発生源に
接続される導波管および導波管回路を有し、この
導波管中のマイクロ波による電界中心部に合わせ
て前記モールド樹脂を位置させる手段とを備えた
ことを特徴とするものである。
〔発明の実施例〕
以下、本発明を図示する実施例に基づいて説明
する。
第1の例 第4図に本発明による予熱装置の基本的な構成
を示す。この予熱装置はマイクロ波(例えば、
2450MHz)を発生するマイクロ波発生装置10
と、このマイクロ波発生装置10に接続された導
波管11A,11Bと、導波管11B中にタブレ
ツトを搬入するための位置決め装置12とから構
成される。
マイクロ波発生装置10としてはマグネトロン
を用いている。導波管11A,11Bは例えば方
形導波管を用いることができ、具体的な内寸法例
を第5図に示しておく。第5図a,bはタブレツ
トの大きさに合わせて用意した例を示している。
導波管11A,11Bの伝送路中には反射波によ
る発振波への影響を阻止して損失を防ぐためにサ
ーキユレータ13が介在されている。このサーキ
ユレータ13は3開口接合形であり、入力開口が
マイクロ波発生装置10に入力側導波管11Aを
介して接続され、出力開口の1つが方向性結合器
14を介してタブレツトが搬入される出力側導波
管11Bに接続されている。また、他の出力開口
は反射波を吸収するための導波管11Cに接続さ
れている。この導波管11Cの先端には無反射終
端器15が設けられている。26は放熱フインで
ある。方向性結合器14には入力電力検出器16
および反射電力検出器17が設けられ、タブレツ
トに対する放射電力の調整のために供せられるよ
うになつている。
出力側導波管11Bには、第6図に示すよう
に、タブレツト21を導波管路内に搬入し、所定
の位置に位置決めするための導入孔18を含む位
置決め手段25が設けられている。導入孔18の
位置は導波管11Bの内部に形成される電界分布
Eの中心とタブレツト21の中心が合うように設
定する。すなわち、電界Eの中心とタブレツト2
1の中心を合わせることにより、タブレツト21
の中心部の加熱温度と外周部との加熱温度との間
に温度差が生じ、その結果、従来問題とされてい
た内部温度上昇の遅れを解消でき、また外周部は
半固形状態を保持することができるために変形が
なく、金型のポツト内に搬入する場合の取扱いが
容易となる。
導入孔18内にタブレツト21を搬入するため
に、導入孔18の開口部にはマイクロ波の外部へ
のもれを防止するとともにタブレツト21をガイ
ドするチヨーク19が突設されている。そして、
この導入孔18内には、例えばテフロン(商品
名)等の耐熱性非金属物質からなる筒状の保持具
20が設けられている。そしてこの保持具20の
下端開口部にシヤツタ23等の開閉装置を設けて
おくことにより、保持具20の上端開口からタブ
レツト21を投入し、予熱後シヤツタを開くこと
により予熱されたタブレツト21を金型4のポツ
ト6内に自動投入するようにすることができ、タ
ブレツト21の供給と予熱の工程を自動化するこ
とができる。24はプランジヤを示している。
第7図は予熱装置の放射電力をパラメータとし
て予熱時間(sec)とタブレツトの中心温度(℃)
の関係を示したものである。なお、マイクロ波の
周波数は2450MHz、タブレツトの大きさは直径14
mm、重さ3.8gのものである。この第7図からわ
かることは、極めて短時間でかつ省電力で加熱す
ることができ、したがつて成形サイクル時間の短
縮化が可能である点、さらに供給電力を適宜選択
することにより、予熱時間の調整により所望の温
度上昇特性を得ることができるということであ
る。
第2の例 以上の第1の例では、導波管11Bの先端を反
射終端としたが、終端での反射は導波管11Bの
内部電界と反射電波とが相互に干渉して電界分布
の乱れが生じるおそれがあるため、無反射終端と
することが好ましい。その場合の例を第8図に示
す。第8図の例では導波管11Bの先端部に無反
射終端器22が設けられている。無反射終端器2
2としては、ポリアイアンやフエライト等の一般
に知られているものでよい。このようにすること
によつて、均一な予熱が可能となる。
第3の例 以上の第1、第2の例では、タブレツト21を
1個予熱する場合について説明したが、生産性の
点を考えれば複数のタブレツト21を同時に予熱
することが望ましい。その場合の一例を第9図に
示す。第9図は無反射終端の例を示し、複数の位
置決め手段25が設けられている。
次に他の例を第10図a,bに示す。第10図
a,bは同様に1/2λgのピツチで導波管11Bを
順次先端に向かつてステツプ状に狭めたものであ
る。各1/2波長の点が各電界分布の最大点とする
ように位置合せし、その点に第1の例(第4図)
の場合と同様に導入孔18、リブ19、保持具2
0からなる位置決め手段を設けることにより複数
個のタブレツトを同時に予熱することができる。
第7図bは同様の目的で直線状のテーパ面により
先細り状とした例を示している。
変形例 各導波管11A,11Cをフレキシブル導波管
とすることにより、導入孔18を任意の金型のポ
ツトにまで容易に移動することができ、設計上の
自由度を確保することができる。また、以上の例
ではモールド樹脂としてタブレツトを用いたが、
導波管11Bの導入孔18内に保持具20を挿入
しておくことにより、粉末状のモールド樹脂を用
いることもできる。
〔発明の効果〕
以上の通り本発明によれば、導波管路中にモー
ルド樹脂を搬入し、マイクロ波による誘電加熱を
行うため、モールド樹脂の形態ならびに大小にか
かわらず、均一に予熱することができる。また、
モールド樹脂を導波管路内の電界中心に合わせて
モールド樹脂を位置させることにより、モールド
樹脂の内部の温度上昇の遅れを解消でき、またモ
ールド樹脂の内部温度が高く、外部温度を多少低
くすることができるのでモールド樹脂の変形を防
止できるのでモールド樹脂の搬送が容易となり、
結果としてモールド作業の自動化が可能となる。
さらに、マイクロ波により予熱が可能となること
により、成形時間の短縮を図ることができ、ま
た、樹脂の成形不良等の発生を防止できる。
【図面の簡単な説明】
第1図はリードフレーム上の半導体ペレツトを
樹脂封止した例を示す平面図、第2図は従来の半
導体樹脂封止装置の基本的構成を示す立面図、第
3図は下金型の例を示す平面図、第4図は本発明
による予熱装置の構成を示す概要図、第5図a,
bは導波管の開口形状寸法例を示す説明図、第6
図は位置決め手段の構成例を示す断面図、第7図
は本発明による予熱装置における予熱時間とタブ
レツト中心温度の関係を示す説明図、第8図は本
発明の他の実施例を示す概要図、第9図は複数の
タブレツトを同時に予熱する場合の位置決め手段
の構成を示す断面図、第10図aはステツプ状導
波管、bはテーパ状導波管の例を示す説明図であ
る。 1……リードフレーム、2……固化したモール
ド樹脂、3……上型、4……下型、6……ポツ
ト、10……マイクロ波発生装置、11A,11
B,11C……導波管、18……導入孔、20…
…保持具、21……タブレツト、22……無反射
終端器、25……位置決め手段。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 半導体素子の樹脂封止装置において、モール
    ド用金型にモールド樹脂を充填する前に当該モー
    ルド樹脂を予熱する装置であつて、 マイクロ波発生源と、このマイクロ波発生源に
    接続される導波管と、この導波管中のマイクロ波
    による電界中心部に合わせて前記モールド樹脂を
    位置させる手段とを備えたことを特徴とする半導
    体素子用モールド装置の予熱装置。 2 特許請求の範囲第1項記載の装置において、
    導波管の先端は伝播するマイクロ波が反射しない
    ように無反射終端に形成されていることを特徴と
    する半導体素子用モールド装置の予熱装置。 3 特許請求の範囲第2項記載の装置において、
    導波管は相対向する一対の管壁の一方または両方
    が先端に向かつて傾斜するテーパ面とされて先細
    り状に形成されていることを特徴とする半導体素
    子用モールド樹脂の予熱装置。 4 特許請求の範囲第2項記載の装置において、
    導波管は相対向する一対の管壁の一方または両方
    がステツプ状に順次傾斜する面とされて先細り状
    に形成されていることを特徴とする半導体素子用
    モールド樹脂の予熱装置。 5 特許請求の範囲第1項、第2項、第3項また
    は第4項記載の装置において、モールド樹脂はタ
    ブレツト状に形成されていることを特徴とする半
    導体素子用モールド樹脂の予熱装置。 6 特許請求の範囲第5項記載の装置において、
    タブレツトは小タブレツトであることを特徴とす
    る半導体素子用モールド樹脂の予熱装置。 7 特許請求の範囲第1項、第2項、第3項また
    は第4項記載の装置において、モールド樹脂は粉
    末状に形成されていることを特徴とする半導体素
    子モールド樹脂の予熱装置。 8 特許請求の範囲第1項、第2項、第3項、第
    4項、第5項、第6項または第7項記載の装置に
    おいて、前記モールド樹脂の位置決め手段は、導
    波管内に形成される複数の電界中心のそれぞれに
    対応して位置させるようにしたことを特徴とする
    半導体素子用モールド樹脂の予熱装置。
JP9602683A 1983-05-31 1983-05-31 半導体素子用モ−ルド樹脂の予熱装置 Granted JPS59220932A (ja)

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GB08413715A GB2141909B (en) 1983-05-31 1984-05-30 Apparatus for preheating mold resin for a semiconductor device
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WO2019225105A1 (ja) * 2018-05-21 2019-11-28 マイクロ波化学株式会社 成形装置、金型および成形品製造方法

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