JPS6353513B2 - - Google Patents
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- JPS6353513B2 JPS6353513B2 JP802081A JP802081A JPS6353513B2 JP S6353513 B2 JPS6353513 B2 JP S6353513B2 JP 802081 A JP802081 A JP 802081A JP 802081 A JP802081 A JP 802081A JP S6353513 B2 JPS6353513 B2 JP S6353513B2
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- Japan
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- detection electrode
- charged object
- vibrating
- capacitance
- vibrating piece
- Prior art date
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 33
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
- G01R15/14—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
- G01R15/16—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using capacitive devices
- G01R15/165—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using capacitive devices measuring electrostatic potential, e.g. with electrostatic voltmeters or electrometers, when the design of the sensor is essential
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Control Or Security For Electrophotography (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、帯電物体の表面電位を容量分割に
より検出する場合に、振動電極の代りに振動子を
用いる表面電位計に関するものである。
より検出する場合に、振動電極の代りに振動子を
用いる表面電位計に関するものである。
表面電位計は、帯電物体の前に検出電極をお
き、その検出電極に誘起する電位を読み取り、帯
電物体の表面電位を測定するものである。検出電
極に誘起する電位は、検出電極付近の電界に比例
する。この電界が帯電物体の表面電位に比例する
ので、電界の測定から表面電位を求めることがで
きる。
き、その検出電極に誘起する電位を読み取り、帯
電物体の表面電位を測定するものである。検出電
極に誘起する電位は、検出電極付近の電界に比例
する。この電界が帯電物体の表面電位に比例する
ので、電界の測定から表面電位を求めることがで
きる。
従来の表面電位計の構成例を第１図に示す。１
は帯電物体、２は検出電極、３は指示計、Caは
帯電物体１と検出電極２の間の静電容量、Cbは
検出電極２と大地間の静電容量である。帯電物体
１の表面電位をVS、検出電極２の電位をVdとす
れば、次式が成り立つ。
は帯電物体、２は検出電極、３は指示計、Caは
帯電物体１と検出電極２の間の静電容量、Cbは
検出電極２と大地間の静電容量である。帯電物体
１の表面電位をVS、検出電極２の電位をVdとす
れば、次式が成り立つ。
Vd＝Ca／Ca＋CbVS ……(1)
第１図の従来例は、式(1)から明らかなように容
量分割で表面電位VSを測定するものである。こ
の容量分割による測定の一つに振動電極を用いる
ものがある。これは、検出電極２を帯電物体１に
近づけたり遠ざけたりするように振動させ、検出
電極２に誘導する電荷量を振動と同期して増減
し、交流信号として取り出すものである。
量分割で表面電位VSを測定するものである。こ
の容量分割による測定の一つに振動電極を用いる
ものがある。これは、検出電極２を帯電物体１に
近づけたり遠ざけたりするように振動させ、検出
電極２に誘導する電荷量を振動と同期して増減
し、交流信号として取り出すものである。
振動電極による測定は高分解能の測定値が得ら
れる利点はあるが、検出電極２を振動させるため
の機構が必要なので、構造が複雑で、かつ高価と
なる問題がある。
れる利点はあるが、検出電極２を振動させるため
の機構が必要なので、構造が複雑で、かつ高価と
なる問題がある。
この発明は、この問題を解決するためのもの
で、検出電極２は固定しておき、検出電極２の近
くに設けた振動子を振動させることにより、構造
が簡単で安価な表面電位計を提供するものであ
る。以下、図面により、この発明を詳細に説明す
る。
で、検出電極２は固定しておき、検出電極２の近
くに設けた振動子を振動させることにより、構造
が簡単で安価な表面電位計を提供するものであ
る。以下、図面により、この発明を詳細に説明す
る。
まず、この発明による実施例の構成図を第２図
に示す。４は振動子で、振動子４を導体で構成
し、接地する。図では、振動子４として音さを使
用している。４ａと４ｂは振動子４の振動片であ
り、帯電物体１に対面する検出電極２の側面をは
さむように振動片４ａ，４ｂを配置する。
に示す。４は振動子で、振動子４を導体で構成
し、接地する。図では、振動子４として音さを使
用している。４ａと４ｂは振動子４の振動片であ
り、帯電物体１に対面する検出電極２の側面をは
さむように振動片４ａ，４ｂを配置する。
つぎに、第２図の上面図を第３図に示す。振動
片４ａ，４ｂの幅をＴとすると、帯電物体１側で
幅Ｔのほぼ半分までは検出電極２はなく、幅Ｔの
残り半分のところに検出電極２を入れている。い
いかえると、振動片４ａ，４ｂの幅Ｔのうち、帯
電物体１に近い部分では振動片４ａ，４ｂを直接
対面させ、帯電物体１から遠い部分にだけ検出電
極２の側面があるようにする。
片４ａ，４ｂの幅をＴとすると、帯電物体１側で
幅Ｔのほぼ半分までは検出電極２はなく、幅Ｔの
残り半分のところに検出電極２を入れている。い
いかえると、振動片４ａ，４ｂの幅Ｔのうち、帯
電物体１に近い部分では振動片４ａ，４ｂを直接
対面させ、帯電物体１から遠い部分にだけ検出電
極２の側面があるようにする。
第２図と第３図では、検出電極２を振動させず
に、振動子４の振動片４ａ，４ｂを検出電極２に
近づけたり遠ざけたりして振動させる。振動片４
ａ，４ｂを振動させると、帯電物体１と検出電極
２の間の静電容量C1が増減し、同時に検出電極
２と振動片４ａ，４ｂの間の静電容量C2，C3も
増減する。そして、検出電極２には帯電物体１の
表面電位VSに比例した交流信号が得られる。
に、振動子４の振動片４ａ，４ｂを検出電極２に
近づけたり遠ざけたりして振動させる。振動片４
ａ，４ｂを振動させると、帯電物体１と検出電極
２の間の静電容量C1が増減し、同時に検出電極
２と振動片４ａ，４ｂの間の静電容量C2，C3も
増減する。そして、検出電極２には帯電物体１の
表面電位VSに比例した交流信号が得られる。
いま、容量C1の最大値をC1maxとすれば、容
量C1maxは振動片４ａ，４ｂが検出電極２から
もつとも離れたときに得られる。これは、振動片
４ａ，４ｂが検出電極２に近づけば、帯電物体１
から検出電極２への電気力線は接地電位の振動片
４ａ，４ｂに達し、検出電極２に達する電気力線
が減るからである。
量C1maxは振動片４ａ，４ｂが検出電極２から
もつとも離れたときに得られる。これは、振動片
４ａ，４ｂが検出電極２に近づけば、帯電物体１
から検出電極２への電気力線は接地電位の振動片
４ａ，４ｂに達し、検出電極２に達する電気力線
が減るからである。
振動片４ａ，４ｂが検出電極２からもつとも離
れたときの容量C2，C3をそれぞれC2nin、C3min
とし、振動片４ａ，４ｂが検出電極２にもつとも
近づいたときの静電容量C2，C3の変化分を△Ｃ
とすれば、次式が得られる。
れたときの容量C2，C3をそれぞれC2nin、C3min
とし、振動片４ａ，４ｂが検出電極２にもつとも
近づいたときの静電容量C2，C3の変化分を△Ｃ
とすれば、次式が得られる。
C2＝C2min＋△Ｃ ……(2)
C3＝C3min＋△Ｃ ……(3)
また、振動片４ａ，４ｂが検出電極２にもつと
も近づいたときの静電容量C1の変化分を△C1と
すれば、次の式(4)が得られる。
も近づいたときの静電容量C1の変化分を△C1と
すれば、次の式(4)が得られる。
C1＝C1max−△C1 ……(4)
第２図と第３図も容量分割による表面電位計な
ので、式(1)と同じように次の式(5)の関係が成り立
つ。
ので、式(1)と同じように次の式(5)の関係が成り立
つ。
Vd＝C1／C1＋C2＋C3VS ……(5)
式(5)に式(2)、(3)を代入すれば、
Vd＝C1・VS／C1＋２△Ｃ＋C2min＋C3min ……(6)
ここで、△Ｃ≫C2min＋C3min、すなわち振動
片４ａ，４ｂが検出電極２にもつとも近づいたと
きの容量変化分△Ｃが、振動片４ａ，４ｂが検出
電極からもつとも離れたときの容量C2min・
C3minより十分大きいときは、 Vd＝C1／C1＋２△ＣVS ……(7) となる。
片４ａ，４ｂが検出電極２にもつとも近づいたと
きの容量変化分△Ｃが、振動片４ａ，４ｂが検出
電極からもつとも離れたときの容量C2min・
C3minより十分大きいときは、 Vd＝C1／C1＋２△ＣVS ……(7) となる。
式(7)は、振動片４ａ，４ｂの振動で検出電極２
に誘起する電位Vdと帯電物体１の表面電位VSと
の関係を示し、振動片４ａ，４ｂの振動によつて
生ずる周期的な変化成分△Vdは、次の式(8)のと
おりになる。
に誘起する電位Vdと帯電物体１の表面電位VSと
の関係を示し、振動片４ａ，４ｂの振動によつて
生ずる周期的な変化成分△Vdは、次の式(8)のと
おりになる。
△Vd＝VS−C1／C1＋２△ＣVS＝２△Ｃ／C1＋２△ＣVS
……(8)
変化成分△Vdは交流信号であり、帯電物体１
の表面電位VSに比例する。したがつて、変化成
分△Vdを増幅器５で増幅すれば、高分解能の測
定値を得ることができる。
の表面電位VSに比例する。したがつて、変化成
分△Vdを増幅器５で増幅すれば、高分解能の測
定値を得ることができる。
さらに、式(8)の静電容量C1に式(4)を代入すれ
ば、 △Vd＝２△Ｃ・VS／C1max−△C1＋２△Ｃ ……(9) となり、静電容量C1の変化分△C1が変化成分△
Vdの出力を大きくするように働くことが分る。
検出電極２を振動片４ａ，４ｂの幅Ｔのうち、そ
の一部分の長さにするのは、この変化分の容量△
C1を大きくするためである。これにより、変化
成分△Vdへの変換効率が改善される。
ば、 △Vd＝２△Ｃ・VS／C1max−△C1＋２△Ｃ ……(9) となり、静電容量C1の変化分△C1が変化成分△
Vdの出力を大きくするように働くことが分る。
検出電極２を振動片４ａ，４ｂの幅Ｔのうち、そ
の一部分の長さにするのは、この変化分の容量△
C1を大きくするためである。これにより、変化
成分△Vdへの変換効率が改善される。
以上、詳細に説明したとおり、この発明によれ
ば検出電極２を振動させる代りに、音さなどの振
動子を用いて表面電位VSに比例した交流信号を
求めることができる。このため、振動電極に比べ
て構造が簡単になり、小形で安価な表面電位計を
提供することができる。
ば検出電極２を振動させる代りに、音さなどの振
動子を用いて表面電位VSに比例した交流信号を
求めることができる。このため、振動電極に比べ
て構造が簡単になり、小形で安価な表面電位計を
提供することができる。
第１図は従来の表面電位計の構成例、第２図は
この発明による実施例の構成図、第３図は第２図
の上面図である。 １……帯電物体、２……検出電極、３……指示
計、４……振動子、４ａ，４ｂ……振動片、５…
…増幅器、C1……帯電物体１と検出電極２の間
の静電容量、C2……検出電極２と振動片４ａの
間の静電容量、C3……検出電極２と振動片４ｂ
の間の静電容量。
この発明による実施例の構成図、第３図は第２図
の上面図である。 １……帯電物体、２……検出電極、３……指示
計、４……振動子、４ａ，４ｂ……振動片、５…
…増幅器、C1……帯電物体１と検出電極２の間
の静電容量、C2……検出電極２と振動片４ａの
間の静電容量、C3……検出電極２と振動片４ｂ
の間の静電容量。
Claims (1)
- １ 帯電物体の表面電位を容量分割により検出す
る表面電位計において、前記帯電物体に面する検
出電極の側面をはさむように振動子の第１の振動
片と第２の振動片を対面させ、この第１の振動片
と第２の振動片の幅Ｔのうち、前記帯電物体に近
い部分では前記第１の振動片と第２の振動片を直
接対面させ、前記帯電物体から遠い部分にだけ前
記検出電極の側面があるようにし、前記第１の振
動片と第２の振動片を前記検出電極に近づけたり
遠ざけたりするように振動させ、前記帯電物体の
表面電位を測定することを特徴とする表面電位
計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP802081A JPS56107166A (en) | 1981-01-23 | 1981-01-23 | Surfacial electrometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP802081A JPS56107166A (en) | 1981-01-23 | 1981-01-23 | Surfacial electrometer |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56107166A JPS56107166A (en) | 1981-08-25 |
| JPS6353513B2 true JPS6353513B2 (ja) | 1988-10-24 |
Family
ID=11681647
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP802081A Granted JPS56107166A (en) | 1981-01-23 | 1981-01-23 | Surfacial electrometer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS56107166A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58213258A (ja) * | 1982-06-04 | 1983-12-12 | Murata Mfg Co Ltd | 表面電位検出装置 |
| JP4616180B2 (ja) * | 2006-01-20 | 2011-01-19 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 走査電子顕微鏡 |
-
1981
- 1981-01-23 JP JP802081A patent/JPS56107166A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS56107166A (en) | 1981-08-25 |
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