JPS6352336A - 光ピツクアツプ装置 - Google Patents
光ピツクアツプ装置Info
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- JPS6352336A JPS6352336A JP19577386A JP19577386A JPS6352336A JP S6352336 A JPS6352336 A JP S6352336A JP 19577386 A JP19577386 A JP 19577386A JP 19577386 A JP19577386 A JP 19577386A JP S6352336 A JPS6352336 A JP S6352336A
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- JP
- Japan
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- objective lens
- lens
- optical pickup
- light
- detection element
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Links
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 51
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 7
- 230000008878 coupling Effects 0.000 abstract description 6
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 abstract description 6
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 abstract description 6
- 230000004907 flux Effects 0.000 abstract description 3
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 abstract description 3
- 230000010287 polarization Effects 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
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- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(技術分野)
本発明は光ピンクアンプ装置に関し、より詳細には光学
手段を用いて記録媒体上に情報を記録又は再生する光デ
イスク装置に適用しうる光ピックアップ装置に関するも
のである。
手段を用いて記録媒体上に情報を記録又は再生する光デ
イスク装置に適用しうる光ピックアップ装置に関するも
のである。
(従来技術)
光ピックアップ装置においては一般に、情報の記録又は
再生を正確に行なうためにレーザー光を対物レンズによ
り微小スポットに絞り、記録媒体上に集光させるフォー
カシング制御と、記録媒体上に設けられた案内溝に上記
微小スポットを追従させる対物レンズのトラッキング制
御を行なうことができるようになっている。
再生を正確に行なうためにレーザー光を対物レンズによ
り微小スポットに絞り、記録媒体上に集光させるフォー
カシング制御と、記録媒体上に設けられた案内溝に上記
微小スポットを追従させる対物レンズのトラッキング制
御を行なうことができるようになっている。
このトラッキング制御は、光ピックアップの一部を構成
するアクチュエータにより、対物レンズを移動させるこ
とにより行なわれる。
するアクチュエータにより、対物レンズを移動させるこ
とにより行なわれる。
しかし、アクチュエータ中の対物レンズがトラキング方
向に大きく移動した場合に、記録媒体たる光ディスクか
らの反射光の光束のずれが対物レンズ光軸の移動量の2
倍と大きくなり、情報検出素子に対する入射光量が変動
してトラック検出に誤差を生ずるという問題がある。
向に大きく移動した場合に、記録媒体たる光ディスクか
らの反射光の光束のずれが対物レンズ光軸の移動量の2
倍と大きくなり、情報検出素子に対する入射光量が変動
してトラック検出に誤差を生ずるという問題がある。
例えば第10図において、半導体レーザー1から出射さ
れたレーザー光はカップリングレンズ2及び偏光ビーム
スプリッタ3.1/4波長板4、対物レンズ5等を経て
光ディスク6に集光し、その反射光は対物レンズ5.1
74波長板4、偏光ビームスプリッタ3、検出レンズ7
を経て情報検出素子8に結像し、情報の読み取りが行な
われる。
れたレーザー光はカップリングレンズ2及び偏光ビーム
スプリッタ3.1/4波長板4、対物レンズ5等を経て
光ディスク6に集光し、その反射光は対物レンズ5.1
74波長板4、偏光ビームスプリッタ3、検出レンズ7
を経て情報検出素子8に結像し、情報の読み取りが行な
われる。
ここで、例えば対物レンズ5がその光軸について、トラ
ッキング方向(光ディスクの半径方向)にΔだけ移動し
たとすると、情報検出素子8に入射される光束は2Δだ
けずれることになるのである。このため、情報検出素子
8による情報の読み取りに誤差を生ずるとの不具合を生
ずる。
ッキング方向(光ディスクの半径方向)にΔだけ移動し
たとすると、情報検出素子8に入射される光束は2Δだ
けずれることになるのである。このため、情報検出素子
8による情報の読み取りに誤差を生ずるとの不具合を生
ずる。
すなわち、光ピツクアンプ装置において一般に、比較的
短い距離のトラック間移動(10数トラツク以下)では
対物レンズを光ピックアップ本体に対してトラッキング
方向に微小量移動するレンズトラッキングを行ない、長
い距雑のトラック間移動では対物レンズを光ピックアッ
プ本体と共にトラッキング方向に大きく移動させるヘッ
トトラッキングを行なうというように、トラッキング動
作を2段に制御する方式が採られているが、例えばヘッ
ドトランキングを行なう場合にその動作中に対物レンズ
が情報検出素子8に対してずれてしまい情報の読み取り
に誤差を生ずるのである。
短い距離のトラック間移動(10数トラツク以下)では
対物レンズを光ピックアップ本体に対してトラッキング
方向に微小量移動するレンズトラッキングを行ない、長
い距雑のトラック間移動では対物レンズを光ピックアッ
プ本体と共にトラッキング方向に大きく移動させるヘッ
トトラッキングを行なうというように、トラッキング動
作を2段に制御する方式が採られているが、例えばヘッ
ドトランキングを行なう場合にその動作中に対物レンズ
が情報検出素子8に対してずれてしまい情報の読み取り
に誤差を生ずるのである。
(目 的)
従って本発明の目的は対物レンズを常に正しく情報検出
素子に対応づけて位置ずれを修正制御することのできる
光ピックアップ装置を提供することにある。
素子に対応づけて位置ずれを修正制御することのできる
光ピックアップ装置を提供することにある。
(構 成)
本発明は上記目的を達成させるため、対物レンズに対す
る平行光束入射側にて該対物レンズ又はこれと一体的の
ホルダーに取付けられた反射部材と、この反射部材から
の反射光を受光する素子であって光ピックアップ本体に
設けられた位置検出素子と、上記位置検出素子の出力に
基づき上記光ピックアップ本体上の情報検出素子に対す
る上記対物レンズの位置を制御する位置制御手段を有す
ることを特徴としたものである。
る平行光束入射側にて該対物レンズ又はこれと一体的の
ホルダーに取付けられた反射部材と、この反射部材から
の反射光を受光する素子であって光ピックアップ本体に
設けられた位置検出素子と、上記位置検出素子の出力に
基づき上記光ピックアップ本体上の情報検出素子に対す
る上記対物レンズの位置を制御する位置制御手段を有す
ることを特徴としたものである。
以下、本発明の一実施例に暴づいて具体的に説明する。
本発明に係る光ピックアップ装置の全体構成概要を説明
した第1図において、半導体レーザー1゜から出射され
たレーザー光はカップリングレンズ20で平行光束L1
となり、偏光ビームスプリッタ3゜を透過し、さらに1
74波長板40を透過し、対物レンズ50を介して光デ
ィスク6oに集光され、直径1μm程度のスポットとな
る。
した第1図において、半導体レーザー1゜から出射され
たレーザー光はカップリングレンズ20で平行光束L1
となり、偏光ビームスプリッタ3゜を透過し、さらに1
74波長板40を透過し、対物レンズ50を介して光デ
ィスク6oに集光され、直径1μm程度のスポットとな
る。
そして、光ディスク60がらの反射光L2は対物レンズ
50を透過し、174波長板40により偏光角を変えら
れ、偏光ビームスプリッタ3oにより入射光と分雅され
検出レンズ7oの方向に向い、これを透過して信号検出
部82に設けた情報検出素子8oに到達する。
50を透過し、174波長板40により偏光角を変えら
れ、偏光ビームスプリッタ3oにより入射光と分雅され
検出レンズ7oの方向に向い、これを透過して信号検出
部82に設けた情報検出素子8oに到達する。
この反射光を用いて公知のプッシュプル法やナイフェツ
ジ法によりトラック及びフォーカス検出が行なわれる。
ジ法によりトラック及びフォーカス検出が行なわれる。
ここで、半導体レーザー10、カップリングレンズ20
、偏光ビームスプリッタ30.174波長板4o、検出
レンズ70、信号検出部82等は光ピックアップ本体9
0に装着されている。光ピンクアンプ本体9゜は光ディ
スク60の回転中心であるスピンドル100に近付き或
いは遠ざかる向きにヘッドトラッキングが可能である。
、偏光ビームスプリッタ30.174波長板4o、検出
レンズ70、信号検出部82等は光ピックアップ本体9
0に装着されている。光ピンクアンプ本体9゜は光ディ
スク60の回転中心であるスピンドル100に近付き或
いは遠ざかる向きにヘッドトラッキングが可能である。
また、対物レンズ50はホルダー102に一体的に支持
さ九ている。ホルダー102は図示を省略した抜ばねを
介してアクチュエータ104に支持されており、アクチ
ュエータ104は光ピックアップ本体に搭載されている
。上記抜ばねは電磁石或いはりニアモータ等の原理を用
いた微動手段しこよりトラッキング方向に外力を受けて
撓み、これに応じて対物レンズも移動するように構成さ
れており、レンズトラッキングが可能である。
さ九ている。ホルダー102は図示を省略した抜ばねを
介してアクチュエータ104に支持されており、アクチ
ュエータ104は光ピックアップ本体に搭載されている
。上記抜ばねは電磁石或いはりニアモータ等の原理を用
いた微動手段しこよりトラッキング方向に外力を受けて
撓み、これに応じて対物レンズも移動するように構成さ
れており、レンズトラッキングが可能である。
ホルダー102の下端であって平行光束L1の入射側に
は、トラッキング方向上にて対物レンズ5oをはさむよ
うにして反射部材たる2枚のミラー、(1゜M2が対向
して取付は配置されていて、光ディスク60からの戻り
反射光L2と該ミラー反射光L3を分離し得る傾きが与
えられている。
は、トラッキング方向上にて対物レンズ5oをはさむよ
うにして反射部材たる2枚のミラー、(1゜M2が対向
して取付は配置されていて、光ディスク60からの戻り
反射光L2と該ミラー反射光L3を分離し得る傾きが与
えられている。
又、信号検出部82には情報検出素子80をはさみ、2
つの位置検出素子Sl、 S2が上記ミラー旧、 M2
に対向する関係に配置されている。
つの位置検出素子Sl、 S2が上記ミラー旧、 M2
に対向する関係に配置されている。
本例では対物レンズ50の外側に位置しているミラーM
l、 M2の反射光を位置検出素子Sl、 S2に導い
て対物レンズ50の位置検出を行なうのであるから、ミ
ラーMl、 M2に入射される平行光束L1の径を対物
レンズ50の有効径よりも十分に大きくして使用する必
要がある。そこで、平行光束L1の径φはカップリング
レンズ20の焦点距離f、同レンズの開口数NAとする
と、 φ=2・f−NA となる関係があるのでこれを利用して焦点距離f、開口
数NAの値を適宜に選定して上記条件を満たすように定
める。
l、 M2の反射光を位置検出素子Sl、 S2に導い
て対物レンズ50の位置検出を行なうのであるから、ミ
ラーMl、 M2に入射される平行光束L1の径を対物
レンズ50の有効径よりも十分に大きくして使用する必
要がある。そこで、平行光束L1の径φはカップリング
レンズ20の焦点距離f、同レンズの開口数NAとする
と、 φ=2・f−NA となる関係があるのでこれを利用して焦点距離f、開口
数NAの値を適宜に選定して上記条件を満たすように定
める。
ところで、カップリングレンズ20より出射された平行
光束L1は174波長抜40を透過したのち、光軸より
離れた外側の光はその一部がミラーMl、 M2により
遮光されているので第2図に示す如く光ディスク60へ
到達する前に該ミラーにより反射されて光ディスクから
の戻り反射光L2と分離された反射光L3として再び1
/4波長板40を透過し、偏光ビームスプリッタ30及
び検出レンズ70を経て位置検出素子SL、 S2に入
射される。
光束L1は174波長抜40を透過したのち、光軸より
離れた外側の光はその一部がミラーMl、 M2により
遮光されているので第2図に示す如く光ディスク60へ
到達する前に該ミラーにより反射されて光ディスクから
の戻り反射光L2と分離された反射光L3として再び1
/4波長板40を透過し、偏光ビームスプリッタ30及
び検出レンズ70を経て位置検出素子SL、 S2に入
射される。
対物レンズ50の位置は位置検出素子Sl、 S2の出
力差に基づいて検知する。その前提として、対物レンズ
50が情報検出素子80に正しく合致していてトラッキ
ング中立位置にあるときは位置検出素子S1の出力SP
Iと位置検出素子S2の出力SP2が等しくなるように
調整されていることが必要である。その結果、例えば、
第3図に示すようにミラーMl。
力差に基づいて検知する。その前提として、対物レンズ
50が情報検出素子80に正しく合致していてトラッキ
ング中立位置にあるときは位置検出素子S1の出力SP
Iと位置検出素子S2の出力SP2が等しくなるように
調整されていることが必要である。その結果、例えば、
第3図に示すようにミラーMl。
M2に均等に平行光束L1が入射されるときは第4図に
示すように位置検出素子Sl、 S2にもそれぞれ均等
に反射光L3が入射され、差動出力器106へは出力5
P1=SP2が入力され、対物レンズSoが情報検出素
子80に対して正しい位置にあることが検知される。
示すように位置検出素子Sl、 S2にもそれぞれ均等
に反射光L3が入射され、差動出力器106へは出力5
P1=SP2が入力され、対物レンズSoが情報検出素
子80に対して正しい位置にあることが検知される。
これに対し1例えば対物レンズ50が第1図において矢
印108で示す光ディスク60のスピンドル側にずれた
場合には、第5図に示すようにミラー別に対する入射領
域がミラーM2に対するそれよりも増加し、従って第6
図に示す如く位置検出素子S1゜S2に対する受光域も
それに相応して変化し各出力はSPI>SF3となり、
差動出力器106に差分出力があられれる。そして、こ
の差分出力は駆動電力に変換されてアクチュエータ10
4に導かれ、対物レンズ50を修正移動するための電磁
石或いはりニアモータを作動させ、差分出力が零になる
ように対物レンズ50を移動させる。
印108で示す光ディスク60のスピンドル側にずれた
場合には、第5図に示すようにミラー別に対する入射領
域がミラーM2に対するそれよりも増加し、従って第6
図に示す如く位置検出素子S1゜S2に対する受光域も
それに相応して変化し各出力はSPI>SF3となり、
差動出力器106に差分出力があられれる。そして、こ
の差分出力は駆動電力に変換されてアクチュエータ10
4に導かれ、対物レンズ50を修正移動するための電磁
石或いはりニアモータを作動させ、差分出力が零になる
ように対物レンズ50を移動させる。
上記差動検出器や差分出力を駆動電力に変換する電気回
路、及び対物レンズを修正移動するための電磁石或いは
りニアモータなどは対物レンズの位置制御手段を構成す
る。
路、及び対物レンズを修正移動するための電磁石或いは
りニアモータなどは対物レンズの位置制御手段を構成す
る。
なお、半導体レーザー10の出射光は第7図、第8図に
示すように接合面に垂直な上方向と接合面に平行な杉方
向とで発散角及び出力強度が異なる楕円光束(第9図参
照)を呈するので、この楕円光束の長軸方向である上方
向ミラーMl、 M2の配列方向に合わせて周辺光を積
極的に利用することもできる。
示すように接合面に垂直な上方向と接合面に平行な杉方
向とで発散角及び出力強度が異なる楕円光束(第9図参
照)を呈するので、この楕円光束の長軸方向である上方
向ミラーMl、 M2の配列方向に合わせて周辺光を積
極的に利用することもできる。
また、本例のようにトラッキング方向に合わせてミラー
Ml、 M2及び位置検出素子Sl、 S2を配列した
構成では対物レンズ50に位置ずれが生じた場合、第7
図に示す出力強度特性より一方の位置検出素子への入射
領域が増加すると出力強度(光強度)も急勾配で増加し
、他方の位置検出素子についてはこれと逆になるので、
これらの相乗効果によって差分出力は大きくあられれ、
位置検出の感度が向上する利点がある。
Ml、 M2及び位置検出素子Sl、 S2を配列した
構成では対物レンズ50に位置ずれが生じた場合、第7
図に示す出力強度特性より一方の位置検出素子への入射
領域が増加すると出力強度(光強度)も急勾配で増加し
、他方の位置検出素子についてはこれと逆になるので、
これらの相乗効果によって差分出力は大きくあられれ、
位置検出の感度が向上する利点がある。
本例はトラック及びフォーカス検出として採用される種
々の検出法と関係な〈実施可能である。
々の検出法と関係な〈実施可能である。
例えばナイフェツジ法のようにトラック検出とフォーカ
ス検出の2光束に検出光を分割するような場合、それに
対応したトラック検出素子、フォーカス検出素子の何九
か一方又は両方の素子上に一体にレンズ位置検出用の素
子を設ける。
ス検出の2光束に検出光を分割するような場合、それに
対応したトラック検出素子、フォーカス検出素子の何九
か一方又は両方の素子上に一体にレンズ位置検出用の素
子を設ける。
また、非点収差法のように−っのビームで検出できる場
合はそれに対応した検出素子上にレンズ位置検出用の素
子を設ければ設置に際してミラーの傾きで若干の調整も
可能である。
合はそれに対応した検出素子上にレンズ位置検出用の素
子を設ければ設置に際してミラーの傾きで若干の調整も
可能である。
ミラー!H,M2に代えてレンズのホルダー102に直
接蒸着による反射面を形成し反射部材となすこともでき
る。
接蒸着による反射面を形成し反射部材となすこともでき
る。
本例によれば、レンズ位置検出用の特別な光源を必要と
することなく対物レンズのずれを簡易に検出でき、この
検出情報に基づいて修正移動を行ない、安定なトラッキ
ング動作を保証することができる。また、レンズ位置検
出素子を情報検出素子と一体に構成できるためコスト的
にも有利である。さらにレンズ位置検出にあたっては光
束外側の光を利用するので光利用率が高まるとの利点も
ある。
することなく対物レンズのずれを簡易に検出でき、この
検出情報に基づいて修正移動を行ない、安定なトラッキ
ング動作を保証することができる。また、レンズ位置検
出素子を情報検出素子と一体に構成できるためコスト的
にも有利である。さらにレンズ位置検出にあたっては光
束外側の光を利用するので光利用率が高まるとの利点も
ある。
(効 果)
本発明によれば対物レンズの中立位置からのずれを簡易
な手段で検知し、修正することができ好都合である。
な手段で検知し、修正することができ好都合である。
第1図は本発明の一実施例にたる光ピックアップ装置の
概略構成図、第2図はミラーの取付態様及び光路を説明
した斜視図、第3図、第5図はそれぞれミラーレこ入射
される光と反射される光の分布を説明した図、第4図、
第6図はそれぞれ位置検出素子への受光領域並びに上記
素子の出力を処理する手段を説明した図、第7図は半導
体レーザー出射光の発散状態を説明した図、第8図は半
導体レーザー出力光の出力強度分布図、第9図は半導体
レーザー出射光束の光軸直角断面図、第10図は従来の
光ピックアップ装置の構成図である。 50・・・対物レンズ、90・・・光ピックアップ本体
、102・・・ホルダー、106・・・差動出力器、M
l、 M2・・・遷Z 久 ろ7 口
概略構成図、第2図はミラーの取付態様及び光路を説明
した斜視図、第3図、第5図はそれぞれミラーレこ入射
される光と反射される光の分布を説明した図、第4図、
第6図はそれぞれ位置検出素子への受光領域並びに上記
素子の出力を処理する手段を説明した図、第7図は半導
体レーザー出射光の発散状態を説明した図、第8図は半
導体レーザー出力光の出力強度分布図、第9図は半導体
レーザー出射光束の光軸直角断面図、第10図は従来の
光ピックアップ装置の構成図である。 50・・・対物レンズ、90・・・光ピックアップ本体
、102・・・ホルダー、106・・・差動出力器、M
l、 M2・・・遷Z 久 ろ7 口
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 大きなトラッキング動作が可能な光ピックアップ本体と
、この光ピックアップ本体上に設けられていて該光ピッ
クアップ本体に対して微小なトラッキング動作が可能な
対物レンズを有する光ピックアップ装置において、 上記対物レンズに対する平行光束入射側にて該対物レン
ズ又はこれと一体的のホルダーに取付けられた反射部材
と、 この反射部材からの反射光を受光する素子であって光ピ
ックアップ本体に設けられた位置検出素子と、 上記位置検出素子の出力に基づき上記光ピックアップ本
体上の情報検出素子に対する上記対物レンズの位置を制
御する位置制御手段を有することを特徴とする光ピック
アップ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19577386A JPS6352336A (ja) | 1986-08-21 | 1986-08-21 | 光ピツクアツプ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19577386A JPS6352336A (ja) | 1986-08-21 | 1986-08-21 | 光ピツクアツプ装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6352336A true JPS6352336A (ja) | 1988-03-05 |
Family
ID=16346724
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19577386A Pending JPS6352336A (ja) | 1986-08-21 | 1986-08-21 | 光ピツクアツプ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6352336A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2006006296A1 (ja) * | 2004-07-12 | 2006-01-19 | Teac Corporation | 光ピックアップ装置および光ディスク装置 |
-
1986
- 1986-08-21 JP JP19577386A patent/JPS6352336A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2006006296A1 (ja) * | 2004-07-12 | 2006-01-19 | Teac Corporation | 光ピックアップ装置および光ディスク装置 |
US7701814B2 (en) | 2004-07-12 | 2010-04-20 | Teac Corporation | Optical pickup device and optical disk device |
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