JPS6352333A - 光学装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、例えば光学ディスクプレーヤ等に用いて好
適な光学装置に関する。

〔発明の概要〕

この発明は、２つのサイドビームの戻り光を検出し両者
の差によりトラッキングエラー信号を得１つのメインビ
ームによりフォーカスエラー信号並びに再生信号を得る
ようになした光学装置において、トラッキングサーボル
ープをオフとした状態でフォーカスバイアス値を順次可
変せしめ、トラッキングエラー信号が最大となったとき
のフォーカスバイアス値を最適バイアス値として設定す
るようにすることにより、ディスクの違いにより発生す
るｖ５接トランクからの再生信号のクロストークを最小
にするようにしたものである。

〔従来の技術〕

従来装置として例えばスリースボ・７ト法によるトラッ
キングサーボ回路と非点収差法によるフォーカスサーボ
回路を採用した第５図に示すようなものがある。同図に
おいて、＋１１はトラノキングサ−水回路、（２）はフ
ォーカスサーボ回路、（３）は両回路に共用される光検
出器である。光検出器（３）はトラッキングサーボ用の
サイドスポットを受光するための検出部（４）、　（５
１と、フォーカスサーボ用のメインスポットを受光部す
るための検出部＋６１．　（７）。

（８１，（（＋１から成る。

検出部ｆ４１．　（５）からのディスク（図示せず）で
反射された光の強さに応じた出力電流は増幅器（１０）
に供給されて電流電圧変換され、減算されて、増幅器（
１０）の出力側にはトラッキングエラー信号（Ｅ−Ｆ信
号）が得られる。このトラッキングエラー信号は駆動用
増幅器（１１）を介してトラッキングコイル（１２）に
供給される。

また、検出部（６）〜（９）はディスク（図示せず）で
反射された光の強さに応じた電流を発生し、２組みの対
角線上の検出部は夫々の電流が加算される。

この加算された電流は増幅器（１３）で電圧に変換され
、減算されて増幅器（１３）の出力側にはフォーカスエ
ラー信号（（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）信号）が得られる。

このフォーカスエラー信号は駆動用増幅器（１４）を介
してフォーカスコイル（１５）に供給される。

フォーカスサーボ回路（２）は増＠器（１４）において
可変抵抗器（１６）により固定バイアスをかけるように
されており、この場合規準ディスクで再生信号（ＲＦ倍
信号が第４図に示すように最大になるように調整される
。このときディスクに対するビームスポットの位置関係
は、第６図Ａに示すように、メインスポットＭＳはメイ
ントラックＴＭ上にのみ位置し、隣接トランクＴＡ１．
　ＴＡ２にかからないようになる。

〔発明が解決しようとする問題点〕

ところが種々のディスクの厚みは一定でなく、規準ディ
スクでメインスポットＭＳがメイントラックＴＭ上のみ
に位置するように、可変抵抗器（１６）でバイアスを設
定しても、別のディスクでは第６図Ｂに示すようにメイ
ンスポットＭｓが拡がって、隣接トランクＴＡ□、ＴＡ
２にかかり、隣接トラックからの漏れ信号分であるいわ
ゆるクロストークが発生することになる。これは、ディ
スクの厚みが違うためビームスポットの焦点位置がずれ
てビームスポットが拡がるためである。同様にレーザダ
イオード、レンズ等に再生信号が最大となったとき収差
があるとビームスポットが拡がりクロストークが発生す
る。

この発明は斯る点に鑑みてなされたもので、ディスクの
違いにより発生する隣接トラックからの再生信号のクロ
ストークを最小にすることができる光学装置を堤供する
ものである。

〔問題点を解決するための手段〕

この発明による光学装置は、２つのサイドビームの戻り
光を検出し両者の差によりトラッキングエラー信号（Ｅ
−Ｆ）を得、１つのメインビームによりフォーカスエラ
ー信号（（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ））並びに再生信号（Ｒ
Ｆ）を得るようになした光学装τにおいて、フォーカス
バイアス値を順次可変せしめる手段（２３）と、トラッ
キングエラー信号の最大値を検出する手段（２１）とを
備え、トラッキングサーボループ（１）をオフとした状
態でフォーカスバイアス値を順次可変せしめ、トラッキ
ングエラー信号が最大となったときのフォーカスバイア
ス値を最適バイアス値として設定するように構成してい
る。

〔作用〕

２つのサイドビームの戻り光を検出しすなわち検出部（
４）及び（５）で光を検出して電気信号に変換し、増幅
器（１０）で両者の差を検出してトラッキングエラー信
号すなわちＥ−Ｆ信号を得、１つのメインビームにより
すなわち検出部（６）〜（９）によりメインビームの戻
り光を検出して電気信号に変換して増幅器（１３）でフ
ォーカスエラー信号すなわち（Ａ＋Ｃ）　−（Ｂ十Ｄ）
信号及び再生信号すなわちＲＦ倍信号得る。そして、ト
ラッキングサーボ回路（１）をオフとした状態すなわち
スイッチ（２０）を接点ＯＦＦに接続した状態でフォー
カスバイアス値を順次可変せしめ、トラッキングエラー
信号が最大となったときのフォーカスバイアス値を最通
バイアスとして増幅器（１４）に与える。これによりビ
ームスポットのトラックと直角方向（ディスクの半径方
向）の幅が狭（なり、隣接トラックからの再生信号のク
コストークが少くなる。

〔実施例〕

以下、この発明の一実施例をトラッキングサーボにスリ
ースポット法、フォーカスサーボに非点収差法を用いた
場合を例にとり、第１図〜第４図基づいて詳しく説明す
る。

第１図は本実施例の回路構成を示すもので、同図におい
て、第５図と対応する部分には同一符号を付し、その詳
細説明は省略する。

本実施例ではトラッキングエラー信号の大きさに応じて
増幅器（１４〉に印加されるフォーカスバイアス（直を
可変できるようにする。そのた、めに土１幅器（１０）
の出力側にスイッチ（２０）を設け、接点ＯＮを増幅器
（１１）の反転入力端子に接続し、接点ＯＦＦをエンベ
ロープ検波回路（２１）の入力側に接続する。エンベロ
ープ検波回路（２１）は第３図Ａに示すようなトラフキ
ングエラー信号すなわちＥ−Ｆ信号より第３図已に示す
ようなエンベロープを検出し、その最大値を得る。エン
ベロープ検波回路（２１）の出力信号はＡ／Ｄ変換器（
２２）に供給され、アナログ信号よりディジタル信号に
変換される。Ａ／Ｄ変換器（２２）の出力信号は中央処
理裂刃（ＣＰＵ）（２３）に供給され、後述する手順に
従って信号処理される。ＣＰＵ（２３）からの出力信号
はＤ／Ａ変換器（２４）でディジタル信号よりアナログ
信号に変換され、最適のフォーカスバイアス値として増
幅器（１４）の非反転入力端子に供給される。

次に第１図の回路動作を第２図のフローチャートを参照
して説明する。ステップ（イ）でプログラム開始し、ス
テップ（ロ）でスイッチ（２０）を接点ＯＦＦ側に接続
してトラッキングサーボ回路（１）を非動作状態とする
。勿論増幅器（１０）の出力側には検出部（４）及び（
５）の検出に対応したトラッキングエラー信号すなわち
Ｅ−Ｆ信号が現われている。ステ７．プ（ハ）でＣＰＵ
（２３）内の（Ａ）レジスタ（図示せず）を０■とする
。次にステップ（ニ）でＣＰＵ（２３）内の（Ｂ）レジ
スタく図示せず）をαＶとする。このα■はいわゆるや
まのぼり制（３０の１ステツプの大きさを表わす。更に
ステップ（ホ）でＣＰＵ（２３）内の（Ｎ）レジスタ（
図示せず）にやまのぼり制御のステップ数つまりＥ−Ｆ
信号が最大となるまでのステップ数例えば１００を設定
する。

次にステップ（へ）でＣＰＵ（２３）内の（Ａ）レジス
タに設定されている０■をＤ／Ａ変換器（２４）を介し
フォーカスバイアス値として増幅器（１４）に供給する
。ステップ（ト）において、このときの検出部（４）及
び（５）で検出され、増幅器（１０）で減算されたＥ−
Ｆ信号のエンベロープ検波回路（２１）で検出し、　Ａ
／Ｄ変換器（２２）を介してＣＰＵ（２３）に入力する
。

ＣＰＵ（２３）では現在のＥ−Ｆ信号のエンベロープの
値が前のＥ−Ｆ信号のエンベロープの値より大きいか否
かをステップ（チ）でＣＰＵ（２３）において判断し、
大きければステップ（ヌ）で（Ｂ）レジスタに記憶され
ているα■を（Ａ）レジスタに設定し、小さければステ
ップ（す）でＢレジスタに前に設定した値より掻性の反
転した値すなわち一αＶを設定する。ステップ（す）が
終了したら現在のＥ−Ｆ信号のエンベロープの値が前の
Ｅ−Ｆ信号のエンベロープの値より大きい場合と同様ス
テップ（ヌ）で（Ｂ）　レジスタに記憶されているーα
■を（Ａ）レジスタに設定する。

ステップ（ル）で（Ｎ）レジスタの値を（Ｎ）−１すな
わち９９とし、ステップ（ヲ）で（Ｎ）レジスタの値が
Ｏであるか否かをＣＰＵ（２３）で判断し、０でなけれ
ばステップ（へ）に戻って上述の動作を繰り返えす。ス
テップ（ヲ）で（Ｎ）レジスタの値がＯであればすなわ
ちやまのぼり制御のステップが１００回終了したらステ
ップ（ワ）で（Ａ）レジスタに設定されている値をＤ／
Ａ変換器（２４）を介し最適のフォーカスバイアス値と
して増幅器（１４）に供給する。このとき（Ａ）　レジ
スタにはトラッキングエラー信号であるＥ−Ｆ信号の最
大値に対応した値が設定されている筈である。つまり、
本実施例では第４図に示すようにＥ−Ｆ信号が最大とな
るときのフォーカスバイアス値を最適値として増幅器（
１４）に供給してやる。

このようにしてフォーカスバイアス値の最適値の設定が
終るとステップ（力）でスイッチ（２０）を端子ＯＮ側
に切換え、ステップ（ヨ）でプログラムを終了する。

ここで、Ｅ−Ｆ信号を大きくするにはビームスポットの
トラックと直角方向（ディスクの半ｉ冬方向）の幅を狭
くすればよ（、これはレーザダイオードの非点隔差、偏
光ビームスプリッタにより非点収差が発生することから
可能である。そして、ビームスポットのトランクを直角
方向（ディスクの半径方向）の幅を狭くすれば、隣接ト
ラックからの再生信号のクロストークは少くなる。従っ
て、上述の如＜Ｅ−Ｆ信号が最大となるように、フォー
カスバイアス値を調整するわけである。

〔発明の効果〕

上述の如（この発明によれば、従来フォーカスバイアス
を固定としてＲＦＦ信号最大となるようにフォーカスバ
イアスにサーボをかけていたが、この発明ではトラッキ
ングエラー信号（Ｅ−Ｆ信号）が最大となったときのフ
ォーカスバイアス値を最適バイアス値として設定し、フ
ォーカスバイアスにサーボをかけるようにしたので、隣
接トランクからの再生信号（ＲＦＦ信号のクロストーク
を最小に抑えることができる。

また、スキャン、サーチ時に現在読み取っているトラッ
クから目的のトラック若しくは現在読み取っているトラ
ンクと目的のトランクの途中でデータを読み取る場合、
そのトラックにビームスポットをすみやかに位冒決め（
整定）することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例を示す回路構成図、第２図
は第１図の動作説明に供するためのフローチャート、第
３図は第１図の各部の信号波形を示す図、第４図はフォ
ーカスサーボのバイアスの掴整について従来とこの発明
を対比して示す図、第５図は従来回路の一例を示す図、
第６図はディスクに対するビームスポットの位四の説明
に供するための図である。 ＋１）はトラッキングサーボ回路、（２）はフォーカス
サーボ回路、（３）は光検出器、（１０）　、　　（１
１）　。 （１３）　、　　（１４）は増幅器、（２０）はスイッ
チ、（２１）はエンベロープ検波回路、（２２）はＡ／
Ｄ変換器、（２３）は中央処理回路（ＣＰ　Ｕ）、（２
４）はＤ／Ａ変換器である。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 ２つのサイドビームの戻り光を検出し両者の差によりト
   ラッキングエラー信号を得、 １つのメインビームによりフォーカスエラー信号並びに
   再生信号を得るようになした光学装置において、 フォーカスバイアス値を順次可変せしめる手段と、 トラッキングエラー信号の最大値を検出する手段と を備え、トラッキングサーボループをオフとした状態で
   フォーカスバイアス値を順次可変せしめ、トラッキング
   エラー信号が最大となったときのフォーカスバイアス値
   を最適バイアス値として設定するようになした光学装置
   。