JPS6352038A - 磁気デイスクの摩擦測定方法 - Google Patents

磁気デイスクの摩擦測定方法

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Publication number
JPS6352038A
JPS6352038A JP19656486A JP19656486A JPS6352038A JP S6352038 A JPS6352038 A JP S6352038A JP 19656486 A JP19656486 A JP 19656486A JP 19656486 A JP19656486 A JP 19656486A JP S6352038 A JPS6352038 A JP S6352038A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetic disk
motor
friction
coefficient
disk
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP19656486A
Other languages
English (en)
Inventor
Tsutomu Ito
努 伊藤
Yojiro Okawa
大川 洋次郎
Miwako Ichinose
一ノ瀬 美和子
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP19656486A priority Critical patent/JPS6352038A/ja
Publication of JPS6352038A publication Critical patent/JPS6352038A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Force Measurement Appropriate To Specific Purposes (AREA)
  • Recording Or Reproducing By Magnetic Means (AREA)
  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、ハードディスク等の磁気ディスクの摩擦力
、特に静摩擦力を測定するための磁気ディスクの摩擦測
定方法に関する。
〔発明の概要〕
この発明では、磁気ディスク上に位置されたヘッドスラ
イダに糸を介して結合されたセンサを用いて磁気ディス
クのN擦特性を測定する磁気ディスクの摩擦測定方法に
おいて、磁気ディスクの静止時に、磁気ディスク及びヘ
ッドスライダが接触され、磁気ディスクの回転開始直後
では、磁気ディスクの回転速度が極めて低速とされ、セ
ンサにより検出される摩擦力がピーク値より所定レベル
下がった後に磁気ディスクの回転速度が定常とされ、磁
気ディスクの静F!!!擦力が正確に測定される。
〔従来の技術〕
ハードディスクの摩擦係数を測定するための規格化され
た測定方法として、測定の対象とするハードディスク上
にヘッドスライダを載置し、このヘッドスライダに適量
の重りを加え、ヘッドスライダと歪センサ例えばストレ
インゲージとを糸で結合し、ハードディスクを所定の回
転数(50rpm)で回転させ、ストレインゲージの出
力信号から摩擦係数を測定する方法が知られている。ハ
ードディスクの摩擦係数としては、ヘッドスライダが静
止状態から滑り出そうとする時の静摩擦係数μsとハー
ドディスクが動いている状態における動摩擦係数μdと
を測定する必要がある。
第3図は上述の従来の測定方法で得られた摩擦係数の測
定データである。第3図において横軸はハードディスク
の動きIR1縦軸は測定された摩擦係数μである。ハー
ドディスクが起動された時に発生する摩擦係数のピーク
21が静摩擦係数μsとして検出され、このピーク21
が立ち下がった後の値(平均値)が動M擦係数μdとし
て検出される。
〔発明が解決しようとする問題点〕
従来の17擦測定方法では、50 (rpm )の回転
数で回転されるモータの起動時に静摩擦係数が測定され
るので、たるんでいる糸が急激に引っ張られた時の衝撃
力がストレインゲージに加わり、ピーク21の値が正確
に静摩擦係数と対応しなかったり、測定値のバラツキが
生じる問題があった。
従って、この発明の目的は磁気ディスクの静摩擦係数を
正確に測定することができる磁気ディスクの摩擦測定方
法を提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
この発明では、磁気ディスク1上に位置されたヘントス
ライダ3に糸5を介して結合されたセンサ6を用いて磁
気ディスク1の摩擦特性を測定する磁気ディスクの摩擦
測定方法におい゛て、磁気ディスクlの静止時に、磁気
ディスク1及びヘッドスライダ3が接触され、磁気ディ
スクlの回転開始直後では、磁気ディスクlの回転速度
が極めて低速とされ、センサ6により検出される摩擦係
数がピーク値より所定値TH下がった後に、磁気ディス
クlの回転速度が定常とされる。
〔作用〕
磁気ディスク1の回転速度が超低速度で回転するように
起動される。従って、センサ6に対して衝撃力が加わら
ずヘッドスライダ3が滑り出そうとする時の静摩擦係数
μsが正確に測定できる。
測定された摩擦係数がピーク値より所定価TH下がるこ
とにより、静摩擦係数μsの測定が終了したことが分か
る。この後は、磁気ディスクlが定常回転速度、例えば
50 (rpm )とされる。磁気ディスクが定常回転
速度になった状態で動摩擦係数μdを測定することがで
きる。
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例について説明する。
第1図はこの発明が適用された測定装置の構成を示し、
■が測定の対象とするハードディスクを示す。ハードデ
ィスク1は、例えば直流モータの構成のモータ2によっ
て回転される。ハードディスク1上には、ヘッドスライ
ダ3が載置され、またへラドスライダ3上に適量の重り
4が載置されている。ヘッドスライダ3は、糸5を介し
てストレインゲージ6の測定子と結合されている。
ストレインゲージ6からの検出信号がアンプ7を介して
A/D変換器8に供給される。A/D変換器8において
ディジタル信号に変換された検出信号がデータ処理解析
用のCPU9の共通パスライン10に供給される。CP
U9の共通ハスラインIOには、CRTディスプレイ1
1.プリンタ12、キーボード13等が結合されている
ゆCPU9の制御のもとでディジタル検出信号が処理さ
れ、ディジタル検出信号から静摩擦係数μs及び動摩擦
係数μdが求められる。また、CPU9はハードディス
ク1を回転させるモータ2を制御するモータ制御信号を
発生する。このモータ制御信号がD/A変換器を含むイ
ンターフェース14を介してモータドライブ回路15に
供給される。モータドライブ回路15からモータ2に対
してドライブ信号が供給される。
モータ2に対する制御は、起動時には、モータ2が超低
速で回転するようになされ、測定された摩擦係数がピー
ク値より所定値TH低下した時に、モータ2が定常の回
転数50 (rpm )となるように制御される。起動
時にモータ2により発生するトルクは、極めて小さい。
第2図はこの発明により得られた測定データの一例を示
し、横軸がハードディスク1の動き量R,縦軸が測定さ
れた摩擦係数μを示す。ハードディスク1の静止時には
、摩擦係数μがゼロである。
静止状態からハードディスク1が超低速で動こうとし、
ヘントスライダ3がまさにハードディスク1上で滑り出
そうとする時に、摩擦係数μがピークとなる。このピー
ク値が静摩擦係数μsとして測定される。ヘッドスライ
ダ3がハードディスクl上で滑り出すと、摩擦係数μが
低下する。CPU9からなるデータ処理解析部では、こ
の摩擦係数μがピーク値から所定値TH下がったことが
検出される。この検出時点からモータ2が定常回転速度
で回転するように制御され、定常回転速度における摩擦
係数の平均値が動摩擦係数μdとして測定される。
また、CPU9からなるデータ処理解析部では、ストレ
インゲージ6の検出信号から直接的に動摩擦係数μdを
測定する処理の他にハードディスクlの定常回転時に測
定された摩擦係数のデータ(モジュレーション)を分布
関数に変換し、この分布関数から摩擦特性を測定するよ
うにしても良い、つまり、分布関数の平均値を動摩擦係
数とし、分散又は標準偏差をモジュレーションとし、突
発的なモジュレーションをポジティブ又はネガティブモ
ジュレーションとし、周波数分析を回転数依存性ステイ
クスリップとするなどのデータ処理が行われる。
なお、この発明はフレキシブルディスクの摩擦特性の測
定に対しても通用することができる。
〔発明の効果〕
この発明では、ディスクを回転させるためのモータが起
動時に極めて低速で回転されるので、衝撃力の発生が抑
えられ、ヘッドスライダが滑り始めようとする時の静摩
擦力を正確に測定することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明が適用された測定装置の一例のブロッ
ク図、第2図はこの発明の説明に用いる測定データの一
例のグラフ、第3図は従来の測定方法の説明に用いる測
定データの一例のグラフである。 図面における主要な符号の説明 1ニハードデイスク、  2:モータ、 3:ヘッドス
ライダ、  5:糸、  6:ストレインゲージ。 代理人   弁理士 杉 浦 正 知 第1図 O刻屹用  2 第3図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 磁気ディスク上に位置されたヘッドスライダに糸を介し
    て結合されたセンサを用いて上記磁気ディスクの摩擦特
    性を測定する磁気ディスクの摩擦測定方法において、 上記磁気ディスクの静止時に、上記磁気ディスク及び上
    記ヘッドスライダを接触させ、上記磁気ディスクの回転
    開始直後では、上記磁気ディスクの回転速度を極めて低
    速とし、上記センサにより検出される摩擦係数がピーク
    値より所定値下がった後に、上記磁気ディスクの回転速
    度を定常とすることを特徴とする磁気ディスクの摩擦測
    定方法。
JP19656486A 1986-08-22 1986-08-22 磁気デイスクの摩擦測定方法 Pending JPS6352038A (ja)

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JPS6352038A true JPS6352038A (ja) 1988-03-05

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02203226A (ja) * 1989-02-01 1990-08-13 Onoda Cement Co Ltd 動摩擦力試験装置
JPH02213740A (ja) * 1989-02-15 1990-08-24 Fuji Electric Co Ltd 磁気ディスクの摩擦摩耗試験装置
JPH03230321A (ja) * 1990-02-05 1991-10-14 Hitachi Ltd 粘着力測定装置
US5859357A (en) * 1995-12-25 1999-01-12 Fujitsu Limited Apparatus for measuring friction force between a magnetic head and a magnetic disk
JP2002181693A (ja) * 2000-12-18 2002-06-26 Toyobo Co Ltd 表面性状測定装置および方法

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