JPS6351424B2 - - Google Patents
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- JPS6351424B2 JPS6351424B2 JP55145077A JP14507780A JPS6351424B2 JP S6351424 B2 JPS6351424 B2 JP S6351424B2 JP 55145077 A JP55145077 A JP 55145077A JP 14507780 A JP14507780 A JP 14507780A JP S6351424 B2 JPS6351424 B2 JP S6351424B2
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- JP
- Japan
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- optical
- converter
- optical transmission
- signal
- integrator
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- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 44
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 claims description 23
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 16
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims 1
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- 230000008859 change Effects 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
- G01M11/332—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face using discrete input signals
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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- Optical Communication System (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Dc Digital Transmission (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、電気→光変換器（Ｅ／Ｏ変換器）、
光伝送線路、光→電気変換器（Ｏ／Ｅ変換器）か
ら構成される光伝送回路の性能劣化を検出する回
路方式に関するものである。
光伝送線路、光→電気変換器（Ｏ／Ｅ変換器）か
ら構成される光伝送回路の性能劣化を検出する回
路方式に関するものである。
光伝送回路の中で特にＥ／Ｏ変換器は、経時変
化を起こすという特性を持つている。この経時変
化による劣化が進行すると、ついには光伝送回路
の故障ということになるので、劣化があるところ
まで進行したら検出できることが望まれている。
化を起こすという特性を持つている。この経時変
化による劣化が進行すると、ついには光伝送回路
の故障ということになるので、劣化があるところ
まで進行したら検出できることが望まれている。
第１図に、光伝送回路の構成をブロツク図で示
す。同図において、１はＥ／Ｏ変換器、２はＯ／
Ｅ変換器、３は光伝送線路である。Ｅ／Ｏ変換器
の劣化検出方法として、第２図に示す如く送信側
において光出力を直接取り出してこれを測定する
方法が知られている。第２図ａは、実線路３とは
異なる光伝送回路３ａを検出用に使用する方法、
第２図ｂは実線路３を光分岐器５で分岐して得ら
れる伝送路３ｂを検出用に使用する方法である。
第２図においてＯ／Ｅ変換器４は光伝送線路３か
らの光出力のレベルを検出するもので、この出力
がある値以下になるとＥ／Ｏ変換器が劣化したも
のとして警報を発する。
す。同図において、１はＥ／Ｏ変換器、２はＯ／
Ｅ変換器、３は光伝送線路である。Ｅ／Ｏ変換器
の劣化検出方法として、第２図に示す如く送信側
において光出力を直接取り出してこれを測定する
方法が知られている。第２図ａは、実線路３とは
異なる光伝送回路３ａを検出用に使用する方法、
第２図ｂは実線路３を光分岐器５で分岐して得ら
れる伝送路３ｂを検出用に使用する方法である。
第２図においてＯ／Ｅ変換器４は光伝送線路３か
らの光出力のレベルを検出するもので、この出力
がある値以下になるとＥ／Ｏ変換器が劣化したも
のとして警報を発する。
第２図の従来技術では、検出用のＯ／Ｅ変換器
４が別に必要である、そのためＥ／Ｏ変換器２が
特殊なものとなるので、該変換器２として汎用の
モジユールが使用できない、また光分岐器５を使
用するので挿入損が発生するなど、経済的にも、
特性的にも問題があつた。
４が別に必要である、そのためＥ／Ｏ変換器２が
特殊なものとなるので、該変換器２として汎用の
モジユールが使用できない、また光分岐器５を使
用するので挿入損が発生するなど、経済的にも、
特性的にも問題があつた。
この発明は、かゝる従来技術における問題点を
解決するためになされたものであり、従つてこの
発明の目的は、デイジタル伝送を行なう光伝送回
路において、Ｅ／Ｏ変換器、光伝送線路、Ｏ／Ｅ
変換器には標準品を使用することが可能で、且つ
光分岐器等の光伝送用部品を必要としない経済的
で信頼性の高い光伝送回路の劣化検出方式を提供
することにある。
解決するためになされたものであり、従つてこの
発明の目的は、デイジタル伝送を行なう光伝送回
路において、Ｅ／Ｏ変換器、光伝送線路、Ｏ／Ｅ
変換器には標準品を使用することが可能で、且つ
光分岐器等の光伝送用部品を必要としない経済的
で信頼性の高い光伝送回路の劣化検出方式を提供
することにある。
この発明の構成の要点は、パルス伝送において
光信号のレベルが低下すると受信したパルス幅に
変化が生じることを利用し、これを巧みに検出す
るように構成した点にある。第３図は、第１図Ａ
点の送信波形とＢ点の受信波形を示し、t0はパル
ス幅、t1は伝送遅れ時間、t2は受信信号の送信パ
ルス波形からの細りを示す変化分である。（変化
分t2は、Ｏ／Ｅ変換器の特性によつては拡がりと
なることもある）。変化分t2は光信号のレベルが
低下すると大きくなるので、これがある値以下に
なると光伝送回路が劣化したことになる。この変
化分t2を測定するには、各パルス毎にt2の絶対値
を測定するのが直接的方法であるが、10MBit／
Ｓ以上の高速伝送になるとt2の値は5ns以下とな
り、実際的には測定することが出来ない。このた
めこの発明では、伝送するパルス系列に或る規則
性を持たせ、これを利用してt2を測定するように
しているところに特徴がある。
光信号のレベルが低下すると受信したパルス幅に
変化が生じることを利用し、これを巧みに検出す
るように構成した点にある。第３図は、第１図Ａ
点の送信波形とＢ点の受信波形を示し、t0はパル
ス幅、t1は伝送遅れ時間、t2は受信信号の送信パ
ルス波形からの細りを示す変化分である。（変化
分t2は、Ｏ／Ｅ変換器の特性によつては拡がりと
なることもある）。変化分t2は光信号のレベルが
低下すると大きくなるので、これがある値以下に
なると光伝送回路が劣化したことになる。この変
化分t2を測定するには、各パルス毎にt2の絶対値
を測定するのが直接的方法であるが、10MBit／
Ｓ以上の高速伝送になるとt2の値は5ns以下とな
り、実際的には測定することが出来ない。このた
めこの発明では、伝送するパルス系列に或る規則
性を持たせ、これを利用してt2を測定するように
しているところに特徴がある。
第４図は、この発明の一実施例を示すブロツク
図である。第４図において１，２，３は第１図と
同一で、６は送信側のコード変換器、７は受信側
のコード復号器、８は光信号劣化検出回路であ
る。
図である。第４図において１，２，３は第１図と
同一で、６は送信側のコード変換器、７は受信側
のコード復号器、８は光信号劣化検出回路であ
る。
第５図は、光信号劣化検出回路８の一例を示す
回路図である。第５図で８１はバツフアアンプ、
８２は積分器、８３は高電位レベル検出コンパレ
ータ、８４は低電位レベル検出コンパレータ、８
５はオア回路である。
回路図である。第５図で８１はバツフアアンプ、
８２は積分器、８３は高電位レベル検出コンパレ
ータ、８４は低電位レベル検出コンパレータ、８
５はオア回路である。
前述した如く、光伝送回路の劣化に伴なう伝送
パルスの細り（太り）を単一パルス単位で検出す
るのは、ハードウエア技術的には困難であるの
で、第５図ではＮ個（但しＮは充分に大きい数で
理想的には無限大）のパルスの積分値を利用して
いる。今、バツフアアンプ８１への入力がマー
ク：スペース＝ａ：ｂ（ａ＋ｂ＝一定）のパルス
信号であるとすると、積分器８２のチヤージとデ
イスチヤージの時定数Ｔが、前記マークａの期間
に比較して、Ｔ≫ａの関係にあると、電源電圧が
E0であれば、積分器８２の出力V0はV0＝E0・
ａ／ａ＋ｂとなる。第６図にV0とａとの関係図を示 す。
パルスの細り（太り）を単一パルス単位で検出す
るのは、ハードウエア技術的には困難であるの
で、第５図ではＮ個（但しＮは充分に大きい数で
理想的には無限大）のパルスの積分値を利用して
いる。今、バツフアアンプ８１への入力がマー
ク：スペース＝ａ：ｂ（ａ＋ｂ＝一定）のパルス
信号であるとすると、積分器８２のチヤージとデ
イスチヤージの時定数Ｔが、前記マークａの期間
に比較して、Ｔ≫ａの関係にあると、電源電圧が
E0であれば、積分器８２の出力V0はV0＝E0・
ａ／ａ＋ｂとなる。第６図にV0とａとの関係図を示 す。
次に第６図のグラフが成立する理由を第６Ａ図
を併せ参照することにより説明しておく。
を併せ参照することにより説明しておく。
積分器８２のチヤージとデイスチヤージの時定
数を同一としてＴで表すと、信号の伝送速度が速
いので、本発明では、Ｔ≫ａの関係が成立してい
る。
数を同一としてＴで表すと、信号の伝送速度が速
いので、本発明では、Ｔ≫ａの関係が成立してい
る。
ここで、に示すようなパルスは、とに示
されるパルスの合成と考えられるので、積分出力
はそれらのパルスが個々に積分器に入力された場
合の応答を合成することにより、のパルスが入
力された場合の応答を得ることができる。
されるパルスの合成と考えられるので、積分出力
はそれらのパルスが個々に積分器に入力された場
合の応答を合成することにより、のパルスが入
力された場合の応答を得ることができる。
ここで、仮に、前記の条件と異なり、ａ≫Ｔと
いう条件が成立していたとすると、個々の応答は
、において破線で示すように、ａの期間でそ
れぞれ±Ｅに達してしまうので、合成されたもの
は、において破線で示すようになり、最終的に
積分器の出力は０となる。
いう条件が成立していたとすると、個々の応答は
、において破線で示すように、ａの期間でそ
れぞれ±Ｅに達してしまうので、合成されたもの
は、において破線で示すようになり、最終的に
積分器の出力は０となる。
これに対して、本発明の場合のように、Ｔ≫ａ
の関係が成立していると、個々の応答は、、
における破線で示すようになり、合成されたもの
は、において破線で示すようになり、積分器の
出力が生じる。
の関係が成立していると、個々の応答は、、
における破線で示すようになり、合成されたもの
は、において破線で示すようになり、積分器の
出力が生じる。
従つて、積分器の出力はに示すように順次増
加していく。ところが、コンデンサへの充電が進
むにつれて、E1の値が小さくなるので、期間ａ
における応答曲線の傾きが減少していくのに対し
て、E2の値は大きくなるので、期間ｂにおける
応答曲線の傾きはマイナス方向に大きくなり、ど
こかで積分器の出力は安定化する。
加していく。ところが、コンデンサへの充電が進
むにつれて、E1の値が小さくなるので、期間ａ
における応答曲線の傾きが減少していくのに対し
て、E2の値は大きくなるので、期間ｂにおける
応答曲線の傾きはマイナス方向に大きくなり、ど
こかで積分器の出力は安定化する。
ａ＝０のときは、積分器出力は０となり、ｂ＝
０のときは、積分器出力はＥとなり、その中間で
はａとｂの比に応じた値になる。
０のときは、積分器出力はＥとなり、その中間で
はａとｂの比に応じた値になる。
ａが初期の値であるとし、これが光伝送回路の
劣化に伴なつて±Ｘ％変化したとき積分器出力電
圧V0はV0＝E0・ａ／ａ＋ｂ（１±Ｘ）となるので、 第５図における基準電圧V1をE0ａ／ａ＋ｂ（１＋ Ｘ）、同じく基準電圧V2をE0ａ／ａ＋ｂ（１−Ｘ） に設定すれば、光伝送回路が劣化し、パルスがＸ
％以上の太り又は細りになつたことを検出できる
（細りか太りのどちらかになることがわかつてい
ればコンパレータは１個でよい）。
劣化に伴なつて±Ｘ％変化したとき積分器出力電
圧V0はV0＝E0・ａ／ａ＋ｂ（１±Ｘ）となるので、 第５図における基準電圧V1をE0ａ／ａ＋ｂ（１＋ Ｘ）、同じく基準電圧V2をE0ａ／ａ＋ｂ（１−Ｘ） に設定すれば、光伝送回路が劣化し、パルスがＸ
％以上の太り又は細りになつたことを検出できる
（細りか太りのどちらかになることがわかつてい
ればコンパレータは１個でよい）。
第６図のグラフは、１ビツトタイム中のマーク
とスペースの比が一定という条件のもとで成立す
るものであるので、第４図の送信側コード変換器
６の出力は、この条件を実現しなければならな
い。これを実現するコードの一例として第７図に
示すマンチエスタコードがある。第７図に示す如
く、マンチエスターコードは１ビツトタイムのマ
ークとスペースの比が一定である。
とスペースの比が一定という条件のもとで成立す
るものであるので、第４図の送信側コード変換器
６の出力は、この条件を実現しなければならな
い。これを実現するコードの一例として第７図に
示すマンチエスタコードがある。第７図に示す如
く、マンチエスターコードは１ビツトタイムのマ
ークとスペースの比が一定である。
上述した如く、マークとスペースの比が一定で
あるコードのパルス信号を光伝送回路を介して伝
送し、受信側のＯ／Ｅ変換器の後でこのパルス信
号列を積分器で積分し、積分器の出力をコンパレ
ータで判別することで、光伝送回路の劣化を検出
することが出来る。
あるコードのパルス信号を光伝送回路を介して伝
送し、受信側のＯ／Ｅ変換器の後でこのパルス信
号列を積分器で積分し、積分器の出力をコンパレ
ータで判別することで、光伝送回路の劣化を検出
することが出来る。
この発明によれば、光伝送回路に１ビツトタイ
ムではマークとスペースの比が一定であるような
複数ビツトタイムから成る符号のパルス列を入力
するようにして、受信側ではＯ／Ｅ変換器の後で
このパルス列を積分し、積分器の出力をコンパレ
ータで判別するようにしたため、Ｅ／Ｏ変換器の
劣化はもちろん、Ｏ／Ｅ変換器の特性劣化、光伝
送線路の劣化も含めた光伝送回路全体の劣化検出
が可能である。更にこの発明の光伝送劣化検出回
路は、光伝送の主回路に並列に付加する構成であ
るので、主回路への影響がほとんどないので主回
路の信頼性を低下させることがなく、バツフアア
ンプにはTTL等のIC、積分器にはCR積分器、コ
ンパレータには低速の安価なICコンパレータが
使用できるので、コストアツプは僅少である。こ
の結果、この発明を適用すると、Ｅ／Ｏ変換器、
光伝送線路、Ｏ／Ｅ変換器には標準品が使用可能
で、且つ、光分岐器等の光伝送部品を必要としな
いので、極めて経済的で、信頼性の高い光伝送回
路の劣化検出が可能である。
ムではマークとスペースの比が一定であるような
複数ビツトタイムから成る符号のパルス列を入力
するようにして、受信側ではＯ／Ｅ変換器の後で
このパルス列を積分し、積分器の出力をコンパレ
ータで判別するようにしたため、Ｅ／Ｏ変換器の
劣化はもちろん、Ｏ／Ｅ変換器の特性劣化、光伝
送線路の劣化も含めた光伝送回路全体の劣化検出
が可能である。更にこの発明の光伝送劣化検出回
路は、光伝送の主回路に並列に付加する構成であ
るので、主回路への影響がほとんどないので主回
路の信頼性を低下させることがなく、バツフアア
ンプにはTTL等のIC、積分器にはCR積分器、コ
ンパレータには低速の安価なICコンパレータが
使用できるので、コストアツプは僅少である。こ
の結果、この発明を適用すると、Ｅ／Ｏ変換器、
光伝送線路、Ｏ／Ｅ変換器には標準品が使用可能
で、且つ、光分岐器等の光伝送部品を必要としな
いので、極めて経済的で、信頼性の高い光伝送回
路の劣化検出が可能である。
光伝送回路においては、数10KBPS以上の伝送
速度の全てに適用可能である。電気伝送回路にお
いても特性変化（劣化）検出方式としてこの発明
は適用可能である。
速度の全てに適用可能である。電気伝送回路にお
いても特性変化（劣化）検出方式としてこの発明
は適用可能である。
第１図は、一般的な光伝送回路の構成を示すブ
ロツク図、第２図は、電気→光変換器の従来の劣
化検出方式を示すブロツク図、第３図は、第１図
のＡ点における送信波形とＢ点における受信波形
を示す波形図、第４図は、この発明の一実施例を
示すブロツク図、第５図は、この発明において用
いる光伝送劣化検出回路の構成例を示す回路図、
第６図は、積分器へ入力されるパルス信号のマー
ク・スペース比率と積分器出力電圧との関係を示
すグラフ、第６Ａ図は第６図に示したグラフが成
立する根拠を示した説明図、第７図は、この発明
において用いうる送信符号の一例を示す波形図、
である。 符号説明 １……電気→光変換器、２……光→
電気変換器、３……光伝送線路、４……光→電気
変換器、５……光分岐器、６……送信側光変換
器、７……受信側コード復号器、８……光伝送劣
化検出回路、８１……バツフアアンプ、８２……
積分器、８３……高電位コンパレータ、８４……
低電位コンパレータ、８５……オア回路。
ロツク図、第２図は、電気→光変換器の従来の劣
化検出方式を示すブロツク図、第３図は、第１図
のＡ点における送信波形とＢ点における受信波形
を示す波形図、第４図は、この発明の一実施例を
示すブロツク図、第５図は、この発明において用
いる光伝送劣化検出回路の構成例を示す回路図、
第６図は、積分器へ入力されるパルス信号のマー
ク・スペース比率と積分器出力電圧との関係を示
すグラフ、第６Ａ図は第６図に示したグラフが成
立する根拠を示した説明図、第７図は、この発明
において用いうる送信符号の一例を示す波形図、
である。 符号説明 １……電気→光変換器、２……光→
電気変換器、３……光伝送線路、４……光→電気
変換器、５……光分岐器、６……送信側光変換
器、７……受信側コード復号器、８……光伝送劣
化検出回路、８１……バツフアアンプ、８２……
積分器、８３……高電位コンパレータ、８４……
低電位コンパレータ、８５……オア回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 入力された電気信号を光信号に変換して出力
する電気／光変換器と、該変換器からの光信号を
伝送する光伝送線路と、該伝送線路により伝送さ
れてきた光信号を入力され電気信号に変換して出
力する光／電気変換器と、から成る光伝送回路の
劣化検出方式において、 １ビツトタイムのマークとスペースの比が一定
であるような複数ビツトタイムから成る符号のパ
ルス列信号を前記光伝送回路によつて伝送するよ
うにするとともに、その充電と放電の時定数が前
記１ビツトタイムにおけるマークの期間より充分
大きい如き積分器を前記光／電気変換器の出力側
に設けておき、該積分器による電気信号の積分値
を比較器により或る基準値と比較し、その比較結
果により前記光伝送回路の劣化の有無を判定する
ようにしたことを特徴とする光伝送回路の劣化検
出方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55145077A JPS5769228A (en) | 1980-10-18 | 1980-10-18 | Deterioration detection system for optical transmitting circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55145077A JPS5769228A (en) | 1980-10-18 | 1980-10-18 | Deterioration detection system for optical transmitting circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5769228A JPS5769228A (en) | 1982-04-27 |
| JPS6351424B2 true JPS6351424B2 (ja) | 1988-10-13 |
Family
ID=15376842
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP55145077A Granted JPS5769228A (en) | 1980-10-18 | 1980-10-18 | Deterioration detection system for optical transmitting circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5769228A (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5860843A (ja) * | 1981-10-06 | 1983-04-11 | Natl Aerospace Lab | 故障判断回路 |
| JPS59104531A (ja) * | 1982-12-07 | 1984-06-16 | Tohoku Electric Power Co Inc | 光フアイバケ−ブル破断予知装置 |
| JPS59122031A (ja) * | 1982-12-28 | 1984-07-14 | Toshiba Corp | 光伝送方式 |
| US4828358A (en) * | 1988-03-03 | 1989-05-09 | American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laboratories | Testing in the manufacture, operation, and maintenance of optical device assemblies |
| JP4875196B2 (ja) * | 2009-11-06 | 2012-02-15 | 株式会社東芝 | 障害予知ユニット |
| JP6660773B2 (ja) * | 2016-03-04 | 2020-03-11 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置、光源制御装置および光源制御システム |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5319886A (en) * | 1976-08-08 | 1978-02-23 | Nippon Soken | Deterioration detecting apparatus for oxygen concentration detector |
| JPS5471502A (en) * | 1977-11-18 | 1979-06-08 | Fujitsu Ltd | Alarm circuit for photo reception |
| JPS55110086A (en) * | 1979-02-16 | 1980-08-25 | Fujitsu Ltd | Light output cut-off detecting system |
| JPS55127742A (en) * | 1979-03-19 | 1980-10-02 | Honeywell Inf Systems | Device and method of replacing parallel connection link between computer and peripheral unit in series optical link |
-
1980
- 1980-10-18 JP JP55145077A patent/JPS5769228A/ja active Granted
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5769228A (en) | 1982-04-27 |
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