JPS63306745A - 出力波形測定方法 - Google Patents
出力波形測定方法Info
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- JPS63306745A JPS63306745A JP14301187A JP14301187A JPS63306745A JP S63306745 A JPS63306745 A JP S63306745A JP 14301187 A JP14301187 A JP 14301187A JP 14301187 A JP14301187 A JP 14301187A JP S63306745 A JPS63306745 A JP S63306745A
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 5
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- Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)
- Dc Digital Transmission (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（１％ 要〕
送信出力を識別する受信回路において等符号誤り率曲線
を求めて、これによって送信波形の評価を行うことによ
って、送信波形のアイオープニングの定量的な評価を行
うことができるようにし、また送信波形のパルス波形を
ＰＮ信号とワード信号とに変化したときの等符号誤り率
曲線を求め、これを比較して符号量干渉量を測定するこ
とによって、超高速においても、符号量干渉を把握する
ことができるようにすることによって、出力波形を正確
に評価できるようにする。
を求めて、これによって送信波形の評価を行うことによ
って、送信波形のアイオープニングの定量的な評価を行
うことができるようにし、また送信波形のパルス波形を
ＰＮ信号とワード信号とに変化したときの等符号誤り率
曲線を求め、これを比較して符号量干渉量を測定するこ
とによって、超高速においても、符号量干渉を把握する
ことができるようにすることによって、出力波形を正確
に評価できるようにする。
本発明は超高速光出力波形等を測定する方法に係り、特
にアイオープニング等の出力波形の評価と符号量干渉量
の把握を正確に行うことができる出力波形測定方法に関
するものである。
にアイオープニング等の出力波形の評価と符号量干渉量
の把握を正確に行うことができる出力波形測定方法に関
するものである。
超高速光通信装置等においては、システムの信頼性が極
めて高いことが要求され、従って受信側における符号誤
り率が十分低いことが必要となる。
めて高いことが要求され、従って受信側における符号誤
り率が十分低いことが必要となる。
そのためには光出力波形に対しサンプリングオシロスコ
ープを使用してアイパターンの観察を行い、アイオープ
ニングから出力波形の評価を行うとともに、出力波形の
観察から符号量干渉を測定して、送信回路および受信回
路の調整を行うようにするが、この場合アイオープニン
グの評価を正しく行うことができるとともに、符号量干
渉を正しく把握して、送信出力波形を正確に評価するこ
とができる出力波形測定方法が要望される。
ープを使用してアイパターンの観察を行い、アイオープ
ニングから出力波形の評価を行うとともに、出力波形の
観察から符号量干渉を測定して、送信回路および受信回
路の調整を行うようにするが、この場合アイオープニン
グの評価を正しく行うことができるとともに、符号量干
渉を正しく把握して、送信出力波形を正確に評価するこ
とができる出力波形測定方法が要望される。
従来、超高速光出力波形等を評価する場合には、超高速
光受信回路で受光し高速のサンプリングオシロスコープ
を使用して波形を観測して、アイオープニングから目視
によって光出力波形の評価を行うとともに、光出力波形
の観測から符号量干渉の測定を行っていた。
光受信回路で受光し高速のサンプリングオシロスコープ
を使用して波形を観測して、アイオープニングから目視
によって光出力波形の評価を行うとともに、光出力波形
の観測から符号量干渉の測定を行っていた。
しかしながら実際の光出力波形のアイオープニングは、
従来の測定法では正しく評価することができないことが
判明した。すなわち符号誤り率が大きい場合にはアイパ
ターンの観察によって符号誤り率を推測することができ
るが、符号誤り率が十分小さい状態では、アイパターン
を観察しても符号誤り率との関連を知ることが困難であ
る。
従来の測定法では正しく評価することができないことが
判明した。すなわち符号誤り率が大きい場合にはアイパ
ターンの観察によって符号誤り率を推測することができ
るが、符号誤り率が十分小さい状態では、アイパターン
を観察しても符号誤り率との関連を知ることが困難であ
る。
また超高速信号の場合、サンプリングオシロスコープに
よる観測で光出力波形における符号量干渉の測定を行お
うとしても、測定器の性能上の限界のためにその正確な
把握を行うことが困難であった。
よる観測で光出力波形における符号量干渉の測定を行お
うとしても、測定器の性能上の限界のためにその正確な
把握を行うことが困難であった。
（問題点を解決するための手段〕
本発明はこのような従来技術の問題点を解決しようとす
るものであって、第１図にその原理的構成を示すように
パルスパターン発生器のパルス信号を送信する送信回路
のパルス出力波形を所与の識別レベルと識別位相とによ
って識別して２値化出力を発生する受信回路と、この受
信回路の出力の符号誤り率を測定する誤り検出器とを具
えてなる出力波形評価装置において、第１図（ａｌに示
すように等しい符号誤り率を与える前記識別レベルと識
別位相との組合せの点を結ぶ等符号誤り率曲線を求める
段階１０１と、この等符号誤り率曲線によって送信回路
の出力波形を評価する段階１０２とを具えたものであり
、また第１図（ｂ）に示すようにパルスパターン発生器
のパルス波形をＰＮ信号とワード信号とに変化したとき
の等しい符号誤り率を与える識別レベルと識別位相との
組合せの点を結ぶ等符号誤り率曲線をそれぞれ求める段
階１０３と、両等符号誤り率曲線を比較して送信回路の
出力波形を評価する段階１０４とを具えたものである。
るものであって、第１図にその原理的構成を示すように
パルスパターン発生器のパルス信号を送信する送信回路
のパルス出力波形を所与の識別レベルと識別位相とによ
って識別して２値化出力を発生する受信回路と、この受
信回路の出力の符号誤り率を測定する誤り検出器とを具
えてなる出力波形評価装置において、第１図（ａｌに示
すように等しい符号誤り率を与える前記識別レベルと識
別位相との組合せの点を結ぶ等符号誤り率曲線を求める
段階１０１と、この等符号誤り率曲線によって送信回路
の出力波形を評価する段階１０２とを具えたものであり
、また第１図（ｂ）に示すようにパルスパターン発生器
のパルス波形をＰＮ信号とワード信号とに変化したとき
の等しい符号誤り率を与える識別レベルと識別位相との
組合せの点を結ぶ等符号誤り率曲線をそれぞれ求める段
階１０３と、両等符号誤り率曲線を比較して送信回路の
出力波形を評価する段階１０４とを具えたものである。
送信出力を識別する受信回路において等しい符号誤り率
を与える、識別レベルと識別位相との組合せの点を結ぶ
等符号誤り率曲線を求めて、これによって送信波形の評
価を行うので、送信波形のアイオープニングの定量的な
評価を行うことができ、また低い符号誤り率でのアイオ
ープニングを把握することができる。さらに送信波形の
パルス波形をＰＮ信号とワード信号とに変化したときの
等符号誤り率曲線を求め、両者を比較して符号量干渉量
を測定するので、超高速においても、符号量干渉を正確
に把握することができ、従って本発明によれば、送信出
力波形の正確な評価を行うことができるようになる。
を与える、識別レベルと識別位相との組合せの点を結ぶ
等符号誤り率曲線を求めて、これによって送信波形の評
価を行うので、送信波形のアイオープニングの定量的な
評価を行うことができ、また低い符号誤り率でのアイオ
ープニングを把握することができる。さらに送信波形の
パルス波形をＰＮ信号とワード信号とに変化したときの
等符号誤り率曲線を求め、両者を比較して符号量干渉量
を測定するので、超高速においても、符号量干渉を正確
に把握することができ、従って本発明によれば、送信出
力波形の正確な評価を行うことができるようになる。
〔実施例〕
第２図は本発明が通用される出力波形評価装置の構成を
示したものである。同図においてパルスパターン発生器
１は、測定のためのパルスパターンを発生する。光送信
回路２はパルスパターン発生器１のパルスパターンを光
信号として送信するものであり、本発明の測定方法にお
いて測定の対象とする被測定回路である。この場合、評
価信号のパルスパターンとしては、ｏｏｏｏｏｏｏｏ。
示したものである。同図においてパルスパターン発生器
１は、測定のためのパルスパターンを発生する。光送信
回路２はパルスパターン発生器１のパルスパターンを光
信号として送信するものであり、本発明の測定方法にお
いて測定の対象とする被測定回路である。この場合、評
価信号のパルスパターンとしては、ｏｏｏｏｏｏｏｏ。
０００１１１１１１１１１１１１（７）ＲＺ符号を用い
た。ビットレートは１．８Ｇｂ／ｓである。光送信回路
２の出力光は、光ファイバ３を介して光アッテネータ４
に導かれ、光アッテネータ４において所要の減衰を受け
、光アッテネータ４の出力光はさらに光ファイバ５を介
して光受信回路６に加えられる。光受信回路６は、光−
電気変換等化増幅器７．識別回路８．タイミング抽出回
路９を含んでいる。光−電気変換等化増幅器７は光入力
信号を電気信号に変換し、所要の等化特性により等化と
増幅とを行って等化信号出力Ａを発生する。
た。ビットレートは１．８Ｇｂ／ｓである。光送信回路
２の出力光は、光ファイバ３を介して光アッテネータ４
に導かれ、光アッテネータ４において所要の減衰を受け
、光アッテネータ４の出力光はさらに光ファイバ５を介
して光受信回路６に加えられる。光受信回路６は、光−
電気変換等化増幅器７．識別回路８．タイミング抽出回
路９を含んでいる。光−電気変換等化増幅器７は光入力
信号を電気信号に変換し、所要の等化特性により等化と
増幅とを行って等化信号出力Ａを発生する。
光−電気変換等化増幅器７の出力信号の一部は遅延回路
１０を経て遅延される。タイミング抽出回路９は、遅延
回路１０の出力信号からタイミング信号を抽出し、等化
信号出力Ａに対して遅延回路１０で定まる位相角θを有
するタイミング信号を出力する。識別回路８は光−電気
変換等化増幅器７の出力に対し、識別レベルｖｔｈを闇
値として位相角θのタイミング信号によって識別を行っ
て２値化された出力信号を発生する。識別回路８の出力
信号は誤り検出器１１に加えられて、符号瞑り率を測定
される。
１０を経て遅延される。タイミング抽出回路９は、遅延
回路１０の出力信号からタイミング信号を抽出し、等化
信号出力Ａに対して遅延回路１０で定まる位相角θを有
するタイミング信号を出力する。識別回路８は光−電気
変換等化増幅器７の出力に対し、識別レベルｖｔｈを闇
値として位相角θのタイミング信号によって識別を行っ
て２値化された出力信号を発生する。識別回路８の出力
信号は誤り検出器１１に加えられて、符号瞑り率を測定
される。
（１） 第１の実施例
第２図に示された測定装置による出力波形の評価は、次
の手順によって所与の符号誤り率Ｐｅｌの等符号誤り率
曲線を測定することによって行われる。
の手順によって所与の符号誤り率Ｐｅｌの等符号誤り率
曲線を測定することによって行われる。
■ 識別回路８における識別タイミング位相θと識別レ
ベルｖｔｈとを適当に設定し、符号誤り率Ｐｅ１以下と
なる点を見出す。
ベルｖｔｈとを適当に設定し、符号誤り率Ｐｅ１以下と
なる点を見出す。
いま第３図に示すように、第２図のＡ点における等化波
形において、このような点が求められたときの位相θ、
レベルｖｔｈをそれぞれθｏ ＋ Ｖ ｔｈＯとする。
形において、このような点が求められたときの位相θ、
レベルｖｔｈをそれぞれθｏ ＋ Ｖ ｔｈＯとする。
■ この状態で位相θを変化させて、符号誤り率がＰｅ
１以上となる位相θ８°をθ８゛くθ０の範囲について
見出す。
１以上となる位相θ８°をθ８゛くθ０の範囲について
見出す。
■ 第４図に示すように、位相θをθ、゛より微小値Δ
θずつ増加しながら符号誤り率を測定し、Ｐｅｌを過る
ときの位相θをθ、とする。
θずつ増加しながら符号誤り率を測定し、Ｐｅｌを過る
ときの位相θをθ、とする。
■ 再び位相θを変化させて、符号誤り率がＰｅ１以上
となる位相０２′を０２′ 〉θ０の範囲について見出
す。
となる位相０２′を０２′ 〉θ０の範囲について見出
す。
■ 第４図に示すように、位相θを０２°より微小値Δ
θずつ減少しながら符号誤り率Ｐｅを測定し、Ｐｅｌを
過るときの位相θをθ２とする。
θずつ減少しながら符号誤り率Ｐｅを測定し、Ｐｅｌを
過るときの位相θをθ２とする。
■ 次に識別レベルｖｔｈを微小値Δｖｔｈだけ増加す
る。
る。
■ 符号誤り率がＰｅｌ以下となる位相θがあれば、こ
れを００とおいて、上述の■〜■の手順を繰り返す。
れを００とおいて、上述の■〜■の手順を繰り返す。
■ 識別レベルｖｔｈを減少させる方向についても同様
に、■〜■の手順を行う。
に、■〜■の手順を行う。
■ ■、■で求めた位相θ３．θ２をすべて結んで、第
５図に示すように符号誤り率Ｐｅｌの等符号誤り率曲線
を得る。
５図に示すように符号誤り率Ｐｅｌの等符号誤り率曲線
を得る。
このようにして求められた符号誤り率Ｐｅｌの等符号誤
り率曲線は、第３図においてＢで示すように等化波形の
アイパターンにおけるアイオープニングの内部に描かれ
、識別レベルｖｔｈと識別タイミング位相θとのある組
合せの点の位置がこの曲線の範囲内であれば、そのとき
の符号誤り率がＰｅｌ以下となることが保証されること
を示し、従って等符号誤り率曲線によって送信波形の評
価を定量的に行うことができるようになる。
り率曲線は、第３図においてＢで示すように等化波形の
アイパターンにおけるアイオープニングの内部に描かれ
、識別レベルｖｔｈと識別タイミング位相θとのある組
合せの点の位置がこの曲線の範囲内であれば、そのとき
の符号誤り率がＰｅｌ以下となることが保証されること
を示し、従って等符号誤り率曲線によって送信波形の評
価を定量的に行うことができるようになる。
そしてこのようにして求められた等符号誤り率曲線によ
って、所与の送信回路出力波形を受信回路において識別
して、所定の符号誤り率を得ようとする場合の識別レベ
ルｖｔｈと識別タイミング位相θとの選定範囲を定める
ことができる。
って、所与の送信回路出力波形を受信回路において識別
して、所定の符号誤り率を得ようとする場合の識別レベ
ルｖｔｈと識別タイミング位相θとの選定範囲を定める
ことができる。
また送信回路の調整時においては、このようにして求め
られた等符号誤り率曲線の占める面積がなるべく太き（
なるように送信回路の調整を行うことによって、送信波
形の品質をより向上させることができる。特にアイパタ
ーンの観察のみによっては不可能な低い符号誤り率時の
送信回路の調整に際して有効である。
られた等符号誤り率曲線の占める面積がなるべく太き（
なるように送信回路の調整を行うことによって、送信波
形の品質をより向上させることができる。特にアイパタ
ーンの観察のみによっては不可能な低い符号誤り率時の
送信回路の調整に際して有効である。
さらに種々の符号誤り率について等符号誤り率曲線群を
求めることによって、受信側で最良の符号誤り率によっ
て受信を行うようにすることができるとともに、送信側
の調整において等符号誤り率曲線群の形状によって、符
号誤り率劣化の原因を推定することもある程度可能であ
る。
求めることによって、受信側で最良の符号誤り率によっ
て受信を行うようにすることができるとともに、送信側
の調整において等符号誤り率曲線群の形状によって、符
号誤り率劣化の原因を推定することもある程度可能であ
る。
（２） 第２の実施例
第２図に示された測定装置による符号量干渉の把握は、
次の手順によって異なるパルス波形の光入力信号に電対
する、一定の符号誤り率における等符号誤り率曲線を求
めて、これを比較することによって行うことができる。
次の手順によって異なるパルス波形の光入力信号に電対
する、一定の符号誤り率における等符号誤り率曲線を求
めて、これを比較することによって行うことができる。
（ａ） パルスパターン発生器１でＰＮ信号（ランダ
ムパターン）を発生させ、前述の■〜■の手順によって
符号誤り率Ｐｅｌについて等符号誤り率曲線群を求める
。
ムパターン）を発生させ、前述の■〜■の手順によって
符号誤り率Ｐｅｌについて等符号誤り率曲線群を求める
。
（ｂ） パルスパターン発生器１でワード信号（例え
ば１，０の繰り返しのパターン）を発生させ、前述の■
〜■の手順によって符号誤り率Ｐｅｌについて等符号誤
り率曲線群を求める。
ば１，０の繰り返しのパターン）を発生させ、前述の■
〜■の手順によって符号誤り率Ｐｅｌについて等符号誤
り率曲線群を求める。
（Ｃ） 上述の（ａ）、 Ｃｂ＞の測定結果を比較し
て、第６図に示すようにワード信号に対する等符号誤り
率曲線Ｃの最大の開きｂと、ＰＮ信号に対する等符号誤
り率曲線りの最大の開きａとから（ｂ−ａ）／ｂを求め
る。
て、第６図に示すようにワード信号に対する等符号誤り
率曲線Ｃの最大の開きｂと、ＰＮ信号に対する等符号誤
り率曲線りの最大の開きａとから（ｂ−ａ）／ｂを求め
る。
このようにして求められた比（ｂ−ａ）／ｂは、ワード
信号に対するＰＮ信号のアイ劣化を表し、これによって
光送信回路出力波形における符号量干渉を評価すること
ができる。
信号に対するＰＮ信号のアイ劣化を表し、これによって
光送信回路出力波形における符号量干渉を評価すること
ができる。
このようにして出力波形における符号量干渉の定量的な
評価を行うことによって、出力波形の正確な評価を行う
ことができる。従来のサンプリングオシロスコープによ
る観測では、符号量干渉の定性的な評価しか行うことが
できず、超高速光通信システムにおいて必要とされる特
性を満足しているか否かを知ることは困難であったが、
本発明の方法では定量的な評価ができ、サンプリングオ
シロスコープによる目視の観測では測定困難であった、
僅かな符号量干渉も正確に把握することができるように
なる。
評価を行うことによって、出力波形の正確な評価を行う
ことができる。従来のサンプリングオシロスコープによ
る観測では、符号量干渉の定性的な評価しか行うことが
できず、超高速光通信システムにおいて必要とされる特
性を満足しているか否かを知ることは困難であったが、
本発明の方法では定量的な評価ができ、サンプリングオ
シロスコープによる目視の観測では測定困難であった、
僅かな符号量干渉も正確に把握することができるように
なる。
（発明の効果）
以上説明したように本発明の出力波形測定方法によれば
、送信出力波形のアイオープニングを正しく評価するこ
とができるとともに、出力波形の符号量干渉を正確に把
握することができるので、出力波形の評価を正しく行う
ことができ、特に超高速光送信回路および受信回路の調
整と評価を行う上で極めて効果的である。
、送信出力波形のアイオープニングを正しく評価するこ
とができるとともに、出力波形の符号量干渉を正確に把
握することができるので、出力波形の評価を正しく行う
ことができ、特に超高速光送信回路および受信回路の調
整と評価を行う上で極めて効果的である。
第１図は本発明の原理的構成を示す図、第２図は本発明
が通用される出力波形評価装置の構成を示す図、 第３図は等化出力波形と識別レベルおよび識別タイミン
グ位相を示す図、 第４図は等しい符号誤り率を得る識別タイミング位相を
求める手順を示す図、 第５図は等符号誤り率曲線を示す図、 第６図はワード信号に対する等符号誤り率曲線とその最
大の開きおよびＰＮ信号に対する等符号誤り率曲線とそ
の最大の開きとを示す図である。 １−パルスパターン発生器 ２・−光送信回路 ３．５−・−光ファイバ ４−・光アッテネータ ６−光受信回路 ７−光−電気変換等化増幅器 ８−識別回路 ９−タイミング抽出回路 １〇−遅延回路 １１−・−誤り検出薯
が通用される出力波形評価装置の構成を示す図、 第３図は等化出力波形と識別レベルおよび識別タイミン
グ位相を示す図、 第４図は等しい符号誤り率を得る識別タイミング位相を
求める手順を示す図、 第５図は等符号誤り率曲線を示す図、 第６図はワード信号に対する等符号誤り率曲線とその最
大の開きおよびＰＮ信号に対する等符号誤り率曲線とそ
の最大の開きとを示す図である。 １−パルスパターン発生器 ２・−光送信回路 ３．５−・−光ファイバ ４−・光アッテネータ ６−光受信回路 ７−光−電気変換等化増幅器 ８−識別回路 ９−タイミング抽出回路 １〇−遅延回路 １１−・−誤り検出薯
Claims (2)
- （１）パルスパターン発生器のパルス信号を送信する送
信回路のパルス出力波形を所与の識別レベルと識別位相
とによって識別して２値化出力を発生する受信回路と、
該受信回路の出力の符号誤り率を測定する誤り検出器と
を具えてなる出力波形評価装置において、 等しい符号誤り率を与える前記識別レベルと識別位相と
の組合せの点を結ぶ等符号誤り率曲線を求める段階（１
０１）と、 該等符号誤り率曲線によって送信回路の出力波形を評価
する段階（１０２）と を具えたことを特徴とする出力波形測定方法。 - （２）パルスパターン発生器のパルス信号を送信する送
信回路のパルス出力波形を所与の識別レベルと識別位相
とによって識別して２値化出力を発生する受信回路と、
該受信回路の出力の符号誤り率を測定する誤り検出器と
を具えてなる出力波形評価装置において、 該パルスパターン発生器のパルス波形をＰＮ信号とワー
ド信号とに変化したときの等しい符号誤り率を与える前
記識別レベルと識別位相との組合せの点を結ぶ等符号誤
り率曲線をそれぞれ求める段階（１０３）と、 該両等符号誤り率曲線を比較して送信回路の出力波形を
評価する段階（１０４）と を具えたことを特徴とする出力波形測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62143011A JPH0831885B2 (ja) | 1987-06-08 | 1987-06-08 | 出力波形測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62143011A JPH0831885B2 (ja) | 1987-06-08 | 1987-06-08 | 出力波形測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63306745A true JPS63306745A (ja) | 1988-12-14 |
| JPH0831885B2 JPH0831885B2 (ja) | 1996-03-27 |
Family
ID=15328871
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62143011A Expired - Lifetime JPH0831885B2 (ja) | 1987-06-08 | 1987-06-08 | 出力波形測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0831885B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPWO2007069631A1 (ja) * | 2005-12-14 | 2009-05-21 | 株式会社アドバンテスト | 測定装置、測定方法、及び伝送回路 |
| US7787543B2 (en) | 2004-07-05 | 2010-08-31 | Anritsu Corporation | Pulse pattern generator and communication device evaluation system utilizing the same |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5578656A (en) * | 1978-12-11 | 1980-06-13 | Oki Electric Ind Co Ltd | Test method for optical pcm trunk circuit |
-
1987
- 1987-06-08 JP JP62143011A patent/JPH0831885B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
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| JPWO2007069631A1 (ja) * | 2005-12-14 | 2009-05-21 | 株式会社アドバンテスト | 測定装置、測定方法、及び伝送回路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0831885B2 (ja) | 1996-03-27 |
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