JPS61101148A - 実効的アイ開口率自動測定回路 - Google Patents
実効的アイ開口率自動測定回路Info
- Publication number
- JPS61101148A JPS61101148A JP22336484A JP22336484A JPS61101148A JP S61101148 A JPS61101148 A JP S61101148A JP 22336484 A JP22336484 A JP 22336484A JP 22336484 A JP22336484 A JP 22336484A JP S61101148 A JPS61101148 A JP S61101148A
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- Japan
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- signal
- circuit
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- Pending
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L1/00—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received
- H04L1/20—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received using signal quality detector
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Dc Digital Transmission (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はディジタル伝送系に於ける実効的アイ開口率の
自動測定回路に関するものである。
自動測定回路に関するものである。
ディジタル伝送系に於いて符号誤りは符号間の干渉成分
の等化残差及び漏話等の外来雑音によってアイ開口率が
低下することにより生ずる。
の等化残差及び漏話等の外来雑音によってアイ開口率が
低下することにより生ずる。
従ってアイ開口率を測定することは、等化器を含むディ
ジタル伝送系の伝送品質を評価するを力な手段となるの
で従来から其の自動測定法の開発が望まれていた。
ジタル伝送系の伝送品質を評価するを力な手段となるの
で従来から其の自動測定法の開発が望まれていた。
従来ディジタル伝送系に於いて伝送品質を評価するには
符号誤り率（Ｂｉｅ Ｅｒｒｏｒ Ｒａｔｅ ）が
用いられている。符号誤り率とは送信パルス列と受信再
生パルス列を比較して求められ゛、普通送信側から既知
のパルスパターンを送出し、受信側で此れを受信再生し
て不一致パルスを検出することにより測定している。
符号誤り率（Ｂｉｅ Ｅｒｒｏｒ Ｒａｔｅ ）が
用いられている。符号誤り率とは送信パルス列と受信再
生パルス列を比較して求められ゛、普通送信側から既知
のパルスパターンを送出し、受信側で此れを受信再生し
て不一致パルスを検出することにより測定している。
一般に符号誤りが発生する原因としては、大別にして次
の２つがある。
の２つがある。
１）アイ開口率の低下。
２）抽出クロックのジッタ増加及び位相特性。
本件はアイ開口率の低下による符号誤りに関するもので
ある。
ある。
第２図はアイ開口率の説明図である。
第２図（ａ）は１つのパルス信号を受信した時の波形で
あり、点線は原信号である。図示する様に、０〜＋Ｔ／
２間の信号Ｉの他に付随して両側に信号■、■が現れ、
此の両側の信号が原信号の両側に在る受信信号の波形に
影響を与える。
あり、点線は原信号である。図示する様に、０〜＋Ｔ／
２間の信号Ｉの他に付随して両側に信号■、■が現れ、
此の両側の信号が原信号の両側に在る受信信号の波形に
影響を与える。
第２図（ａｌは符号間の干渉成分の等化残差を説明して
いるが、此の他に漏話等の外来雑音により一般に波形は
可なり変化する。
いるが、此の他に漏話等の外来雑音により一般に波形は
可なり変化する。
第２図（ｂ）はアイパターンを示し、適正ピーク値ＶＯ
−１＋に対し実際には前記原因等で電圧値が減少してＸ
となった時には、アイ開口率は電圧値Ｘと適正ピーク値
■。、との比で定義される。
−１＋に対し実際には前記原因等で電圧値が減少してＸ
となった時には、アイ開口率は電圧値Ｘと適正ピーク値
■。、との比で定義される。
アイ開口率＝ ｘ ／ Ｖ。−２（％）識別回路では抽
出クロックの立ち上がり時点に於ける此のアイパターン
ａの値が或る基準値より大きいか、否かにより、“１”
か、“０”かを識別する。
出クロックの立ち上がり時点に於ける此のアイパターン
ａの値が或る基準値より大きいか、否かにより、“１”
か、“０”かを識別する。
アイパターンａが最大値Ｘをとる時点が抽出クロックの
立ち上がり時点と一致することが望ましい。
立ち上がり時点と一致することが望ましい。
此の様にアイ開口率は等花器を含む伝送路の品質を評価
する有力な手段であるが、従来アイ開口率を自動的に測
定する回路がなかった。
する有力な手段であるが、従来アイ開口率を自動的に測
定する回路がなかった。
本発明の目的は実効的なアイ開口率自動測定回路を提供
することである。
することである。
問題点を解決するための手段は、ディジタル伝送系の受
信側等花器出力の波形を抽出クロックの立ち上がり時点
で自動的にサンプルホールドし、該サンプルホールド値
をＡ、／Ｄ変換して其の絶対値を取り出し、規定された
しきい値と対比して“１”信号、“０”信号に分類し、
或る任意の時間内に於ける前記“１”信号の最少値、及
び該前記“０”信号の最大値を求め、前記最少値と前記
最大値の差と前記等花器出力の適正ピーク値の比の百分
率を求めるように構成したことにより達成される。
信側等花器出力の波形を抽出クロックの立ち上がり時点
で自動的にサンプルホールドし、該サンプルホールド値
をＡ、／Ｄ変換して其の絶対値を取り出し、規定された
しきい値と対比して“１”信号、“０”信号に分類し、
或る任意の時間内に於ける前記“１”信号の最少値、及
び該前記“０”信号の最大値を求め、前記最少値と前記
最大値の差と前記等花器出力の適正ピーク値の比の百分
率を求めるように構成したことにより達成される。
本発明に依ると実際に使用される抽出クロックの立ち上
がり時点で自動的に等化層出力の波形をサンプルホール
ドし、其の絶対値を求め、規定されたしきい値と比較し
て“１”信号、“０”信号に分類し、或る任意の時間内
に於ける前記“ｌ”信号の最少値、及び該前記“０゛信
号の最大値を求め、前記最少値と前記最大値の差と前記
等化器出力の適正ピーク値の比の百分率を求めることに
よりアイ開口率を測定するので、抽出クロックの位相特
性、及びジッタ特性の影響を含む直接符号誤り率に関係
する実効的アイ開口率が自動測定出来ると云う効果が生
まれる。
がり時点で自動的に等化層出力の波形をサンプルホール
ドし、其の絶対値を求め、規定されたしきい値と比較し
て“１”信号、“０”信号に分類し、或る任意の時間内
に於ける前記“ｌ”信号の最少値、及び該前記“０゛信
号の最大値を求め、前記最少値と前記最大値の差と前記
等化器出力の適正ピーク値の比の百分率を求めることに
よりアイ開口率を測定するので、抽出クロックの位相特
性、及びジッタ特性の影響を含む直接符号誤り率に関係
する実効的アイ開口率が自動測定出来ると云う効果が生
まれる。
第１図は本発明に依る実効的アイ開口率自動測定回路の
一実施例を示す図である。
一実施例を示す図である。
図中、１はサンプルホールド回路、２はＡ／Ｄ変換回路
、３はクラス分は回路、４は最大値検出回路、５は最小
値検出回路、６は計算回路、１０は等花器、１１は識別
回路、１２は加入者線路である。
、３はクラス分は回路、４は最大値検出回路、５は最小
値検出回路、６は計算回路、１０は等花器、１１は識別
回路、１２は加入者線路である。
以下図に従って本発明の詳細な説明する。
加入者線路１２から送られて来たディジクル信号列は等
花器１０に入り、等化され波形修正されて出力され、識
別回路１１で信号識別される。
花器１０に入り、等化され波形修正されて出力され、識
別回路１１で信号識別される。
本発明に依る゛測定回路の入力は等花器１０の出力端に
接続される。抽出クロックと同期してサンプルホールド
回路１が動作し、等化出力波形をサンプルホールドして
其の値をＡ／Ｄ変換回路２に入力する。
接続される。抽出クロックと同期してサンプルホールド
回路１が動作し、等化出力波形をサンプルホールドして
其の値をＡ／Ｄ変換回路２に入力する。
Ａ／Ｄ変換回路２はサンプルホールドされた値をＡ／Ｄ
変換し、絶対値のみをクラス分は回路３に出力する。
変換し、絶対値のみをクラス分は回路３に出力する。
クラス分は回路３は外部から入力された或る一定値の“
しきい値”とＡ／Ｄ変換回路２出力信号を比較して、“
１”信号と、“０”信号に分類し、“０”信号は最大値
検出回路４へ送り、” １ ”信号は最小値検出回路５
へ送る。
しきい値”とＡ／Ｄ変換回路２出力信号を比較して、“
１”信号と、“０”信号に分類し、“０”信号は最大値
検出回路４へ送り、” １ ”信号は最小値検出回路５
へ送る。
最大値検出回路４は或る規定時間内にクラス分は回路３
から送られて来た“０”信号の中から最大値を求めて計
算回路６に送る。同様に最小値検出回路５は同じ時間内
にクラス分は回路３から送られて来た“１ ”信号の中
から最小値を求めて計算回路６に送る。
から送られて来た“０”信号の中から最大値を求めて計
算回路６に送る。同様に最小値検出回路５は同じ時間内
にクラス分は回路３から送られて来た“１ ”信号の中
から最小値を求めて計算回路６に送る。
計算回路６は（最小値）−（最大値）−ｘを算出し、Ｘ
と■。−２の比の百分率を求める。
と■。−２の比の百分率を求める。
此の値を実効的アイ開口率として出力する。
本発明に依る測定回路を使用して求めた値は実際の抽出
クロックの立ち上がり時点でサンプルホールドされた値
を基にして計算されたアイ開口率であり、符号誤り率（
Ｂ １ｔＥｒｒｏｒＲａｔｅ ）に直接影響する実効的
なアイ開口率である。
クロックの立ち上がり時点でサンプルホールドされた値
を基にして計算されたアイ開口率であり、符号誤り率（
Ｂ １ｔＥｒｒｏｒＲａｔｅ ）に直接影響する実効的
なアイ開口率である。
即ち、抽出クロックの位相特性、及びジッタ特性の影響
を含むアイ開口率である。
を含むアイ開口率である。
以上詳細に説明した様に本発明によれば、抽出クロック
の位相特性、及びジッタ特性の影響を含む実効的アイ開
口率自動測定回路が実現出来ると云う大きい効果がある
。
の位相特性、及びジッタ特性の影響を含む実効的アイ開
口率自動測定回路が実現出来ると云う大きい効果がある
。
第１図は本発明に依る実効的アイ開口率自動測定回路の
一実施例を示す図である。 第２図はアイ開口率の説明図である。 図中、１はサンプルホールド回路、２はＡ／Ｄ変換回路
、３はクラス分は回路、４は最大値検出回路、５は最小
値検出回路、６は計算回路、１０は等他罪、１１は識別
回路、１２は加入者線路である。
一実施例を示す図である。 第２図はアイ開口率の説明図である。 図中、１はサンプルホールド回路、２はＡ／Ｄ変換回路
、３はクラス分は回路、４は最大値検出回路、５は最小
値検出回路、６は計算回路、１０は等他罪、１１は識別
回路、１２は加入者線路である。
Claims (1)
- ディジタル伝送系の受信側等化器出力の波形を抽出クロ
ックの立ち上がり時点で自動的にサンプルホールドし、
該サンプルホールド値をＡ／Ｄ変換して其の絶対値を取
り出し、規定されたしきい値と対比して“１”信号、“
０”信号に分類し、或る任意の時間内に於ける前記“１
”信号の最少値、該前記“０”信号の最大値を求め、前
記最少値と前記最大値の差と前記等化器出力の適正ピー
ク値の比の百分率を求めるように構成したことを特徴と
する実効的アイ開口率自動測定回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22336484A JPS61101148A (ja) | 1984-10-24 | 1984-10-24 | 実効的アイ開口率自動測定回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22336484A JPS61101148A (ja) | 1984-10-24 | 1984-10-24 | 実効的アイ開口率自動測定回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61101148A true JPS61101148A (ja) | 1986-05-20 |
Family
ID=16796989
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22336484A Pending JPS61101148A (ja) | 1984-10-24 | 1984-10-24 | 実効的アイ開口率自動測定回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61101148A (ja) |
-
1984
- 1984-10-24 JP JP22336484A patent/JPS61101148A/ja active Pending
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