JPH059750B2 - - Google Patents
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- JPH059750B2 JPH059750B2 JP1566582A JP1566582A JPH059750B2 JP H059750 B2 JPH059750 B2 JP H059750B2 JP 1566582 A JP1566582 A JP 1566582A JP 1566582 A JP1566582 A JP 1566582A JP H059750 B2 JPH059750 B2 JP H059750B2
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- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 claims description 20
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 4
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 claims description 2
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 30
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 2
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 2
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 2
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
- G01M11/3118—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR using coded light-pulse sequences
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Locating Faults (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
＜発明の背景＞
この発明は伝送線路にパルス符号列を送出し、
その伝送線路間よりの反射波と、送出パルス符号
列を遅延したものとの相関をとり、前記遅延の量
及び相関量から伝送線路の反射量、散乱量、損失
量、或は／及び障害点を検出する伝送線路障害探
索法に関する。
その伝送線路間よりの反射波と、送出パルス符号
列を遅延したものとの相関をとり、前記遅延の量
及び相関量から伝送線路の反射量、散乱量、損失
量、或は／及び障害点を検出する伝送線路障害探
索法に関する。
従来の伝送線路障害探索装置の光ケーブルに応
用されている例を第１図に、その動作タイムチヤ
ートを第２図にそれぞれ示す。トリガ発生回路１
０１より時点t1で発生したトリガパルス２０１は
２分岐され、パルス符号列発生回路１０２と遅延
回路１０３とへ送られる。パルス符号列発生回路
１０２ではトリガパルス２０１によつて時点t1，
t4の間隔を周期とするパルス符号列２０２を発生
する。そのパルス符号列２０２は電気−光変換回
路１０４で光パルスに変換され、この光パルスは
光方向性結合器１０５を介して被測定光ケーブル
１０６に送られる。被測定光ケーブル１０６内で
反射あるいは散乱した光パルスは再び送出点に戻
り、光方向性結合器１０５を通つて光−電気変換
回路１０７に入射されて電気パルスに変換され
る。その変換された電気パルスは相関器１０８に
送られる。近距離からの反射として例えば時点t2
に、遠距離の反射として例えば時点t3にそれぞれ
被測定光ケーブル１０６から戻り、電気パルスに
変換された符号列をそれぞれ２０３，２０４で表
わす。
用されている例を第１図に、その動作タイムチヤ
ートを第２図にそれぞれ示す。トリガ発生回路１
０１より時点t1で発生したトリガパルス２０１は
２分岐され、パルス符号列発生回路１０２と遅延
回路１０３とへ送られる。パルス符号列発生回路
１０２ではトリガパルス２０１によつて時点t1，
t4の間隔を周期とするパルス符号列２０２を発生
する。そのパルス符号列２０２は電気−光変換回
路１０４で光パルスに変換され、この光パルスは
光方向性結合器１０５を介して被測定光ケーブル
１０６に送られる。被測定光ケーブル１０６内で
反射あるいは散乱した光パルスは再び送出点に戻
り、光方向性結合器１０５を通つて光−電気変換
回路１０７に入射されて電気パルスに変換され
る。その変換された電気パルスは相関器１０８に
送られる。近距離からの反射として例えば時点t2
に、遠距離の反射として例えば時点t3にそれぞれ
被測定光ケーブル１０６から戻り、電気パルスに
変換された符号列をそれぞれ２０３，２０４で表
わす。
一方、遅延回路１０３に送られたトリガパルス
２０１は、適当な時間だけ遅延される。例えば時
点t3で被測定光ケーブル１０６から戻つた光パル
スを測定するときにはトリガパルスは時点t3まで
遅延させる。その遅延されたトリガパルスを２０
５で表わす。時点t3でトリガパルス２０５によつ
てパルス符号列発生回路１０９が動作し始め、遅
延パルス符号列２０６を発生して相関器１０８に
送られる。相関器１０８では遅延パルス符号列２
０６と、被測定光ケーブル１０６からのパルス符
号列との相関をとり、相関量を表示器１１０に送
る。こゝで、遅延回路１０３の遅延時間を（t3−
t1）に設定すると、被測定光ケーブル１０６から
戻つてくるパルス符号列のうち、遅延パルス符号
列２０６とパルス符号列２０４とは相関をもつた
め、相関器１０８から相関量に相当する出力が出
力される。
２０１は、適当な時間だけ遅延される。例えば時
点t3で被測定光ケーブル１０６から戻つた光パル
スを測定するときにはトリガパルスは時点t3まで
遅延させる。その遅延されたトリガパルスを２０
５で表わす。時点t3でトリガパルス２０５によつ
てパルス符号列発生回路１０９が動作し始め、遅
延パルス符号列２０６を発生して相関器１０８に
送られる。相関器１０８では遅延パルス符号列２
０６と、被測定光ケーブル１０６からのパルス符
号列との相関をとり、相関量を表示器１１０に送
る。こゝで、遅延回路１０３の遅延時間を（t3−
t1）に設定すると、被測定光ケーブル１０６から
戻つてくるパルス符号列のうち、遅延パルス符号
列２０６とパルス符号列２０４とは相関をもつた
め、相関器１０８から相関量に相当する出力が出
力される。
こゝで、遅延回路１０３の遅延時間を０から順
次大きくして、光ケーブルの後方散乱光によるパ
ルス符号列を測定すると、第３図に示すようにな
る。すなわち、光ケーブル１０６への送出点から
近い所は大きい反射光が、遠くなるにつれ反射光
は小さくなり、光ケーブル１０６の破断点以遠は
零となるため光ケーブル１０６の障害探索が可能
である。また第３図の減衰状態から光ケーブル１
０６の損失も測定できる。
次大きくして、光ケーブルの後方散乱光によるパ
ルス符号列を測定すると、第３図に示すようにな
る。すなわち、光ケーブル１０６への送出点から
近い所は大きい反射光が、遠くなるにつれ反射光
は小さくなり、光ケーブル１０６の破断点以遠は
零となるため光ケーブル１０６の障害探索が可能
である。また第３図の減衰状態から光ケーブル１
０６の損失も測定できる。
しかし、例えば第２図において、時点t3に戻つ
た遠方からの反射パルス符号列２０４を測定する
とき、送出パルス符号列２０２中の時点t3の前後
で送出される部分が、光ケーブル１０６の入射端
や、その入射端より比較的短かい距離で反射され
た、つまり遅延時間の短かい点からの反射も同時
に光−電気変換回路１０７に入射され、しかもこ
の遅延時間の短かい反射は反射量が大きく、これ
に対し、遠方からの反射は反射量が小さくなつて
いるため、前者（送出パルス符号列中の時点t3付
近の部分の反射光）は後者（反射パルス符号列２
０４）に対し大きな雑音源になつたり、ダイナミ
ツクレンジを減少させる悪影響をおよぼす。
た遠方からの反射パルス符号列２０４を測定する
とき、送出パルス符号列２０２中の時点t3の前後
で送出される部分が、光ケーブル１０６の入射端
や、その入射端より比較的短かい距離で反射され
た、つまり遅延時間の短かい点からの反射も同時
に光−電気変換回路１０７に入射され、しかもこ
の遅延時間の短かい反射は反射量が大きく、これ
に対し、遠方からの反射は反射量が小さくなつて
いるため、前者（送出パルス符号列中の時点t3付
近の部分の反射光）は後者（反射パルス符号列２
０４）に対し大きな雑音源になつたり、ダイナミ
ツクレンジを減少させる悪影響をおよぼす。
＜発明の概要＞
この発明はこれらの悪影響を除去するため、パ
ルス符号列を改良したものである。即ちこの発明
によればパルス符号列の時間的長さは、被測定伝
送線路をパルスが往復する時間よりも短かくし、
隣接パルス符号列間に無信号区間を挿入し、その
無信号区間の長さとパルス符号列の時間的長さと
の和を前記パルス往復時間よりも長くする。この
結果遠方から戻つたパルス符号列と遅延パルス符
号列との相関を確実にとることができる。更に被
測定伝送線路から戻つてきたパルス符号列と、相
関をとる遅延パルス符号列の直後に前記無信号区
間と無相関の補助符号列を付け加える。この補助
符号列の付加により、無信号区間を設定したこと
にもどずく誤動作を防止する。
ルス符号列を改良したものである。即ちこの発明
によればパルス符号列の時間的長さは、被測定伝
送線路をパルスが往復する時間よりも短かくし、
隣接パルス符号列間に無信号区間を挿入し、その
無信号区間の長さとパルス符号列の時間的長さと
の和を前記パルス往復時間よりも長くする。この
結果遠方から戻つたパルス符号列と遅延パルス符
号列との相関を確実にとることができる。更に被
測定伝送線路から戻つてきたパルス符号列と、相
関をとる遅延パルス符号列の直後に前記無信号区
間と無相関の補助符号列を付け加える。この補助
符号列の付加により、無信号区間を設定したこと
にもどずく誤動作を防止する。
＜実施例＞
第４図はこの発明に用いるパルス符号列の例と
この発明の動作例を示すタイムチヤートである。
第４図において、４０１はトリガ発生回路１０１
で発生するトリガパルス、４０２はパルス符号列
発生回路１０２で発生するパルス符号列、４０
３，４０４はそれぞれ被測定光ケーブル１０６か
ら戻つてくるパルス符号列（４０３は近くからの
反射の例、４０４は遠くからの反射の例）、４０
５はトリガ発生回路１０１で発生されたトリガパ
ルスが遅延回路１０３である時間だけ遅延された
トリガパルス、４０６はパルス符号列発生回路１
０９で発生する遅延パルス符号列を表わす。
この発明の動作例を示すタイムチヤートである。
第４図において、４０１はトリガ発生回路１０１
で発生するトリガパルス、４０２はパルス符号列
発生回路１０２で発生するパルス符号列、４０
３，４０４はそれぞれ被測定光ケーブル１０６か
ら戻つてくるパルス符号列（４０３は近くからの
反射の例、４０４は遠くからの反射の例）、４０
５はトリガ発生回路１０１で発生されたトリガパ
ルスが遅延回路１０３である時間だけ遅延された
トリガパルス、４０６はパルス符号列発生回路１
０９で発生する遅延パルス符号列を表わす。
被測定光ケーブル１０６に送出するパルス符号
列４０２の時間的長さ（t3−t1）＝T1は被測定光
ケーブル１０６を光パルスが往復する時間Tmよ
りも短かく選ばれる。パルス符号列４０２の終り
から次のトリガパルス４０１、即ち次のパルス符
号列４０２の始めまでは無信号区間T0とする。
無信号区間T0とパルス符号列の時間的長さT1と
の和T0＋T1は往復時間Tmより長くする。被測
定光ケーブル１０６からの反射光４０４を測定す
るとき、遅延回路１０３からのトリガパルスでパ
ルス符号列発生回路１０９を動作させ、遅延パル
ス符号列４０６をその時点、例えばt4から発生さ
せる。このとき遅延パルス符号列４０６は時点t4
から時点t6まではパルス符号列４０２の時点t1か
ら時点t3までと同一にし、かつその遅延パルス符
号列４０６が終つた時点t6から時点t7までは無信
号区間T0と無相関の補助符号４０７、例えば１
と０とを交互に配列したものとする。かつ時点t4
から時点t7までの長さ、つまり時点t1から探索t5
までの時間的長さを被測定光ケーブル１０６中を
光パルスが往復するに必要とする時間Tmよりも
長くなるように選ぶ。
列４０２の時間的長さ（t3−t1）＝T1は被測定光
ケーブル１０６を光パルスが往復する時間Tmよ
りも短かく選ばれる。パルス符号列４０２の終り
から次のトリガパルス４０１、即ち次のパルス符
号列４０２の始めまでは無信号区間T0とする。
無信号区間T0とパルス符号列の時間的長さT1と
の和T0＋T1は往復時間Tmより長くする。被測
定光ケーブル１０６からの反射光４０４を測定す
るとき、遅延回路１０３からのトリガパルスでパ
ルス符号列発生回路１０９を動作させ、遅延パル
ス符号列４０６をその時点、例えばt4から発生さ
せる。このとき遅延パルス符号列４０６は時点t4
から時点t6まではパルス符号列４０２の時点t1か
ら時点t3までと同一にし、かつその遅延パルス符
号列４０６が終つた時点t6から時点t7までは無信
号区間T0と無相関の補助符号４０７、例えば１
と０とを交互に配列したものとする。かつ時点t4
から時点t7までの長さ、つまり時点t1から探索t5
までの時間的長さを被測定光ケーブル１０６中を
光パルスが往復するに必要とする時間Tmよりも
長くなるように選ぶ。
反射パルス符号列を測定するときは、その反射
パルス符号列の受信開始時点、例えばt4に遅延回
路１０３よりトリガパルス４０５を発生させる。
この時受信反射パルス符号列４０４は時点t4から
時点t6までは遅延パルス符号列４０６と相関があ
り相関器１０８から出力がある。しかし、時点t6
から時点t7までは無信号区間T0と補助符号４０７
との相関がとられ、これら間には相関がなく、相
関器１０８から出力はない。つまり時点t4に受信
されるような被測定光ケーブル１０６中の比較的
遠方からの反射パルス符号列４０４を測定すると
き、送出パルス符号列４０２はその前の時点t3に
既に無信号区間T0となつているから、この部分
からの大レベルの反射は全く存在しない。このた
め不要な反射光の影響が少なく良好な測定が可能
となる。
パルス符号列の受信開始時点、例えばt4に遅延回
路１０３よりトリガパルス４０５を発生させる。
この時受信反射パルス符号列４０４は時点t4から
時点t6までは遅延パルス符号列４０６と相関があ
り相関器１０８から出力がある。しかし、時点t6
から時点t7までは無信号区間T0と補助符号４０７
との相関がとられ、これら間には相関がなく、相
関器１０８から出力はない。つまり時点t4に受信
されるような被測定光ケーブル１０６中の比較的
遠方からの反射パルス符号列４０４を測定すると
き、送出パルス符号列４０２はその前の時点t3に
既に無信号区間T0となつているから、この部分
からの大レベルの反射は全く存在しない。このた
め不要な反射光の影響が少なく良好な測定が可能
となる。
なお、時点t2に受信されるような被測定ケーブ
ル１０６中の比較的近い部分からの反射パルス符
号列４０３を測定するときは、同様に遅延回路１
０３よりトリガパルスを時点t2に発生させて測定
する。このときは、その反射パルス符号列４０３
が受信され始めるときに、パルス符号列４０２は
まだ送出中であり、パルス符号列４０２中のその
時点付近部分による入射端やすぐ近くの部分での
反射も同時に受信され、これは雑音となり、しか
もレベルが大きいが、目的とする反射パルス符号
列４０３も、近い所からの反射であるため受信レ
ベルが比較的大きく、前記雑音に影響されること
なく正しく相関を求めることができる。
ル１０６中の比較的近い部分からの反射パルス符
号列４０３を測定するときは、同様に遅延回路１
０３よりトリガパルスを時点t2に発生させて測定
する。このときは、その反射パルス符号列４０３
が受信され始めるときに、パルス符号列４０２は
まだ送出中であり、パルス符号列４０２中のその
時点付近部分による入射端やすぐ近くの部分での
反射も同時に受信され、これは雑音となり、しか
もレベルが大きいが、目的とする反射パルス符号
列４０３も、近い所からの反射であるため受信レ
ベルが比較的大きく、前記雑音に影響されること
なく正しく相関を求めることができる。
遅延パルス符号列４０６は時点t6から時点t7ま
では１と０の交互パタンからなる補助符号列４０
７であり、この補助符号列４０７は無信号区間
T0と無相関であるため誤動作するおそれはない。
つまり、補助符号列４０７の代りに無信号とする
と、これと無信号区間T0との相関が検出され、
誤つた測定を行うおそれがある。しかしこの発明
ではそのようなおそれはない。補助符号列４０７
としては１と０が同数で、T0と同一長さをもち、
かつパルス符号列４０２の時点t1から時点t8まで
の符号列と無相関な符号列に置き換えても同様な
効果が得られる。いずれの場合もトリガパルス４
０５のタイミングを順次変化させれば、第３図に
示すような反射測定が可能となる。
では１と０の交互パタンからなる補助符号列４０
７であり、この補助符号列４０７は無信号区間
T0と無相関であるため誤動作するおそれはない。
つまり、補助符号列４０７の代りに無信号とする
と、これと無信号区間T0との相関が検出され、
誤つた測定を行うおそれがある。しかしこの発明
ではそのようなおそれはない。補助符号列４０７
としては１と０が同数で、T0と同一長さをもち、
かつパルス符号列４０２の時点t1から時点t8まで
の符号列と無相関な符号列に置き換えても同様な
効果が得られる。いずれの場合もトリガパルス４
０５のタイミングを順次変化させれば、第３図に
示すような反射測定が可能となる。
こゝではこの発明を光ケーブルの後方散乱を利
用した伝送線路障害探索法について述べたが、こ
れはメタリツクケーブル等のインピーダンス不整
合を利用した伝送線路障害探索も可能である。
用した伝送線路障害探索法について述べたが、こ
れはメタリツクケーブル等のインピーダンス不整
合を利用した伝送線路障害探索も可能である。
＜発明の効果＞
以上説明したように、この発明によれば伝送線
路の遠端からの反射を測定するとき、その反射が
受信される状態では送信符号は無信号区間とされ
ているから近端からの電力の大きい不要な反射が
存在せず、この反射による妨害を除去できるた
め、SNRの高い測定が可能となる。
路の遠端からの反射を測定するとき、その反射が
受信される状態では送信符号は無信号区間とされ
ているから近端からの電力の大きい不要な反射が
存在せず、この反射による妨害を除去できるた
め、SNRの高い測定が可能となる。
第１図は伝送線路障害探索装置の一例を示すブ
ロツク図、第２図は従来の方法によるパルス符号
列及び動作例を示すタイムチヤート、第３図は光
ケーブルの障害探索を行つた反射量（散乱量）と
遅延時間の関係例を示す図、第４図はこの発明の
方法に用いるパルス符号列及び動作例を示すタイ
ムチヤートである。 １０１：トリガ発生回路、１０２，１０３：パ
ルス符号列発生回路、１０４：電気−光変換回
路、１０５：光方向性結合器、１０６：被測定光
ケーブル、１０７：光−電気変換回路、１０８：
相関器、１１０：表示器、４０１：トリガパル
ス、４０２：パルス符号列、４０６：遅延パルス
符号列、４０７：補助符号列、T0：信号区間、
T1：パルス符号列の時間的長さ。
ロツク図、第２図は従来の方法によるパルス符号
列及び動作例を示すタイムチヤート、第３図は光
ケーブルの障害探索を行つた反射量（散乱量）と
遅延時間の関係例を示す図、第４図はこの発明の
方法に用いるパルス符号列及び動作例を示すタイ
ムチヤートである。 １０１：トリガ発生回路、１０２，１０３：パ
ルス符号列発生回路、１０４：電気−光変換回
路、１０５：光方向性結合器、１０６：被測定光
ケーブル、１０７：光−電気変換回路、１０８：
相関器、１１０：表示器、４０１：トリガパル
ス、４０２：パルス符号列、４０６：遅延パルス
符号列、４０７：補助符号列、T0：信号区間、
T1：パルス符号列の時間的長さ。
Claims (1)
- １ １と０からなるパルス符号列を伝送線路に送
出し、伝送線路の反射あるいは散乱によつて再び
送出点に戻つてきたパルス符号列と、前記伝送線
路に送出する前記パルス符号列を遅延した遅延パ
ルス符号列との相関をとると共に前記遅延の時間
を変化させることにより、反射量あるいは散乱量
の測定、障害点の検出の少なくとも１つを行う伝
送線路障害探索法において、前記送出パルス符号
列の時間的長さは、そのパルスが被測定伝送線路
を往復するに必要とする時間よりも短くされ、か
つ送出パルス符号列と次の送出パルス符号列との
間に無信号区間が設けられ、この無信号区間と前
記送出パルス符号列の時間的長さの和は、前記被
測定伝送線路中をパルスが往復する時間より長く
され、前記遅延パルス符号列の直後に、前記無信
号区間と無相関の補助符号列が、その無信号区間
の間接続されていることを特徴とする伝送線路障
害探索法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1566582A JPS58132674A (ja) | 1982-02-03 | 1982-02-03 | 伝送線路障害探索法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1566582A JPS58132674A (ja) | 1982-02-03 | 1982-02-03 | 伝送線路障害探索法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58132674A JPS58132674A (ja) | 1983-08-08 |
| JPH059750B2 true JPH059750B2 (ja) | 1993-02-05 |
Family
ID=11895029
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1566582A Granted JPS58132674A (ja) | 1982-02-03 | 1982-02-03 | 伝送線路障害探索法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58132674A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63145938A (ja) * | 1986-11-26 | 1988-06-18 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | 時間領域反射率計 |
| ATE130145T1 (de) * | 1990-08-27 | 1995-11-15 | Canon Kk | Optisches kommunikationsnetz. |
| GB0424305D0 (en) | 2004-11-03 | 2004-12-01 | Polarmetrix Ltd | Phase-disturbance location and measurement in optical-fibre interferometric reflectometry |
-
1982
- 1982-02-03 JP JP1566582A patent/JPS58132674A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58132674A (ja) | 1983-08-08 |
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