JPS58132674A - 伝送線路障害探索法 - Google Patents
伝送線路障害探索法Info
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- JPS58132674A JPS58132674A JP1566582A JP1566582A JPS58132674A JP S58132674 A JPS58132674 A JP S58132674A JP 1566582 A JP1566582 A JP 1566582A JP 1566582 A JP1566582 A JP 1566582A JP S58132674 A JPS58132674 A JP S58132674A
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- pulse
- pulse code
- time
- code string
- transmission line
- Prior art date
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
- G01M11/3118—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR using coded light-pulse sequences
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈発明O背景〉
この発$1伝送線路にパルス符号列を送出し、その伝送
纏絡間よシの反射波と、送出パルス符号列を遅延しえも
のとの相関をとシ、前記遅延の量及び相関量か2ら伝送
線路の反射量、散乱量、損失量、或は/及び障害点を検
出する伝送線路+S沓探索法に関する。
纏絡間よシの反射波と、送出パルス符号列を遅延しえも
のとの相関をとシ、前記遅延の量及び相関量か2ら伝送
線路の反射量、散乱量、損失量、或は/及び障害点を検
出する伝送線路+S沓探索法に関する。
従来O伝送線路障害探索装置の光ケーブルに応用されて
いる例を第1図に、その動作タイムチャートを第2図に
それぞれ示す。トリガ発生回路101よp時点tlで発
生し九トリガパルス201は2分岐され、パルス符号列
発生回路102と遅延回路103とへ送られる。パルス
符号列発生回路102ではトリガパルス201によって
時点tl。
いる例を第1図に、その動作タイムチャートを第2図に
それぞれ示す。トリガ発生回路101よp時点tlで発
生し九トリガパルス201は2分岐され、パルス符号列
発生回路102と遅延回路103とへ送られる。パルス
符号列発生回路102ではトリガパルス201によって
時点tl。
+4の間隔を周′期とするパルス符号列202を発生す
る。そのパルス符号列202は電気−光質換回路104
で光パルスに変換され、その光パルスは光方向性結合器
105を介して被Ill定光ケーブル106に送られる
。被−J足元クープル106内で反射あるいは散乱し九
光パルスは再び退出点に戻り、光方向性結合器105を
通って光−電気変換回路107に入射されて電気パルス
に変換される。
る。そのパルス符号列202は電気−光質換回路104
で光パルスに変換され、その光パルスは光方向性結合器
105を介して被Ill定光ケーブル106に送られる
。被−J足元クープル106内で反射あるいは散乱し九
光パルスは再び退出点に戻り、光方向性結合器105を
通って光−電気変換回路107に入射されて電気パルス
に変換される。
その変換された電気パルスは相関器108に送られる。
時点t1あるいはtsに被測定光ケーブル106から戻
シ、電気パルスに変換され九符号列をそれぞれ203,
204で表わす。
シ、電気パルスに変換され九符号列をそれぞれ203,
204で表わす。
一方、遅延回路103に送られ九トリガパルス201V
i、適当な時間だけ遅延される。例えば時点taで被測
定光ケーブル106から戻った光パルスを測定するとき
にはトリガパルスは時点t−まで遅延させる。その運嬌
されたトリガパルスを205で表わす。時点tsでトリ
ガパルス205によってパルス符号列発生回路109が
動作し始め、遅延パルス符号列206を発生して相g器
108に送られる。相関器108では遅延パルス符号列
206と、被測定光ケーブル106からのパルス符号列
との相関をとり、相関量を表示器110に送る。
i、適当な時間だけ遅延される。例えば時点taで被測
定光ケーブル106から戻った光パルスを測定するとき
にはトリガパルスは時点t−まで遅延させる。その運嬌
されたトリガパルスを205で表わす。時点tsでトリ
ガパルス205によってパルス符号列発生回路109が
動作し始め、遅延パルス符号列206を発生して相g器
108に送られる。相関器108では遅延パルス符号列
206と、被測定光ケーブル106からのパルス符号列
との相関をとり、相関量を表示器110に送る。
ζ〜で、遅延囲路103の遅延時間を(ts−11)に
設定すると、被I4I]定光ケーブル106がら戻って
くるパルス符号列のうち、遅延パルス符号列206とパ
ルス符号列204とは相関をもつため、相関器108か
ら相関量に和尚する出力が出方される。
設定すると、被I4I]定光ケーブル106がら戻って
くるパルス符号列のうち、遅延パルス符号列206とパ
ルス符号列204とは相関をもつため、相関器108か
ら相関量に和尚する出力が出方される。
こ\で、遅延回路103の遅延時間を0から拳法大きく
して、光ケーブルの彼方散乱光によるパルス符号列を測
定すると、絡3図に示すようになる。すなわち、光ケー
ブル106への送出点から近い所は大きい反射光が、遠
くなるにつれ反射光は小さく1にシ、光ケーブル106
の破断点以遠は零となる丸め光ケーブル106の障害探
索が口I能である。を大館3図の減衰状態から光ケーブ
ル1060損失も測定できる。
して、光ケーブルの彼方散乱光によるパルス符号列を測
定すると、絡3図に示すようになる。すなわち、光ケー
ブル106への送出点から近い所は大きい反射光が、遠
くなるにつれ反射光は小さく1にシ、光ケーブル106
の破断点以遠は零となる丸め光ケーブル106の障害探
索が口I能である。を大館3図の減衰状態から光ケーブ
ル1060損失も測定できる。
しかし、例えば第2図において、パルス符号列 。
204を測定するとき、パルス符号列202中の時点t
sの前壁で送出されるものが、光ケーブル1060入射
端や、その入射端よシ比較的短かい距離で反射されえ、
っtn遅延時間の短かい点からの反射も同時に光−電気
変換回路107に入射され、しかもこの遅延時間の短か
い反射は反射量が大きく、これに対し、遠方からの反射
は反射量が小さくなっている丸め、前者は後者に対し大
きな鑵fsになつ九り、ダイナミックレンジを減少させ
る悪影響をおよ埋す。
sの前壁で送出されるものが、光ケーブル1060入射
端や、その入射端よシ比較的短かい距離で反射されえ、
っtn遅延時間の短かい点からの反射も同時に光−電気
変換回路107に入射され、しかもこの遅延時間の短か
い反射は反射量が大きく、これに対し、遠方からの反射
は反射量が小さくなっている丸め、前者は後者に対し大
きな鑵fsになつ九り、ダイナミックレンジを減少させ
る悪影響をおよ埋す。
〈発明の概賛〉
この発明はこれらの悪影響を除去するため、パルス符号
列を改真し丸ものである。即ちこの発明によればパルス
符号列の時間的長さは、被測定伝送側路をパルスが往復
する時間よりも短かくし、御飯パルス符号列間に無信号
区間を挿入し、その無信号区間め長さとパルス符号列の
時間的長さとの和を前記パルス往復時間よシも長くする
。この結果遠方から戻つ九パルス符号列と遅延パルス符
号列との相関を確実にとることができる。更に被測定伝
送−路から戻ってき九パルス符号列と、相関をとる遅延
パルス符号列の直後に前記無信号区間と無相関の補助符
号列を付は加える。この補助符号列の付加によシ、無信
号区間を設定したことにもとず〈−動作を防止する。
列を改真し丸ものである。即ちこの発明によればパルス
符号列の時間的長さは、被測定伝送側路をパルスが往復
する時間よりも短かくし、御飯パルス符号列間に無信号
区間を挿入し、その無信号区間め長さとパルス符号列の
時間的長さとの和を前記パルス往復時間よシも長くする
。この結果遠方から戻つ九パルス符号列と遅延パルス符
号列との相関を確実にとることができる。更に被測定伝
送−路から戻ってき九パルス符号列と、相関をとる遅延
パルス符号列の直後に前記無信号区間と無相関の補助符
号列を付は加える。この補助符号列の付加によシ、無信
号区間を設定したことにもとず〈−動作を防止する。
〈実施例〉
第4図は仁の発明に用いるパルス符号列の例とこの発明
O動作例を示すタイムチャートである。
O動作例を示すタイムチャートである。
第4図において、401はトリガ発生回w1101で発
生するトリガパルス、402tiパルス符号列発生回路
102で発生するパルス符号列、403.404#iそ
れぞれ被測定光ケーブル106から戻ってくるパルス符
号列、405Fi)!jガ発生回路101で発生され九
トリガパルスが遅延回路103である時間だけ遅延され
たトリガパルス、406はパルス符号列発生回路109
で発生する遅延パルス符号列を嵌わす。
生するトリガパルス、402tiパルス符号列発生回路
102で発生するパルス符号列、403.404#iそ
れぞれ被測定光ケーブル106から戻ってくるパルス符
号列、405Fi)!jガ発生回路101で発生され九
トリガパルスが遅延回路103である時間だけ遅延され
たトリガパルス、406はパルス符号列発生回路109
で発生する遅延パルス符号列を嵌わす。
被測定光クープル106に送出するパルス符号列402
0時間的長さくta−11)冨T1は被測定光ケーブル
106を光パルスが往復する時間Tmよシも短かく選ば
れる。パルス符号列402の終pから次Oトリガパルス
401.IIち次のパルス符号列402の始めまでは無
信号区間T・とする。
0時間的長さくta−11)冨T1は被測定光ケーブル
106を光パルスが往復する時間Tmよシも短かく選ば
れる。パルス符号列402の終pから次Oトリガパルス
401.IIち次のパルス符号列402の始めまでは無
信号区間T・とする。
無信号区間T・とパルス符号列の時間的長さTlとの和
T・十T1は往復時間Tmより小にする。被測定光ケー
ブル106からの反射光404を測定するとき、時点t
4でパルス符号列発生回路109を製作させ、遅延パル
ス符号列406を発生させる。
T・十T1は往復時間Tmより小にする。被測定光ケー
ブル106からの反射光404を測定するとき、時点t
4でパルス符号列発生回路109を製作させ、遅延パル
ス符号列406を発生させる。
このとき遅延パルス符号列406は時点t4から時点t
@まではパルス符号列402の時点t1から時点tmま
でと同−KL、かつその遅延パルス符号ター406が終
つ喪時点t@から時点tマまで社無信号区間Toと無相
関の補助符号407、例えば1と0とを交互に配列した
ものとする。かつ時点t4から時点tマまでの長さ、つ
tb時点t1から時点t1までの時間的長さを被測定光
ケーブル106中を光パルスが往復するに必要とする時
間Tmよシも長くなるように選ぶ。
@まではパルス符号列402の時点t1から時点tmま
でと同−KL、かつその遅延パルス符号ター406が終
つ喪時点t@から時点tマまで社無信号区間Toと無相
関の補助符号407、例えば1と0とを交互に配列した
ものとする。かつ時点t4から時点tマまでの長さ、つ
tb時点t1から時点t1までの時間的長さを被測定光
ケーブル106中を光パルスが往復するに必要とする時
間Tmよシも長くなるように選ぶ。
パルス符号列404は時点t4から時点t@までは遅延
パルス符号列406と相関があシ相関器108から出力
がるる。しかし、時点t6から時慮tマまでは無信号区
間T・と補助符号407との相開がとられ、これら間に
は相関がなく、相関器108から出力はない。被測定光
ケーブル106からの反射パルス符号列404を測定す
るとき、被測定光ケーブル106への光の送出点から近
いため光ケーブル中を往復しても減衰量が少なく、大き
い電力を4っている反射する入射光となる部分は無信号
区間T・となる。このため不費な反射光の影譬が少なく
良好な柵定が可能となる。
パルス符号列406と相関があシ相関器108から出力
がるる。しかし、時点t6から時慮tマまでは無信号区
間T・と補助符号407との相開がとられ、これら間に
は相関がなく、相関器108から出力はない。被測定光
ケーブル106からの反射パルス符号列404を測定す
るとき、被測定光ケーブル106への光の送出点から近
いため光ケーブル中を往復しても減衰量が少なく、大き
い電力を4っている反射する入射光となる部分は無信号
区間T・となる。このため不費な反射光の影譬が少なく
良好な柵定が可能となる。
遅延パルス符号列406は時点t@から時点tytでは
1と0の交互パタンからなる補助符号列407であシ、
仁の補助符号列407は無信号区間Toと無相関である
九め娯動作するおそれはない。
1と0の交互パタンからなる補助符号列407であシ、
仁の補助符号列407は無信号区間Toと無相関である
九め娯動作するおそれはない。
つマシ、補助符号列4070代シに無信号とすると、こ
れと無信号区間T・との相関が検出され、1つ九測定を
行うおそれがある。しかしこの発明ではそのようなおそ
れはない。補助符号列407としては1と0とが同数で
、TIと同一長さをもち、かつパルス符号列4020時
点t1から時点t1までの符号列と無相関な符号列に−
き換えても同様な効果が得られる。いずれの場合もトリ
ガパルス405のタインングを順次変化させれば、第3
図に示すような反射測定が可能となる。
れと無信号区間T・との相関が検出され、1つ九測定を
行うおそれがある。しかしこの発明ではそのようなおそ
れはない。補助符号列407としては1と0とが同数で
、TIと同一長さをもち、かつパルス符号列4020時
点t1から時点t1までの符号列と無相関な符号列に−
き換えても同様な効果が得られる。いずれの場合もトリ
ガパルス405のタインングを順次変化させれば、第3
図に示すような反射測定が可能となる。
こ\ではこの発明を光ケーブルの後方散乱を利用した伝
送−路障害探索法について述べたが、これはメタリック
ケーブル等のインピーダンス不整合を利用した伝送線路
障害探索も可能である。
送−路障害探索法について述べたが、これはメタリック
ケーブル等のインピーダンス不整合を利用した伝送線路
障害探索も可能である。
〈発明の効果〉
以上説明したように1この発明によれば伝送線路の遠端
からの反射を測定するとき、近端からの電力の大きい工
費な反射による妨害を除去できるため、SNRの^い測
定が可能となる。
からの反射を測定するとき、近端からの電力の大きい工
費な反射による妨害を除去できるため、SNRの^い測
定が可能となる。
第1図は伝送線路障害探索装置の一例を示すブロック図
、第2図は従来の方法によるノくルス符号タリ及び動作
例を示すタイムチャート、第3図は光ケーブルの障害探
索を行った反射量(散乱量)と遅昧時間の関係例を示す
図、第4図扛上の発明の方法に用いるパルス符号列及び
動作例を示すタイムチャートである。 101:)リガ発生回路、102.103:ノくルス符
号列発生回路、104:電気−光変換回路、105:光
方向性結合器、106:被測定光ケーブル、107:光
−電気変換回路、108:相関器、110:表示器、4
01:トリガパルス、402;ノくルス符号列、406
−遅延パルス符号列、407:補助符号列、T・:信号
区間、T1:パルス符号列の時間的長さ。 代理人 車野 卑 オ 1 区 ″)′ 3 図 遅jL時間 オ 2 図
、第2図は従来の方法によるノくルス符号タリ及び動作
例を示すタイムチャート、第3図は光ケーブルの障害探
索を行った反射量(散乱量)と遅昧時間の関係例を示す
図、第4図扛上の発明の方法に用いるパルス符号列及び
動作例を示すタイムチャートである。 101:)リガ発生回路、102.103:ノくルス符
号列発生回路、104:電気−光変換回路、105:光
方向性結合器、106:被測定光ケーブル、107:光
−電気変換回路、108:相関器、110:表示器、4
01:トリガパルス、402;ノくルス符号列、406
−遅延パルス符号列、407:補助符号列、T・:信号
区間、T1:パルス符号列の時間的長さ。 代理人 車野 卑 オ 1 区 ″)′ 3 図 遅jL時間 オ 2 図
Claims (1)
- +1) lと0からなるパルス符号列を伝送線路に送
出し、伝送線路の反射あるいは散tKよって再び送出点
に戻ってII九パルス符号列と、前記伝送線路に送出す
る前記パルス符号列を遅延した遅延パルス符号列との相
関をとると共に前記遅延の時間を変化させるととKよ)
、反射量あるいは散乱量または障害点を測定及び/又は
検出する伝送線路mw探索法において、前記送出パルス
符号列の時間的長さは、そのパルスが被欄定伝送線路を
往復するに会費とする時間よシも短かくされ、かつ送出
パルス符号列と次の送出パルス符号列との間に無信号区
間が設けられ、この無信号区間と前記送出パルス符号列
の時間的長さの和は、前記被測定伝送−路中をパルスが
往復する時間より長くされ、前記遅延パルス符号列の直
後に1前記無償号区間と無相関の補助符号列が、その無
信号区間の間接続されていることを特徴とする伝送−路
陣!妹本法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1566582A JPS58132674A (ja) | 1982-02-03 | 1982-02-03 | 伝送線路障害探索法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1566582A JPS58132674A (ja) | 1982-02-03 | 1982-02-03 | 伝送線路障害探索法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58132674A true JPS58132674A (ja) | 1983-08-08 |
JPH059750B2 JPH059750B2 (ja) | 1993-02-05 |
Family
ID=11895029
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1566582A Granted JPS58132674A (ja) | 1982-02-03 | 1982-02-03 | 伝送線路障害探索法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58132674A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0269448A2 (en) * | 1986-11-26 | 1988-06-01 | Hewlett-Packard Company | Optical time domain reflectometer |
US5390039A (en) * | 1990-08-27 | 1995-02-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical network for detecting collisions based on the reflection of a transmitting signal |
WO2006048647A2 (en) * | 2004-11-03 | 2006-05-11 | Polarmetrix Limited | Detecting a disturbance in the propagation of light in an optical waveguide |
-
1982
- 1982-02-03 JP JP1566582A patent/JPS58132674A/ja active Granted
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0269448A2 (en) * | 1986-11-26 | 1988-06-01 | Hewlett-Packard Company | Optical time domain reflectometer |
US5390039A (en) * | 1990-08-27 | 1995-02-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical network for detecting collisions based on the reflection of a transmitting signal |
WO2006048647A2 (en) * | 2004-11-03 | 2006-05-11 | Polarmetrix Limited | Detecting a disturbance in the propagation of light in an optical waveguide |
WO2006048647A3 (en) * | 2004-11-03 | 2006-08-10 | Polarmetrix Ltd | Detecting a disturbance in the propagation of light in an optical waveguide |
US7872736B2 (en) | 2004-11-03 | 2011-01-18 | Fotech Solutions Limited | Detecting a disturbance in the propagation of light in an optical waveguide |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH059750B2 (ja) | 1993-02-05 |
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