JPS6350920A - 光軸調整装置付光ヘツド - Google Patents
光軸調整装置付光ヘツドInfo
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- JPS6350920A JPS6350920A JP19295386A JP19295386A JPS6350920A JP S6350920 A JPS6350920 A JP S6350920A JP 19295386 A JP19295386 A JP 19295386A JP 19295386 A JP19295386 A JP 19295386A JP S6350920 A JPS6350920 A JP S6350920A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical
- detector
- optical axis
- light beam
- objective lens
- Prior art date
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- Pending
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 44
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 3
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims 2
- 235000013290 Sagittaria latifolia Nutrition 0.000 abstract 2
- 235000015246 common arrowhead Nutrition 0.000 abstract 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
- Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明はすでに市販されているＣＤ、光ビデオディスク
、今後市場に現われてくる記録再生及び消去可能な光デ
イスク装置等の光ヘツド光学系の光ヘッドに関するもの
である。光学系の組立調整工程の中で最も精度が必要と
され、信頼性が要求されるものに光電気変換素子がある
。光電気変換素子としては、一般にＰＩＮフォトディテ
クターがが用いられる。本発明はこのディテクターの調
整を容易とし又一方で市場での調整等を容易とする方法
を提供するものである。
、今後市場に現われてくる記録再生及び消去可能な光デ
イスク装置等の光ヘツド光学系の光ヘッドに関するもの
である。光学系の組立調整工程の中で最も精度が必要と
され、信頼性が要求されるものに光電気変換素子がある
。光電気変換素子としては、一般にＰＩＮフォトディテ
クターがが用いられる。本発明はこのディテクターの調
整を容易とし又一方で市場での調整等を容易とする方法
を提供するものである。
（従来の技術）
従来光ディスクの制御信号や情報信号を再生するための
フォトディテクターを調整するにはフォトディテクター
そのものを少なくとも一次元に調整していた。以下図面
に基づいて説明する。第５図に従来から用いられている
光学系の概略図を示す。光源１を出射する光ビームはハ
ーフミラ−２で反射された対物レンズ３を透過してディ
スク４で反射し、次に対物レンズ、ハーフミラ−、シリ
ンドリカルレンズ６を透過してディテクター５に入射す
る。ディテクター５上での光ビーム形状は、ディスク４
の位置（Ａ） 、 （Ｂ） 、 （Ｃ）に対応して第６
図の（５）、 （Ｂ） 、 （Ｃ’ｌのように変化する
。従って第６図の（６）で示す各ディテクター素子５−
１．５−３の和と５−２．５−４の和との差を電気的に
検出することによってディスク４のフォーカス状態を検
出できるいわゆる非点収差式のフォーカシングを行なう
ことができる。一般に第６図の（４）でディテクター上
の光ビーム径はおよそ４０〜８０μ程度となる。このデ
ィテクター５は一般に光軸方向及びその垂直な面内への
３次元的な調整が必要でありその精度は光ビーム径の１
／１０以下で数ミクロン程度となっている。光軸方向の
調整は、シリンドリカルレンズ６を調整することも可能
であるが、少なくとも２次元でディテクター５の調整を
精度よく行なう必要があシ、従来から生産性のネックと
なっていた。
フォトディテクターを調整するにはフォトディテクター
そのものを少なくとも一次元に調整していた。以下図面
に基づいて説明する。第５図に従来から用いられている
光学系の概略図を示す。光源１を出射する光ビームはハ
ーフミラ−２で反射された対物レンズ３を透過してディ
スク４で反射し、次に対物レンズ、ハーフミラ−、シリ
ンドリカルレンズ６を透過してディテクター５に入射す
る。ディテクター５上での光ビーム形状は、ディスク４
の位置（Ａ） 、 （Ｂ） 、 （Ｃ）に対応して第６
図の（５）、 （Ｂ） 、 （Ｃ’ｌのように変化する
。従って第６図の（６）で示す各ディテクター素子５−
１．５−３の和と５−２．５−４の和との差を電気的に
検出することによってディスク４のフォーカス状態を検
出できるいわゆる非点収差式のフォーカシングを行なう
ことができる。一般に第６図の（４）でディテクター上
の光ビーム径はおよそ４０〜８０μ程度となる。このデ
ィテクター５は一般に光軸方向及びその垂直な面内への
３次元的な調整が必要でありその精度は光ビーム径の１
／１０以下で数ミクロン程度となっている。光軸方向の
調整は、シリンドリカルレンズ６を調整することも可能
であるが、少なくとも２次元でディテクター５の調整を
精度よく行なう必要があシ、従来から生産性のネックと
なっていた。
（発明が解決しようとする問題点）
上述のように従来のものでは、ディテクター調整を行な
う際の調整許容値が非常に狭く生産性を低下させている
という欠点がある。
う際の調整許容値が非常に狭く生産性を低下させている
という欠点がある。
（問題点を解決する為の手段）
本発明ではディテクター調整のみでフォーカシングの初
期設定を行なわず、ディテクターで粗調整設定を行ない
、別の調整方式で微調整を行なう分離調整方式とした所
に特徴を有する。具体的には、光学系の往復の光路が一
致する共通光路即ち第５図に於いてハーフミラ−２と対
物レンズ３０間に往復光路を変更させる光学素子を挿入
するか、もしくは対物レンズ３自体を光軸に垂直な平面
内で微調整可能とするものである。
期設定を行なわず、ディテクターで粗調整設定を行ない
、別の調整方式で微調整を行なう分離調整方式とした所
に特徴を有する。具体的には、光学系の往復の光路が一
致する共通光路即ち第５図に於いてハーフミラ−２と対
物レンズ３０間に往復光路を変更させる光学素子を挿入
するか、もしくは対物レンズ３自体を光軸に垂直な平面
内で微調整可能とするものである。
（作用）
上述の手段を設はディテクター上の光ビーム分布を微調
整することによって、従来ディテクターのみで調整を行
なう方式に対し歩留りを大きく向上させることが可能と
なる。即ちディテクターのみで調整する場合の調整許容
値はおよそ７〜１０μｍ程度であったのが、本発明によ
る調整装置を用いることによシ調整許容値を約７倍程度
拡大して５０〜７０μ机とし、調整の歩留シを向上する
ことができる。
整することによって、従来ディテクターのみで調整を行
なう方式に対し歩留りを大きく向上させることが可能と
なる。即ちディテクターのみで調整する場合の調整許容
値はおよそ７〜１０μｍ程度であったのが、本発明によ
る調整装置を用いることによシ調整許容値を約７倍程度
拡大して５０〜７０μ机とし、調整の歩留シを向上する
ことができる。
（実施例）
本発明の実施例を第１図ないし第４図に示す。
本発明によれば、ファーフィールド部でのフォーカス信
号を検出する方式には全て有効であるが、本実施例では
その代表的な方式である非点収差を用いるフォーカシン
グ方式を用いて説明する。
号を検出する方式には全て有効であるが、本実施例では
その代表的な方式である非点収差を用いるフォーカシン
グ方式を用いて説明する。
第１図は本発明による第１の実施例であシ、ハーフミラ
−２と対物レンズ３０間に補助レンズ７を挿入しである
。今ディテクター５の粗調整でディテクターが矢印イ方
向に少しずれている場合を考える。補助レンズ７を矢印
口方向に移動させると光源１より出射する光軸上の光ビ
ームは、破線の光路を通シディテクター５の中心に入射
させることが可能となる。
−２と対物レンズ３０間に補助レンズ７を挿入しである
。今ディテクター５の粗調整でディテクターが矢印イ方
向に少しずれている場合を考える。補助レンズ７を矢印
口方向に移動させると光源１より出射する光軸上の光ビ
ームは、破線の光路を通シディテクター５の中心に入射
させることが可能となる。
第２図は本発明による第２の実施例である。この場合第
１の実施例の補助レンズの代シにプリズム８が挿入しで
ある。このプリズムは平行平板であっても非平行板であ
っても宜い。第２図の場合、ディテクター５が矢印ハの
方向にずれていたとすると、プリズム８を矢印二の方向
に回転させることによシ、光源１を出射する光ビームは
破線の光路を通過してディテクター５の中心に入射させ
ることができる。
１の実施例の補助レンズの代シにプリズム８が挿入しで
ある。このプリズムは平行平板であっても非平行板であ
っても宜い。第２図の場合、ディテクター５が矢印ハの
方向にずれていたとすると、プリズム８を矢印二の方向
に回転させることによシ、光源１を出射する光ビームは
破線の光路を通過してディテクター５の中心に入射させ
ることができる。
第１図、第２図で示した実施例は、対物レンズを設計値
の光軸上に設定する場合に別の光学素子を微調整する方
式であった。第３図はこの光学素子を対物レンズそのも
ので代行させる方式について示したものである。即ち第
３図でディテクター５が矢印巾方向にずれている場合、
対物レンズ３を矢印へ方向に移動させると、光源１を出
射する光ビームは破線の光路をたどりディテクター５の
中心に入射させることができる。ディテクター５の粗調
整は２次元でずれているので対物レンズ３も当然２次元
に調整する必要がある。このための機構の例を第４図に
示す。即ち対物レンズは、フォーカシング可能とするア
クチュエーター９にマウントされている。アクチュエー
ター９は、アクチーエータ−基台１０にマウントされて
おす矢印ト方向に自由に微調整可能となっている。この
アクチュエーター基台１０は、可動基台１１上に乗って
おシ矢印チ方向に自由に微調整可能となっている。さら
に可動基台１１は固定基台１２に取付けられる。この固
定基台は光学系等を含む筐体に取付けられるかもしくは
一体の構造となっている。
の光軸上に設定する場合に別の光学素子を微調整する方
式であった。第３図はこの光学素子を対物レンズそのも
ので代行させる方式について示したものである。即ち第
３図でディテクター５が矢印巾方向にずれている場合、
対物レンズ３を矢印へ方向に移動させると、光源１を出
射する光ビームは破線の光路をたどりディテクター５の
中心に入射させることができる。ディテクター５の粗調
整は２次元でずれているので対物レンズ３も当然２次元
に調整する必要がある。このための機構の例を第４図に
示す。即ち対物レンズは、フォーカシング可能とするア
クチュエーター９にマウントされている。アクチュエー
ター９は、アクチーエータ−基台１０にマウントされて
おす矢印ト方向に自由に微調整可能となっている。この
アクチュエーター基台１０は、可動基台１１上に乗って
おシ矢印チ方向に自由に微調整可能となっている。さら
に可動基台１１は固定基台１２に取付けられる。この固
定基台は光学系等を含む筐体に取付けられるかもしくは
一体の構造となっている。
（発明の効果）
以上の代表的な実施例に示した光学系調整装置により従
来よシ簡単にかつ歩留り良くディテクターの初期設定を
行なうことが可能となる。また市場での補修サービス等
でも容易に調整ができるようになり調整時間も短縮でき
る。
来よシ簡単にかつ歩留り良くディテクターの初期設定を
行なうことが可能となる。また市場での補修サービス等
でも容易に調整ができるようになり調整時間も短縮でき
る。
第１図は本発明の補助レンズを用いる第１の実施例、第
２図は本発明のプリズムを用いる第２の実施例、第３図
は本発明の対物レンズを光軸の垂直な面内で調整を行な
う第３の実施例、第４図は第３の実施例に用いられる対
物レンズ微調整装置の例、第５図は従来のディテクター
を調整する方式を説明する非点収差フォーカシングの光
学系、第６図は非点収差方式のディテクター上でのビー
ム形状を示す。 １・・・光源、２・・・ハーフミラ−１３・・・対物レ
ンズ、４・・・ディスク、５・・・ディテクター、６・
・・シリンドリカルレンズ、７・・・補助レンズ、８・
・・プリズム、９・・・アクチュエーター、１０・・・
アクチュエーター基台、１１・・・可動基台、１２・・
・固定基台。 第１図 第２図 第３図 第４図 ９アクチュエータ−
２図は本発明のプリズムを用いる第２の実施例、第３図
は本発明の対物レンズを光軸の垂直な面内で調整を行な
う第３の実施例、第４図は第３の実施例に用いられる対
物レンズ微調整装置の例、第５図は従来のディテクター
を調整する方式を説明する非点収差フォーカシングの光
学系、第６図は非点収差方式のディテクター上でのビー
ム形状を示す。 １・・・光源、２・・・ハーフミラ−１３・・・対物レ
ンズ、４・・・ディスク、５・・・ディテクター、６・
・・シリンドリカルレンズ、７・・・補助レンズ、８・
・・プリズム、９・・・アクチュエーター、１０・・・
アクチュエーター基台、１１・・・可動基台、１２・・
・固定基台。 第１図 第２図 第３図 第４図 ９アクチュエータ−
Claims (3)
- （１）放射光源の出射する光ビームを受け情報担体上に
光ビームを収束させる対物レンズ系と、前記放射光源と
前記対物レンズ系の間にある光ビーム分岐素子と、前記
光ビーム分岐素子より分岐した光ビームを受け電気信号
に変換する光電気変換素子と、前記光ビーム分岐素子と
前記対物レンズ系との間にあって往路の光ビーム光軸と
復路の光軸を移動可能とさせる光学素子とから成る光軸
調整装置付光ヘッド。 - （２）光軸を移動可能とさせる光学素子が単レンズ又は
平行平板又は非平行平板から成る特許請求の範囲第（１
）項記載の光軸調整装置付光ヘッド。 - （３）光軸を移動可能とさせる光学素子を対物レンズ系
と一体化し、前記対物レンズ系を保持する第１の基台を
一次元に可動とした第２の基台上に乗せ、第２の基台を
前記一次元方向と直交方向に可動した光軸調整装置付光
ヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19295386A JPS6350920A (ja) | 1986-08-20 | 1986-08-20 | 光軸調整装置付光ヘツド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19295386A JPS6350920A (ja) | 1986-08-20 | 1986-08-20 | 光軸調整装置付光ヘツド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6350920A true JPS6350920A (ja) | 1988-03-03 |
Family
ID=16299767
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19295386A Pending JPS6350920A (ja) | 1986-08-20 | 1986-08-20 | 光軸調整装置付光ヘツド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6350920A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7036134B2 (en) | 1999-02-24 | 2006-04-25 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical head and method of manufacturing the same |
| US7209411B1 (en) | 1998-07-30 | 2007-04-24 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method of manufacturing optical head |
| US7286450B2 (en) | 2003-01-22 | 2007-10-23 | Sharp Kabushiki Kaisha | Light pickup device with center axis and light balancing adjustment |
-
1986
- 1986-08-20 JP JP19295386A patent/JPS6350920A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7209411B1 (en) | 1998-07-30 | 2007-04-24 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method of manufacturing optical head |
| US7317675B2 (en) | 1998-07-30 | 2008-01-08 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method of manufacturing optical head |
| US7036134B2 (en) | 1999-02-24 | 2006-04-25 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical head and method of manufacturing the same |
| US7286450B2 (en) | 2003-01-22 | 2007-10-23 | Sharp Kabushiki Kaisha | Light pickup device with center axis and light balancing adjustment |
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