JPS6347908A - ニツケルフエライト系スピネル薄膜 - Google Patents

ニツケルフエライト系スピネル薄膜

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JPS6347908A
JPS6347908A JP19192386A JP19192386A JPS6347908A JP S6347908 A JPS6347908 A JP S6347908A JP 19192386 A JP19192386 A JP 19192386A JP 19192386 A JP19192386 A JP 19192386A JP S6347908 A JPS6347908 A JP S6347908A
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JP
Japan
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thin film
spinel thin
spinel
sputtering
nickel ferrite
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Pending
Application number
JP19192386A
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English (en)
Inventor
Hideki Matsuda
秀樹 松田
Hiroshi Iwasaki
洋 岩崎
Masahiko Kaneko
正彦 金子
Koichi Aso
阿蘇 興一
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、酸化物薄膜磁性材料であるニッケルフェライ
ト系スピネル薄膜に関するものである。
〔発明の概要〕
本発明は、低温基板上に高速成膜可能なスピネル薄膜と
してN I XF e 3−xoa  (但し0.9≦
x≦1.05)よりなるニッケルフェライト系スピネル
薄膜を提供し、 例えば光磁気記録材料であるコバルトフェライト系スピ
ネル薄膜等をスパッタリングにより成膜する際の下地膜
とすることにより、比較的低温条件下で結晶性に優れ磁
気光学特性や磁気特性にイ3れたスピネル薄膜を高速作
製することを可能とするものである。
(従来の技術〕 従来、耐酸化性を有する光(■気記録材料としてコバル
トフェライト系スピネル薄膜が綴告されている。
このコバルトフェライト系スピネル薄膜は、例えば希土
類金属と遷移金属との非晶質合金からなる光磁気記録材
料等に比べて、酸化物であることから酸化腐食を受ける
ことがないこと、カー回転角あるいはファラデー回転角
が大きいというように磁気光学効果が大きいこと、等の
数々の利点を存し、実用化が期待されている。
ところで、上述のコバルトフェライト系スピネル薄膜を
作製する方法としては、例えば特開昭60−12490
1号公報等に記載されるように、成膜の容易さ等から金
属酸化物焼結体をターゲットとじて用いたスパッタリン
グによるのが一般的である。
この場合、スパッタリングによる成膜時の基板温度は、
500℃以上にされることが多い。また、低温で成膜し
たとしても、光磁気記録媒体としての特性を生じせしめ
るために、成膜後さらに問温の熱処理過程が必要である
。これは、光磁気記録材料としての磁気特性や磁気光学
特性が成膜した酸化物薄膜のスピネルとしての結晶性と
基本的に結びついており、上記高温基板上への成膜や熱
処理過程は主としてこの結晶性の改善に必要であること
による。
しかしながら、上記高温基板上への成膜や高温の熱処理
過程は、基板の選択に著しい制限を課すとともに、製造
プロセスの?Jf雑化や製造コストの上昇をもたらす0
例えば、基板温度を400〜500℃とするには基板自
体にかなりの耐熱性が要求され、この種の光記録媒体に
おいて汎用されているポリカーボネート基板やエポキシ
樹脂基板等の高分子基板を使用することは難しい、また
、基板の温度を上げるまでに長時間を要することから、
生産性の点でも問題が多い。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上述のように、コバルトフェライト系スピネル薄膜は光
磁気記録材料として有望な材料であるが、これまでの報
告では、記録媒体として充分な光磁気特性を示すものは
、高温基板上に成膜したものや成11!J後500℃程
度以上で熱処理を施したものに限られているのが現状で
ある。
一船に、光磁気記録媒体は、その量産性から考えて、低
温(200℃程度)の基板上に成膜できることが望まし
い。特に、いわゆる光磁気ディスクのように基七反にポ
リカーボネートやエポキシ樹脂等の高分子材料を用いる
場合には、低温成膜は重要な課題である。
かかる状況より、本発明者等は、あらかしめ基板上に何
らかのスピネル薄膜を形成しておけば、当該スピネル薄
膜の結晶性に依存してこの薄膜上には緩やかな条件でも
結晶性の良好なコバルトフェライト系スピネル薄膜が形
成できるものと考えた。但し、あらかじめ形成するスピ
ネル薄膜の作成条件が厳しくては意味がない。例えば、
反応性スパッタリングにより成膜されるスピネル材料と
して鉄ターゲツトを用いたマグネタイト(FeJJが考
えられるが、通常のスパッタリングを行うとスピネルが
成膜される成膜条件付近でターゲットの表面酸化が生し
易く、安定してスピネル薄膜を作成することが難しい。
そこで本発明は、このような要望に応えて提案されたも
のであって、良質な結晶性を有するとともに、低温基板
上に高速成膜することが可能なスピネル薄膜を提供する
ことを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明者等は、前述の目的を達成せんものと長期に亘り
鋭意研究を重ねた結果、ニッケルフェライト系スピネル
薄膜が低温で作成し易(、またスピネル薄膜ができる酸
素流量付近において実質的にターゲット表面酸化が起こ
らず成膜が著しく容易であることを見出した。
本発明は、このような知見に基づいて完成されたもので
ある。
本発明のニッケルフェライト系スピネル薄膜は、その組
成が一般式 %式%) で表されるスピネル薄膜であって、酸素を導入しながら
行う反応性スパッタリングにより容易に低温成膜される
ものである。
ここで、ニッケルが占める割合Xが1805を越えると
ウスタイト相の薄膜が生成してしまい、逆にXの値が0
.9未満であると結晶性が悪くなって下地膜としての目
的を果たすことができない。
一方、本発明のニッケルフェライト系スピネル薄膜を作
成するための反応性スパックリングは、ターゲットとし
てN1及びFeを主体とする合金クーゲットを用い、ス
パッタリング装置内にアルゴンガス等の不活性ガスとと
もに酸素ガスを導入し酸化雲囲気中で行うが、この場合
不活性ガスと酸素ガスの導入量は独立に精密に制御し、
成膜速度に応じて膜中に取り込まれる酸素量を安定に供
給するように設定する。酸素量が少なすぎると、例えば
ウスタイト相の薄膜が形成される虞れがある。酸素量が
ある程度確保されれば良質なスピネル薄膜が形成される
。このとき、ターゲットの表面酸化が起こることがない
ことから、酸素流入量が若干変動しても成膜速度はほと
んど変わらず、安定な高速成膜が可能である。なお、上
記反応性スパッタリング時の不活性ガス圧としては、5
〜50ミリTorr、 好ましくはlO〜20ミリTo
rrである。
上述の反応性スパッタリングによれば、ニッケルフェラ
イト系スピネル薄膜の低温成膜が可能であり、しためく
って基を反温度は150〜400℃の低温状態に設定さ
れる。勿論、400℃以上の高温でもスピネル薄膜の成
膜は可能であるが、これ以上高い温度に設定すると基板
の選択範囲が制限されてしまい、例えば高分子基板等の
使用が難しくなる。また、基板温度が150℃未満では
良質なスピネル薄膜を得ることが難しくなる。
上記反応性スパッタリングにより得られるニッケルフェ
ライト系スピネル薄膜は、極めて結晶性に優れたスピネ
ル薄膜であり、した°がってこれを下地膜とすることに
より、この下地膜上には例えば光磁気記録材料となるス
ピネル薄膜が緩やかな条件で作成される。
ニッケルフェライト系スピネル薄膜上に形成するスピネ
ル薄膜としては、マグネタイトスピネル薄膜やコバルト
フェライト系スピネル薄膜等、如何なるものであっても
よく、またその形成方法としてもターゲットとして金属
酸化物を用いる通常のスパッタリングによってもよいが
、特にCo及びFeを主体とする合金ターゲットあるい
はCo。
Ga及びFeを主体とする合金ターゲットを用い、酸化
雰囲気中で反応性スパッタリングを行うことにより、極
めて結晶性に優れたコバルトフェライト系スピネル薄膜
を低温基板上に高速成膜することができる。
例えば、Co及びFeを主体とする合金ターゲットを使
用して酸化雰囲気中で反応性スパッタリングを行うこと
により、−形式 %式%(1) で示される組成を有するコバルトフェライト系スピネル
薄膜が形成される。
この場合、上記−形式(I)中COの占める割合yは、
0.5≦y≦1.05の範囲に設定することが好ましい
。これはCOの割合yが1.05を越えると、ウスタイ
ト相薄膜が生成し易くなり、逆に0.5未満であると膜
中の酸素量の制御が難しくなることによる。また、上記
co、Feの他、合金ターゲット中に微量の添加元素を
混入しても差し支えない。
また、特にco、Feに加えてC,aを含有する合金タ
ーゲットを使用することにより、得られるコバルトフェ
ライト系スピネル薄膜のキュリ一温度を100〜200
℃程度に抑え、半4体レーザによる古き込みが容易に行
えるようにすることもできる。上記Co、Ga及びFe
を主体とする合金ターゲットを使用した場合には、得ら
れるコバルトフェライト系スピネル薄膜の組成は、次式
%式%() で示されるが、この場合にもCOの割合yは0.5≦y
≦1.05とすることが好まし1.また、Gaの割合2
は、Q<z≦1.1である。Gaはわずかな添加量でも
キュリ一温度や磁気異方性、磁気歪。
磁気光学効果等の改善に効果を発揮するが、あまり多量
に加えるとスピネル薄膜の有する光磁気記録材料として
の特性を損なう虞れがある。
〔実施例〕
以下、本発明を具体的な実施例により説明するが、本発
明がこれら実施例に限定されるものでないことは言うま
でもない。
去崖斑上 ニッケルー鉄合金ターゲットを用い、マグ2)ロン型高
周波スパッタリング装置によってニッケルフェライトm
膜を成膜した。
使用したスパッタリング装置7Fの概略的な構成を第1
図に示す。
このスパッタリング装置は、マグ2トロン型のスパッタ
リング装置であって、真空チャンバ(1)中に合金ター
ゲット(2)及びマグネット(3)とからなるカソード
装置と基板(4)とを対向配置することにより構成され
るものである。
ここで、上記カソード装置においては、放電により発生
する放電プラズマがマグネット(3)の磁極(3a) 
、 (3b)間のトロイダル型(ドーナツ型)の[IM
のトンネルの周辺に拘束され、アルゴンイオンが効率良
く合金ターゲット(2)に衝突して構成原子をたたき出
すようになっている。
一方、上記基板(4)の裏面側にはヒータ(5)が設け
られ、基板(4)の温度を制御″nするようになってい
る。
さらに、このスパッタリング装置には、上記真空チャン
バ(1)内にアルゴンガス等の不活性ガスを導入するた
めの導入管(6)が設置されるとともに、酸素ガスを導
入するための導入管(7)が設置されている。これら導
入管(6) 、 (7)から導入されるアルゴンガスあ
るいは酸素ガスの流量は、それぞれ流量制御装置、いわ
ゆるマスフローコントローラー(3L(9)によって独
立に制御され、特に酸素ガスの流量は0.29%程度の
オーダニで精密に制御されるようになされている。
上述のスパッタリング装置を用い、導入管(7)から酸
素ガスを導入して装置内を酸化雰囲気とし、反応スパッ
タを行った。スパッタリング条件は下記の通りである。
スパッタリング条件 スパッタリング電力        300Wスパツタ
リングガス圧    10ミリTorr基板     
       石英ガラス基板温度         
   200℃ターゲット N1zs、3Feai、y
  (数値は原子%)スパッタリングに際しては、アル
ゴンガスのみの雰囲気で10分間予備スパッタリングを
施し、さらに本スパフタと同じ雰囲気で10分間スパッ
タリングを行った後、基板上に膜厚0.5μmのニッケ
ルフェライト薄膜を成膜した。
第2図に、スパッタリング時の酸素流入量とニッケルフ
ェライト薄膜の成膜速度の関係を示す。
なお、第2図中↓印はウスタイト相のニッケルフェライ
ト薄膜が得られた条件を、↓印はスピネル相〔単−相、
 (100)配向膜〕のニッケルフェライト1膜が得ら
れた条件を示す。
この第2図より、反応性スパッタリングによる′   
ニッケルフェライト薄膜の作成においては、酸素流入量
が変動しても成膜速度はほとんど変わらず、したがって
実質的にターゲットの表面酸化が起こっていないことが
わかった。これはスピネル薄膜の高速成膜の点で極めて
有利である。
また、第3図に得、られたニッケルフェライトスピネル
薄膜のX線回折パターンを示す。図中のピークはスピネ
ル薄膜の(400)面における回折ピークである。
得られたスピネル薄膜は極めて結晶性の良質なもので、
基板温度200℃程度であっても充分に良好なスピネル
薄膜が形成されることがわかった。
去施斑1 下記のスパッタリング条件により、他は実施例1と同様
の方法に従ってニッケルフェライト1膜・ネル薄膜を作
成した。なお、スパッタリング時の酸素流入量は0.3
41 (SCCM)とした。
スパッタリング条件 スパッタリング電力        150Wスパツタ
リングガス圧    10ミリTorr基板     
       石英ガラス基板温度         
   200℃ターゲット Ni33.3Febb、7
 (数値は原子%)得られた薄膜は、(111)面に配
向した良質な結晶性を有するスピネル薄膜であった。
瓜几炎上 先の実施例2で得られたニッケルフェライトスピネル薄
膜上に、Co−Fe合金ターゲットを用い酸化雰囲気中
で反応性スパッタを行い、コバルトフェライト薄膜を作
成した。コバルトフェライト薄膜のスパッタリング条件
は下記の通りである。
スパッタリング条件 スパッタリング電力        200Wスパッタ
リングガス圧    10ミリTorr基板     
       石英ガラス酸素流入量        
 0.185 SCC−基板温度          
  200℃ターゲット Co35.Jebb、q  
(数値は原子%)得られたコバルトフェライト薄膜は、
(111)面に配向した結晶性の極めて良好なスピネル
薄膜であり、優れた磁気光学特性及び磁気特性を示した
庭里炎1 先の実施例2で得られたニッケルフェライトスピネル薄
膜上に、Co−Ga−Fe合金ターゲットを用い酸化雰
囲気中で反応性スパッタを行い、コバルトフェライト系
薄膜を作成した。スパッタリング条件は下記の通りであ
る。
スパッタリング条件 スパッタリング電力        80Wスパツタリ
ングガス圧    10ミリTorr酸素流入量   
      0.116 SCC門基(反      
      石英ガラス基1反温度         
               200℃得られたコバ
ルトフェライト系薄膜は、良好な結晶性を有するスピネ
ル薄膜であり、先の応用例1と同様に磁気光学特性や磁
気特性に優れた光磁気記録材料が得られた。また、この
スピネル薄膜は90℃付近にキュリ一温度を示し、記1
度に優れた光(n気記録材料であることがわかった。
なお、これら応用例と同様に先の実施例2で得られたニ
ッケルフェライトスピネル薄膜上に鉄ターゲツトを用い
て酸化雰囲気中で反応スパッタを行ったところ、やはり
良質な結晶性を有するマグネタイトスピネル薄膜が形成
された。また、このマグネタイトスピネル薄膜を酸化し
たところ、γ−Fe20.スピネル薄膜とすることもで
きた。
〔発明の効果〕
以上の説明からも明らかなように、Nl及びFeを主体
とする合金ターゲットを用いて酸化雰囲気中で反応性ス
パッタリングにより成膜されるニッケルフェライト系ス
ピネル薄膜は、極めて良好なスピネル相の結晶性を有す
る。
また、上記ニッケルフェライト系スピネル薄膜の作成に
あたっては、低温成膜が可能であるばかりか、膜中の酸
素量の制御が容易であり、さらにはターゲットの表面酸
化によるスパッタリング条件の低下もなく、高速成膜が
可能である。
したがって、このニッケルフェライト系スピネル薄膜は
各種スピネル薄膜作成の下地膜として有用であり、例え
ば光(f気記録材料であるコバルトフェライト系スピネ
ル薄膜を低温成膜、高速成膜することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のニッケルフェライト系スピネル薄膜を
作成するにあたって使用されるスパッタリング装置の一
例を示す概略的な構成図である。 第2図はNi−Fe名金ターゲ7)を使用して反応スパ
ックを行った際の酸素流入量の変化に伴う成膜速度の変
化を示す特性図である。 第3図はNi−Fe合金ターゲットを使用して得られた
ニッケルフェライト系スピネル薄膜のX線回折パターン
を示すスペクトル図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  Ni_xFe_3_−_xO_4(但し0.9≦x≦
    1.05)よりなるニッケルフェライト系スピネル薄膜
JP19192386A 1986-08-16 1986-08-16 ニツケルフエライト系スピネル薄膜 Pending JPS6347908A (ja)

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JPS6347908A true JPS6347908A (ja) 1988-02-29

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012219361A (ja) * 2011-04-13 2012-11-12 Canon Anelva Corp スピネルフェライト薄膜の製造方法
CN104030368A (zh) * 2014-02-17 2014-09-10 瑞安市浙工大技术转移中心 一种具有成分梯度的一维NixFe3-xO4磁性纳米线的制备方法
CN104030370A (zh) * 2014-02-17 2014-09-10 瑞安市浙工大技术转移中心 一种成分梯度的一维NixFe3-xO4磁性纳米线的制备方法
CN105502286A (zh) * 2016-01-04 2016-04-20 南京林业大学 一种多孔纳米NiFe2O4的制备方法

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