JPS6347622A - 分光装置 - Google Patents
分光装置Info
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- JPS6347622A JPS6347622A JP19115186A JP19115186A JPS6347622A JP S6347622 A JPS6347622 A JP S6347622A JP 19115186 A JP19115186 A JP 19115186A JP 19115186 A JP19115186 A JP 19115186A JP S6347622 A JPS6347622 A JP S6347622A
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- light
- slit
- spectrometer
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- slits
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- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 abstract description 8
- 238000010183 spectrum analysis Methods 0.000 abstract 2
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 12
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 7
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 5
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 4
- 238000009616 inductively coupled plasma Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000004993 emission spectroscopy Methods 0.000 description 2
- 238000005375 photometry Methods 0.000 description 2
- 238000001636 atomic emission spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000000921 elemental analysis Methods 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J3/18—Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating
- G01J3/20—Rowland circle spectrometers
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
イ、産業上の利用分野
本発明は発光分光分析装置等に使用するのに適したマル
チチャンネル型の分光装置に関する。
チチャンネル型の分光装置に関する。
口、従来の技術
発光分光分析法例えば高周波誘導結合プラズマ(ICP
)発光分光分析法でアルカリ元素を分析しようとする場
合アルカリ元素の分光分析に適する輝線波長が他の多く
の元素の分光分析に適する輝線波長に比し長いので、ア
ルカリ元素を含む多くの元素について分析可能にしよう
とすると分光器がカバーすべき波長範囲が広くなり構造
上無理が生ずる。例えば従来のマルチチャンネル分光器
では通常元素だけを分析するのであれば波長範囲は17
0〜410 nm或は170〜460nmでよいが、ア
ルカリ元素も分析できるようにしようとするとそれらの
輝線はNa : 589nm、L i: 671 nm
N K : 766nm等であるから、分光器がカバー
すべき波長範囲は170〜800nmとなり、このよう
な広波長範囲をカバーしようとすると分光器の波長分散
を低下させねばならず、通常元素の分析において分解能
が不足して来る。このことはマルチチャンネル型でな(
、波長走査型分光器で、シーケンシャルに各元素の検出
、定量を行って行く場合でも同様である。
)発光分光分析法でアルカリ元素を分析しようとする場
合アルカリ元素の分光分析に適する輝線波長が他の多く
の元素の分光分析に適する輝線波長に比し長いので、ア
ルカリ元素を含む多くの元素について分析可能にしよう
とすると分光器がカバーすべき波長範囲が広くなり構造
上無理が生ずる。例えば従来のマルチチャンネル分光器
では通常元素だけを分析するのであれば波長範囲は17
0〜410 nm或は170〜460nmでよいが、ア
ルカリ元素も分析できるようにしようとするとそれらの
輝線はNa : 589nm、L i: 671 nm
N K : 766nm等であるから、分光器がカバー
すべき波長範囲は170〜800nmとなり、このよう
な広波長範囲をカバーしようとすると分光器の波長分散
を低下させねばならず、通常元素の分析において分解能
が不足して来る。このことはマルチチャンネル型でな(
、波長走査型分光器で、シーケンシャルに各元素の検出
、定量を行って行く場合でも同様である。
このため従来は通常元素の分析用の高分散の分光器に低
分散のアルカリ元素分析用の分光器を付加した2M構造
の分光器が用いられる。
分散のアルカリ元素分析用の分光器を付加した2M構造
の分光器が用いられる。
ハ1発明が解決しようとする問題点
上述したように通常元素もアルカリ元素も共に分析可能
にするため従来は、高分散の主分光器と低分散の追加分
光器を用いると云う構成を用いていたが、この構成は分
光器が全体的に大型になり、また価格的にも窩価となら
ざるを得ない。本発明はこのような場合に用いられるマ
ルチチャンネル型分光装置の小型化、低価格化を計り上
述したような場合における分光分析装置の大型化、高価
格化と云う問題を解決しようとするものである。
にするため従来は、高分散の主分光器と低分散の追加分
光器を用いると云う構成を用いていたが、この構成は分
光器が全体的に大型になり、また価格的にも窩価となら
ざるを得ない。本発明はこのような場合に用いられるマ
ルチチャンネル型分光装置の小型化、低価格化を計り上
述したような場合における分光分析装置の大型化、高価
格化と云う問題を解決しようとするものである。
二1問題点解決のための手段
分光器の光出口スリットを一個にし、複数の光入口スリ
ットを上記出口スリットに対して特定の波長関係になる
位置に配列し、試料発光手段から発せられる光を上記各
先入ロスリットに分配する手段を設けた。
ットを上記出口スリットに対して特定の波長関係になる
位置に配列し、試料発光手段から発せられる光を上記各
先入ロスリットに分配する手段を設けた。
ホ1作用
通常のマルチチャンネル分光器では光入口スリットが一
つで、分散素子によってスペクトル像を形成させ、この
スペクトル像の上に複数の光出口スリットを配置してい
る。本発明はこの通常構成とは逆に、光出口スリットを
一つにし、光入口スリットを複数にして、光の進行方向
を通常のマルチチャンネル型分光器とは反対にした。前
項で「出口スリットに対して特定の波長関係になる位置
」と云うのは、一つの特定の波長の光に関して一つの入
口スリットが、その入口スリットを通って光分散素子に
入射した光のうち上記特定の波長の光が出口スリットに
来るような位置にあることを意味する。このように複数
の光入口スリットが配置されている場合、一つの光源の
光をそれらの入口スリットに分配する手段は任意で、オ
プチカルファイバーを用いるような方法が考えられる。
つで、分散素子によってスペクトル像を形成させ、この
スペクトル像の上に複数の光出口スリットを配置してい
る。本発明はこの通常構成とは逆に、光出口スリットを
一つにし、光入口スリットを複数にして、光の進行方向
を通常のマルチチャンネル型分光器とは反対にした。前
項で「出口スリットに対して特定の波長関係になる位置
」と云うのは、一つの特定の波長の光に関して一つの入
口スリットが、その入口スリットを通って光分散素子に
入射した光のうち上記特定の波長の光が出口スリットに
来るような位置にあることを意味する。このように複数
の光入口スリットが配置されている場合、一つの光源の
光をそれらの入口スリットに分配する手段は任意で、オ
プチカルファイバーを用いるような方法が考えられる。
このような構成によると、光出口スリットが一つである
から、光検出素子及びそれに続(増幅器等を含む測光回
路は一チャンネル分あればよ(、構成上従来の多チヤン
ネル型分光器に比し測光系が単一化され安価となる。ま
た光検出器は成る大きさを有するから、複数の出口スリ
ットを用いる場合でも、相隣る出口スリットは最低限成
る距離を離さねばならず、そのため検出すべき相隣る二
つの輝線間のスペクトル上の距離が上記最低限以上であ
るように分光器を構成しなければならないから、分光器
を任意に小さくすることができないが、本発明の場合、
光出口スリットが一つで、光検出器も一つであれば、光
入口スリットは必要な分解能が得られる範囲で任意に近
接させてよく、分光器が小型化できる。特にアルカリ元
素分析用としてこの多チヤンネル構成を用いると、前述
したアルカリ元素の輝線の付近には他元素の輝線は殆ど
なく、アルカリ元素の分析には格別高分解能は要求され
ないので、このような分光器を通常元素分析用の主分光
器に対する副分光器として併設しても装置全体としては
特に大型化することはない。かくして本発明によれば、
大型化、高価格化を避けて、通常元素、アルカリ元素何
れも分析可能な発光分光分析装置が得られるのである。
から、光検出素子及びそれに続(増幅器等を含む測光回
路は一チャンネル分あればよ(、構成上従来の多チヤン
ネル型分光器に比し測光系が単一化され安価となる。ま
た光検出器は成る大きさを有するから、複数の出口スリ
ットを用いる場合でも、相隣る出口スリットは最低限成
る距離を離さねばならず、そのため検出すべき相隣る二
つの輝線間のスペクトル上の距離が上記最低限以上であ
るように分光器を構成しなければならないから、分光器
を任意に小さくすることができないが、本発明の場合、
光出口スリットが一つで、光検出器も一つであれば、光
入口スリットは必要な分解能が得られる範囲で任意に近
接させてよく、分光器が小型化できる。特にアルカリ元
素分析用としてこの多チヤンネル構成を用いると、前述
したアルカリ元素の輝線の付近には他元素の輝線は殆ど
なく、アルカリ元素の分析には格別高分解能は要求され
ないので、このような分光器を通常元素分析用の主分光
器に対する副分光器として併設しても装置全体としては
特に大型化することはない。かくして本発明によれば、
大型化、高価格化を避けて、通常元素、アルカリ元素何
れも分析可能な発光分光分析装置が得られるのである。
へ、実施例
第1図は本発明の一実施例を示す。Gは凹面回折格子、
Soは光出口スリット、Sl、S2.S3は光入口スリ
ットで、これらの各スリットは回折格子Gの中心を通る
一つのローランド円R上に配置されている。ONは回折
格子Gの中心に立てた格子面の法線で、光出口スリット
Soは回折格子の中心に対してこの法線と角度αだけ離
れた位置にあり、ローランド円上のスペクトル像は法線
○Nに関して光出口スリットSoと反対側でONより角
度αだけ離れた位置が波長Oで、そこから光出口スリッ
トの方へ向けて波長が長くなっており、光入口スリット
S1はNaの波長589nmの輝線位置、S2はLiの
波長671nmの輝線位置、S3はKの波長766nm
の輝線位置に配置されている。光出口スリットS○の後
方に光検出器のフォトマルチプライヤPが配置され、こ
の光検出器には測光回路Mが接続されており、測光回路
Mの出力はデータ処理装置Cに入力されるようになって
いる。光入口スリットSl、S2.S3には光ファイバ
ーFl、F2.F3によってプラズマ光源りの光が導か
れる。光ファイバーF1、F2.F3の光出射端から出
た光は集光素子f1.f2.f3によって各スリットS
l、S2、S3上に集光される。各スリット81〜S3
と集光素子f1〜f3との間には夫々シャッターK1.
に2.に3が配置され、データ処理装置Cからの信号に
よって順番に開閉されるようになっており、これらのシ
ャッターの開閉と同期して測光回路Mの出力がデータ処
理装置Cに取込まれ、Naの光、Liの光、にの光等と
弁別される。光ファイバーF1〜F3の光入射端にはレ
ンズによってプラズマ炎りの像が形成されており、各光
ファイバーの光入射端はこの像の上で夫々受持っている
元素の光を取入れるのに一番良い場所が選ばれるように
しである。
Soは光出口スリット、Sl、S2.S3は光入口スリ
ットで、これらの各スリットは回折格子Gの中心を通る
一つのローランド円R上に配置されている。ONは回折
格子Gの中心に立てた格子面の法線で、光出口スリット
Soは回折格子の中心に対してこの法線と角度αだけ離
れた位置にあり、ローランド円上のスペクトル像は法線
○Nに関して光出口スリットSoと反対側でONより角
度αだけ離れた位置が波長Oで、そこから光出口スリッ
トの方へ向けて波長が長くなっており、光入口スリット
S1はNaの波長589nmの輝線位置、S2はLiの
波長671nmの輝線位置、S3はKの波長766nm
の輝線位置に配置されている。光出口スリットS○の後
方に光検出器のフォトマルチプライヤPが配置され、こ
の光検出器には測光回路Mが接続されており、測光回路
Mの出力はデータ処理装置Cに入力されるようになって
いる。光入口スリットSl、S2.S3には光ファイバ
ーFl、F2.F3によってプラズマ光源りの光が導か
れる。光ファイバーF1、F2.F3の光出射端から出
た光は集光素子f1.f2.f3によって各スリットS
l、S2、S3上に集光される。各スリット81〜S3
と集光素子f1〜f3との間には夫々シャッターK1.
に2.に3が配置され、データ処理装置Cからの信号に
よって順番に開閉されるようになっており、これらのシ
ャッターの開閉と同期して測光回路Mの出力がデータ処
理装置Cに取込まれ、Naの光、Liの光、にの光等と
弁別される。光ファイバーF1〜F3の光入射端にはレ
ンズによってプラズマ炎りの像が形成されており、各光
ファイバーの光入射端はこの像の上で夫々受持っている
元素の光を取入れるのに一番良い場所が選ばれるように
しである。
第2図は装置の全体を示す側面図である。1は主分光器
でアルカリ元素以外の通常元素の輝線を取出す。2は集
光レンズで、プラズマ炎りの光を主分光器1の光入口ス
リット上に集光させる。3が上述した割分光器で、Fl
、F2.F3は上述した光ファイバーである。
でアルカリ元素以外の通常元素の輝線を取出す。2は集
光レンズで、プラズマ炎りの光を主分光器1の光入口ス
リット上に集光させる。3が上述した割分光器で、Fl
、F2.F3は上述した光ファイバーである。
上述した実施例では本発明マルチチャンネル分光器を発
光分光分析におけるアルカリ元素分析用割分光器に用い
たものであるが、本発明分光器は独立したマルチチャン
ネル型分光器としても用い得ることは云うまでもない。
光分光分析におけるアルカリ元素分析用割分光器に用い
たものであるが、本発明分光器は独立したマルチチャン
ネル型分光器としても用い得ることは云うまでもない。
ト、効果
本発明分光器は光出口スリットを一つにし、光入口スリ
ットを複数個、検出しようとする各波長に対応する位置
に配置した構成であるから、光検出器及び測光回路が一
チャンネルだけあればよ(、装置が安価にできることに
なる。また光出口スリットを複数設ける場合、隣合う光
出口スリット間の間隔は光検出器の外径より小さくでき
ないから、分光器により形成されるスペクトル像上での
検出しようとする相隣る2つの波長間の距離が光検出器
の外径以上であることが必要となり、分光器が大型とな
るが、本発明によれば、光出口スリットは一つであり、
光入口スリットは隣合うスリット間の間隔を任意にせま
(できるので、分光器を小型に作ることが可能となる。
ットを複数個、検出しようとする各波長に対応する位置
に配置した構成であるから、光検出器及び測光回路が一
チャンネルだけあればよ(、装置が安価にできることに
なる。また光出口スリットを複数設ける場合、隣合う光
出口スリット間の間隔は光検出器の外径より小さくでき
ないから、分光器により形成されるスペクトル像上での
検出しようとする相隣る2つの波長間の距離が光検出器
の外径以上であることが必要となり、分光器が大型とな
るが、本発明によれば、光出口スリットは一つであり、
光入口スリットは隣合うスリット間の間隔を任意にせま
(できるので、分光器を小型に作ることが可能となる。
第1図は本発明の一実施例分光器の平面図、第2図は上
記分光器を利用したICP発光分光分析装置の側面図で
ある。 G・・・回折格子、R・・・ローランド円、So・・・
光出口スリット、SL、S2.S3・・・光入口スリッ
ト、P・・・光検出器、M・・・測光回路、C・・・デ
ータ処理回路、Fl、F2.F3・・・光ファイバー、
K1.に2、に3・・・シャッター、L・・・TCP光
源。
記分光器を利用したICP発光分光分析装置の側面図で
ある。 G・・・回折格子、R・・・ローランド円、So・・・
光出口スリット、SL、S2.S3・・・光入口スリッ
ト、P・・・光検出器、M・・・測光回路、C・・・デ
ータ処理回路、Fl、F2.F3・・・光ファイバー、
K1.に2、に3・・・シャッター、L・・・TCP光
源。
Claims (1)
- 分光器の光出口スリットを一個にし、複数の光入口スリ
ットを上記光出口スリットに対して特定の波長関係にな
る位置に配列し、光源からの光を上記各光入口スリット
に分配する手段を設けたことを特徴とする分光装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19115186A JPS6347622A (ja) | 1986-08-14 | 1986-08-14 | 分光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19115186A JPS6347622A (ja) | 1986-08-14 | 1986-08-14 | 分光装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6347622A true JPS6347622A (ja) | 1988-02-29 |
Family
ID=16269746
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19115186A Pending JPS6347622A (ja) | 1986-08-14 | 1986-08-14 | 分光装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6347622A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01321325A (ja) * | 1988-06-24 | 1989-12-27 | Hitachi Ltd | 分光器及びそれを用いた投影露光装置並びに投影露光方法 |
WO1996028713A1 (fr) * | 1995-03-15 | 1996-09-19 | Yokogawa Electric Corporation | Analyseur du spectre optique et spectroscope |
US5933235A (en) * | 1995-03-15 | 1999-08-03 | Yokogawa Electric Corporation | Optical spectrum analyzer and spectrometer |
JP2014035224A (ja) * | 2012-08-08 | 2014-02-24 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
EP2784457A1 (en) | 2013-03-28 | 2014-10-01 | Hitachi High-Tech Science Corporation | Fiber-based ICP optical emission spectrometer |
WO2016166981A1 (ja) * | 2015-04-17 | 2016-10-20 | ミツミ電機株式会社 | 分光器および生体情報測定装置 |
-
1986
- 1986-08-14 JP JP19115186A patent/JPS6347622A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01321325A (ja) * | 1988-06-24 | 1989-12-27 | Hitachi Ltd | 分光器及びそれを用いた投影露光装置並びに投影露光方法 |
WO1996028713A1 (fr) * | 1995-03-15 | 1996-09-19 | Yokogawa Electric Corporation | Analyseur du spectre optique et spectroscope |
US5933235A (en) * | 1995-03-15 | 1999-08-03 | Yokogawa Electric Corporation | Optical spectrum analyzer and spectrometer |
JP2014035224A (ja) * | 2012-08-08 | 2014-02-24 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
EP2784457A1 (en) | 2013-03-28 | 2014-10-01 | Hitachi High-Tech Science Corporation | Fiber-based ICP optical emission spectrometer |
WO2016166981A1 (ja) * | 2015-04-17 | 2016-10-20 | ミツミ電機株式会社 | 分光器および生体情報測定装置 |
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