JPH06109539A - 光測定装置 - Google Patents
光測定装置Info
- Publication number
- JPH06109539A JPH06109539A JP25333592A JP25333592A JPH06109539A JP H06109539 A JPH06109539 A JP H06109539A JP 25333592 A JP25333592 A JP 25333592A JP 25333592 A JP25333592 A JP 25333592A JP H06109539 A JPH06109539 A JP H06109539A
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- JP
- Japan
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- light
- light receiving
- optical
- receiving element
- diffraction grating
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- Pending
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 誤検出の少ない光測定装置を提供する。
【構成】 受光容器５内に設けたアレイ型受光素子７の
受光部７ａ並設方向の両端側に、受光部並設方向に沿っ
た開口部１２を設け、受光容器５内に入射する測定用光
線束を、アレイ型受光素子７に対し、受光部７ａ並設方
向に分光させて照射するための凹面回折格子６で分光し
た光の内、測定対象領域以外の光を開口部１２を通して
内部に入射させて封じ込めるための光トラップ空間Ｌを
開口部１２の奥に設けてある。
受光部７ａ並設方向の両端側に、受光部並設方向に沿っ
た開口部１２を設け、受光容器５内に入射する測定用光
線束を、アレイ型受光素子７に対し、受光部７ａ並設方
向に分光させて照射するための凹面回折格子６で分光し
た光の内、測定対象領域以外の光を開口部１２を通して
内部に入射させて封じ込めるための光トラップ空間Ｌを
開口部１２の奥に設けてある。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、受光容器内に入射する
測定用光線束を、前記受光容器内に設けたアレイ型受光
素子に対し、その受光部の並設方向に分光させて照射す
るための凹面回折格子を、前記受光容器内に設けてある
光測定装置に関する。
測定用光線束を、前記受光容器内に設けたアレイ型受光
素子に対し、その受光部の並設方向に分光させて照射す
るための凹面回折格子を、前記受光容器内に設けてある
光測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の光測定装置としては、前
記アレイ型受光素子を、暗箱によって形成した前記受光
容器内の平坦面に設けてあった。
記アレイ型受光素子を、暗箱によって形成した前記受光
容器内の平坦面に設けてあった。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】この種の光測定装置
は、前記凹面回折格子によって、複数の分光次数に回折
または反射させた各分光群の内の測定対象領域とする次
数の分光群を前記アレイ型受光素子の各受光部で受光し
て測定するものである。
は、前記凹面回折格子によって、複数の分光次数に回折
または反射させた各分光群の内の測定対象領域とする次
数の分光群を前記アレイ型受光素子の各受光部で受光し
て測定するものである。
【０００４】しかし、上述した従来の光測定装置によれ
ば、前記受光容器内のアレイ型受光素子を取り付けてあ
る側の前記平坦面に照射された前記測定領域以外の光
は、前記受光容器内を反射して、前記アレイ型受光素子
の受光部に入射する危険性があり、前記測定領域以外の
光が前記受光部に入射すれば、目的とする測定領域の光
だけを正確に測定することが困難となり、誤検出すると
いう問題点が生じる。
ば、前記受光容器内のアレイ型受光素子を取り付けてあ
る側の前記平坦面に照射された前記測定領域以外の光
は、前記受光容器内を反射して、前記アレイ型受光素子
の受光部に入射する危険性があり、前記測定領域以外の
光が前記受光部に入射すれば、目的とする測定領域の光
だけを正確に測定することが困難となり、誤検出すると
いう問題点が生じる。
【０００５】従って、本発明の目的は、上記問題点を解
消し、誤検出の少ない光測定装置を提供するところにあ
る。
消し、誤検出の少ない光測定装置を提供するところにあ
る。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
の本発明における光測定装置の特徴構成は、受光容器内
に設けたアレイ型受光素子の受光部並設方向の両端側
に、前記受光部並設方向に沿った開口部を設け、前記受
光容器内に入射する測定用光線束を、前記アレイ型受光
素子に対し、前記受光部並設方向に分光させて照射する
ための凹面回折格子で分光した光の内、測定対象領域以
外の光を前記開口部を通して内部に入射させて封じ込め
るための光トラップ空間を前記開口部の奥に設けてある
ところにある。
の本発明における光測定装置の特徴構成は、受光容器内
に設けたアレイ型受光素子の受光部並設方向の両端側
に、前記受光部並設方向に沿った開口部を設け、前記受
光容器内に入射する測定用光線束を、前記アレイ型受光
素子に対し、前記受光部並設方向に分光させて照射する
ための凹面回折格子で分光した光の内、測定対象領域以
外の光を前記開口部を通して内部に入射させて封じ込め
るための光トラップ空間を前記開口部の奥に設けてある
ところにある。
【０００７】
【作用】本発明における光測定装置の特徴構成によれ
ば、前記アレイ形受光素子の受光部並設方向の両端側
に、前記受光部並設方向に沿った開口部を設けてあるか
ら、前記測定領域以外の光は、前記開口部に入射する。
また、前記開口部の前記入射方向の奥に光トラップ空間
を設けてあるから、前記開口部からの入射光は、前記光
トラップ空間内に封じ込められて減衰する。即ち、従来
の光測定装置のように前記受光容器内を反射して前記ア
レイ型受光素子の受光部に入射することを防止すること
が可能となり、光測定結果の誤検出を少なくすることが
できる。
ば、前記アレイ形受光素子の受光部並設方向の両端側
に、前記受光部並設方向に沿った開口部を設けてあるか
ら、前記測定領域以外の光は、前記開口部に入射する。
また、前記開口部の前記入射方向の奥に光トラップ空間
を設けてあるから、前記開口部からの入射光は、前記光
トラップ空間内に封じ込められて減衰する。即ち、従来
の光測定装置のように前記受光容器内を反射して前記ア
レイ型受光素子の受光部に入射することを防止すること
が可能となり、光測定結果の誤検出を少なくすることが
できる。
【０００８】
【発明の効果】従って、本発明の光測定装置によれば、
光測定の誤検出を減らし、測定精度を向上させることが
可能となった。
光測定の誤検出を減らし、測定精度を向上させることが
可能となった。
【０００９】
【実施例】以下に本発明における光測定装置の一実施例
である玄米を試料Ｓとする分光分析装置について説明す
る。
である玄米を試料Ｓとする分光分析装置について説明す
る。
【００１０】分光分析装置は、図１に示すように、光源
１と、光源１からの光線束を成形する第一光学系２と、
第一光学系２からの光線束が照射される試料保持部３
と、その試料保持部３で保持された試料Ｓを透過した光
線束を集光する第二光学系４と、その第二光学系４によ
り集光された測定用光線束を分光分析する受光容器の一
例である分光分析部５とを光軸Ｐに沿って配置して構成
してある。
１と、光源１からの光線束を成形する第一光学系２と、
第一光学系２からの光線束が照射される試料保持部３
と、その試料保持部３で保持された試料Ｓを透過した光
線束を集光する第二光学系４と、その第二光学系４によ
り集光された測定用光線束を分光分析する受光容器の一
例である分光分析部５とを光軸Ｐに沿って配置して構成
してある。
【００１１】前記光源１は、タングステン−ハロゲン電
球によって構成してある。前記第一光学系２は、前記試
料保持部３に向かう光線束を平行光線束に成形するレン
ズやスリットで構成してある。前記試料保持部３は、石
英硝子製の容器３ａによって構成してあり、その容器３
ａ内には、試料Ｓとして玄米を収容してある。前記第二
光学系４は、前記試料Ｓを透過した光線束を前記分光分
析部５の入射孔５ａ位置で集光させる集光レンズ４ａ
と、光路への有害光の進入を防止する暗箱４ｂとで構成
してある。
球によって構成してある。前記第一光学系２は、前記試
料保持部３に向かう光線束を平行光線束に成形するレン
ズやスリットで構成してある。前記試料保持部３は、石
英硝子製の容器３ａによって構成してあり、その容器３
ａ内には、試料Ｓとして玄米を収容してある。前記第二
光学系４は、前記試料Ｓを透過した光線束を前記分光分
析部５の入射孔５ａ位置で集光させる集光レンズ４ａ
と、光路への有害光の進入を防止する暗箱４ｂとで構成
してある。
【００１２】前記分光分析部５は、前記第二光学系４に
隣接するアルミニウム製の暗箱５ｂを設け、前記暗箱５
ｂに入射する測定用光線束を後述するアレイ型受光素子
７に対しその受光部７ａの並設方向に分光させて照射す
るための凹面回折格子６を設け、前記凹面回折格子６に
よって分光された複数次数の分光群の内、測定対象域の
次数に分布する各波長光を受光するためのアレイ型受光
素子７を設けて構成してある。また、前記暗箱５ｂ内の
測定用光路における前記入射孔５ａと前記凹面回折格子
６との間には、前記入射孔５ａからの入射光線束を凹面
回折格子６に向けて反射させる反射鏡８を設けてある。
即ち、前記分光分析部５はポリクロメータ型の分光計で
ある。
隣接するアルミニウム製の暗箱５ｂを設け、前記暗箱５
ｂに入射する測定用光線束を後述するアレイ型受光素子
７に対しその受光部７ａの並設方向に分光させて照射す
るための凹面回折格子６を設け、前記凹面回折格子６に
よって分光された複数次数の分光群の内、測定対象域の
次数に分布する各波長光を受光するためのアレイ型受光
素子７を設けて構成してある。また、前記暗箱５ｂ内の
測定用光路における前記入射孔５ａと前記凹面回折格子
６との間には、前記入射孔５ａからの入射光線束を凹面
回折格子６に向けて反射させる反射鏡８を設けてある。
即ち、前記分光分析部５はポリクロメータ型の分光計で
ある。
【００１３】前記凹面回折格子６は、前記アレイ型受光
素子７側を向けた状態で、前記暗箱５ｂに設けた回折格
子固定部１０にポリエチレン製の支持部材１１を介して
取り付け固定してある。
素子７側を向けた状態で、前記暗箱５ｂに設けた回折格
子固定部１０にポリエチレン製の支持部材１１を介して
取り付け固定してある。
【００１４】前記アレイ型受光素子７は、図２に示すよ
うに、前記凹面回折格子６による光線束の分散光路上の
前記暗箱５ｂに設けた受光素子固定部９に着脱自在な受
光基体１３に設けてあり、シリコン（Ｓｉ）又は硫化鉛
（ＰｂＳ）又はゲルマニウム（Ｇｅ）センサで形成して
ある分光部７ａを、前記凹面回折格子６の分光方向に沿
わせて複数配置した状態に形成してある。
うに、前記凹面回折格子６による光線束の分散光路上の
前記暗箱５ｂに設けた受光素子固定部９に着脱自在な受
光基体１３に設けてあり、シリコン（Ｓｉ）又は硫化鉛
（ＰｂＳ）又はゲルマニウム（Ｇｅ）センサで形成して
ある分光部７ａを、前記凹面回折格子６の分光方向に沿
わせて複数配置した状態に形成してある。
【００１５】また、前記アレイ型受光素子７の前記受光
部７ａ並設方向の両端側に、前記受光部７ａ並設方向に
沿った開口部１２を設け、前記凹面回折格子６で複数次
に分光した各光線群の内、測定対象領域以外の光を前記
開口部１２を通して内部に入射させて封じ込めるための
光トラップ空間Ｌを前記開口部１２の奥に連通させて設
けてある。
部７ａ並設方向の両端側に、前記受光部７ａ並設方向に
沿った開口部１２を設け、前記凹面回折格子６で複数次
に分光した各光線群の内、測定対象領域以外の光を前記
開口部１２を通して内部に入射させて封じ込めるための
光トラップ空間Ｌを前記開口部１２の奥に連通させて設
けてある。
【００１６】前記光トラップ空間Ｌは、機械加工を容易
にするために、前記受光部７ａの並設方向視において、
ほぼ円形断面形状に形成してあり、前記開口部１２の全
長にわたって且つ偏心させた状態で連設してある。ま
た、前記光トラップ空間Ｌの内周面は、光を吸収し易く
するために黒色に形成してある。
にするために、前記受光部７ａの並設方向視において、
ほぼ円形断面形状に形成してあり、前記開口部１２の全
長にわたって且つ偏心させた状態で連設してある。ま
た、前記光トラップ空間Ｌの内周面は、光を吸収し易く
するために黒色に形成してある。
【００１７】本実施例の分光分析装置によれば、分光分
析部５内において、凹面回折格子６によって回折または
反射した複数次の分光群の内、前記アレイ型受光素子７
の分光部７ａに照射される測定対象領域の光以外の光
は、前記開口部１２を通して前記光トラップ空間Ｌ内に
封じ込まれ、前記分光分析部５内での反射光等の測定上
有害な迷光の発生を抑制し、精度の高い光測定を実施す
ることが可能となる。
析部５内において、凹面回折格子６によって回折または
反射した複数次の分光群の内、前記アレイ型受光素子７
の分光部７ａに照射される測定対象領域の光以外の光
は、前記開口部１２を通して前記光トラップ空間Ｌ内に
封じ込まれ、前記分光分析部５内での反射光等の測定上
有害な迷光の発生を抑制し、精度の高い光測定を実施す
ることが可能となる。
【００１８】〔別実施例〕以下に別実施例を説明する。 〈１〉 先の実施例では、光源１にタングステン−ハロ
ゲン電球を用いているが、これに限定するものではな
く、試料Ｓ及び測定目的に応じて適宜設定可能であり、
赤外波数全域で連続スペクトル放射を持つ光源１として
の熱放射体（黒体炉）や、その他水銀灯、Ｎｅ放電管等
の光源１や、ラマン散乱を測定するための単色光を発光
するレーザ等を用いることができ、その構成も適宜変更
可能である。さらには、光測定装置は、先の実施例で
は、分光分析装置を一例として説明したが、これに限定
されるものではなく、他の光測定装置であってもよく、
それらを総称して光測定装置という。また、当然のこと
ながら、試料Ｓは玄米に限定するものではない。
ゲン電球を用いているが、これに限定するものではな
く、試料Ｓ及び測定目的に応じて適宜設定可能であり、
赤外波数全域で連続スペクトル放射を持つ光源１として
の熱放射体（黒体炉）や、その他水銀灯、Ｎｅ放電管等
の光源１や、ラマン散乱を測定するための単色光を発光
するレーザ等を用いることができ、その構成も適宜変更
可能である。さらには、光測定装置は、先の実施例で
は、分光分析装置を一例として説明したが、これに限定
されるものではなく、他の光測定装置であってもよく、
それらを総称して光測定装置という。また、当然のこと
ながら、試料Ｓは玄米に限定するものではない。
【００１９】〈２〉 前記アレイ型受光素子７は、先の
実施例で説明した前記暗箱５ｂに対して着脱自在な受光
基体１３上に設けてあるものに限らず、例えば、前記暗
箱５ｂに直接固定してあってもよく、さらには、前記受
光部７ａの並設方向に沿って設置位置変更操作自在な状
態に設けてあってもよい。
実施例で説明した前記暗箱５ｂに対して着脱自在な受光
基体１３上に設けてあるものに限らず、例えば、前記暗
箱５ｂに直接固定してあってもよく、さらには、前記受
光部７ａの並設方向に沿って設置位置変更操作自在な状
態に設けてあってもよい。
【００２０】〈３〉 前記光トラップ空間Ｌは、先の実
施例で説明した断面円形形状のものに限定されるもので
はなく、例えば、楕円形や多角形等の断面形状に形成し
てあってもよい。要するに、前記光トラップ空間Ｌ内に
入射した光を減衰させるように構成してあればよい。
施例で説明した断面円形形状のものに限定されるもので
はなく、例えば、楕円形や多角形等の断面形状に形成し
てあってもよい。要するに、前記光トラップ空間Ｌ内に
入射した光を減衰させるように構成してあればよい。
【００２１】尚、特許請求の範囲の項に、図面との対照
を便利にするために符号を記すが、該記入により本発明
は添付図面の構成に限定されるものではない。
を便利にするために符号を記すが、該記入により本発明
は添付図面の構成に限定されるものではない。
【図１】実施例の分光分析装置の構成概念図
【図２】実施例の分光分析装置のアレイ型受光素子周囲
を表す斜視図
を表す斜視図
５ 受光容器 ６ 凹面回折格子 ７ アレイ型受光素子 ７ａ 受光部 １２ 開口部 Ｌ 光トラップ空間
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 樗木 安己 兵庫県尼崎市浜１丁目１番１号 株式会社 クボタ技術開発研究所内
Claims (1)
- 【請求項１】 受光容器（５）内に入射する測定用光線
束を、前記受光容器（５）内に設けたアレイ型受光素子
（７）に対し、その受光部（７ａ）の並設方向に分光さ
せて照射するための凹面回折格子（６）を、前記受光容
器（５）内に設けてある光測定装置であって、 前記アレイ型受光素子（７）の前記受光部（７ａ）並設
方向の両端側に、前記受光部（７ａ）並設方向に沿った
開口部（１２）を設け、前記凹面回折格子（６）で分光
した光の内、測定対象領域以外の光を前記開口部（１
２）を通して内部に入射させて封じ込めるための光トラ
ップ空間（Ｌ）を前記開口部（１２）の奥に設けてある
光測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25333592A JPH06109539A (ja) | 1992-09-24 | 1992-09-24 | 光測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25333592A JPH06109539A (ja) | 1992-09-24 | 1992-09-24 | 光測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06109539A true JPH06109539A (ja) | 1994-04-19 |
Family
ID=17249887
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25333592A Pending JPH06109539A (ja) | 1992-09-24 | 1992-09-24 | 光測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06109539A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8462342B2 (en) | 2010-10-28 | 2013-06-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Spectral colorimetric apparatus and image forming apparatus including the same |
| JP2019045149A (ja) * | 2017-08-29 | 2019-03-22 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 機能水濃度センサ |
| JP2020020706A (ja) * | 2018-08-02 | 2020-02-06 | 株式会社島津製作所 | 光散乱検出装置 |
-
1992
- 1992-09-24 JP JP25333592A patent/JPH06109539A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8462342B2 (en) | 2010-10-28 | 2013-06-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Spectral colorimetric apparatus and image forming apparatus including the same |
| JP2019045149A (ja) * | 2017-08-29 | 2019-03-22 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 機能水濃度センサ |
| JP2020020706A (ja) * | 2018-08-02 | 2020-02-06 | 株式会社島津製作所 | 光散乱検出装置 |
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