JPS6343683B2 - - Google Patents

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JPS6343683B2
JPS6343683B2 JP55081696A JP8169680A JPS6343683B2 JP S6343683 B2 JPS6343683 B2 JP S6343683B2 JP 55081696 A JP55081696 A JP 55081696A JP 8169680 A JP8169680 A JP 8169680A JP S6343683 B2 JPS6343683 B2 JP S6343683B2
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JP
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sensor array
pattern
code plate
track
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JP55081696A
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Hiroshi Tamaki
Fumio Ootomo
Kazuaki Kimura
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Tokyo Optical Co Ltd
Original Assignee
Tokyo Optical Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPS576993A publication Critical patent/JPS576993A/ja
Publication of JPS6343683B2 publication Critical patent/JPS6343683B2/ja
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は長さ又は角度を読み取る為のエンコー
ダに係り特にアブソリユート方式のエンコーダに
関するものである。
通常のアブソリユート式エンコーダは第1図に
示す如く、矢印1方向に移動するコード板2にト
ラツクa,b…eを設け、各トラツクには位置を
示す例えば2進符号パターンを設けて、これを対
応する光源3、マスク4および受光素子群5で読
み取る様にしている。従つてアブソリユート方式
によれば、測定途中で電源が切れるとか、或いは
電気雑音で誤動作する等の事故があつても正常状
態に復帰すれば再び正確な測定値が得られる。こ
の点はインクリメンタル方式にない大きな長所で
あるが、次の様な欠点を有している。
多数の光源、受光素子が必要であり装置が複
雑である。
パターン製作精度、受光素子感度等の点から
分解能をあげることが困難である。
本発明は以上の点に鑑みてなされたもので、高
精度なアブソリユートエンコーダを提供するもの
である。以下、本発明の一実施例を添付図面を参
照して詳細に説明する。
第2図は本発明の一実施例における検出部の概
略の配置図であつて光源6、照明レンズ7によ
り、図示してない移動テーブル等に設置されたコ
ード板8を照明し、透過パターンを投影レンズ9
によりラインセンサ10のセンサアレイ11上に
結像させるようになされている。ラインセンサ1
0はそれぞれ独立の感度を有するセンサ素子をア
レイ状に並べたセンサアレイ11を持ち、結像パ
ターンに応じた信号をクロツクパルスに同期して
出力する型のものを用いる。第3図には第2図に
おいて用いられているコード板8とセンサアレイ
11との詳細な配置関係が示されており、コード
板8上には白、黒(透過・不透過)の規則的格子
が、センサアレイ11に対して45゜傾斜して配列
されている。センサアレイ11上に投影されるコ
ード板8のスリツトの周期と、センサアレイ11
の少なくとも1素子おきの繰り返し周期との間に
差をもたせると、コード板8の格子とセンサアレ
イ11上に、副尺効果が生じ、センサアレイ11
による出力には周期的なうねりが生ずる。これに
ついては特願昭53−155814号に詳しく開示されて
いるが、第3図の様にセンサアレイ11に対し規
則格子が傾斜していても、センサアレイ11上に
於ける格子とセンサアレイ11素子間に副尺関係
が生ずるので同様な効果を得る事が出来る。この
副尺関係について第4図により説明する。第3図
では格子の周期Wと、センサの1素子おきの周期
2Pの間に 10W=11(2P) つまり(10:11)の副尺関係をもたせてある。
従つて、センサアレイ11による1素子おきの出
力は、センサアレイ11上で22素子を一周期とし
た大きなうねりを生ずる。第4図アはコード板8
とセンサアレイ11間の相対位置が、第3図Aで
示す位置である時のセンサアレイ11の3番目の
素子から1素子おきによる出力b(奇数番目の素
子による出力)と4番目の素子から1素子おきに
よる出力a(偶数番目の素子による出力)の関係
を示している。第4図イは、第3図に於てコード
板8に対しセンサアレイ11の位置がAより1/
22・Wだけ右側に移動した時の様子を示してお
り、aによる出力とbによる出力の交点がセンサ
アレイ11上で1素子分移動している事がわか
る。この様に、コード板8とセンサアレイ11の
相対移動に応じてセンサアレイ11の偶数番目素
子による出力と奇数番目素子による出力の交点が
移動し、相対移動量がW/2になると(第3図B
に示す相対位置関係)第4図ウに示す様に交点の
位置はアと同じセンサ素子上にできる。ただしこ
の時は偶数番目素子出力と奇数番目素子出力によ
る位相はアのものに比べて反転している。更に
W/2移動しコード板8と、センサアレイ11の
相対位置関係が第3図Cで示す状態となると、セ
ンサアレイ11出力は第4図アに示す状態に戻
る。従つて交点の位置のみに注目するとコード板
8の1/2周期つまりW/2を、また交点の位置及
び偶数番目素子出力と奇数番目素子出力の位相の
状態に注目するとコード板8の1周期Wをそれぞ
れ充分な分解能で内挿する事ができる。
第4図ア,イ,ウの縦軸はセンサアレイ11の
一素子が完全照射された時を“10”、完全にマス
クされた時の出力を“0”としており、センサア
レイ11に対し格子が傾斜している事によつて出
力の最高レベルは“8”、最低レベルは“2”程
度となりコントラストの低下をきたしている。し
かしこれは実用上問題となるほどではない。この
様にセンサアレイ11に対してスリツトが傾斜し
て投影されるようなものでもセンサアレイ11上
に投影されたスリツトの周期とセンサアレイ素子
間に副尺関係が生ずれば、以上説明してきたこと
はそのまま成立し、ただセンサ出力のコントラス
トが、格子の傾斜に応じて変化するのみである。
ただし、センサアレイ11に対し格子を傾斜さ
せて投影させた場合はコード板8とセンサアレイ
11間の相対移動に於て、第3図で示す12及び
13の両方向に対する感度をもつ事になる。これ
は前記特願昭53−155814号に開示されている例に
対する本発明における大きな特徴である。第3図
に於てセンサアレイ11に対し格子が45゜の傾斜
を有する場合には12,13の両方向の移動に対
し等しい感度を有することゝなるがセンサアレイ
11の長手方向と格子間の傾斜角が45゜より少な
くなれば、13方向の移動に対する感度より12
方向の移動に対する感度が大となり、又、その逆
の場合は、13方向の移動に対する感度が大とな
る。本発明によればこの様に出力波形のコントラ
ストが許容できる範囲内であれば移動方向に対す
る検出感度を、傾き角を変化させる事により、任
意に設定できるという利点がある。
ただし、第3図に示す例では12方向に於ける
移動も13方向に於ける移動も同じ様にセンサア
レイ11の出力上には偶数番目の素子出力と奇数
番目素子出力による交点(以後副尺効果によつて
生ずるこの様なセンサアレイ出力波形の交点を、
説明を簡単にする為、単に交点とよぶ)の位置の
変化として表われる為、何かの方法によつてそれ
を分離する必要がある。この分離方法の例を第5
図a,bを用いて説明する。第5図aは傾斜した
スリツトを有するトラツク14に対し、それと対
称なスリツトをもつトラツク15を配置したもの
である。11はそれに対応するセンサアレイを示
している。
第5図aに於てコード板8と、センサアレイ1
1が図中12で示す方向に相対移動を行なうと、
トラツク14の格子によるセンサアレイ11出力
の交点とトラツク15の格子による交点は、相対
移動量に応じてセンサアレイ上を互に相反する方
向へと移動する。この様子を第5図cに示す。
第5図cでy軸は交点が表われるセンサアレイ
上の位置を示し、x軸は第5図aでの12方向の
移動量を表わしている。第5図cで上半分は、第
5図aのトラツク14による交点の軌跡を示し、
第5図cで下半分は第5図aのトラツク15によ
る交点の軌跡を示している。
第5図dは第5図aに於て13で示す方向に相
対移動を生じた場合の交点の軌跡を示しており、
その意味は第5図cで説明したものと同様であ
る。
第5図c,dでの交点の軌跡の周期は、すでに
述べた様にセンサアレイの偶数番目出力と奇数番
目出力との交点の位置のみに注目した場合は格子
の白、黒の周期の1/2の移動量を1周期とし、交
点の位置及び偶数番目素子出力と奇数番目素子出
力の位相関係についても注目した時は格子の周期
Wの移動量を1周期としたものになる。
第5図c,dに示されている交点の軌跡からわ
かる様に第5図aのごとくに格子を配列する事に
よつて、図中12方向の移動は傾斜パターントラ
ツク14、傾斜パターントラツク15の各々によ
るセンサアレイ上の交点間の距離として、13方向
の移動は交点間の中心位置の変位として分離検出
する事が可能となり、又、12方向の移動の検出
に関しては検出感度が倍になるという利点があ
る。
第5図bは他の実施例を示すもので、前述した
傾斜格子をもつトラツク14に対して、センサア
レイ11の長手方向と直行する白、黒の格子を、
やはりセンサアレイに対し副尺関係を発生させる
周期で配置したトラツク16を付加したものであ
る。この場合トラツク16によつてセンサアレイ
11上に発生する前記交点は、図中の13で示す
相対移動に対してのみ感度をもつ為、トラツク1
4による交点の変位とトラツク16による交点の
変位を合せて調べる事により図中の12,13方
向に於ける相対移動を分離する事ができる。
以上の説明はコード板の透過光をラインセンサ
が検出するとしてきたが、反射光を用いても同様
の効果が得られる。又、コード板上の格子は白、
黒の2値ではなく透過率又は反射率が連続的に交
化する様な構成でもよい。要はコード板上に透過
率又は反射率が周期的に変化する格子が記録され
ており、その周期とそれに対応するラインセンサ
の素子間は、前述した様な副尺関係が発生するよ
うになされているとよいのである。
次に第6図および第7図に示す本発明のエンコ
ーダの一実施例について説明する。第6図aは、
コード板8を複数のブロツクに分割し、ブロツク
の番号をアドレストラツク17で読み取り、ブロ
ツク内を微読パターン19で内挿し、更にその下
の単位を前述した傾斜格子20にて内挿する高精
度、高分解能なエンコーダを構成する為のコード
板パターンを示す。コード板8のパターンは図に
示す如く、基準トラツク21、アドレストラツク
17、微読トラツク18、及び傾斜格子トラツク
27からなり、センサアレイ11とは図示の様な
配置関係にある。基準トラツク21は、パターン
全体の基準位置を示すものであり、アドレスを読
み取るセンサアレイの素子を指定し、又、微読パ
ターン19の基準位置を示すものである。アドレ
ストラツクは更に細分化された複数のトラツク2
2,23,24を有し、移動方向12に分割され
た各ブロツク毎にグレーコードを細分化トラツク
に設置してある。微読トラツク18には、図中1
2で示す方向にコード板8とセンサアレイ11が
相対移動を行なうと、直角方向の位置が変化する
パターンが設置してある。又、このパターンはブ
ロツク長より若干長く、且隣り合うブロツクを区
別出来るパターンである。図では太さに差を持た
せているが、例えば本数で区別出来る様にしても
よいし、透過率に差をもたせてもよい。傾斜格子
トラツク27には第5図aに示すパターンが設置
されており、その効果は前述した通りである。例
えば、微読パターン、及び傾斜パターンのセンサ
アレイに対する傾が45゜であり、センサアレイの
ピツチを10μm、センサアレイと傾斜パターン間
の副尺関係が10:11であつたとする。この時はセ
ンサアレイ上の傾斜パターンのピツチは22μmと
なり、従つてセンサアレイ出力の交点の位置は
1μmの相対移動に対してセンサアレイ素子分移
動することとなる。今、コード板とセンサアレイ
間の相対移動を図中12で示す方向のみに限つて
説明すると、傾斜パターン25、及び26による
センサアレイ出力の交点間の距離は1μmの相対
移動に対して2素子分移動する。1ブロツクの長
さを0.1mm、微読パターンによつてセンサアレイ
の1ピツチ(10μm)単位の読み取りを行ない、
かつそれ以下の内挿を傾斜パターントラツクで行
なうと、0.5μmの分解能をもつエンコーダが実現
出来ることゝなる。又、傾斜パターンによるセン
サアレイ出力の交点の位置の検出は、例えば、隅
数番目の素子出力と奇数番目素子出力とを各々周
期関数で近似し、その交点を求める様な演算処理
を行なうと更に交点間の内挿を行なう事が出来
る。
図中13で示す方向の移動に対しては、基準ト
ラツク21が投影されるセンサアレイ上の位置
と、傾斜パターン25,26によるセンサアレイ
出力の交点間の中心位置を検出するようにすれば
これも又高精度で検出する事が出来ることゝな
る。
第6図bは第6図aの配置関係に於けるライン
センサの入出力信号を示す図で、28はスタート
パルス、29はクロツクパルス、30は出力信号
であり光量に比例した電圧を有する。
第7図は本発明にもとづくエンコーダの全体の
ブロツクダイヤフラムを示す図で、この図と第6
図により全体の動作を以下に説明する。工作機械
のテーブル等の移動体31に設置されたコード板
8は光源6、照明レンズ7により照明され、透過
パターンが投影レンズ9によりラインセンサ10
上に結像する。ラインセンサ10はパルス発生器
32のスタートパルス33により走査を開始し、
同じくパルス発生器32から出力されるクロツク
パルス34に同期して出力信号35を増巾器36
に与える。増巾器36を通つた信号はサンプルア
ンドホールド37でアナログ電圧として一素子毎
の出力のピーク値を保持され、アナログデジタル
変換器38でデジタル信号に変換される。
デジタルメモリ39はA/D変換されたライン
センサ10の出力を順次記憶するものであり、こ
れをランダムアクセス方式のメモリで構成するな
ら、ラインセンサ出力に同期しているクロツクを
計数するカウンタ40の出力によりメモリ番地の
指定を行なう事でメモリの0番地より順次ライン
センサの出力値が格納される。従つて、メモリの
番地とラインセンサのビツト番号が直接の対応を
もつ事となる。なお、カウンタ40は、ラインセ
ンサ10の走査開始のスタートパルス33又は、
走査終了パルス41によつてあらかじめリセツト
しておく必要のある事は言うまでもない。信号処
理回路43は例えば、マイクロプロセツサ等によ
り構成され、ラインセンサの走査終了パルス41
を受けつけると、デジタルメモリ39に一時的に
格納されているラインセンサ出力データをその管
理下にあるデータメモリ42に転送し、データの
処理を開始する。信号処理回路の動作内容は次の
通りである。
(1) 基準トラツク21によるラインセンサ出力2
1bの中心位置の決定。
(2) アドレス細分化トラツク22,23,24が
投影されているラインセンサのセンサアレイ素
子番号の決定、及び読み取り実行によるアドレ
スの解読。
(3) 微読パターン19の中心位置の決定及び太い
パターンと細いパターンの判別。
(4) 微読パターン19の中心位置と基準トラツク
21の中心位置間の距離から微読値の算出。
(5) 以上による微読値と、アドレストラツク17
によるアドレス値との桁合せ照合。
(6) 傾斜パターン26によるセンサ出力の偶数番
目の素子出力と奇数番目素子出力との交点位置
の算出。
(7) 傾斜パターン25によるセンサ出力の偶数番
目の素子出力と奇数番目素子出力との交点位置
の算出。
(8) (6)、(7)で算出された交点間の距離を求め、微
読値の内挿値を得る。
(9) (8)の結果と(5)の結果の桁合せ照合。
これにより第6図aの12で示す方向の移動
位置の検出完了。
(10) (6)、(7)で検出された交点間の中心の位置を算
出し、図中13で示される方向への移動量の内
挿通を得る。
(11) センサアレイ上に任意に設定された基準ビツ
ト位置と(1)で検出された基準トラツクの中心位
置間の距離を求め(10)の結果と桁合せ照合。これ
により第6図aで示す13方向の、任意に設定
された基準位置からの移動量の検出完了。
(12) (9)、及び(11)の算出結果を実際の移動量に換算
し、表示器44に出力する。
以上により移動方向位置、及びそれと直角方向
の移動位置が表示器44に表示される。
尚上記説明文中の桁合せ照合とは以下の通りで
ある。即ち第6図aに示すごとくラインセンサ
が、ブロツクの境界位置を読み取る際どちらのブ
ロツクの値を取るか不明である為、それを微読値
を参考にして下記のごとく決定する。
(a) 図の様に太いパターンが細いパターンの上方
にある時は読み取つたアドレスが偶数ならばそ
のままアドレス値と太いパターンによる微読値
を加算する。又読み取つたアドレスが奇数なら
ばその値から1を引き、太いパターンによる微
読値を加算する。
(b) 細いパターンが太いパターンの上方にある時
は読み取つたアドレスが奇数ならば、そのまま
のアドレスと細いパターンによる微読値を加算
する。又、読み取つたアドレスが偶数ならばそ
の値から1を引き、細いパターンによる微読値
を加算する。
以上の説明は微読値とアドレス値の間の桁合せ
照合であるが、同様に傾斜パターンによる内挿値
と微読値間に於いても桁合せ照合を行なう必要が
ある。しかし以上に説明した様に下位の桁(微読
値)による読み取りの範囲を上位の桁(アドレス
値)の分解能より広く取るなら、容易に桁合せ照
合を行なう事が可能である。従つて傾斜パターン
による内挿値と微読パターンによる微読値との間
の桁合せ照合も微読パターンによる微読値の分解
能より内挿値の範囲を広く取る事により容易に桁
合せ照合を行なう事ができる。つまり微読パター
ンによつてセンサアレイの1ピツチ単位の読み取
りを行なう際はすでに述べた様に傾斜パターンに
よる交点の検出は偶数番目の素子出力と奇数番目
の素子出力の位相関係にも注目し、コード板の1
周期間を内挿すればよいし、又、微読パターンに
よつてセンサアレイの1/2ピツチまでの読み取り
を行なうなら交点の位置のみに注目してコード板
の1/2周期を内挿する様にしてもよい。
前記(1)項、(3)項に於ける基準トラツク、微読ト
ラツクの中心位置検出は、出力の立上り部分立下
り部分が出力の最高値の1/2になる点間の中心位
置を求めてもよく、又出力波形自体を多項式で近
似し、その極大点を求めてもよい。以上の様な処
理を行なえば、センサアレイのピツチの数分の1
の分解能で各々の中心位置を検出する事ができ
る。
ただし以上の例では、コード板パターンをセン
サアレイに投影する光学系、例えば第2図9で示
す投影レンズの投影倍率の変化が測定値に誤差と
して現われる事になる。例えば1:1で投影する
ことを前提として設計されたコード板のパターン
が投影レンズの焦点距離の誤差や、コード板、投
影レンズ、センサアレイ間のセツテイング時に於
ける誤差等により投影倍率が変化してセンサアレ
イ上に投影されると、それにより読み取り値の誤
差が生ずる。従つて投影光学系の焦点距離の管
理、及び組立時の調整を厳密に行なわないと高精
度を実現する事が難かしくなる。
第8図に以上の欠点を改良して、厳密な投影倍
率の管理を必要とする事なく高精度を実現する為
の本発明の他の実施例におけるコード板のパター
ンの一例を示す。
第8図は、すでに説明した傾斜格子トラツク2
7に対し投影光学系の光軸45(又は光学的中
心)と対称な位置に同様の倍率補正用の傾斜格子
トラツク46を配置したもので、それ以外の部分
47には第6図aについてすでに述べた基準トラ
ツク、アドレストラツク、及び微読トラツクと同
一のものが配置されているものであるが図には省
略している。
光学的な投影倍率が変化するとそれによつてセ
ンサアレイ上に投影されるコード板のパターンは
光軸を中心に対称な方向に位置変位を生ずる。
今、センサアレイ11とコード板8が図に示す
様な対応をしており、コード板上のパターンが、
投影倍率の変化によつて縮少投影されたとする
と、傾斜格子トラツク27,46のセンサアレイ
上の投影位置変化によつて、センサアレイ出力の
交点の現われる位置は図中49で示す方向に各々
同じ量だけ変化する。同図に拡大投影された場合
は図中の48で示す方向にセンサアレイ出力の交
点が移動し、その量は投影倍率の変化率に比例す
る。従つて傾斜パターン25と傾斜パターン26
による各々のセンサアレイ出力の交点の中心位置
を傾斜格子トラツク27のセンサアレイ上の投影
位置として検出し同様にして、傾斜格子トラツク
46のセンサアレイ上の投影位置を検出すると、
その間の距離の、基準設定距離(例えば投影倍率
1:1の時)からのずれ量が投影倍率の変化量を
表わす事となる。従つてそれにより読み取り値を
補正する事で、投影倍差の変化による誤差の影響
をうけないエンコーダを構成する事が出来る。
以上は内挿用のトラツクによつて倍率変化率を
検出する場合であるが、倍率の変化率が大きく内
挿の範囲を越える様な場合が予想される様である
なら、基準トラツク及び微読トラツクをも光軸に
対して対称な位置に配置する事により、補正の範
囲を拡大する事が出来る。
本発明は以上の様に構成したことにより下記の
如き利点を有する。
傾斜パターンとセンサアレイ間に副尺関係を
発生させる事により高分解能、高精度のアブソ
リユートエンコーダが得られる。
ラインセンサを使用したことにより電気系統
が簡略となつた。
2組の傾斜パターンを対称に配置した事によ
り、コード板とセンサアレイ間の2次元的な移
動に対しセンサアレイの長手方向とそれに直角
な方向への2つの方向への移動量を各々独立し
て検出する事が可能となつた。
基準トラツクを設け、これを基準としてアド
レストラツクの位置を検知する様にしたことに
より直角方向の相対変位を大巾に許せる。これ
は製造、設置、保守上に利益となる。又アドレ
スの細分化トラツクの巾を小さく出来るのでア
ドレス読取り用のセンサアレイ素子数を少く出
来、従つてコスト低減或いは余つた素子を冗長
度増大に使用することによる信頼性向上を実現
することが出来る。
センサアレイ上の任意に設定された位置と基
準トラツク中心位置との距離及び傾斜パターン
から直角方向の測長も高分解能、高精度で行え
る。
高速移動により微読トラツクによる高精度読
取りが不可能となつた時でもアドレストラツク
の1ブロツク単位での読取りは可能である。こ
れは工作機械等に使用する場合には重要な条件
である。
上述の実施例ではコード板およびラインセンサ
が互いに直線移動する様に説明したが、例えば、
コード板をリング状にすればロータリーエンコー
ダとして使用出来る。この時、一ブロツクを充分
小さい角度で構成すれば、微読パターン、及び傾
斜パターンは直線で構成してもよいが、より正確
を期すなら一般にアルキメデス曲線として知られ
ている角度(θ)と半径(r)がリニアな関係に
ある曲線r=aθ(a:定数)で微読パターン、及
び傾斜パターンを構成すればよい。又は、第2図
における投影レンズ9の投影倍率を変化させるこ
とにより内挿精度すなわち本実施例にしめすエン
コーダの最少読取り量を可変できることは言うま
でもないことである。又、上述の実施例ではコー
ド板とラインセンサとの相対位置を測定するもの
として説明したが、コード板とラインセンサを固
定しておいてコード板のパターンを例えば反射鏡
によつて反射してセンサアレイ上に投影すること
によりその反射鏡の変位を測定することも出来
る。更にコード板の透過像を用いるのでなく反射
像を用いてもよい。更に微読パターンを用いず、
アドレストラツクのみによつてセンサアレイの1
ピツチ単位の読み取りを行なつてもよい。この時
はアドレストラツク内の細分化トラツク数がコー
ド板長さ、又は角度分割数によつて増大するとい
う欠点があるが、現在では充分の素子数をもつた
ラインセンサが安価で入手可能である為実用上何
らの不都合は生じない。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のアブソリユートエンコーダの説
明用の概略配置図、第2図は本発明の一実施例に
於ける検出部の概略の配置を示す図、第3図は本
発明の一実施例に於ける内挿値読み取りの原理を
説明するための図、第4図は第3図に於けるライ
ンセンサの出力を示す図、第5図a,b,c,d
は、本発明の一実施例に於けるコード板の傾斜パ
ターンの配置及びそれによるラインセンサ出力の
交点の発生を説明する図、第6図aは本発明の一
実施例によるコードパターンの詳細な構造を示
し、第6図bは第6図aのラインセンサの入出力
信号を示す図、第7図は本発明の一実施例による
信号処理を行なう為の電気回路を含む全体のブロ
ツク線図、第8図は本発明の他の実施例における
コード板のパターンの変形例を示す図である。 1……移動方向、2……コード板、3……光
源、4……マスク、5……受光素子群、6……光
源、7……照明レンズ、8……コード板、9……
投影レンズ、10……ラインセンサ、11……セ
ンサアレイ、12,13……移動方向、14,1
5,16……トラツク、17……アドレストラツ
ク、18……微読トラツク、19……微読パター
ン、20……傾斜格子、21……基準トラツク、
22,23,24……細分化されたトラツク、2
5,26……傾斜パターン、27……傾斜格子ト
ラツク、28……スタートパルス、29……クロ
ツクパルス、30……出力信号、31……移動
体、32……パルス発生器、33……スタートパ
ルス、34……クロツクパルス、35……出力信
号、36……増巾器、37……サンプルアンドホ
ールド、38……アナログデジタル変換器、39
……デジタルメモリ、40……カウンタ、41…
…終了パルス、42……データメモリ、43……
信号処理回路、44……表示器、45……光軸、
46……傾斜格子トラツク、47……トラツク、
48,49……移動方向。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 移動方向に複数のブロツクを有してなるコー
    ド板と、 このコード板の相対移動方向と異なる方向に複
    数のセンサアレイ素子が配列され、前記コード板
    の情報を検出するように配設されてなるセンサア
    レイと、 このセンサアレイで検出された前記コード板の
    情報を演算処理する演算処理手段と を具備し、前記コード板の各々のブロツクには少
    くともそのブロツクのアドレスを示すアドレス情
    報と、 前記ブロツク内の微細移動量を示すために前記
    コード板の相対移動方向と異なる方向に変化する
    微読パターンと、 前記センサアレイのアレイ素子配列方向に対し
    傾斜されて配列される格子パターン群を有し、か
    つ前記格子パターン群は、対応する所定長内にお
    ける前記センサアレイのアレイ素子数と異なる情
    報数をもち、前記センサアレイとの関係におい
    て、副尺関係を発生させるように配列されてなる
    ことを特徴とするアブソリユートエンコーダ。 2 前記微読パターンは前記センサアレイに対し
    て傾いた直線状パターンで構成されてなることを
    特徴とする前記特許請求の範囲第1項記載のアブ
    ソリユートエンコーダ。 3 前記微読パターンはアルキメデス曲線で構成
    されてなることを特徴とする前記特許請求の範囲
    第1項記載のアブソリユートエンコーダ。 4 前記微読パターンは相隣接する微読パターン
    が互にそのパターンの太さ又は数あるいは透過率
    を異にしてなることを特徴とする前記特許請求の
    範囲第2項または第3項記載のアブソリユートエ
    ンコーダ。 5 前記格子パターン群は前記センサアレイに対
    し傾斜し且つ複数の平行線からなる少くとも一つ
    のトラツクで構成してなることを特徴とする前記
    特許請求の範囲第1項記載のアブソリユートエン
    コーダ。 6 前記格子パターン群は複数本の平行なアルキ
    メデス曲線からなる少くとも一つのトラツクで構
    成してなることを特徴とする前記特許請求の範囲
    第1項および第3項記載のアブソリユートエンコ
    ーダ。 7 前記トラツクは少くとも2つで構成され且つ
    その中の少くとも1つは他のトラツク内の線状パ
    ターンと対称な線状パターンにより形成されてな
    ることを特徴とする前記特許請求の範囲第5項又
    は第6項記載のアブソリユートエンコーダ。 8 前記アドレス情報はグレイコードパターンで
    構成されてなることを特徴とする前記特許請求の
    範囲第1項記載のアブソリユートエンコーダ。 9 前記ブロツクには前記センサアレイの読み出
    し開始ビツトを指定するための基準トラツクを具
    備してなることを特徴とする前記特許請求の範囲
    第1項記載のアブソリユートエンコーダ。 10 前記コード板は光学的なコード板で構成さ
    れ、前記センサアレイは光電変換素子群からな
    る、前記コード板とセンサアレイとの間には投影
    光学系が配設され、且つ前記コード板には前記投
    影光学系の光軸を含む面を対称面として、前記格
    子パターン群および/または前記微読パターンが
    対称に形成されてなることを特徴とする前記特許
    請求の範囲第1項記載のアブソリユートエンコー
    ダ。
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