JPS6331722B2 - - Google Patents

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JPS6331722B2
JPS6331722B2 JP55081697A JP8169780A JPS6331722B2 JP S6331722 B2 JPS6331722 B2 JP S6331722B2 JP 55081697 A JP55081697 A JP 55081697A JP 8169780 A JP8169780 A JP 8169780A JP S6331722 B2 JPS6331722 B2 JP S6331722B2
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JP
Japan
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pattern
sensor array
code plate
track
output
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JP55081697A
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JPS576994A (en
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Hiroshi Tamaki
Fumio Ootomo
Kazuaki Kimura
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Tokyo Optical Co Ltd
Original Assignee
Tokyo Optical Co Ltd
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Publication date
Application filed by Tokyo Optical Co Ltd filed Critical Tokyo Optical Co Ltd
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Priority to US06/273,772 priority patent/US4465373A/en
Priority to EP81104660A priority patent/EP0042179B1/en
Priority to DE8181104660T priority patent/DE3174549D1/de
Publication of JPS576994A publication Critical patent/JPS576994A/ja
Publication of JPS6331722B2 publication Critical patent/JPS6331722B2/ja
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12Analogue/digital converters
    • H03M1/22Analogue/digital converters pattern-reading type
    • H03M1/24Analogue/digital converters pattern-reading type using relatively movable reader and disc or strip
    • H03M1/28Analogue/digital converters pattern-reading type using relatively movable reader and disc or strip with non-weighted coding
    • H03M1/285Analogue/digital converters pattern-reading type using relatively movable reader and disc or strip with non-weighted coding of the unit Hamming distance type, e.g. Gray code
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12Analogue/digital converters
    • H03M1/20Increasing resolution using an n bit system to obtain n + m bits
    • H03M1/202Increasing resolution using an n bit system to obtain n + m bits by interpolation
    • H03M1/203Increasing resolution using an n bit system to obtain n + m bits by interpolation using an analogue interpolation circuit

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は長さ又は角度を読み取る為のエンコー
ダ用コード板に係り、より詳しくはエンコーダの
コード板の格子パターン数と、それに対応する該
コード板の情報を検出するセンサの素子数とに差
をもたせることにより内挿できるエンコーダに関
し、コード板とセンサの相対移動方向と垂直な方
向へのブレ量を除去でき且つブレ量を測定するこ
ともできるパターンを有するエンコーダのコード
板に関する。
通常のアブソリユート式エンコーダは第1図に
示す如く矢印1方向に移動するコード板2にトラ
ツクa,b,…eを設け、各トラツクには位置を
示す例えば2進符号パターンを設けてこれを対応
する光源3、マスク4および受光素子群5で読み
取るようになつている。従つてアブソリユート方
式によれば測定途中で電源が切れるとか、或いは
電気雑音で誤動作する等の事故があつても正常状
態に復帰すれば再び正確な測定値が得られるとい
う長所を有している。しかしながら、このアブソ
リユート方式は次のような欠点を有している。
イ 多数の光源、受光素子が必要であり装置が複
雑、高価となる。
ロ コード板のパターン製作精度、受光素子感度
等の点から分解能をあげることが困難である。
ハ 内挿式エンコーダにおいてコード板とセンサ
との相対移動方向と垂直な方向へのブレによ
り、読み取り誤差を生ずる。
本発明は以上の点に鑑み、これら欠点を解決し
たエンコーダ用コード板を提供することにある。
以下本発明の一実施例を添付図面を参照して詳細
に説明する。
第2図は本発明の一実施例における検出部の概
略の配置図であつて光源6、照明レンズ7によ
り、図示してない移動テーブル等に設置されたコ
ード板8を照明し、透過パターンを投影レンズ9
によりラインセンサ10のセンサアレイ11上に
結像させるようになされている。ライセンサ10
はそれぞれ独立の感度を有するセンサ素子をアレ
イ状に並べたセンサアレイ11を持ち、結像パタ
ーンに応じた信号をクロツクパルスに同期して出
力する型のものを用いる。第3図には第2図にお
いて用いられているコード板8とセンサアレイ1
1との詳細な配置関係が示されており、コード板
8上には白、黒(透過・不透過)の規則的格子
が、センサアレイ11に対して45゜傾斜して配列
されている。センサアレイ11上に投影されるコ
ード板8のスリツトの周期と、センサアレイ11
の少なくとも1素子おきの繰り返し周期との間に
差をもたせると、コード板8の格子とセンサアレ
イ11上に、副尺効果が生じ、センサアレイ11
による出力には周期的なうねりが生ずる。これに
ついては特願昭53−155814号に群しく開示されて
いるが、第3図の様にセンサアレイ11に対し、
規則格子が傾斜していてもセンサアレイ11上に
於ける格子とセンサアレイ11素子間に副尺関係
が生ずるので同様な効果を得る事が出来る。この
副尺関係については第4図により説明する。第3
図では格子の周期Wと、センサの1素子おきの周
期2Pの間に 10W=11(2P) つまり(10:11)の副尺関係をもたせてある。
従つて、センサアレイ11による1素子おきの
出力は、センサアレイ11上で22素子を一周期と
した大きなうねりを生ずる。第4図アはコード板
8とセンサアレイ11間の相対位置が、第3図A
で示す位置である時のセンサアレイ11の3番目
の素子から1素子おきによる出力b(奇数番目の
素子による出力)と4番目の素子から1素子おき
による出力a(偶数番目の素子による出力)の関
係を示している。第4図イは、第3図に於てコー
ド板8に対しセンサアレイ11の位置がAより1/
22・Wだけ右側に移動した時の様子を示してお
り、aによる出力とbによる出力の交点がセンサ
アレイ11上で1素子分移動している事がわか
る。この様に、コード板8とセンサアレイ11の
相対移動に応じてセンサアレイ11の偶数番目素
子による出力と奇数番目素子による出力の交点が
移動し、相対移動量がW/2になると第3図Bに
示す相対位置関係、第4図ウに示す様に交点の位
置はアと同じセンサ素子上にできる。ただしこの
時は、偶数番目素子出力と奇数番目素子出力によ
る位相はアのものに比べて反転している。更に
W/2移動しコード板8と、センサアレイ11の
相対位置関係が第3図Cで示す状態となると、セ
ンサアレイ11出力は第4図アに示す状態に戻
る。従つて交点の位置のみに注目するとコード板
8の1/2周期つまりW/2を、また交点の位置及
び偶数番目素子出力と奇数番目素子出力の位相の
状態に注目するとコード板8の1周期Wをそれぞ
れ充分な分解能で内挿する事ができる。
第4図ア,イ,ウの縦軸はセンサアレイ11の
1素子が完全照射された時を“10”、完全にマス
クされた時の出力を“0”としており、センサア
レイ11に対し格子が傾斜している事によつて出
力の最高レベルは“8”、最低レベルは“2”程
度となりコントラストの低下をきたしている。し
かしこれは実用上問題となるほどではない。この
様にセンサアレイ11に対してスリツトが傾斜し
て投影されるようなものでも、センサアレイ11
上に投影されたスリツトの周期とセンサアレイ素
子間に副尺関係が生ずれば、以上説明してきたこ
とはそのまま成立し、ただセンサ出力のコントラ
ストが、格子の傾斜に応じて変化するのみであ
る。
ただし、センサアレイ11に対し、格子を傾斜
させて投影させた場合は、コード板8とセンサア
レイ11間の相対移動に於て、第3図です12及
び13の両方向に対する感度をもつ事になる。こ
れは前記特願昭53−155814号に開示されている例
に対する本発明における大きな特徴である。第3
図に於てセンサアレイ11に対し、格子が45゜の
傾斜を有する場合には12,13の両方向の移動
に対し等しい感度を有することゝなるがセンサア
レイ11の長手方向と格子間の傾斜角が45゜より
少なくなれば、13方向の移動に対する感度より
12方向の移動に対する感度が大となり、又、そ
の逆の場合は、13方向の移動に対する感度が大
となる。本発明によればこの様に出力波形のコン
トラストが許容できる範囲内であれば移動方向に
対する検出感度を、傾き角を変化させる事により
任意に設定できるという利点がある。
ただし、第3図に示す例では12方向に於ける
移動も、13方向に於ける移動も同じ様にセンサ
アレイ11の出力上には偶数番目の素子出力と奇
数番目素子出力による交点(以降副尺効果によつ
て生ずるこの様なセンサアレイ出力波形の交点
を、説明を簡単にする為、単に交点とよぶ)の位
置の変化として表われる為、何らかの方法によつ
てそれを分離する必要がある。
この分離方法の例を第5図a,bを用いて説明
する。第5図aは、傾斜したスリツトを有するト
ラツク14に対し、それと対称なスリツトをもつ
トラツク15を配置したものである。11はそれ
に対応するセンサアレイを示している。第5図a
に於てコード板8と、センサアレイ11が図中1
2で示す方向に相対移動を行なうと、トラツク1
4の格子によるセンサアレイ11出力の交点とト
ラツク15の格子による交点は、相対移動量に応
じてセンサアレイ上を互に相反する方向へと移動
する。この様子を第5図cに示す。
第5図cでy軸は交点が表われるセンサアレイ
上の位置を示し、x軸は第5図aでの12方向の
移動量を表わしている。第5図cで上半分は、第
5図aのトラツク14による交点の軌跡を示し、
第5図cで下半分は第5図aのトラツク15によ
る交点の軌跡を示している。
第5図dは第5図aに於て13で示す方向に相
対移動を生じた場合の交点の軌跡を示しており、
その意味は第5図cで説明したものと同様であ
る。
第5図c,dでの交点の軌跡の周期は、すでに
述べた様にセンサアレイの偶数番目出力と奇数番
目出力との交点の位置のみに注目した場合は格子
の白黒の周期の1/2の移動量を1周期とし、交点
の位置及び偶数番目素子出力と奇数番目素子出力
の位相関係についても注目した時は格子の周期W
の移動量を1周期としたものになる。第5図c,
dに示されている交点の軌跡からわかる様に第5
図aのごとくに格子を配列する事によつて、図中
12方向の移動は傾斜パターントラツク14、ト
ラツクパターン15の各各によるセンサアレイ上
の交点間の距離として、13方向の移動は、交点
間の中心位置の変位として分離検出する事が可能
となり、又、12方向の移動の検出に関しては検
出感度が倍になるという利点がある。
第5図bは、他の実施例を示すもので、前述し
た傾斜格子をもつトラツク14に対して、センサ
アレイ11の長手方向と直行する白、黒の格子
を、やはりセンサアレイに対し副尺関係を発生さ
せる周期で配置したトラツク16を付加したもの
である。この場合トラツク16によつてセンサア
レイ11上に発生する前記交点は、図中の13で
示す相対移動に対してのみ感度をもつ為、トラツ
ク14による交点の変位とトラツク16による交
点の変位を合せて調べる事により図中の12,1
3方向に於ける相対移動を分離する事ができる。
第5図eはコード板8とセンサアレイSの相対
移動に様子を、拡大して示すもので、コード板8
に第5図aと同様に傾斜パターントラツク14及
び15を有している。センサアレイの移動方向は
矢印12の方向であるが、第5図eは矢印12方
向への移動の際にセンサアレイが矢印13方向に
ブレを生じた場合を示している。すなわち、コー
ド板8の中心線傾斜パターントラツク14と15
の境界線Oに対して、センサアレイSの中心
O′は12方向への移動にともない、O′1,O′2,…
O′5と矢印13方向にずれを生じている。このと
きのセンサSからの出力の交点軌跡を示したのが
第5図fである。第5図fにおいて交点軌跡A1
〜A5は傾斜パターントラツク14によるもので、
交点軌跡B1〜B5は傾斜パターントラツク15に
よるものである。第5図fの交点軌跡の変化から
わかるようにセンサSの移動によりその交点軌跡
A1〜A5,B1〜B5のx軸に対する傾き角は順次変
化し、交点軌跡の端点a1,b1、a2,b2、a3,b3
a4,b4、a5,b5の中間点O1″〜O5″はセンサSの中
心点O′の13方向の移動と同期して移動する。
しかしながらa1,b1…a5,b5の距離はつねに不変
である。第5図cで説明したように矢印12方向
への移動量はこのa1,b1…a5,b5の距離で決定さ
れるため、上記のことから本実施例のような互い
に対称な傾斜パターントラツクを2列並列に配置
することにより、センサとコード板の正規の相対
移動方向と垂直な方向にズレが発生してもその影
響を受けないことがわかる。また、ズレ量を計測
する時にはそのズレ量は第5図fのa11〜a5,b5
の中間点O1″〜O5″のズレ量として検出できる。
以上の説明はコード板の透過光をラインセンサ
が検出するとしてきたが、反射光を用いても同様
の効果が得られる。又、コード板上の格子は白、
黒の2値ではなく透過率又は反射率が連続的に変
化する様な構成でもよい。要はコード板上に透過
率、又は反射率が周期的に変化する格子が記録さ
れており、その周期と、それに対応するラインセ
ンサの素子間に、前述した様な副尺関係が発生す
るようになされているとよいのである。
次に第6図および第7図に示す本発明に於ける
エンコーダ用コード板の一実施例について説明す
る。第6図aは、コード板8を複数のブロツクに
分割し、ブロツクの番号をアドレストラツク17
で読み取り、ブロツク内を微読パターン19だ内
挿し、更にその下の単位を前述した傾斜格子20
にて内挿する高精度、高分解能なエンコーダを構
成する為のコード板パターンを示す。コード板8
のパターンは図に示す如く基準トラツク21、ア
ドレストラツク17、微読トラツク18及び傾斜
格子トラツク27からなり、センサアレイ11と
は例示の様な配置関係にある。基準トラツク21
はパターン全体の基準位置を示すものであり、ア
ドレスを読み取るセンサアレイの素子を指定し、
又、微読パターン19の基準位置を示すものであ
る。アドレストラツクは更に細分化された複数の
トラツク22,23,24を有し、移動方向12
に分割された各ブロツク毎にグレーコードを細分
化トラツクに設置してある。微読トラツク18に
は、図中12で示す方向にコード板8とセンサア
レイ11が相対移動を行なうと、直角方向の位置
が変化するパターンが設置してある。又、このパ
ターンはブロツク長より若干長く、且隣り合うブ
ロツクを区別出来るパターンである。図では太さ
に差を持せているが、例えば本数で区別出来る様
にしてもよい。傾斜格子トラツク27には第5図
aに示すパターンが設置されており、その効果は
前述した通りである。例えば、微読パターン、及
び傾斜パターンのセンサアレイに対する傾が45゜
であり、センサアレイのピツチを10μm、センサ
アレイと傾斜パターン間の副尺関係が10:11であ
つたとする。この時はセンサアレイ上の傾斜パタ
ーンのピツチは、22μmとなり、従つてセンサア
レイ出力の交点の位置は1μmの相対移動に対して
センサアレイ素子分移動することとなる。今、コ
ード板とセンサアレイ間の相対移動を図中12で
示す方向のみに限つて説明すると、傾斜パターン
25及び26によるセンサアレイ出力の交点間の
距離は1μmの相対移動に対し2素子分移動する1
ブロツクの長さを0.1mm、微読パターンによつて
センサアレイの1ピツチ(10μm)単位の読み取
りを行ない、かつそれ以下の内挿を傾斜パターン
トラツクで行なうと、0.5μmの分解能をもつエン
コーダが実現出来ることゝなる。又、傾斜パター
ンによるセンサアレイ出力の交点の位置の検出
は、例えば、偶数番目の素子出力と奇数番目素子
出力とを各々周期関数で近似し、その交点を求め
る様な演算処理を行なうと更に交点間の内挿を行
なう事が出来る。
図中13で示す方向の移動に対しては、基準ト
ラツク21が投影されるセンサアレイ上の位置
と、傾斜パターン25,26によるセンサアレイ
出力の交点間の中心位置を検出するようにすれ
ば、これも又高精度で検出する事が出来ることゝ
なる。
第6図bは第6図aの配置関係に於けるライン
センサの入出力信号を示す図で、28はスタート
パルス、29はクロツクパルス、30は出力信号
であり光量に比例した電圧を有する。
第7図は本発明にもとづくエンコーダの全体の
ブロツクダイヤグラムを示す図で、この図と第6
図により全体の動作を以下に説明する。
工作機械のテーブル等の移動体31に設置され
たコード板8は光源6、照明レンズ7により照明
され、透過パターンが投影レンズ9によりライン
センサ10上に結像する。ラインセンサ10はパ
ルス発生器32のスタートパルス33により走査
を開始し、同じくパルス発生器32から出力され
るクロツクパルス34に同期して出力信号35を
増幅器36に与える。増幅器36を通つた信号は
サンプルアンドホールド37でアナログ電圧とし
て一素子毎の出力のピーク値を保持され、アナロ
グデジタル変換器38でデジタル信号に変換され
る。
デジタルメモリ39はA/D変換されたライン
センサ10の出力を順次記憶するものであり、こ
れをランダムアクセス方式のメモリで構成するな
ら、ラインセンサ出力に同期しているクロツクを
計数するカウンタ40の出力によりメモリ番地の
指定を行なう事でメモリの0番地より順次ライン
センサの出力値が格納される。従つて、メモリの
番地とラインセンサのビツト番号が直接の対応を
もつ事となる。なお、カウンタ40は、ラインセ
ンサ10の走査開始パルス33又は、走査終了パ
ルス41によつてあらかじめリセツトしておく必
要のある事は言うまでもない。信号処理回路は、
例えば、マイクロプロセツサ等により構成され、
ラインセンサの走査終了パルス41を受けつける
と、デジタルメモリ39に一時的に格納されてい
るラインセンサ出力データをその管理下にあるデ
ータメモリ42に転送し、データの処理を開始す
る。信号処理回路の動作内容は次の通りである。
(1) 基準トラツク21によるラインセンサ出力2
1bの中心位置の決定。
(2) アドレス細分化トラツク22,23,24が
投影されているラインセンサのセンサアレイ素
子番号の決定、及び読み取り実行によるアドレ
スの解読。
(3) 微読パターン19の中心位置の決定及び太い
パターンと細いパターンの判別。
(4) 微読パターン19の中心位置と基準トラツク
21の中心位置間の距離から微読値の算出。
(5) 以上による微読値と、アドレストラツク17
によるアドレス値との桁合せ照合。
(6) 傾斜パターン26によるセンサ出力の偶数番
目の素子出力と奇数番目素子出力との交点位置
の算出。
(7) 傾斜パターン25によるセンサ出力の偶数番
目の素子出力と奇数番目素子出力との交点位置
の算出。
(8) (6),(7)で算出された交点間の距離を求め、微
読値の内挿値を得る。
(9) (8)の結果と(5)の結果の桁合せ照合。
これにより第6図aの12で示す方向の移動
位置の検出完了。
(10) (6),(7)で検出された交点間の中心の位置を算
出し、図中13で示される方向への移動量の内
挿値を得る。
(11) センサアレイ上に任意に設定された基準ピツ
チ位置と(1)で検出された基準トラツクの中心位
置間の距離を求め(10)の結果と桁合せ照合。これ
により第6図aで示す13方向の、任意に設定
された基準位置からの移動量の検出完了。
(12) (9)及び(10)の算出結果を実際の移動量に換算し
表示器44に出力する。
以上により移動方向位置、及びそれと直角方向
の移動位置が表示器44に表示される。
尚上記説明文中の桁合せ照合とは以下の通りで
ある。即ち第6図aに示すごとくラインセンサ
が、ブロツクの境界位置を読み取る際どちらのブ
ロツクの値を取るか不明である為、それを微読値
を参考にして下記のごとく決定する。
(a) 図の様に太いパターンが細いパターンの上方
にある時は読み取つたアドレスが偶数ならばそ
のままアドレス値と太いパターンによる微読値
を加算する。又読み取つたアドレスが奇数なら
ばその値から1を引き、太いパターンによる微
読値を加算する。
(b) 細いパターンが太いパターンの上方にある時
は、読み取つたアドレスが奇数ならば、そのま
まのアドレスと細いパターンによる微読値を加
算する。又、読み取つたアドレスが偶数ならば
その値から1を引き、細いパターンによる微読
値を加算する。
以上の説明は微読値とアドレス値の間の桁合せ
照合であるが、同様に傾斜パターンによる内挿値
と微読値間に於いても桁合せ照合を行なう必要が
ある。しかし以上に説明した様に下位の桁(微読
値)による読み取りの範囲を上位の桁(アドレス
値)の分解能より広く取るなら容易に桁合せ照合
を行なう事が可能である。従つて傾斜パターンに
よる内挿値と微読パターンによる微読値との間の
桁合せ照合も微読パターンによる微読値の分解能
より内挿値の範囲を広く取る事により容易に桁合
せ照合を行なう事ができる。つまり微読パターン
によつてセンサアレイの1ピツチ単位の読み取り
を行なう際はすでに述べた様に傾斜パターンによ
る交点の検出は偶数番目の素子出力と奇数番目の
素子出力の位相関係にも注目し、コード板の1周
期間を内挿すればよいし、又微読パターンによつ
てセンサアレイの1/2ピツチまでの読み取りを行
なうなら交点の位置のみに注目してコード板の1/
2周期を内挿する様にしてもよい。
前記(1)項、(3)項に於ける基準トラツク、微読ト
ラツクの中心位置検出は、出力の立上り部分、立
下り部分が出力の最高値の1/2になる点間の中心
位置を求めてもよく、又出力波形自体を多項式で
近似し、その極大点を求めてもよい。以上の様な
処理を行なえば、センサアレイのピツチの数分の
1の分解能で各々の中心位置を検出する事ができ
る。
ただし以上の例では、コード板のパターンをセ
ンサアレイに投影する光学系、例えば第2図9で
示す投影レンズの投影倍率の変化が測定値に誤差
として現われる事になる。例えば1:1で投影す
ることを前提として設計されたコード板のパター
ンが、投影レンズの焦点距離の誤差や、コード
板、投影レンズ、センサアレイ間のセツテイング
時に於ける誤差等により投影倍率が変化してセン
サアレイ上に投影されると、それにより読み取り
値の誤差が生ずる。従つて投影光学系の焦点距離
の管理、及び組立時の調整を厳密に行なわないと
高精度を実現する事が難かしくなる。
第8図に以上の欠点を改良て、厳密な投影倍率
の管理を必要とする事なく高精度を実現する為の
本発明の他の実施例におけるコード板のパターン
の一例を示す。
第8図は、すでに説明した傾斜格子トラツク2
7に対し投影光学系の光軸45(又は光学的中
心)と対称な位置に同様の倍率補正用の傾斜格子
トラツク46を配置したもので、それ以外の部分
47には第6図aについてすでに述べた基準トラ
ツク、アドレストラツク及び微読トラツクと同一
のものが配置されているものであるが図には省略
している。
光学的な投影倍率が変化するとそれによつてセ
ンサアレイに投影されるコード板のパターンは、
光軸を中心に対称な方向に位置変位を生ずる。
今センサアレイ11とコード板8が図に示す様
な対応をしており、コード板上のパターンが投影
倍率の変化によつて縮少投影されたとすると、傾
斜格子トラツク27,46のセンサアレイ上の投
影位置変化によつて、センサアレイ出力の交点の
現われる位置は図中49で示す方向に各々同じ量
だけ変化する。同様に拡大投影された場合は図中
の48で示す方向にセンサアレイ出力の交点が移
動し、その量は投影倍率の変化率に比例する。従
つて傾斜パターン25と傾斜パターン26による
各々のセンサアレイ出力の交点の中心位置を傾斜
格子トラツク27のセンサアレイ上の投影位置と
して検出し、同様にして傾斜格子トラツク46の
センサアレイ上の投影位置を検出すると、その間
の距離の、基準設定距離(例えば投影倍率1:1
の時)からのずれ量が投影倍率の変化量を表わす
事となる。従つてそれにより読み取り値を補正す
る事で、投影倍率の変化による誤差の影響をうけ
ないエンコーダを構成する事が出来る。
以上は内挿用のトラツクによつて倍率変化を検
出する場合であるが、倍率の変化率が大きく内挿
の範囲を越える様な場合が予想される様であるな
ら、基準トラツク及び微読トラツクをも光軸に対
して対称な位置に配置する事により、補正の範囲
を拡大する事が出来る。
本発明は以上の様に構成したことにより下記の
如き利点を有する。
傾斜パターンとセンサアレイ間に副尺関係を
発生させる事により高分解能、高精度のアブソ
リユートエンコーダが得られる。
ラインセンサを使用したことにより電気系統
が簡略となつた。
2組の傾斜パターンを対称に配置した事によ
り、コード板とセンサアレイ間の2次元的な移
動に対しセンサアレイの長手方向とそれに直角
な方向への2つの方向への移動量を各々独立し
て検出する事が可能となり、かつ傾斜パターン
トラツクを複数並列に配列することによりセン
サアレイの長手方向にコード板が位置するとき
それと垂直コード板がブレても、そのブレ量を
打ち消すことができるものである。
基準トラツクを設け、これを基準としてアド
レストラツクの位置を検知する様にしたことに
より直角方向の相対変位を大巾に許せる。これ
は製造、設置、保守上に利益となる。又アドレ
スの細分化トラツクの巾を小さく出来るのでア
ドレス読取り用のセンサアレイ素子数を少く出
来、従つてコスト低減或いは余つた素子を冗長
度増大に使用することによる信頼性向上を実現
することが出来る。
センサアレイ上の任意に設定された位置と基
準トラツク中15位置との距離及び傾斜パター
ンから直角方向の測長も高分解能、高精度で行
える。
高速移動により微読トラツクによる高精度読
取りが不可能となつた時でもアドレストラツク
の1ブロツク単位での読取りは可能である。こ
れは工作機械等に使用する場合には重要な条件
である。
上述の実施例では、コード板およびラインセン
サが互いに直線移動する様に説明したが、例え
ば、コード板をリング状にすればロータリーエン
コーダとして使用出来る。この時―ブロツクを充
分小さい角度で構成すれば、微読パターン、及び
傾斜パターンは直線で構成してもよいが、より正
確を期すなら一般にアルキメデス曲線として知ら
れている角度(θ)と半径(r)がリニアな関係
にある曲線r=aθ(a:定数)で微読パターン、
及び傾斜パターンを構成すればよい。さらに第2
図の投影レンズ9の投影倍率を変えることにより
内挿精度すなわち本発明にかかわるエンコーダの
最少測定精度を変えることができることは言うま
でもない。
又、上述の実施例ではコード板とラインセンサ
との相対位置を測定するものとして説明したが、
コード板とラインセンサを固定しておいてコード
板のパターンを例えば反射鏡によつて反射してセ
ンサアレイ上に投影することによりその反射鏡の
変位を測定することも出来る。更にコード板の透
過像を用いるのでなく反射像を用いてもよい。更
に微読パターンを用いずアドレストラツクのみに
よつてセンサアレイの1ピツチ単位の読み取りを
行なつてもよい。この時はアドレストラツク内の
細分化トラツク数がコード板長さ又は角度分割数
によつて増大するという欠点があるが、現在では
充分の素子数をもつてラインセンサが安価で入手
可能である為実用上何らの不都合は生じない。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のアブソリユートエンコーダの説
明用の概略配置図、第2図は本発明の一実施例に
於ける検出部の概略を配置を示す図、第3図は本
発明の一実施例に於ける内挿値読み取りの原理を
説明するための図、第4図は第3図に於けるライ
ンセンサの出力を示す図、第5図a,b,c,
d,e,fは本発明の一実施例に於けるコード板
の傾斜パターンの配置及びそれによるラインセン
サ出力の交点の発生を説明する図、第6図aは本
発明の一実施例によるコードパターンの詳細な構
造を示し、第6図bは第6図aのラインセンサの
入出力信号を示す図、第7図は、本発明の一実施
例による信号処理を行なう為の電気回路を含む全
体のブロツク線図、第8図は本発明の他の実施例
におけるコード板のパターンの変形例を示す図で
ある。 1…移動方向、2…コード板、3…光源、4…
マスク、5…受光素子群、6…光源、7…照明レ
ンズ、8…コード板、9…投影レンズ、10…ラ
インセンサ、11…センサアレイ、12,13…
移動方向、14,15,16…トラツク、17…
アドレストラツク、18…微読トラツク、19…
微読パターン、20…傾斜格子、21…基準トラ
ツク、22,23,24…細分化されたトラツ
ク、25,26…傾斜パターン、27…傾斜格子
トラツク、28…スタートパルス、29…クロツ
クパルス、30…出力信号、31…移動体、32
…パルス発生器、33…スタートパルス、34…
クロツクパルス、35…出力信号、36…増幅
器、37…サンプルアンドホールド、38…アナ
ログデジタル変換器、39…デジタルメモリ、4
0…カウンタ、41…終了パルス、42…データ
メモリ、43…信号処理回路、44…表示器、4
5…光軸、46…傾斜格子トラツク、47…トラ
ツク、48,49…移動方向。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 複数のセンサアレイ素子が配列されてなるセ
    ンサアレイに対向して配設される内挿式エンコー
    ダ用コード板において、前記コード板は複数の格
    子パターン群を有し、かつその中の少くとも一つ
    の格子パターン群は、その格子パターンの配列方
    向が他の格子パターン群の格子パターンの配列方
    向と異なる配列方向を有し、かつ前記センサアレ
    イ素子の配列方向に対し傾斜して配設され、さら
    に前記少くとも一つの格子パターン群の所定長内
    の格子パターンの情報数とその所定長内に相当す
    る前記センサアレイのアレイ素子数とに副尺関係
    をもたせてなることを特徴とするエンコーダ用コ
    ード板。 2 前記少くとも一つの格子パターン群の格子パ
    ターンの配列は他の格子パターン群の格子パター
    ンの配列と対称に形成されてなることを特徴とす
    る前記特許請求の範囲第1項記載のエンコーダ用
    コード板。 3 前記格子パターン群の格子パターンは直線パ
    ターンで形成されてなることを特徴とする前記特
    許請求の範囲第1項記載のエンコーダ用コード
    板。 4 前記格子パターン群の格子パターンはアルキ
    メデス曲線パターンで形成されてなることを特徴
    とする前記特許請求の範囲第1項記載のエンコー
    ダ用コード板。
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Families Citing this family (39)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5829093A (ja) * 1981-08-13 1983-02-21 株式会社トプコン アブソリユ−トエンコ−ダ
JPS58150819A (ja) * 1982-03-03 1983-09-07 Mitsubishi Electric Corp 光学式エンコ−ダ
US4553035A (en) * 1983-08-30 1985-11-12 Mylex Corporation Data acquisition control method and system for a hand held reader
GB2179515B (en) * 1985-08-22 1989-08-02 Muirhead Vactric Components Interpolation method and application thereof to encoders
US4720699A (en) * 1985-10-28 1988-01-19 Smith Ronald H Optical encoder using line array detectors
DE3542514A1 (de) * 1985-12-02 1987-06-04 Zeiss Carl Fa Wegmesseinrichtung
KR900702328A (ko) * 1988-07-12 1990-12-06 후루노 기요까따 로타리 엔코더
US4942621A (en) * 1988-11-15 1990-07-17 Msc Technologies, Inc. Method for mapping scanned pixel data
US4984287A (en) * 1988-11-15 1991-01-08 Msc Technologies, Inc. Method for orienting a dual mouse optical scanner
US5069547A (en) * 1988-11-23 1991-12-03 The Boeing Company Multitrack multilevel sensing system with error detecting
US5237391A (en) * 1988-11-23 1993-08-17 The Boeing Company Multitrack multilevel sensing system
US5017776A (en) * 1989-03-10 1991-05-21 Hewlett-Packard Company Apparatus for and methods of optical encoding having spiral shaped light modulator
DE4014479A1 (de) * 1989-05-11 1990-11-15 Volkswagen Ag Einrichtung zur ermittlung der bewegungsstrecke zwischen zwei relativbewegungen ausfuehrenden teilen
US5105296A (en) * 1989-11-20 1992-04-14 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Method and apparatus for detecting beam spot shape
US5254919A (en) * 1991-03-22 1993-10-19 Eastman Kodak Company Encoder system using linear array sensor for high resolution
US5699058A (en) * 1994-03-17 1997-12-16 Copal Company Limited Absolute encoder generating phase-shifted triangular waveforms to produce multi-bit signals
US6327791B1 (en) 1999-06-09 2001-12-11 The Government Of The United States As Represented By The Secretary Of Commerce Chain code position detector
WO2000077472A1 (en) * 1999-06-16 2000-12-21 Snorkel International, Inc. Chain code position detector
US6922907B2 (en) 2001-04-05 2005-08-02 Anton Rodi Measuring system for recording absolute angular or position values
DE10117193B4 (de) * 2001-04-05 2013-04-04 Anton Rodi Messsystem zur Absolutwerterfassung von Winkeln oder Wegen
US6912797B2 (en) * 2001-04-05 2005-07-05 Anton Rodi Measuring system for recording absolute angular or position values
US6897829B2 (en) * 2001-07-23 2005-05-24 Harris Corporation Phased array antenna providing gradual changes in beam steering and beam reconfiguration and related methods
US6842157B2 (en) * 2001-07-23 2005-01-11 Harris Corporation Antenna arrays formed of spiral sub-array lattices
US6456244B1 (en) 2001-07-23 2002-09-24 Harris Corporation Phased array antenna using aperiodic lattice formed of aperiodic subarray lattices
US7069120B1 (en) * 2003-10-22 2006-06-27 Rockwell Collins, Inc. Position sensing system
US7568727B2 (en) * 2005-04-06 2009-08-04 Ford Global Technologies, Llc Airbag deployment monitoring system
DE102005032869A1 (de) * 2005-07-14 2007-01-25 Leopold Kostal Gmbh & Co. Kg Verfahren zum Bestimmen der absoluten Winkelstellung des Lenkrades eines Kraftfahrzeugs
US8182065B2 (en) * 2005-07-29 2012-05-22 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Apparatus and methods for compensation of thermal and hydroscopic expansion effects in a low cost motion control system
EP1790953A1 (de) * 2005-11-04 2007-05-30 Leica Geosystems AG Optoelektrische Winkelmesseinrichtung
US7399956B2 (en) * 2005-11-28 2008-07-15 Avago Technologies Ecbuip Pte Ltd Optical encoder with sinusoidal photodetector output signal
DE102006010161B4 (de) * 2006-02-28 2010-04-08 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Codestruktur für eine Positionsmesseinrichtung und Positionsmesseinrichtung mit einer solchen Codestruktur
US7615737B2 (en) * 2007-05-08 2009-11-10 The Boeing Company High precision compact rotation angle absolute encoder
JP2010256081A (ja) * 2009-04-22 2010-11-11 Fujifilm Corp 光学式位置検出器及び光学装置
WO2011056657A2 (en) 2009-10-27 2011-05-12 Harmonix Music Systems, Inc. Gesture-based user interface
JP5574899B2 (ja) * 2010-09-24 2014-08-20 キヤノン株式会社 ロータリーエンコーダ及びこれを備えた光学機器
EP3064902B1 (de) * 2015-03-06 2017-11-01 Hexagon Technology Center GmbH System zur bestimmung von positionen
EP3121565B1 (de) 2015-07-24 2018-09-12 Hexagon Technology Center GmbH Absolutpositionsbestimmung
US10989566B2 (en) 2018-04-09 2021-04-27 Infineon Technologies Ag Magnetic sensor system for measuring linear position
TWI716246B (zh) * 2019-12-31 2021-01-11 財團法人工業技術研究院 光學編碼器

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5166856A (en) * 1974-12-06 1976-06-09 Hitachi Ltd Fukusukono pataannosotaitekiheniryosokuteihoho oyobi sonosochi

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1282988B (de) * 1965-05-28 1968-11-14 Zeiss Carl Fa Einrichtung zum Messen von Lageaenderungen zweier zueinander beweglicher Teile unterVerwendung einer inkohaerenten Strahlung
GB1169698A (en) * 1965-12-02 1969-11-05 Nat Res Dev Improvements in or relating to Positional Displacement Transducer Arrangements
SE324463B (ja) * 1968-03-27 1970-06-01 Aga Ab
GB1192513A (en) * 1968-05-02 1970-05-20 Feinmass Dresden Veb Improvements in and relating to Linear Measurement Scales
US3648276A (en) * 1969-12-11 1972-03-07 Warner Swasey Co Segmented scale
US3708681A (en) * 1971-04-01 1973-01-02 Dynamics Res Corp Position and velocity sensor
US3748043A (en) * 1972-03-20 1973-07-24 Bendix Corp Photoelectric interpolating arrangement for reading displacements of divided scales
FR2271540A2 (en) * 1974-02-05 1975-12-12 Boudier Pierre Electronic vernier device with slotted disc - has non-radial slots and two phototransistors on radius to give incremental signals
DE2758854C2 (de) * 1977-12-30 1979-09-27 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut Vorrichtung zum Messen der Verschiebung und/oder der Geschwindigkeit eines mit einem optischen Streifenmuster verbundenen Körpers
US4180703A (en) * 1978-06-28 1979-12-25 International Business Machines Corporation Bi-directional, self imaging grating detection apparatus
EP0013799B1 (en) * 1978-12-19 1985-10-02 Kabushiki Kaisha Toshiba Encoder for length or angle measuring devices with high accuracy

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5166856A (en) * 1974-12-06 1976-06-09 Hitachi Ltd Fukusukono pataannosotaitekiheniryosokuteihoho oyobi sonosochi

Also Published As

Publication number Publication date
DE3174549D1 (en) 1986-06-12
JPS576994A (en) 1982-01-13
EP0042179B1 (en) 1986-05-07
EP0042179A2 (en) 1981-12-23
EP0042179A3 (en) 1983-06-22
US4465373A (en) 1984-08-14

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