JPS634251B2 - - Google Patents
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- JPS634251B2 JPS634251B2 JP416481A JP416481A JPS634251B2 JP S634251 B2 JPS634251 B2 JP S634251B2 JP 416481 A JP416481 A JP 416481A JP 416481 A JP416481 A JP 416481A JP S634251 B2 JPS634251 B2 JP S634251B2
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- Japan
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 11
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 230000005236 sound signal Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/095—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble
- G11B7/0953—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble to compensate for eccentricity of the disc or disc tracks
Landscapes
- Moving Of The Head To Find And Align With The Track (AREA)
- Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は光学式再生装置に関し、特に音声信号
或いはビデオ信号等がピツトの形で記録されたデ
イスクからレーザー光線を用いて再生信号を取出
すようにしたデイスクプレーヤに用いて最適なも
のである。
或いはビデオ信号等がピツトの形で記録されたデ
イスクからレーザー光線を用いて再生信号を取出
すようにしたデイスクプレーヤに用いて最適なも
のである。
第１図はこの種のデイスクプレーヤのトラツキ
ングサーボ系の従来技術を示すブロツク図であ
る。デイスク１には、情報が渦巻状トラツクに沿
つて凹もしくは凸の位相構造（ピツト）の縦列と
して記録されている。再生信号は、ピツクアツプ
２内のレーザー３で形成された光束を、トラツキ
ングガルバノミラー４及び対物レンズ５等を介し
てデイスク１のトラツクに沿つた位相構造に導
き、位相構造で変調された反射光をフオトダイオ
ード６で電気信号に変換することによつて得てい
る。なおデイスク１はスピンドルモータ７でもつ
て回転駆動される。
ングサーボ系の従来技術を示すブロツク図であ
る。デイスク１には、情報が渦巻状トラツクに沿
つて凹もしくは凸の位相構造（ピツト）の縦列と
して記録されている。再生信号は、ピツクアツプ
２内のレーザー３で形成された光束を、トラツキ
ングガルバノミラー４及び対物レンズ５等を介し
てデイスク１のトラツクに沿つた位相構造に導
き、位相構造で変調された反射光をフオトダイオ
ード６で電気信号に変換することによつて得てい
る。なおデイスク１はスピンドルモータ７でもつ
て回転駆動される。
レーザー光は回折格子で３本に分けられ、その
うちの中央のビームが情報の読取りに用いられる
と共に、トラツクセンターの両外側の２つのビー
ムによつてトラツキングエラーが検出される。即
ち、これらの２つのビームのスポツトをトラツク
センターの両側に微小間隔離して結ばせ、トラツ
キングエラーが生じたとき、一方の反射ビーム量
が増加し、他方の反射ビーム量が低下することを
利用して、両者の差でトラツクずれの量及び方向
を検出している。
うちの中央のビームが情報の読取りに用いられる
と共に、トラツクセンターの両外側の２つのビー
ムによつてトラツキングエラーが検出される。即
ち、これらの２つのビームのスポツトをトラツク
センターの両側に微小間隔離して結ばせ、トラツ
キングエラーが生じたとき、一方の反射ビーム量
が増加し、他方の反射ビーム量が低下することを
利用して、両者の差でトラツクずれの量及び方向
を検出している。
フオトダイオード６の出力はトラツキングエラ
ー検出回路８に送られ、その出力のトラツキング
エラー補正信号ｅが加算器９を介してミラートラ
ンスデユーサ１０に送られ、これによつてトラツ
キングエラーが無くなるようにガルバノミラー４
が制御される。ミラートランスデユーサ１０に与
えられるエラー補正信号ｅはローパスフイルタ１
１にも供給され、その低周波成分（DC〜数Hz）
が抽出される。トラツキングエラー補正信号中の
低周波成分（平均値成分）はデイスク１の走査中
のトラツクとピツクアツプ２との相対的ずれを代
表しているから、このDC成分に応じてピツクア
ツプ２がデイスク１の半径方向に移送される。即
ち、ローパスフイルター１１の出力が駆動アンプ
１２を介して送りモータ１３に与えられ、モータ
１３の軸に取付けられた送りねじ１４によつてピ
ツクアツプ２が移送される。
ー検出回路８に送られ、その出力のトラツキング
エラー補正信号ｅが加算器９を介してミラートラ
ンスデユーサ１０に送られ、これによつてトラツ
キングエラーが無くなるようにガルバノミラー４
が制御される。ミラートランスデユーサ１０に与
えられるエラー補正信号ｅはローパスフイルタ１
１にも供給され、その低周波成分（DC〜数Hz）
が抽出される。トラツキングエラー補正信号中の
低周波成分（平均値成分）はデイスク１の走査中
のトラツクとピツクアツプ２との相対的ずれを代
表しているから、このDC成分に応じてピツクア
ツプ２がデイスク１の半径方向に移送される。即
ち、ローパスフイルター１１の出力が駆動アンプ
１２を介して送りモータ１３に与えられ、モータ
１３の軸に取付けられた送りねじ１４によつてピ
ツクアツプ２が移送される。
第１図に示す従来のトラツキングサーボ系は以
下のような欠点を有している。即ち、フアスト再
生を行うときには、第２図のトラツク線図の太線
で示すように垂直ブランキング区間BLごとに走
査ビームを外周のトラツクに移動させる。このた
め加算器９に端子１５からステツプ電圧またはジ
ヤンプ電圧が供給される。ガルバノミラー４の偏
向角度は限られているので、例えば10倍速のフア
スト再生でもトラツク外れが生じないように、ピ
ツクアツプ２のスライドサーボ系の応答速度を十
分に早くする必要がある。従つてローパスフイル
タ１１の出力を駆動アンプ１２で大きく増巾し、
送りモータ１３に大きな駆動電圧を与えてサーボ
ゲインを十分に大きくする必要がある。
下のような欠点を有している。即ち、フアスト再
生を行うときには、第２図のトラツク線図の太線
で示すように垂直ブランキング区間BLごとに走
査ビームを外周のトラツクに移動させる。このた
め加算器９に端子１５からステツプ電圧またはジ
ヤンプ電圧が供給される。ガルバノミラー４の偏
向角度は限られているので、例えば10倍速のフア
スト再生でもトラツク外れが生じないように、ピ
ツクアツプ２のスライドサーボ系の応答速度を十
分に早くする必要がある。従つてローパスフイル
タ１１の出力を駆動アンプ１２で大きく増巾し、
送りモータ１３に大きな駆動電圧を与えてサーボ
ゲインを十分に大きくする必要がある。
ところがミラートランスデユーサ１０に与えら
れるトラツキングエラー補正信号ｅにはデイスク
１の偏心による30Hzの周波数成分が含まれている
ので、ローパスフイルタ１１でこの成分を十分に
抑圧してやらないと、ピツクアツプ２が30Hzで揺
すられることになる。従つてローパスフイルタ１
１には、30Hzで十分な減衰量を有するフイルタ特
性を与える必要が生ずるが、このようなフイルタ
は送りモータ１３を駆動する低域成分に対しては
180゜に近い大きな位相回転を生じさせる。第１図
のスライドサーボ系は、ピツクアツプ２の光学系
→フオトダイオード６→トラツキングエラー検出
回路８→ローパスフイルタ１１→駆動アンプ１２
→送りモータ１３→ピツクアツプ２から成る閉ル
ープを構成しているから、サーボゲインが大で、
かつサーボエラーに180゜の位相回転があると、サ
ーボ系が発振する。
れるトラツキングエラー補正信号ｅにはデイスク
１の偏心による30Hzの周波数成分が含まれている
ので、ローパスフイルタ１１でこの成分を十分に
抑圧してやらないと、ピツクアツプ２が30Hzで揺
すられることになる。従つてローパスフイルタ１
１には、30Hzで十分な減衰量を有するフイルタ特
性を与える必要が生ずるが、このようなフイルタ
は送りモータ１３を駆動する低域成分に対しては
180゜に近い大きな位相回転を生じさせる。第１図
のスライドサーボ系は、ピツクアツプ２の光学系
→フオトダイオード６→トラツキングエラー検出
回路８→ローパスフイルタ１１→駆動アンプ１２
→送りモータ１３→ピツクアツプ２から成る閉ル
ープを構成しているから、サーボゲインが大で、
かつサーボエラーに180゜の位相回転があると、サ
ーボ系が発振する。
このためローパスフイルタ１１には実際的には
30Hz成分を十分に減衰させるような特性を与える
ことができず、30Hzの成分の駆動電流が或る程度
送りモータ１３に供給されることになる。このた
め送りモータの寿命が低下したり、駆動アンプ１
２が30Hzのリツプル分で飽和したりする不都合が
生ずる。
30Hz成分を十分に減衰させるような特性を与える
ことができず、30Hzの成分の駆動電流が或る程度
送りモータ１３に供給されることになる。このた
め送りモータの寿命が低下したり、駆動アンプ１
２が30Hzのリツプル分で飽和したりする不都合が
生ずる。
本発明は上述の問題にかんがみ、30Hz成分に影
響されないスライドサーボ系を提供することを目
的とする。
響されないスライドサーボ系を提供することを目
的とする。
以下本発明の実施例を図面を参照して説明す
る。
る。
第３図は本発明を適用したデイスク再生装置の
トラツキングサーボ系のブロツク図である。なお
第３図で第１図と同じ部分には同じ符号を付して
説明を省略する。なお第４図及び第５図は第３図
の動作を説明するための波形図である。
トラツキングサーボ系のブロツク図である。なお
第３図で第１図と同じ部分には同じ符号を付して
説明を省略する。なお第４図及び第５図は第３図
の動作を説明するための波形図である。
第３図において、第１図と同様なトラツキング
エラー検出回路８の出力のトラツキングエラー補
正信号ｅは加算器９を介してミラートランスデユ
ーサ１０に送られると共に、ローパスフイルタ１
１に供給される。ローパスフイルタ１１は、ここ
で抽出されるエラー補正信号ｅの低減成分に対す
る位相回転を極力小さくして、スライドサーボ系
の発振を防止し得るような定数に設定されてい
る。このためローパスフイルタ１１では30Hzの偏
心成分を十分に減衰させることができず、その出
力には第４図Ａに示すようにDC成分（低周波数
成分）に重畳した30Hz成分が含まれている。
エラー検出回路８の出力のトラツキングエラー補
正信号ｅは加算器９を介してミラートランスデユ
ーサ１０に送られると共に、ローパスフイルタ１
１に供給される。ローパスフイルタ１１は、ここ
で抽出されるエラー補正信号ｅの低減成分に対す
る位相回転を極力小さくして、スライドサーボ系
の発振を防止し得るような定数に設定されてい
る。このためローパスフイルタ１１では30Hzの偏
心成分を十分に減衰させることができず、その出
力には第４図Ａに示すようにDC成分（低周波数
成分）に重畳した30Hz成分が含まれている。
ローパスフイルタ１１の出力はアンプ１８を介
してサンプルホールド回路１９，２０に供給され
る。これらのサンプルホールド回路１９，２０に
は夫々第４図Ａの〇印及び×印の位置における互
に180゜の位相差のサンプルパルスS1，S2が供給さ
れる。サンプルパルスS1，S2はデイスク１の回転
に同期して以下のように形成される。
してサンプルホールド回路１９，２０に供給され
る。これらのサンプルホールド回路１９，２０に
は夫々第４図Ａの〇印及び×印の位置における互
に180゜の位相差のサンプルパルスS1，S2が供給さ
れる。サンプルパルスS1，S2はデイスク１の回転
に同期して以下のように形成される。
即ち、デイスク１を回転駆動するスピンドルモ
ータ７の軸に取付けられた周波数発電機２１から
第５図Ａに示す出力パルスFGが得られる。この
パルスFGは例えばデイスク１回転につき４パル
スである。周波数発電機２１の出力は分周器２２
に送られ、ここで第５図Ｃに示すような１回転に
１周期のパルスに分周される。なお分周器２２は
第６図に示すようなフリツプフロツプ２３，２４
を縦続接続したものであつてよく、夫々のフリツ
プ２３，２４においてFG出力が第５図Ｂ，Ｃの
ように1/2ずつ分周される。
ータ７の軸に取付けられた周波数発電機２１から
第５図Ａに示す出力パルスFGが得られる。この
パルスFGは例えばデイスク１回転につき４パル
スである。周波数発電機２１の出力は分周器２２
に送られ、ここで第５図Ｃに示すような１回転に
１周期のパルスに分周される。なお分周器２２は
第６図に示すようなフリツプフロツプ２３，２４
を縦続接続したものであつてよく、夫々のフリツ
プ２３，２４においてFG出力が第５図Ｂ，Ｃの
ように1/2ずつ分周される。
分周器２２の出力はサンプルパルス発生回路２
５，２６に供給され、第５図Ｇ，Ｈに示す２相の
サンプルパルスS1，S2が形成される。各サンプル
パルス発生回路２５，２６は例えば微分回路とモ
ノマルチバイブレータで構成することができ、第
５図Ｃの１回転に１周期のパルスを微分して第５
図Ｄに示すパルスを形成し、正の微分パルス（第
５図Ｅ）で立上りトリガ形モノマルチを動作させ
て、サンプルパルスS1を形成し、また負の微分パ
ルス（第５図Ｆ）で立下りトリガ形モノマルチを
動作させてサンプルパルスS2を形成するような回
路であつてよい。
５，２６に供給され、第５図Ｇ，Ｈに示す２相の
サンプルパルスS1，S2が形成される。各サンプル
パルス発生回路２５，２６は例えば微分回路とモ
ノマルチバイブレータで構成することができ、第
５図Ｃの１回転に１周期のパルスを微分して第５
図Ｄに示すパルスを形成し、正の微分パルス（第
５図Ｅ）で立上りトリガ形モノマルチを動作させ
て、サンプルパルスS1を形成し、また負の微分パ
ルス（第５図Ｆ）で立下りトリガ形モノマルチを
動作させてサンプルパルスS2を形成するような回
路であつてよい。
従つて２相のサンプルパルスS1，S2は夫々30Hz
でかつ互に180゜の位相差で得られる。
でかつ互に180゜の位相差で得られる。
サンプルパルス発生回路２５，２６の出力S1，
S2はサンプルホールド回路１９，２０に送られ、
第４図Ａの如く、〇印部分（S1）及び×印（S2）
の夫々においてアンプ１８の出力がサンプルホー
ルドされる。サンプル点〇及び×は夫々デイスク
の１回転に１回生じかつ互に180゜の位相差である
から、サンプルホールド回路１９，２０の出力を
加算器２７において加算することにより、第４図
Ｂのように、ローパスフイルタ１１の出力中の30
HzのAC成分をほぼ完全に除去した低周波成分の
みを抽出することができる。なおサンプルパルス
S1，S2間の位相差が180゜であれば、30Hz成分に対
するサンプルパルスS1及びS2の絶対位相がどのよ
うな状態でも、抽出される低周波成分には影響は
生じない。
S2はサンプルホールド回路１９，２０に送られ、
第４図Ａの如く、〇印部分（S1）及び×印（S2）
の夫々においてアンプ１８の出力がサンプルホー
ルドされる。サンプル点〇及び×は夫々デイスク
の１回転に１回生じかつ互に180゜の位相差である
から、サンプルホールド回路１９，２０の出力を
加算器２７において加算することにより、第４図
Ｂのように、ローパスフイルタ１１の出力中の30
HzのAC成分をほぼ完全に除去した低周波成分の
みを抽出することができる。なおサンプルパルス
S1，S2間の位相差が180゜であれば、30Hz成分に対
するサンプルパルスS1及びS2の絶対位相がどのよ
うな状態でも、抽出される低周波成分には影響は
生じない。
加算器２７の出力は駆動アンプ１２を径て送り
モータ１３に供給され、トラツキングエラー補正
信号ｅの低周波成分に応じてピツクアツプ２の位
置制御が行われる。送りモータ１３には30Hzの交
流リツプル電圧が印加されることがないので、モ
ータ寿命が低下するような問題や駆動アンプ１２
が飽和するような不都合は生じない。またローパ
スフイルタ１１により位相まわりも少なくするこ
とができるから、レープゲインを大きくしてスラ
イドサーボ系の応答を早しても系が発振するよう
なことがなく、10倍速程度のフアスト再生でもト
ラツク追従サーボを良好に行うことができる。
モータ１３に供給され、トラツキングエラー補正
信号ｅの低周波成分に応じてピツクアツプ２の位
置制御が行われる。送りモータ１３には30Hzの交
流リツプル電圧が印加されることがないので、モ
ータ寿命が低下するような問題や駆動アンプ１２
が飽和するような不都合は生じない。またローパ
スフイルタ１１により位相まわりも少なくするこ
とができるから、レープゲインを大きくしてスラ
イドサーボ系の応答を早しても系が発振するよう
なことがなく、10倍速程度のフアスト再生でもト
ラツク追従サーボを良好に行うことができる。
本発明は上述の如く、情報記録体（実施例にお
けるデイスク１）の回転に同期しかつ互に180゜の
位相差の２相のサンプリングパルスS1，S2に応じ
てトラツキングエラー情報をサンプルホールド
し、２つのサンプルホールド値を互に加算して、
その加算出力に応じて光学系（レーザー３及びト
ラツキングガルバノミラー４を含む系）の位置制
御を行うようにした。故に、上記トラツキングエ
ラー情報に含まれる記録体の回転偏心成分（30Hz
成分）に影響されずに、トラツキングエラー情報
から上記位置制御に必要な低周波成分を抽出する
ことができる。従つて光学系の位置制御サーボ系
のループフイルタとして、30Hz成分を大きく減衰
させる特性を与える必要がなく、異相まわりを少
なくするようなフイルタ定数に設定することがで
きるから、サーボ系の応答速度を早くするために
サーボゲインを大きくしても発振が起こらない安
定したサーボ系を構成することができる。また光
学系の位置制御駆動部にACリツプル成分（30Hz）
が加えられることがないから、駆動部を長寿命に
保つて安定した動作を行わせることができる。
けるデイスク１）の回転に同期しかつ互に180゜の
位相差の２相のサンプリングパルスS1，S2に応じ
てトラツキングエラー情報をサンプルホールド
し、２つのサンプルホールド値を互に加算して、
その加算出力に応じて光学系（レーザー３及びト
ラツキングガルバノミラー４を含む系）の位置制
御を行うようにした。故に、上記トラツキングエ
ラー情報に含まれる記録体の回転偏心成分（30Hz
成分）に影響されずに、トラツキングエラー情報
から上記位置制御に必要な低周波成分を抽出する
ことができる。従つて光学系の位置制御サーボ系
のループフイルタとして、30Hz成分を大きく減衰
させる特性を与える必要がなく、異相まわりを少
なくするようなフイルタ定数に設定することがで
きるから、サーボ系の応答速度を早くするために
サーボゲインを大きくしても発振が起こらない安
定したサーボ系を構成することができる。また光
学系の位置制御駆動部にACリツプル成分（30Hz）
が加えられることがないから、駆動部を長寿命に
保つて安定した動作を行わせることができる。
第１図は光学式デイスクプレーヤの従来のトラ
ツキングサーボ系のブロツク図、第２図はデイス
ク上のトラツクを倍速走査する場合のトラツクの
線図、第３図は本発明を適用した光学式デイスク
プレーヤのトラツキングサーボ系のブロツク図、
第４図及び第５図は夫々第３図の動作を説明する
ための波形図、第６図は第３図の分周器の回路図
である。 なお図面に用いられている符号において、１…
…デイスク、２……ピツクアツプ、３……レーザ
ー、４……トラツキングガルバノミラー、６……
フオトダイオード、７……スピンドルモータ、８
……トラツキングエラー検出回路、１１……ロー
パスフイルタ、１９，２０……サンプルホールド
回路、２１……周波数発電機、２５，２６……サ
ンプルパルス発生回路、２７……加算器である。
ツキングサーボ系のブロツク図、第２図はデイス
ク上のトラツクを倍速走査する場合のトラツクの
線図、第３図は本発明を適用した光学式デイスク
プレーヤのトラツキングサーボ系のブロツク図、
第４図及び第５図は夫々第３図の動作を説明する
ための波形図、第６図は第３図の分周器の回路図
である。 なお図面に用いられている符号において、１…
…デイスク、２……ピツクアツプ、３……レーザ
ー、４……トラツキングガルバノミラー、６……
フオトダイオード、７……スピンドルモータ、８
……トラツキングエラー検出回路、１１……ロー
パスフイルタ、１９，２０……サンプルホールド
回路、２１……周波数発電機、２５，２６……サ
ンプルパルス発生回路、２７……加算器である。
Claims (1)
- １ 光源からの光束をガルバノミラーを介して回
転形情報記録体に与えて、その反射光または透過
光に基いて記録トラツクから記録情報を取出すと
共にトラツキングエラー情報を検出し、このトラ
ツキングエラー情報に応じて、上記ガルバノミラ
ーを制御すると共に上記光源及びガルバノミラー
を含む光学系の上記記録体に対する相対位置を制
御するようにした光学式再生装置において、上記
記録体の回転に同期しかつ互に180゜の位相差の２
相のサンプリングパルスの夫々に応じて上記トラ
ツキングエラー情報をサンプルホールドする手段
と、上記サンプルホールド手段の２つのサンプル
ホールド値を互に加算する手段とを夫々具備し、
上記加算手段の出力に応じて上記光学系の位置制
御を行うようにした光学式再生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP416481A JPS57120236A (en) | 1981-01-14 | 1981-01-14 | Optical reproducing device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP416481A JPS57120236A (en) | 1981-01-14 | 1981-01-14 | Optical reproducing device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57120236A JPS57120236A (en) | 1982-07-27 |
| JPS634251B2 true JPS634251B2 (ja) | 1988-01-28 |
Family
ID=11577097
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP416481A Granted JPS57120236A (en) | 1981-01-14 | 1981-01-14 | Optical reproducing device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57120236A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59207439A (ja) * | 1983-05-12 | 1984-11-24 | Nec Corp | 光デイスクシステムにおけるビ−ムアクセス装置 |
| DE69421785T2 (de) | 1993-09-28 | 2000-05-11 | Sony Corp., Tokio/Tokyo | Gerät zum Messen der Exzentrizität einer Scheibe, Verfahren dazu und Aufzeichnungs- und/oder Wiedergabegerät für scheibenförmiges Aufzeichnungsmedium |
-
1981
- 1981-01-14 JP JP416481A patent/JPS57120236A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57120236A (en) | 1982-07-27 |
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