JPS6339884B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、撮影レンズの絞り及び露出時間を、
絞り開口を通過した被写体光の測光値に基づいて
制御するカメラの露光制御回路に関する。更に詳
しく云うと、本発明は、平均測光とスポツト測光
など互いに異る２つの測光方式を可能とするカメ
ラ及びAEロツク撮影を行うに適したカメラの露
光制御回路に関する。

こゝでAEロツク撮影と云われるものは、撮影
に先立ち撮影範囲とは異なる任意の視点から被写
体輝度を測定記憶しておき、撮影に際してはこの
記憶された測定値によつて露出制御を行うように
した撮影の仕方である。本発明は予めシヤツター
速度を設定しておいて絞り値の方を自動的に制御
する場合において、上述したAEロツク撮影を行
うに適したカメラを提供するものである。もちろ
んこの種のカメラに関してはすでに特開昭51−
654号等で提案がなされている。この特開昭51−
654号で提案されている絞り制御装置は、優先的
に設定したシヤツター速度に対して絞りを自動的
に制御する速度優先モードにおいて、被写体輝度
の測定記憶の段階で測光している対象の輝度に対
し適正露光を与える絞り値と撮影レンズの開放絞
り値との間の段数差を算出して記憶し、次の撮影
段階に入ると、まず開放絞りにおける実際の被写
体光を測光し、この測光値から既に算出し記憶さ
れている絞りの段数差分だけ差引いた値を算出し
てこの結果を保持しておき、次いで撮影レンズの
絞りの絞り込みを開始させ、絞り込み中の絞りを
通過した被写体光を測光して、その測光値が上記
保持されている値と一致した所で絞り込みを停止
させるようになつている。所でこのような絞り制
御動作はシヤツターレリーズ操作によつて始動さ
れるもので、その動作は例えば50ミリ秒と云うよ
うな比較的短い時間内に行われるから絞り羽根は
かなり高速で運動しており、このため絞り込み量
が所定値に達したことを検知して絞り込み動作に
係止をかけても、機械的要素のおくれによつて絞
りは所定値より余分に絞り込まれた位置で停止せ
られることになる。この余分な絞り込み量を予め
見込んで絞り込み停止を行うタイミングを調整す
ることも考えられるが、上述した余分な絞り込み
量は種々な要因に左右されて一定しないので、こ
のようにしても本来予定された露出量に対する誤
差は避けられない。

本発明はその対象とするカメラの絞り制御装置
において上述した所によつて発生する露出誤差を
防ぐことを目的としたもので、予定された絞り開
口と制御動作によつて実際に設定された絞り開口
との差に相当する露出誤差分だけ、予め設定され
たシヤツター速度に補正を施す回路を設け、絞り
開口とシヤツター速度との組合せにより総合的に
精度のよい露光制御を行うようにした絞り制御装
置を提供するものである。更に、本発明の別の目
的は、絞り込み測光方式の露出制御回路を用いて
スポツト測光も可能とするカメラの露光制御回路
を提供することにある。以下図面によつて本発明
を詳述する。

第１図は本発明の前提となる絞り設定回路の一
般的構成を示すものである。この図で１は撮影レ
ンズ、２は同レンズの絞り、３は絞り２を通過し
た被写体光を受光する測光素子で４は測光回路で
ある。測光回路４は測光素子３への入射光の強度
の対数に比例した電圧を出力する。スイツチ５は
絞り２の絞り込み開始直前に開かれて、絞り２が
開放状態にあるときの測光回路４の出力をコンデ
ンサ６に記憶せしめる。７は減算回路であつて、
コンデンサ６の充電電圧から測光回路４の出力電
圧を引算するようになつており、絞り２が絞り込
まれつゝあるときの測光回路４の出力を絞り開放
時の測光回路出力から引算することにより絞り２
が開放位置から絞り込まれた位置までの間の絞り
段数Ｎ２を検出する。８は予め指定された絞り込
み段数Ｎ１に相当する電圧を出力する信号発生回
路で、その出力Ｎ１と上記した減算回路７の出力
Ｎ２とが電圧比較回路９で比較され、両者が一致
したとき電圧比較回路９から出される信号により
電磁石１０が作動せしめられ、この電磁石の動作
で絞り２の絞り込みに係止がかけられる。この場
合被写体光は絞り２の実際の絞り込み段数を検出
するために用いられているだけで被写体の具体的
な輝度値は制御動作に直接関係しない。

第２図は第１図の回路においてシヤツター速度
優先絞り自動制御方式の許でのAEロツク撮影機
能を付加した場合の一般的な回路構成を示すもの
である。第１図の回路における各部に対応する部
分には同じ番号が付してある。第１図の回路構成
で信号発生回路８として示された予め絞り段数を
設定する部分の構成が異なつている。即ち１１は
優先的に設定されるシヤツター速度に応じた電圧
信号を出力する速度信号発生回路であり、１２は
手動操作により任意の時点で開かれるスイツチ
で、このスイツチが開かれるとその直前の測光回
路４の出力がコンデンサ１３に記憶せしめられ
る。即ちコンデンサ１３はAEロツクの際撮影時
とは異なる視点から見た被写体（測定対象と云う
ことにする）からの光を開放絞りを通して測光し
た値を保持する。減算回路１４はコンデンサ１３
の上記記憶値から速度信号発生回路１１の出力信
号を引算し両信号の差に相当する電圧信号を出力
する。この信号は予め設定された優先シヤツター
速度における測定対象に対する適正露光を与える
絞り開口の開放絞りからの絞り込み段数に相当し
ている。従つてこの出力信号が第１図における信
号発生回路８の出力信号に対応し、シヤツターレ
リーズ時には第１図の回路について説明した所に
よつて絞り２の開口が決定される。

こゝで第２図の回路の絞り制御動作における各
露光因子間の関係をアペツクスシステムに従つて
表わしてみる。今コンデンサ１３に記憶された
AEロツク撮影時の測定対象に対する露光値をEv
(1)とし、シヤツターレリーズ時に測光回路４が出
力している被写体の露光値をEv(2)とする。レン
ズ１の開放絞りの開口値をAv（０）、優先シヤツ
ター速度の時間値をTv（Ｍ）とする。また露光値
Ev(1)及びEv(2)の下で開放絞り値Av（０）に対す
る適正露光時間値を夫々Tv(1)及びTv(2)とし、露
光値Ev(1)の下で時間値Tv（Ｍ）に対する適正開
口値をAv（Ｍ）とする。なお測光回路４はフイル
ム感度をも算入した情報を出力するものとし、フ
イルム感度をSv、またAEロツクの際の測定対象
の輝度をBv(1)、及び被写体輝度をBv(2)とする。
AEロツク操作時のコンデンサ１３の記憶情報は、 Bv(1)＋Sv−Av（０） で、これは開放絞り時の測定対象に対する適正シ
ヤツター速度Tv(1)に等しい。従つて減算回路１
４の出力信号Ｎ１は、 N1＝Tv(1)−Tv（Ｍ）＝Av（Ｍ）−Av（０） ……(1) 同様にして減算回路７の出力信号Ｎ２は、 N2＝Tv(2)−Tv(c)＝Av(c)−Av（０） ……(2) こゝでAv(c)は絞り制御動作時の絞り値（時間
と共に変る）、Tv(c)はこの絞り値における露光値
Ev(2)の下での適正シヤツター速度を表わす。他
方露光値Ev(1)、Ev(2)は、 Ev(1)＝Av（０）＋Tv(1)＝Av（Ｍ）＋Tv（Ｍ）
……(3) Ev(2)＝Av（０）＋Tv(2)＝Av(c)＋Tv(c) ……(4) 電圧比較回路９は(1)、(2)式のＮ１，Ｎ２を比較
し、N1＝N2となつたことを検出するので、N1
＝N2のときAv(c)＝Av（Ｍ）となつている。この
とき電圧比較回路９は信号を発して電磁石１０を
作動させて絞りに係止をかけるのであるが機械要
素の動作おくれにより実際に絞りが係止されたと
きの減算回路７の出力信号Ｎ２′は、 N2′＝N1＋ΔN ……(5) こゝでΔNは絞りがAv（Ｍ）より余計に絞り込
まれた段数である。従つて予定の露光を得るには
シヤツター速度をTv（Ｍ）よりΔN段だけおそく
すればよい。上記(5)式を式(1)、(2)を用いて表わす
と、 N2′＝Tv(2)−Tv(c)＝Tv(1)−Tv（Ｍ）＋ΔN ……(6) 上式をTv（Ｍ）−ΔNについて整理すると、 Tv（Ｍ）−ΔN＝Tv(1)−Tv(2)＋Tv(c) ……(7) 上記(7)式で左辺は予め設定した優先シヤツター
速度に余分に絞り込まれた分の補正を加えたシヤ
ツター速度であり、右辺第１項、第２項は夫々開
放絞りにおける測定対象及び被写体に対する適正
シヤツター速度で、 Tv(1)＝Bv(1)＋Sv−Av（０） ……(8) Tv(2)＝Bv(2)＋Sv−Av（０） ……(9) 上式の両辺を夫々上下引算すれば、 Tv(1)−Tv(2)＝Bv(1)−Ｂ（v2） ……（9a） 従つて(7)式は、 Tv（Ｍ）−ΔN＝Bv(1)−Bv(2)＋Tv(c) ……(10) 上記(8)、(9)式の値はAEロツク時及びシヤツタ
ーレリーズ直前の測光回路２の出力として求ま
り、Tv(c)は絞り制御動作完了後の測光回路２の
出力として得られるから、これらの値から(7)式の
補正されたシヤツター速度を求めることができ
る。

なお第２図の構成では測定対象の測光と被写体
の測光とを同一の測光回路で行つているが、これ
は別々の測光回路で行つてもよく、測定対象の測
光に独立の露出計を用いる構成にすれば、カメラ
を予め所望の撮影構図に設定しておいてAEロツ
ク撮影をすることができるようになる。

以上で本発明の原理的な説明を終り、次に本発
明の実施例を説明する。第３図に本発明の一実施
例を示す。この実施例は前述した二つの測光情報
を得るのにカメラに内蔵された測光回路を用いる
のと二つの測光情報の一方を得るのにカメラ内蔵
のものとは別に一つの測光手段を用いる方式の両
方が切換えによつて選択できるようになつている
カメラである。第３図においても第１、第２図の
各部に対応する部分には第１，２図と同じ番号が
つけてある。第３図で測光回路４は被写体輝度、
絞り開口及びフイルム感度によつて定まる露出時
間を示す電圧信号を出力する。この電圧信号は露
出時間値Tvと直接関係をなすものである。１２
は記憶スイツチでAEロツク撮影における測定対
象の測光値をコンデンサ１３に伝え、開成される
ことによつてコンデンサ１３の記憶を保持させ
る。２１はコンデンサ１３の充電記憶情報を次の
回路に伝えるときのバツフアアンプである。点線
のブロツク３５で囲まれた部分はカメラ外に別設
された測光系で切換スイツチ２２によつて露出制
御回路に着脱できるようになつている。

今スイツチ２２が接点２２ａ側に切換えられて
いて測光系３５が絞り制御装置から分離され、撮
影レンズ１、絞り２、測光回路４等のカメラ内蔵
測光系が絞り制御回路に接続されている場合につ
いて回路構成及び動作を説明する。まず任意の視
点から被写体を測定し、スイツチ１２を開くと
AEロツクがなされる。このときコンデンサ１３
に記憶される情報は今の視点における被写体に関
する開放絞り下での値Bv_L＋Sv−Avo（すなわち、
前述の(1)、(8)式におけるTv(1)）である。但し、
ここで、Bv_LはAEロツク時の受光素子３が測光
する被写体輝度、Svはフイルム感度、Avoは開
放絞り値である。このTv(1)の信号電圧はバツフ
アアンプ２１を通してコンデンサ２４の上側端子
に出力されている。次に撮影位置において被写体
を測光すると測光回路４からは開放絞り下での値
Bva＋Sv−Avo（但し、ここで、Bvaは撮影位置
での受光素子３が測光する被写体輝度である）が
出力され、コンデンサ２４の下側端子に印加され
る。すなわち、この値Bva＋Sv−Avoは前述の
(2)、(9)のTv(2)に該当する。従つてコンデンサ２
４にはBv−Bvaに相当する電圧、即ち、AEロツ
ク時と撮影時の被写体輝度差の電圧が充電され
る。この電圧は、Tv(1)−Tv(2)に相当する。こゝ
でシヤツターボタンを押すと絞り２の絞り込み開
始直前にスイツチ５が開いてコンデンサ２４は放
電路を断たれ上記輝度差の電圧を保持し、他方測
光回路４の出力は絞り２の絞り込みに従つて減少
して行く。このときの測光回路４の出力は、前述
の(4)、(10)式のTv(c)に相当するBva＋Sv−Av（但
し、ここで、Avは絞り込み動作中の絞り値であ
る）となり、この値にコンデンサ２４の電圧Bv
−Bvaを加えたバツフア２５の出力は、 Bva＋Sv−Av＋（Bv_L−Bva）＝Bv_L＋Sv−Av で表される。上式で示されるバツフアアンプ２５
の出力は電圧比較回路９に印加される。この比較
回路９には、またスイツチ２９が端子２９ａに接
続されているとシヤツター速度手動設定回路１１
から出力される優先シヤツター速度に相当する電
圧Tvs（前述の(1)式のTv（Ｍ）に相当する）が印
加されており、両者が一致したとき同比較回路か
ら出力される信号で電磁石１０が作動せしめられ
絞り２の絞り込みに係止がかけられ、AEロツク
時の被写体輝度Bv_Lとフイルム感度Sv、及び設定
された露出時間Tvsに応じて適性露出となる絞り
開口Avが決定される。しかし絞り込み係止機構
の機構的なおくれにより実際に絞り２が停止する
のは、Bv_L＋Sv−Tvs＝Avで求められる絞り値
となる絞り開口より所定段数ΔNだけ余分に絞り
込まれる。そこでこのとき（絞りが停止したと
き）の絞り値をAvcとすると、バツフアアンプ２
５の出力は Bva＋Sv−Avc＋（Bv_L−Bva）＝Bv＋Sv−Avc となつている。従つて、この値はAEロツク時の
被写体輝度Bv_L、フイルム感度Sv及び制御された
絞り開口Avcから決まる適性露光時間となつてい
る。このバツフアアンプ２５の出力電圧をメモリ
スイツチ３０を通してコンデンサ３１に記憶せし
める。スイツチ３０は一眼レフミラーが上る直前
に開かれ、シヤツターがレリーズされると共にコ
ンデンサ３１の記憶に従つて露出時間制御回路３
２が作動して第４図にTv（Ｍ）−ΔNで示される
（すなわちBv_L＋Sv−Avcで示される）露光時間
後電磁石３３に信号が発せられてシヤツターが閉
じられる。

以上の構成において測光素子３は例えば一眼レ
フカメラのペンタプリズムの接眼部付近に配置さ
れる。またフオーカルプレンシヤツターの先幕及
びフイルム面からの反射光によつて測光する型の
カメラにおいては第３図のメモリスイツチ３０、
コンデンサ３１は不要である。またこの型のカメ
ラでは露光中に被写体輝度が変化しても、この変
化に従つて露光時間が制御されるので適正露光が
保証される。

次に測光系３５を用いる場合について説明す
る。測光系３５はカメラとは独立した測光装置で
例えば被写体上の比較的せまい領域の輝度を測定
するように光学系が構成されていて、受光素子３
よりも狭い領域に測光感度分布を有するいわゆる
スポツト測光系である。３６は結像レンズでその
焦点面にピンホールがありその背後に測光素子３
７が配置されて測光回路３８に接続してある。測
光回路３８にはフイルム感度設定部４０及び伝達
部３９を介して撮影レンズの開放絞り値Avoの信
号が入力されて測光回路３８中で次式に示す写真
工学的演算がなされる。

Bvs＋Sv−Avo 但し、ここで、Bvsは受光素子３７で測光され
た被写体輝度である。

スイツチ４１は測光出力をコンデンサ４２に記
憶せしめるべく所望時に手動操作により開かれ
る。４３はバツフア回路である。測光系３５は
AEロツク情報を得るもので、直接の絞り制御及
び露出制御は撮影レンズ１、測光回路４の系統で
行われる。スイツチ２２を接点２２ｂ側に切換え
ると測定対象に対するスポツト測光に基づく演算
値Bvs＋Sv−Avoがコンデンサ２４の上側端子に
印加され、同コンデンサの下側端子には測光回路
４の出力である適性露光時間値Tv(2)、すなわち
Bva＋Sv−Avoが印加されてコンデンサには前述
と同様Tv(1)−Tv(2)すなわちBvs−Bvaの値が記
憶される。以下の動作は前述した撮影レンズ１、
測光回路４の系統のみを用いる場合と全く同様で
ある。なお４５は測光装置３５をカメラ側の回路
に接続する接続端子である。またスイツチ２２の
切換え操作は上記接続端子４５の接離と連動させ
てもよい。

ブロツク３４はシヤツター速度を手動的に設定
する代りにスイツチ２２からのスポツト測光に基
づくBvs＋Sv−Avoあるいは測光回路４の出力
Bva＋Sv−AvoあるいはAEロツクされた出力
Bv_L＋Sv−Avoに応じて一定のプログラムの下に
シヤツター速度を自動的に設定するプログラム回
路で、スイツチ２９を接点２９ａから２９ｂに切
換えると同回路が機能することになる。この場合
でもシヤツター速度に対する絞りの決定、補正の
動作は前述した所と同じである。

第５図は本発明の他の実施例である。前記の実
施例と同一の回路部品には同一の符号が付けてあ
る。測光回路からは、絞り２を通過した被写体光
とフイルム感度に基いた信号を出力する。５０は
撮影情報設定装置で、プログラムシヤツターのと
きはプログラム定数に対応した信号を、絞り優先
自動露出のときは設定絞り段数に対応した信号
を、露出時間優先自動露出のときは設定露出時間
に対応した信号を、手動設定のときは設定絞り段
数及び設定露出時間に対応した信号を出力する。
スイツチＳ１は絞り２が絞り込みが開始されると
同時に端子ａからｂへ切換えられるスイツチであ
る。６は絞り込みが開始される直前の測光回路４
の出力電圧を記憶するコンデンサ、５２は測光回
路４と撮影情報設定装置５０からの信号に基い
て、予定絞り込み段数及び予定露出時間に対応し
た信号を出力する演算回路、５４，５６は夫々演
算回路５２からの予定絞り込み段数及び予定露出
時間に対応した信号を記憶する記憶回路である。
Ｓ２，Ｓ３はともにAEロツク撮影の際任意の時
刻に手動操作で開かれるスイツチである。５８は
絞り２が絞り込まれている途中での測光回路４の
出力信号とコンデンサ６の記憶電圧の差に対応し
た信号を出力する減算回路、２６は記憶回路５４
と減算回路５８からの信号を比較する比較回路、
２７は比較回路２６からの信号に応じて絞り込み
動作に係止をかけるマグネツトである。６０，６
２はAEロツク撮影の際に絞り開口の予定値から
の誤差を予定露出時間を補正することで適正露出
を得る目的で設けられた回路で、６０は記憶回路
５４からの信号と減算回路５８からの信号の差に
対応した信号を出力する減算回路、６２は記憶回
路５６からの信号と減算回路６０からの信号との
和に対応した信号を出力する加算回路である。ス
イツチＳ４はAEロツク撮影のときは端子ｃに、
通常撮影の際は端子ｄへ接続されるスイツチであ
る。

次に通常撮影の場合から説明する。絞り開放状
態における測光回路４の出力信号及び撮影条件設
定回路５０からの信号に基いて演算回路５２から
は絞り込み段数信号と露出時間信号が出力されて
記憶回路５４及び５６へ記憶される。なお記憶回
路５４，５６に記憶される信号は測光回路４の出
力信号が変化すればこれに応じて変化する。撮影
動作に移行し、絞り込み動作開始直前でスイツチ
Ｓ１は端子ａからｂに切換わり、コンデンサ６に
は絞り込み開始直前の測光回路４の出力が記憶さ
れる。絞り込み動作が開始すると減算回路５８か
らはコンデンサ６の出力電圧から測光回路４の出
力電圧をひいた電圧、即ち、絞り込み途中の開放
絞りからそのときの絞り開口までの絞り込み段数
に対応した電圧が出力し、比較回路２６によつて
この減算回路５８からの出力電圧と記憶回路５４
からの予定絞り込み段数に対応した出力電圧が比
較され両者が一致したとこでマグネツト２７によ
つて絞り込み動作に係止がかゝつて絞り開口が決
定する。露出時間はスイツチＳ４が端子ｄに接続
されているので絞り開口が決定された後の測光回
路４からの出力電圧に基いて制御される。

次にAEロツク撮影の場合の動作を説明する。
記憶回路５４，５６へはスイツチＳ２，Ｓ３が開
かれた時点のデータが固定保持され、以後測光回
路４の出力電圧が変化しても、記憶された内容は
変化しない。以後の絞り制御動作は通常撮影の場
合と同じで、絞り開口はスイツチＳ２が開かれる
直前に記憶された絞り段数に対応した信号に基い
て制御される。露出時間は以下のようにして制御
される。絞り開口が決定された後の減算回路５８
の出力、即ち決定された絞り開口までの開放絞り
からの段数に対応した信号と記憶回路５４に記憶
されている段数信号の差に対応した減算回路６０
からの信号を記憶回路５６に記憶されている露出
時間に対応した信号に加えた加算回路６２の出力
信号によつて露出時間が制御される。即ち絞り込
み動作の停止の機構部等による遅れによつて発生
する絞り開口の誤差量ΔNを減算回路６０によつ
て算出し、記憶回路５６に記憶された露出時間
Tv（Ｍ）を上記の絞り開口の誤差量だけ補正を加
算回路６２によつて行なつて、この信号に基いて
露出時間Tv（Ｍ）＋ΔNを制御するものである。

第６図は第５図の減算回路６０、加算回路６２
の具体的回路例である。通常撮影の際はスイツチ
Ｓ７は端子ｊに、スイツチＳ８は端子ｋに接続さ
れていて、記憶コンデンサ３５に記憶された、絞
り開口が決定された後の測光回路４の出力電圧に
基いて露出時間が制御される。AEロツク撮影の
場合はスイツチＳ７は端子ｉに、Ｓ８は端子ｌに
接続されている。またスイツチＳ５は絞り開口が
決定されると端子ｅからｆに、スイツチＳ６は端
子ｇからｈに切換わる。通常、絞り込み停止信号
が比較回路２６から出力されて絞り込みが停止さ
れるまでには機械的に遅れがあるので、予定絞り
開口よりも小絞りになり、絞り開口が決定された
後では記憶回路５４からの出力電圧よりも減算回
路５８からの出力電圧が小さくなつている。この
電圧差がコンデンサ３７に記憶されて、このコン
デンサ３７に記憶された電圧差分だけ記憶回路５
６からの電圧よりも小さい電圧信号で露出時間が
制御される。即ち、予定絞り開口よりも小絞りに
なつた量だけ、予定露出時間よりも長秒時にし
て、記憶された露光値（Ev値）と同じ露光値
（Ev値）が得られる。

以上、実施例はアナログ回路で構成してあるが
デイジタル回路を導入して構成することもでき
る。さらには、本発明は実施例に限られることな
く種々の変形が可能である。

以上詳細に説明したように、本発明は撮影レン
ズおよび絞りを通過した被写体光を用いて絞り開
口を制御する絞り制御装置を備え、絞り制御時点
に撮影レンズおよび絞りを通過する被写体光とは
別の被写体光を露光制御のための輝度情報とする
カメラにおいて、予定絞り開口に対する制御され
た絞り開口の不一致分を、予定シヤツター速度に
補正を加えるように構成したものである。かかる
本発明によれば、AEロツク撮影を行う場合に精
度の良い露光値を得ることができる上に、平均測
光装置を用いて絞り込み測光による露光制御を行
うカメラにおいてもスポツト測光を精度良く行う
ことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は絞り設定回路の一般構成を示すブロツ
ク図、第２図はAEロツク撮影機能を有する絞り
設定回路の一般構成を示すブロツク図、第３図は
本発明の一実施例の構成を示すブロツク図、第４
図は第３図の回路の動作を説明するグラフ、第５
図は本発明の他の実施例を示すブロツク図、第６
図は上記実施例を更に具体的に示したブロツク図
である。 １……撮影レンズ、２……絞り、４……測光回
路、９……電圧比較回路、１０……絞りを係止す
る電磁石。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 撮影レンズの絞りを通過した被写体光を測光
   して、被写体の輝度に対応した輝度信号を出力す
   る測光手段と、 露出動作の開始以前の手動操作に連動して輝度
   信号を記憶するAEロツク手段と、 絞りの絞り込み動作の開始直前における測光手
   段が出力する輝度信号とAEロツク手段に記憶さ
   れた輝度信号との差を記憶する記憶手段と、 絞り込み動作中の測光手段からの輝度信号に記
   憶手段の出力を加算することによつて、AEロツ
   ク時点での輝度に基づく絞り込み動作中の測光手
   段からの輝度信号と同等の輝度信号を出力する加
   算手段と、 参照信号を出力する参照信号出力手段と、 加算信号と参照信号とを比較し、両者が所定の
   関係となつたときに絞り込み停止信号を出力する
   比較手段と、 絞り込み停止信号に応じて絞りの絞り込み動作
   を停止させる絞り込み停止手段と、 絞り込み動作停止後の測光手段からの輝度信号
   に記憶手段の出力を加算することにより、AEロ
   ツク時点での輝度に基づく絞り込み動作完了後の
   測光手段からの輝度信号と同等の輝度信号を出力
   する加算手段からの出力に基づいて露出時間を制
   御する露出時間制御手段とを備えたことを特徴と
   するカメラの露光制御回路。 ２ 参照信号出力手段は、手動設定された露出時
   間に応じた露出時間信号を参照信号として出力す
   ることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の
   カメラの露光制御回路。 ３ 参照信号出力手段は、AEロツク手段に記憶
   された輝度信号に基づいて算出された露出時間に
   応じた露出時間信号を参照信号として出力するこ
   とを特徴とする特許請求の範囲第１項記載のカメ
   ラの露光制御回路。 ４ 擦影レンズの絞りを通過した被写体光を測光
   し、被写体の輝度に対応した第１の輝度信号を出
   力する第１の測光手段と、 第１の測光手段とは測光感度分布が異り、被写
   体の輝度に対応した第２の輝度信号を出力する第
   ２の測光手段と、 絞りの絞り込み動作直前における第１、第２の
   輝度信号の差を記憶する記憶手段と、 絞り込み動作中の第１の測光手段からの第１の
   輝度信号に記憶手段の出力を加算することによつ
   て、絞り込み動作中の第２の測光手段からの第２
   の輝度信号と同等の輝度信号を出力する加算手段
   と、 参照信号を出力する参照信号出力手段と、 加算信号と参照信号とを比較し、両者が所定の
   関係となつたときに絞り込み停止信号を出力する
   比較手段と、 絞り込み停止信号に応じて絞りの絞り込み動作
   を停止させる絞り込み停止手段と、 絞り込み動作停止後の第１の測光手段からの第
   １の輝度信号に記憶手段の出力を加算することに
   より、絞り込み動作完了後の第２の測光手段から
   の第２の輝度信号と同等の輝度信号を出力する加
   算手段からの出力に基づいて露出時間を制御する
   露出時間制御手段と、 を備えたことを特徴とするカメラの露光制御回
   路。 ５ 参照信号出力手段は、手動設定された露出時
   間に応じた露出時間信号を参照信号として出力す
   ることを特徴とする特許請求の範囲第４項記載の
   カメラの露光制御回路。 ６ 参照信号出力手段は、第２の測光手段の第２
   の輝度信号に基づいて算出された露出時間に応じ
   た露出時間信号を参照信号として出力することを
   特徴とする特許請求の範囲第４項記載のカメラの
   露光制御回路。