JPS633511A - 集積化波形変換回路 - Google Patents
集積化波形変換回路Info
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- JPS633511A JPS633511A JP14488786A JP14488786A JPS633511A JP S633511 A JPS633511 A JP S633511A JP 14488786 A JP14488786 A JP 14488786A JP 14488786 A JP14488786 A JP 14488786A JP S633511 A JPS633511 A JP S633511A
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- circuit
- inverting amplifier
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 title description 10
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 9
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims abstract description 8
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims abstract description 8
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims abstract description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 7
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
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- Manipulation Of Pulses (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、／Ｊ％振幅の信号を大振幅の矩形波に１換す
るのに好適な波形変換回路に関し、特に、素子の特性バ
ラツキの影響を受けにくい集積化された集積化波形変換
回路に関するものである。
るのに好適な波形変換回路に関し、特に、素子の特性バ
ラツキの影響を受けにくい集積化された集積化波形変換
回路に関するものである。
小振幅の信号を大振幅の矩形波に変換する波形変換回路
としては、特開昭６０−１１２３１５号公報などに述べ
られている様な回路方式が一般的である。第６図および
第４図に従来の波形変換回路を示す。
としては、特開昭６０−１１２３１５号公報などに述べ
られている様な回路方式が一般的である。第６図および
第４図に従来の波形変換回路を示す。
第３図において、１は入力端子、２は結合コンデンサ、
１４（家相捕型ＭＯ８反転増幅回路（以下、ＣｈｉＯ８
反転増嘱回路と称す）、１５は帰還抵抗である。
１４（家相捕型ＭＯ８反転増幅回路（以下、ＣｈｉＯ８
反転増嘱回路と称す）、１５は帰還抵抗である。
第６図に示す回路の長所は、ＣＭＯＳ反転増幅回路１４
の出力から入力に直流帰還をかけることにより、入力部
がＣＭ０８反転増幅回路１４のスレッショである。
の出力から入力に直流帰還をかけることにより、入力部
がＣＭ０８反転増幅回路１４のスレッショである。
第４図において１は入力端子、２は結合コンデンサ、５
は集積回路の入力端子、１ＳはＣＭＯＳ反転増幅回路、
１９および２２は抵抗として動作するＰチャンネルＭＯ
８トランジスタ、２０はコンデンサである。Ｐチャンネ
ルＭＯ８）ランジスタ１６およびＮチャンネルＭＯ８）
ランジスタ１７で（Ｊ１０８反転増反転路１８を構成し
、ＰチャンネルｈｉＯ８）ランジスタ１９とコンデンサ
２０で減衰器２１を構成している。
は集積回路の入力端子、１ＳはＣＭＯＳ反転増幅回路、
１９および２２は抵抗として動作するＰチャンネルＭＯ
８トランジスタ、２０はコンデンサである。Ｐチャンネ
ルＭＯ８）ランジスタ１６およびＮチャンネルＭＯ８）
ランジスタ１７で（Ｊ１０８反転増反転路１８を構成し
、ＰチャンネルｈｉＯ８）ランジスタ１９とコンデンサ
２０で減衰器２１を構成している。
第４図に示す回路の長所は、帰還回路の高周波利得を下
げることにより、波形変換回路の、総合利得を上げ、入
力信号レベルを下げられることである。
げることにより、波形変換回路の、総合利得を上げ、入
力信号レベルを下げられることである。
［即ち、減衰器２１の減衰度をＫとすると、この回路の
利得Ｂは Ｂ＝−ＧＲ，／（現＋ （１＋ＫＧ）Ｒ１） （１
）となる。ここでＲ２は信号源抵抗、Ｒ２はＰチャンネ
ルＭＯ８）ランジスタ２２の抵抗、ＧはＣＭＯ３反転増
幅回路１８の利得である。（１）式においてＫ＜＜１と
すれは分母の第２項は無視でき、利得Ｂは−ＧとなりＣ
ＭＯＳ反転増幅回路１８の利得がそのまま現われる。
利得Ｂは Ｂ＝−ＧＲ，／（現＋ （１＋ＫＧ）Ｒ１） （１
）となる。ここでＲ２は信号源抵抗、Ｒ２はＰチャンネ
ルＭＯ８）ランジスタ２２の抵抗、ＧはＣＭＯ３反転増
幅回路１８の利得である。（１）式においてＫ＜＜１と
すれは分母の第２項は無視でき、利得Ｂは−ＧとなりＣ
ＭＯＳ反転増幅回路１８の利得がそのまま現われる。
゛さ
〔°発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、上記した第６図の回路では以下に示す問
題がある。この回路において、入力信号の信号源抵抗を
Ｒ１、抵抗１５の抵抗値をＲ，、ＣＭＯＳ反転増幅器１
４の利得をＧとすると、この回路の利得人は、 Ａ＝”’ｔ ／ （”ｔ ＋ （１＋Ｇ ） Ｒｓ ］
（２）で表わせる。したがって、信号源抵抗
の抵抗値Ｒ１が太ぎいと利得ＡはＣＭ ＯＳ反転増幅回
路１４の利得Ｇに比べ小さくなってしまい、七の介入力
レベルを大きくする必要がある。
題がある。この回路において、入力信号の信号源抵抗を
Ｒ１、抵抗１５の抵抗値をＲ，、ＣＭＯＳ反転増幅器１
４の利得をＧとすると、この回路の利得人は、 Ａ＝”’ｔ ／ （”ｔ ＋ （１＋Ｇ ） Ｒｓ ］
（２）で表わせる。したがって、信号源抵抗
の抵抗値Ｒ１が太ぎいと利得ＡはＣＭ ＯＳ反転増幅回
路１４の利得Ｇに比べ小さくなってしまい、七の介入力
レベルを大きくする必要がある。
一方、第４図に示す回路には以下に示す問題点がある。
第４図において、抵抗として動作させろＰチャンネル間
０８）ランジスタ１９は、−定の抵抗値ではな（、ＣＭ
ＯＳ反転増幅回路１８の出力レベルによって抵抗値が変
化する。この抵抗値の変化によって、減衰器２１の減衰
特性が変化し、特に微小交流信号をデユーティ変動少な
（波形整形したい場合には、この減衰器２１の直流電圧
の微小変動が大きな問題となる場合がある。
０８）ランジスタ１９は、−定の抵抗値ではな（、ＣＭ
ＯＳ反転増幅回路１８の出力レベルによって抵抗値が変
化する。この抵抗値の変化によって、減衰器２１の減衰
特性が変化し、特に微小交流信号をデユーティ変動少な
（波形整形したい場合には、この減衰器２１の直流電圧
の微小変動が大きな問題となる場合がある。
本発明の目的は、上記の様な従来の問題点を解決し、小
さい入力信号レベルでも動作し、かつデー−ティ変動が
少ない状態で波形変換が可能な集積化波形変換回路を提
供することにある。
さい入力信号レベルでも動作し、かつデー−ティ変動が
少ない状態で波形変換が可能な集積化波形変換回路を提
供することにある。
そこで本発明においては、バイアス電圧発生用として、
第２のＣＭＯＳ反転増幅回路（インバータ回路）を設け
、この入力と出力をたとえばＭＯＳ）ランジヌタ等で構
成された抵抗で接続し、この第２のＣＭＯＳ反転増幅回
路で最適なバイアス電圧を得、ここで得られた直流バイ
アス電圧と、入力信号とをそれぞれ拡散抵抗で作もねる
第２の抵抗及び第１の抵抗を介して、第１のＣＭＯ３反
転増幅回路に入力し、波形変換するようにした。
第２のＣＭＯＳ反転増幅回路（インバータ回路）を設け
、この入力と出力をたとえばＭＯＳ）ランジヌタ等で構
成された抵抗で接続し、この第２のＣＭＯＳ反転増幅回
路で最適なバイアス電圧を得、ここで得られた直流バイ
アス電圧と、入力信号とをそれぞれ拡散抵抗で作もねる
第２の抵抗及び第１の抵抗を介して、第１のＣＭＯ３反
転増幅回路に入力し、波形変換するようにした。
第２のＣＭＯＳ反転増幅回路は、その入出力電圧特性が
第１のＣＭ ＯＳ反転増幅回路の入出力電圧特性と同じ
となる様に素子のサイズを決定する。この様に設計され
たＣＭＯＳ反転増幅回路において、その出力と入力とを
抵抗を介して結合して負帰還をかげておくことにより、
出力電圧は自動的に入出力電圧特性の最も急峻な点に設
定される。このバイアス回路の出力インピーダンスは低
いため、出力電圧は第２の抵抗を介して第１のＣｈｉ
ＯＳ反転増幅回路に入力する。
第１のＣＭ ＯＳ反転増幅回路の入出力電圧特性と同じ
となる様に素子のサイズを決定する。この様に設計され
たＣＭＯＳ反転増幅回路において、その出力と入力とを
抵抗を介して結合して負帰還をかげておくことにより、
出力電圧は自動的に入出力電圧特性の最も急峻な点に設
定される。このバイアス回路の出力インピーダンスは低
いため、出力電圧は第２の抵抗を介して第１のＣｈｉ
ＯＳ反転増幅回路に入力する。
一方、入力信号は集積回路の入力端子から素子の破壊を
防止するための第１の抵抗を介して上記同様第１のＣＭ
ＯＳ反転増幅回路に入力する。ここで第１佼び第２の抵
抗を拡散抵抗等の同一製造プロセスで形成することによ
り、第１の抵抗と第２の抵抗の抵抗値の比は精度よく保
てるので、第１のＣＭＯＳ反転増幅回路のゲート端子に
生ずる信号レベルはほぼ一定に保つことができ、バラツ
キがない様にできる。
防止するための第１の抵抗を介して上記同様第１のＣＭ
ＯＳ反転増幅回路に入力する。ここで第１佼び第２の抵
抗を拡散抵抗等の同一製造プロセスで形成することによ
り、第１の抵抗と第２の抵抗の抵抗値の比は精度よく保
てるので、第１のＣＭＯＳ反転増幅回路のゲート端子に
生ずる信号レベルはほぼ一定に保つことができ、バラツ
キがない様にできる。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例を添付図面を用いて説明する、
第１図は本発明の一実施例を示す回路図であるつ第１図
において、１は信号入力端子、２は結合コンデンサ、３
は集積回路の入力端子、４は集積回路内部の素子の破壊
を防止するための保護抵抗４′は保護ダイオード、５は
帰還用抵抗、６は第２のＣＭＯＳ反転増幅回路、７は抵
抗５および第２のＣＭ ＯＳ反転増幅回路６で構成され
たバイアス回路、８は抵抗、９は第１のＣＭＯＳ反転増
幅回路である。
において、１は信号入力端子、２は結合コンデンサ、３
は集積回路の入力端子、４は集積回路内部の素子の破壊
を防止するための保護抵抗４′は保護ダイオード、５は
帰還用抵抗、６は第２のＣＭＯＳ反転増幅回路、７は抵
抗５および第２のＣＭ ＯＳ反転増幅回路６で構成され
たバイアス回路、８は抵抗、９は第１のＣＭＯＳ反転増
幅回路である。
バイアス回路７は第１のＣＭＯＳ反転増幅回路９に直流
バイアス電圧を与えるためのもので、第２のＣＭＯＳ反
転増幅回路６の入力と出力は、抵抗５を介して帰還をか
げているから、この出力電圧は自動的に第２のＣＭＯＳ
反転増幅回路６の入出力電圧特性の最も急峻な点に設定
される。このバイアス回路７は単に第１のＣＭＯＳ反転
増幅回路９に直流バイアス電圧を与えるための回路であ
るから、駆動電力の小さいＣＭＯＳ反転増幅回路で構成
することができる。また、第２のＣＭＯＳ反転増幅回路
６を構成するトランジスタの犬ぎさと、第１のＣＭＯＳ
反転増幅回路９を構成するトランジスタの大ぎさを適当
に選定すれば、集積回路表造時のバラツキの影響を受け
ず、直流バイアス電圧と、第１のＣＭＯＳ反転増幅回路
９のヌレツシ、ルド電圧を一致させることができる。
バイアス電圧を与えるためのもので、第２のＣＭＯＳ反
転増幅回路６の入力と出力は、抵抗５を介して帰還をか
げているから、この出力電圧は自動的に第２のＣＭＯＳ
反転増幅回路６の入出力電圧特性の最も急峻な点に設定
される。このバイアス回路７は単に第１のＣＭＯＳ反転
増幅回路９に直流バイアス電圧を与えるための回路であ
るから、駆動電力の小さいＣＭＯＳ反転増幅回路で構成
することができる。また、第２のＣＭＯＳ反転増幅回路
６を構成するトランジスタの犬ぎさと、第１のＣＭＯＳ
反転増幅回路９を構成するトランジスタの大ぎさを適当
に選定すれば、集積回路表造時のバラツキの影響を受け
ず、直流バイアス電圧と、第１のＣＭＯＳ反転増幅回路
９のヌレツシ、ルド電圧を一致させることができる。
さらに、このバイアス回路７の直流電圧は、抵抗８を介
して第１のＣＭＯＳ反転増幅回路９に入力される。−方
、入力信号１は結合コンデンサ２を介して集積回路の入
力端子３に入力されたあと、第１のＣＭＯＳ反転増幅回
路９の素子の破壊を防止するために通常設けられる破壊
防止用保護抵抗４を介して、第１のＣＭＯＳ反転増幅回
路９に入力する。第１のＣＭＯＳ反転増幅回路９に入力
される信号のレベルｅ。は（ここではゲート端子罠現わ
れる信号レベルになる）、入力信号１のレベルをｅ１バ
イアス回路７の出力インピーダンスをＲ６，抵抗８の抵
抗値をＲ１，抵抗４の抵抗値をＲ７とし、Ｒ１＞＞Ｒｏ
とすれば近似的に で与えられる。ここで、抵抗４および抵抗８をたとえば
、拡散抵抗等の同−製造プロセスで形成する様にすれば
、（Ｒ２／ＲＩ ）の比はバラツキなく製造できるから
、第１のＣＭＯＳ反転増幅回路９に入力される入力信号
のレベルｅ０の変動も小さくできることになる。
して第１のＣＭＯＳ反転増幅回路９に入力される。−方
、入力信号１は結合コンデンサ２を介して集積回路の入
力端子３に入力されたあと、第１のＣＭＯＳ反転増幅回
路９の素子の破壊を防止するために通常設けられる破壊
防止用保護抵抗４を介して、第１のＣＭＯＳ反転増幅回
路９に入力する。第１のＣＭＯＳ反転増幅回路９に入力
される信号のレベルｅ。は（ここではゲート端子罠現わ
れる信号レベルになる）、入力信号１のレベルをｅ１バ
イアス回路７の出力インピーダンスをＲ６，抵抗８の抵
抗値をＲ１，抵抗４の抵抗値をＲ７とし、Ｒ１＞＞Ｒｏ
とすれば近似的に で与えられる。ここで、抵抗４および抵抗８をたとえば
、拡散抵抗等の同−製造プロセスで形成する様にすれば
、（Ｒ２／ＲＩ ）の比はバラツキなく製造できるから
、第１のＣＭＯＳ反転増幅回路９に入力される入力信号
のレベルｅ０の変動も小さくできることになる。
第２図は、第１図のさらに具体的な回路構成を示した回
路図である。
路図である。
第２のＣＭＯＳ反転増幅回路６は、ＰチャンネルＭＯ８
）ランジスタ１０およびＮチャンネルＭＯ８）ランジス
タ１１で構成し、第１のＣＭＯＳ反転増幅回路９はＰチ
ャンネ、ＶＬ／ＭＯＳトランジスタ１２．Ｎチャンネル
ＭＯ８）ランジスタ１３で構成している。さらにここで
は、抵抗５としてＰチャンネルＭＯ８）ランジヌタ５を
抵抗素子として使う様な構成とし、抵抗としての占有面
積が小さくなる様にしている。
）ランジスタ１０およびＮチャンネルＭＯ８）ランジス
タ１１で構成し、第１のＣＭＯＳ反転増幅回路９はＰチ
ャンネ、ＶＬ／ＭＯＳトランジスタ１２．Ｎチャンネル
ＭＯ８）ランジスタ１３で構成している。さらにここで
は、抵抗５としてＰチャンネルＭＯ８）ランジヌタ５を
抵抗素子として使う様な構成とし、抵抗としての占有面
積が小さくなる様にしている。
なお、ここでは抵抗５をＭＯＳ ）ランジスタで構成
イする例を示したが、これに限ることはな（、削除して
も機能上問題はない。
イする例を示したが、これに限ることはな（、削除して
も機能上問題はない。
以上説明した様に、本発明による集積化波形変換回路で
は、バイアス電圧は別に設けられた第２のＣＭＯＳ反転
増幅回路を用いて発生させ、このバイアス電圧と、集積
回路の入力端子から入力される信号をそれぞれ同一の製
造プロセスで作られろ抵抗によって第１のＣＭＯＳ反転
増幅回路に入力する様な構成としているので、小さな入
力信号レベルでも動作し、また、第１のＣＭＯＳ反転増
幅回路に入力される信号のレベル変動も少な（安定に波
形変換動作をさせることができる。
は、バイアス電圧は別に設けられた第２のＣＭＯＳ反転
増幅回路を用いて発生させ、このバイアス電圧と、集積
回路の入力端子から入力される信号をそれぞれ同一の製
造プロセスで作られろ抵抗によって第１のＣＭＯＳ反転
増幅回路に入力する様な構成としているので、小さな入
力信号レベルでも動作し、また、第１のＣＭＯＳ反転増
幅回路に入力される信号のレベル変動も少な（安定に波
形変換動作をさせることができる。
さらに第１および第２のＣＭ ＯＳ反転増幅回路を構成
する素子の大きさを適当に選定することにより、バイア
ス回路の直流バイアス電圧と、第１のＣＭＯＳ反転増幅
回路のヌレッシ、ルド電圧を一致させることができるか
ら、デユーティ変動の少ない状態で波形のレベル変換が
可能である。
する素子の大きさを適当に選定することにより、バイア
ス回路の直流バイアス電圧と、第１のＣＭＯＳ反転増幅
回路のヌレッシ、ルド電圧を一致させることができるか
ら、デユーティ変動の少ない状態で波形のレベル変換が
可能である。
第１図は本発明の一実施例を示す回路図、第２図は第１
図に示す実施例のさらに具体的な回路構成を示した回路
図、第３図および第４図はそれぞれ従来の波形変換回路
を示す回路図である。 １：信号入力端子、 ２：結合コンデンサ、３：集
積回路入力端子、 ４：素子破壊防止用保護抵抗、 ６：第１のＣＭＯＳ反転増幅回路、 ９：第２のＣＭＯＳ反転増幅回路、 ７：バイアス回路、 １０．１２ ： ＰチャンネルＭＯ８）ランジスタ、１
１．１３ ： ＮチャンネルＭＯ８）ランジスタ。 第 １ ｌ 躬２力
図に示す実施例のさらに具体的な回路構成を示した回路
図、第３図および第４図はそれぞれ従来の波形変換回路
を示す回路図である。 １：信号入力端子、 ２：結合コンデンサ、３：集
積回路入力端子、 ４：素子破壊防止用保護抵抗、 ６：第１のＣＭＯＳ反転増幅回路、 ９：第２のＣＭＯＳ反転増幅回路、 ７：バイアス回路、 １０．１２ ： ＰチャンネルＭＯ８）ランジスタ、１
１．１３ ： ＮチャンネルＭＯ８）ランジスタ。 第 １ ｌ 躬２力
Claims (1)
- １、第１の抵抗と、該第１の抵抗の一端にその入力が接
続される第１のＣＭＯＳ反転増幅回路と、該第１のＣＭ
ＯＳ反転増幅回路の入力にその一端が接続される第２の
抵抗と、その入出力特性が前記第１のＣＭＯＳ反転増幅
回路とほぼ等しく、且つその出力が前記第２の抵抗の他
端に接続されると共に入力に帰還されているバイアス電
圧発生用の第２のＣＭＯＳ反転増幅回路とを集積化して
成り、信号源からの信号を交流結合用コンデンサを介し
て前記第１の抵抗の他端に入力し、該信号の波形を矩形
波に波形変換して前記第１のＣＭＯＳ反転増幅回路の出
力より取り出すようにしたことを特徴とする集積化波形
変換回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14488786A JPS633511A (ja) | 1986-06-23 | 1986-06-23 | 集積化波形変換回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14488786A JPS633511A (ja) | 1986-06-23 | 1986-06-23 | 集積化波形変換回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS633511A true JPS633511A (ja) | 1988-01-08 |
Family
ID=15372670
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14488786A Pending JPS633511A (ja) | 1986-06-23 | 1986-06-23 | 集積化波形変換回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS633511A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011193095A (ja) * | 2010-03-12 | 2011-09-29 | Panasonic Corp | デジタル信号入力装置 |
| JP2018515991A (ja) * | 2015-05-18 | 2018-06-14 | クアルコム，インコーポレイテッド | レプリカバイアス印加を用いる高速ａｃ結合インバータベースバッファ |
-
1986
- 1986-06-23 JP JP14488786A patent/JPS633511A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011193095A (ja) * | 2010-03-12 | 2011-09-29 | Panasonic Corp | デジタル信号入力装置 |
| JP2018515991A (ja) * | 2015-05-18 | 2018-06-14 | クアルコム，インコーポレイテッド | レプリカバイアス印加を用いる高速ａｃ結合インバータベースバッファ |
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