JPS6333075A - 固体撮像装置 - Google Patents

固体撮像装置

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JPS6333075A
JPS6333075A JP61176290A JP17629086A JPS6333075A JP S6333075 A JPS6333075 A JP S6333075A JP 61176290 A JP61176290 A JP 61176290A JP 17629086 A JP17629086 A JP 17629086A JP S6333075 A JPS6333075 A JP S6333075A
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JP
Japan
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line
transistor
gate
source
sit
Prior art date
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Pending
Application number
JP61176290A
Other languages
English (en)
Inventor
Junichi Nakamura
淳一 中村
Toyokazu Mizoguchi
豊和 溝口
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
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Priority to US07/066,424 priority patent/US4806779A/en
Publication of JPS6333075A publication Critical patent/JPS6333075A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/76Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、静電誘導トランジスタを用いた固体撮像装置
に関する。
〔従来の技術〕
従来、固体撮像装置としてはMOS)ランジタスを使用
したもの、或いはCOD、BBD等の電荷結合デバイス
を使用したものが一般的である。しかし、MO3I−ラ
ンジスタを使用したものは、出力信号が微弱であり、信
号対雑音比が悪く、光感度も低いと云う欠点があり、ま
たCOD、BBD等を用いたものは電荷転送時に電荷の
損失があり、製造も困難である等の欠点がある。これら
の欠点を解決するものとして、例えば本願人の出願に係
わる特開昭58−105672号公報に開示されている
ような、各画素に静電誘導トランジスタ(Static
 Induction Transistor ;以下
SITと称する)を備えた固体撮像装置が提案されてい
る。
更に、本発明者等は、上記出願の発明を改良した固体撮
像装置も種々提案しており、この内の1つの例を第7図
につき説明する。
第7図Aは、SITにより固体撮像装置を構成する一画
素の構造図であり、第7図Bは固体撮像装置の回路構成
図である。
第7図Aにおいて、SITのドレインとして作用するn
゛シリコン基板1上にはチャネル領域となるn−エピタ
キシャルN2が堆積されている。このエピタキシャル層
2には浅いn0ソース領域3が形成されており、このソ
ース領域3はエピタキシャル層2内でp゛ゲート2M域
4よって囲まれている。ゲート領域4上にはMOSキャ
パシタ5が形成されており、このキャパシタ5を介して
パルスが供給される。ゲート領域4が逆バイアスされる
と、このゲート9M域の外側には空乏層が形成される。
この空乏層の箇所に光が入射して正孔−電子対が生成さ
れると、電子はソース3及びドレイン領域1に掃き出さ
れ、正孔はゲー) ?iJi域4に蓄積されるようにな
る。このためゲート電位が上昇し、ドレインとソースと
の間の電流は上記電圧変化により変調され、光に依存し
て増幅された信号が得られる。なお、第7図Aにおける
6は各画素を分離するための分離領域である。
第7図Bにおいて、10−11.10−12.−・・・
−10−21゜10−22.・・・・・・−・・・、・
・−・−・−、10−44は、それぞれ第7図Aに示し
た構成を有している画素を構成するSITであり、ここ
では説明を便宜上これらのSITを4行4列に縦横に配
列した例を示している。′4?iに配列されるSITの
各ソースは列ライン11−1.11−2.−・・−−−
−−−−11−4に共通に接続されており、これらの列
ラインは水平選択スイッチを構成するトランジスタ13
−1.13−2.・・−・・−・〜・13−4を介して
ビデオライン14に接続されている。水平選択スイッチ
13−1〜13−4の各ゲートは水平走査回路15に接
続されており、これらの各ゲートには水平走査パルスφ
81.φ3!、−・−・−・φ、4が加えられる。
一方、横に配列されるSITのゲートはキャパシタを介
して行ライン12−1.12−2.−・・・−・・・・
・12−4にそれぞれ接続されており、これらの各行ラ
インは垂直走査回路16に接続されて、垂直走査パルス
φ。3.φ、、−・−・−・φ64を上記様に配列され
るSITのゲートに印加する。
上記垂直走査パルスが成る行ラインに印加されることに
より画素行が選択され、水平走査パルスにより画素列が
選択されると、交点の画素の光信号電荷が読み出される
。このようにして、水平及び垂直走査パルスが順次出力
されることにより各画素が順次走査されて1画面分の信
号が得られる。
第8図は上記固体撮像装置を動作させるパルスのタイミ
ングを示す信号波形図を示し、第9図は該装置のエリア
センサの中の1つの画素SITに着目した場合の回路構
成図である。
第8図において、ゲート選択(垂直走査)パルスφ。は
2種類の高レベルVIID及びv、I!を有するパルス
であり、各ラインの水平走査期間1M間は読み出しレベ
ルVRDO値をとり、それに続く水平ブランキング期間
tlLにはリセットレベル■。となる。ソース選択(水
平走査)パルスφ、は各水平走査期間ごとに高レベルと
なり、横に並ぶ画素を順次走査する。リセットパルスφ
lIsは各水平ブランキング期間ごとに高レベルとなる
パルスであり、信号が読み出された画素のリセット作用
を行なう。
第9図において、画素SITのゲート電位V5 、ソー
ス電位V、の時間的な変化を説明する++CODはゲー
ト・ドレイン間の寄生容量。
CCSはゲート・ソース間の寄生容量、Csはソースラ
インの浮遊容量I RONは水平選択用のMOSトラン
ジスタT、のオン抵抗である。
第10図は、上記固体撮像装置における画素SITに、
水平走査パルス−3,垂直走査パルスφ。、リセ7)パ
ルスφつが印加された時の画素SITのゲート電位VG
+  ソース電位■、の時間的な変化を示したものであ
る。なお、φ、は後述するゲート・ソース間のビルトイ
ン電圧である。
以下、第8図〜第10図を参照して順次に説明をする。
+11時間t、において φm−V□(〉φB)、φえがHighレベルになると
ソース電位V、はGNDにリセットされ、■G =φヨ
 (ゲート・ソース間のビルトイン電圧)となる。
(2)時間t2において パルスφG、φ、がGNDになると、ゲート電位v、、
は次式で与えられる逆バイアス状態となり、光積分を開
始する。
ここで、C1−Cas + Ca。
(3)時間t3において 光積分時間であり、光の照射によって生成されたQ、は
ゲート容量(Cc +CJ )に蓄積される。上記Q。
は次式で与えられる。
Qph”” Gt  ’ A−P ’ t !hc−G
L−A−E   −・−・−(2)ここで、GLは生成
率(μA/μW)、Aは受光面面積(cd) Pは光の
放射照度(μW/cd) 、  t 1fitは積分時
間(S)、Eは露光量(E = P−t tat ) 
テある。ゲート電圧V、は上記(1)式及び(2)式よ
り G (4)時間t4において φG−v111.になるとゲート電位v0はC,+CJ となる* V G 4 > ”J Pであると(ここで
、Vデは画素SITのドレイン電流が流れ始めるゲート
・ソース間電位差でありピンチオフ電圧と称している)
画素SITのドレイン電流・が流れ、ソースライン容量
C8を充電する。この充電はゲート・ソース間の電位差
vesがV、となるまで続く、従って、ソース電位は次
式で与えられる。
V、<φ3であるので、画素SITのp0ゲートからn
1ソースへの電位はほとんど流れない。
(5)時間t、において パルスφ、がHighレベルとなり、ソースラインはM
OS)ランジスタT3  (オン抵抗R0N)を通して
負荷抵抗RLに接続される。出力■。utは時間的に変
化し次式で与えられる。
第11図は水平選択パルスφ3がHighレベルとなっ
た時の画素SITのゲート電位■6.ソース電位VS、
出力■。、の時間的な変化を示す。第11図において、
水平選択パルスφ、がHighレベルになると画素SI
Tのp0ゲートとn0ソースは順方向となりpnダイオ
ード電流が流れ、ゲート容量に蓄積された信号電荷は、
ソースに流出する。すなわち、光信号電荷は破壊され、
ゲート電位■。、ソース電位v3共に減少する。
従って、上記(6)式で与えられる出力V o u t
 は、上記(5)式と同(6)式のV、(t)に代入し
た時の値よりも小さくなる。
〔発明が解決しようとする問題点1 以上の説明から明らかなように、従来の光電変換素子と
してSITを用いた固体撮像装置においては、光信号電
荷の読み出し時に光信号電荷が流出する、いわゆる破壊
読み出しであり、出力電流も従来のMOSセンサーに比
較してかなり大きいものの、更に大出力化への期待に対
して対応することができない。
本発明は上記従来の種々の欠点に着目してなされたもの
で、橿めて多数の画素数を有し、高い光感度、優れた高
性能、高密度、且つ積分時間内にその積分時間に応じた
画素信号を非破壊で読み出すことのできる固体撮像装置
を提供することを目的とする。
c問題点を解決するための手段及び作用〕上記口約達成
のだめの本発明による固体撮像装置の基本回路構成を第
1図に示す。
第1図において、静電誘導トランジスタ(SI T )
 30−11.30−12.・・−・−・・−・−30
−23はマトリックス状に縦横に配列し、縦に配列する
SITの各ソースは列ライン31−1.31−2−・−
・−・・・−に共通に接続し、横に配列するSITのゲ
ートはキャパシタを介して行ライン32−1 、32−
2.−・−・・・−にそれぞれ接続する。上記列ライン
は水平選択スイッチを構成するトランジスタ33−1.
33−2.−・−・〜・−・−を介してビデオライン3
4に接続されている。このビデオライン34にはリセッ
ト用トランジスタ35が設けられている。上記トランジ
スタ33−1.33−2.−・−一−−−−−・の各ゲ
ートは水平走査回路36に接続されており、各ゲートに
は水平走査パルスφ1.φ5!+・−・−・−が加えら
れる。また、上記列ライン31−1.32−2−・・・
・−にはMoSトランジスタから成るスイッチ37−1
゜37−2.・・−・−を設けるか又は設けない構成(
図示せず)になっている、上記行ライン32−1.32
−2・・・−−−一−−−には垂直走査回路38に接続
されて、垂直走査パルスφ。1.φ。2.−・−・−を
上記横に配列されるSITのゲートに印加する。
上記のような構成により、静電誘導トランジスタとキャ
パシタとから成る画素にて光信号電荷が増幅された際に
、上記リセット用トランジスタに印加するパルスが)I
ighレベルになったとき行ラインに印加するパルスを
l、owレベルとして、上記静電誘導トランジスタのゲ
ート容量に蓄積された光信号電荷を破壊することなく該
光信号電荷に応じた出力を取り出すようにしたものであ
る。
〔実施例〕
本発明による固体撮像装置の実施例を図面を参照して説
明する。
第2図は本発明の第1の実施例を示す回路構成図であり
、本実施例では本出願人が既に提案した上記固体撮像装
置における回路構成の負荷抵抗の代りにMOS)ランジ
スタを設けたものである。
第3図は画素を構成する各SITのソース又はゲートに
加える本実施例のパルスのタイミングを示す信号波形図
である。なお、本実施例の一画素の構造図は第7図Aと
同様であるのでその説明は省略する。また、本実施例で
は画素を構成するSITを便宜上、4行4列に縦横に配
列した例を示す。
第2図および第3図において、上記第7図Aと同一構造
を有している各画素を構成する静電誘導トランジスタ(
S I T )40−41.40−12.−・−・−−
−−−−40−14,40−21,40−22,・−・
−・・−40−24,−・・・−・・−40−44はマ
トリックス状に縦横に配列し、縦に配列するSITの各
ソースは列ライン41−1.41−2.・・−・・−4
1−4に共通に接続し、横に配列するSITのゲートは
キャパシタを介して行ライン42−1.42−2.・−
・・−42−4にそれぞれ接続する。列ライン41−1
.42−2゜・−・・・・・41−4には上記S I 
T2O−11,−−−−−−・・−・40−44のソー
スを接続し、この列ラインには水平選択スイッチを構成
するトランジスタ43−1.43−2.・−・・−・−
43−4を介してビデオライン14に接続する。このビ
デオライン44には、エンハンスメント型のMOSトラ
ンジスタ51のゲートを接続し、このMOSトランジス
タ51のソースとデイプリージョン型のMo3)ランジ
スタ52のドレインを接続し、このMo3I−ランジス
タ52のゲートとソースを接地する。更に、この接続点
と上記ビデオライン44に[Eしたエンハンスメント型
のMOSトランジスタ53のソースを接続する。上記M
OSトランジスタ51と同52によってオンチップのソ
ースフォロワ型のアンプ54を構成する。なお、ソース
フォロワ型のアンプ54は2段の回路i成としてもよい
、上記MOS)ランジスタ51のドレインに電位源■、
を接続し、また、MOSトランジスタ53のゲートには
リセットパルスφえ。
が印加されるようにし、更に、MOSトランジスタ51
と同52のそれぞれのソースとドレインの接続点にはビ
デオライン44からの画像出力信号V ou&を取り出
すように構成する。上記水平選択スイッチ用のトランジ
スタ43−1.43−2.・・・−・・・・・−43−
4の各ゲートは水平走査回路45に接続し、上記各ゲー
トには・水平走査パルスφ58.φ、2−・・・・・・
−・φ、4を印加する。また、上記行ライン42−1.
42−2.・−・−・−・42−4は垂直走査回路46
に接続し、これらの行ラインには垂直走査パルスφ61
.φ。Zr−・・−・φ64を印加する。
第3図においては、所定の積分時間j!fit内で1回
の非破壊読み出しを行なっている。
(I)の読み出し及びリセット動作によって積分を開始
する。この読み出しは上述の従来例の場合と同様である
(II)の非破壊読み出し動作において、φct=φ。
となるとSITのソース電位V、は上記(5)式で与え
られる値となる。上述のようにvPくφ、である為、S
ITのp′″ゲートからn4ソースへの電流は流れずソ
ースライン容量C8は、SITのドレイン・ソース電流
によって充電される。φ、IがHighレベルになると
ソースラインの電位v3はMO5I−ランジスタ51の
ゲートに伝達されて出力Voutは、 Voutma・■3 となる。ここでaはソースフォロワ型のアンプ54の利
得(a<1)である、電流が流れる経路がない為、SI
Tのゲートに蓄積されている光信号電荷は保持されたま
まである。更に、上述の第11図と比較してソース電位
V、をそのまま読み出す為にVOIIL −a−V’s
 (但し、aく1)となるが、大出力が得られることに
なる。
次に、上述の従来例の読み出し方式において、φc 、
−V l sとしたタイミングにφc r = G N
 DとすればSITはリセットされることなくゲート電
圧はφG、 −’J 、l、で印加時の値に戻り積分を
続行することができる。すなわち、非破壊読み出しが実
現できることになる。
(I[[)の読み出し及びリセット動作によって光信号
電荷の読み出しが行なわれ新たな積分動作が開始される
。第3図においては1回の非破壊読み出しを行なってい
るが、これは1回に限らず光信号電荷が飽和する以前で
あれば何回でも非破壊読み出しを行なうことができる。
第4図は本発明の第2の実施例を示す回路構成図であり
、ここに第2図と同様な作用を成す素子には同一参照番
号を付け、その説明は省略する。
本実施例では、水平選択スイッチを構成するトランジス
タ43−L 43−2.・−・・−・−・43−4と列
ライン41−1.41−2.・・−・・・・・−41−
4との間にMOS)ランジスタ47−1 、47−2.
・−・−・−47−4を設けたものである。これらMO
3I−ランジスタの各ドレインは表面より電極を介して
配線し、電源V66に共通に接続する。動作は第3図に
示すパルスタイミングにより上記第1の実施例と同様の
動作をする。ゲート選択パルスφG1が電圧レベルVI
Dとなることにより行ライン42−1が選択され、各画
素を構成するS I T2O−11,40−12,・・
・・・−・−40−14のゲート電位に応じて列ライン
41−1の電位が上昇する。続いてソース選択パルスφ
、lが高レベルとなることにより水平選択スイッチを構
成するトランジスタ43−1がターン・オンし、MOS
トランジスタ47−1は列ライン41−1に接続された
MOSゲート電位の上昇に応じた電流をアンプ54に出
力し、従ってS I T2O−11の画素信号が読み出
される。
以下同様にしてS I T2O−12,40−13,4
0−14の信号が順次読み出され、続く水平ブランキン
グ期間にリセントバルスφ■が高レベルとなることによ
りS I T2O−11,40−12,−・−・−・−
40−14及び列ライン41−1.41−2.・−・−
・・−・−・41−4のリセットが行なわれる。以下同
様にしてS I T2O−21,40−22,−−−−
−−−・−40−31,40−32,・−・・−40−
44の各画素の信号読み出し、リセットが行なわれ一画
面の信号が得られる。
MOS)ランジスタを用いた場合の固体撮像素子の回路
構成としては、第4図に示した以外に種々の変形が可能
である。第5図A、B、C及びDはそれらの変形例の一
部分を示したもので1す、ここに第4図と同様な作用を
成す素子には同一参照番号を付して示しである。なお、
第6図は第5図B、C及びDの実施例のパルスのタイミ
ングを説明する信号波形図である。
第5図AはMOS)ランジスタ47−L47−2.−・
−・−1−1・−の各ドレインを電RV o。でなく、
水平走査回路の出力φ、1.φg工、−・・・・・・−
に接続したものであり、このようにすれば’l RV 
o oの配線が不要となる。
第5図BはMOS)ランジスタ47−1.4’7−2.
−・−のドレインへの電源VDDの接続をオン・オフす
るものであり、MO3I−ランジスタ47−1 、47
−2、−・・・−・−のソースは共通にアンプ54に接
続し、これらのMOSトランジスタのドレインのドレイ
ンと水平選択スイッチ用トランジスタ43−1.43−
2、・・−・・−との接続点には、これらの接続点をリ
セットさせるためにMOS)ランジスタ49−1.49
−2−・−・−・−を接続する。MOSトランジスタ4
9−1.49−2.・−・・−・・のゲートには、第6
図に示すように、ソース選択パルスφ56.φ、2.・
・・−・−・が低レベル状態にある期間中これらのトラ
ンジスタ49−1.49−2.−一・・−・・・・をタ
ーン・オンさせるためのパルスφ、を供給する。
第5図Cは列ライン41−1.41−2.・−・・・・
とMOSトランジスタ47−1.47−2.・−・・−
・のゲートとの接続をオン・オフするものであり、MO
Sトランジスタ47−1.47−2.−・・・・・・−
のドレインと水平選択スイッチ用トランジスタ43−1
.43−2.−・−・−・・との接続点には、これらの
接続点をリセットさせるためにMOS)ランジスタ49
−1.49−2.−・−・・−を接続する。
これらのMOSトランジスタのゲートには第6図に示す
ようにソース選択パルスφ31.φSZ+・−・−・−
が低レベル状態にある期間中に、これらのMOSトラン
ジスタ49−1.49−2.・−・・−・・・をターン
・オンさせるためのパルスφHを供給する。
第5図りは水平選択スイッチ用トランジスタ43−1.
43−2.・−・−・−によって選択された各列ライン
41−1.41−2.・−・・−・−の電位を単一のM
OSトランジスタ47でのゲートを受けて出力するもの
である。
列選択ライン60には、このラインをリセットさせるた
めにMOS)ランジスタ49を接続する。
このMOS)ランジスタ49のゲートには第6図に示す
ようにソース選択パルスφ88.φSZ+’−・・・−
・・・が低レベル状態にある期間中にこのMOSトラン
ジスタ49をターン・オンさせるためのパルスφイを供
給する。
(発明の効果〕 本発明による固体撮像装置は、MOSトランジスタ、C
CD等による固体撮像装置では実現不可能な非破壊読み
出しのできる固体撮像装置を提供することができる。
従って、新たな画像処理等への応用が期待される。また
、同時に非破壊読み出しが行なえるような回路構成であ
るので、例えば、ソースラインをMO3I−ランジスタ
のゲートに接続することにより従来の読み出し方式より
も大出力電圧が得られろ。
さらに本発明による固体撮像装置は、従来と全く同一の
工程を用いて製造することができ、製造の困難性或いは
コストアップ等を生じないで固体撮像装置を提供するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による固体↑最像装置の基本回路構成図
; 第2図は本発明による固体撮像装置の第1の実施例を示
す回路構成図; 第3図は第2図の第1の実施例の動作を説明するための
信号波形図; 第4図は同じく本発明による固体撮像装置の第2の実施
例を示す回路構成図; 第5図はA、B、C,及びDは第4図の第2の実施例の
種々の変形例を示す回路構成図;第6図は第5図の種々
の変形例の動作を説明するための信号波形図; 第7図A及びBは従来の固体撮像装置を構成する一画素
の構造図及び該装置の回路構成図;第8図は従来の固体
撮像装置の動作を説明するための信号波形図; 第9図は従来の固体撮像装置のエリアセンサの中の画素
SITの回路構成図; 第10図は従来の固体↑最像装置の画素SITにパルス
が加わったときの時間的変化を説明するための信号波形
図; 第11図は同じ〈従来の固体撮像装置の画素SITにパ
ルスが加わったときの時間的変化を説明するための信号
波形図をそれぞれに示すものである。 3041.30−12.・・・−・−・−・−、30−
21,30−22,−・−・−、40−11゜40−1
2.・・・−・・−、40−21,40−22,−・−
−−−−・・、−・−・−・・・−静電誘導トランジス
タ。 31−1.31−2.−・・・・・・・−・、 41−
1.41−2.−・−1・−・石・列ライン32−1.
32−2.−・・・・−、42−1,42−2,−−−
−−、−−m−−・曲杆ライン35.49,53.−・
−・・・・−・リセット用トランジスタ。 37−1.37−2.−−・・・・−・−・、 47−
1.47−2.−・・、−曲スイッチ特許出廟人 オリンパス光学工業株式会社:  ) ゛、−一ノ 第1図 第6図 第7図 第7図 第8図 第9図 第10図 第11図 手舵売ネ…正書 (自 発)           )
昭和61年11月20日 1、事件の表示 第 昭和61年特許願176290号 2、R明の名称 固体撮像装置 3、?[i正をする者 :別紙) (1)明細書第2頁第11行の「本願人の出願に係わる
」を削除する。 (2)同書第5頁第3行の「光信号電荷」を「光信号電
流」に訂正する。 (3)同書第5頁第19行の「φ。」を「φえ」に訂正
する。 (4)同書第6頁第18行の[φm”V*s(>φ、」
を「φ。−V’s(>φ、)」に訂正する。 (5)同書第7頁第6行の(11式 訂正する。 (6)同書第7頁第9行〜同頁第10行の「生成された
Q、k」を「生成された光電荷Q□」に訂正する。 (7)同書第9頁第1行〜同頁第4行のrVaa−−・
−・・・・・・−・・−・・−・・−はとんど流れない
、」をV、<φ、であるので、画素SITのP1ゲート
上からn゛ソースの電流はほとんど流れない。」 (8)同書第10頁第4行の「上記(5)式とJを「上
記(5)式を」に訂正する。 (9)同書第10頁第9行の「光信号電荷」を「光信号
」に訂正する。 (10)同書第12頁第4行〜同頁第5行の「光信号電
荷が増幅された後に、」を「光信号が読み出された後、
」に訂正する。 (11)同書第12頁第9行〜同頁第10行の「破壊す
ることなく該光信号電荷」を「破壊することなく次の読
み出し期間に該光信号電荷」に訂正する。 (12)同書第13頁第9行のr40−41Jをr40
−11Jに訂正する。 (13)同書第15頁第13行の「φ、」を「φ富」に
訂正する。 (14)同書第16頁第8行〜同頁第14行の「vo。 〒−a−Vえ、−・−・・・・・−・−続行することが
できる。」を次のように訂正する。 rVouy =a−Vs  (但し、aく1)となるが
、大出力を得られることになる。 次に、上記の従来例の読み出し方式において、φ。−V
□としたタイミングにφ、−GNDとすればSITはリ
セツトされることなくゲート電圧はφ。−V。印加時の
値に戻り積分を続行することができる。」 (15)同書第17貰第19行の「列ライン41−1の
電位が上昇する。」を「列ライン41−1.41−2゜
41−3 、41−4の電位が上昇する。」に訂正する
。 (16)同書第18頁第2行〜同頁第5行のrMo S
トランジスタ・・−−−一−−−−読み出される。」を
次のように訂正する。 rMo3)ランジスタ47−1とトランジスタ43−1
を介してソースライン41−1の電位を読み出し、従っ
てS I T2O−11の画素信号が読み出される。」 (17)同書第19頁第10行の「共通にアンプ54に
接続」を「共通に負荷抵抗RLに接続」に訂正する。 (18)同書第21頁第10行〜同頁第14行の「同時
に・=・−・・−電圧を得られる。」を削除する。 (19)同書第22頁第8行の「及びD」を削除する。 (20)明細書に添付した図面の内、「第1図」。 「第3図」、「第4図」、「第5図A」、「第5図B」
、「第5図C」をそれぞれ別添の図面のように訂正し差
し替える。 (21)明細書に添付した図面の内、「第5図DJを特
徴する

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 複数本の行ラインと、複数本の列ラインと、上記列ライ
    ンにソース電極を接続した静電誘導トランジスタと、上
    記静電誘導トランジスタのゲート電極と前記行ラインと
    の間に接続されたキャパシタと、上記列ラインに接続さ
    れたリセット用トランジスタと列ラインにスイッチを介
    しまたは該スイッチを設けないでゲートが接続されたト
    ランジスタとを備え、上記静電誘導トランジスタのゲー
    ト容量に蓄積された光信号電荷を破壊することなく該光
    信号電荷に応じた出力を取り出すようにしたことを特徴
    とする固体撮像装置。
JP61176290A 1986-07-26 1986-07-26 固体撮像装置 Pending JPS6333075A (ja)

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US07/066,424 US4806779A (en) 1986-07-26 1987-06-25 Solid-state image pickup apparatus using static induction transistors for performing non-destructive readout

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