JPS6332358A - 撮像装置 - Google Patents

撮像装置

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Publication number
JPS6332358A
JPS6332358A JP17391686A JP17391686A JPS6332358A JP S6332358 A JPS6332358 A JP S6332358A JP 17391686 A JP17391686 A JP 17391686A JP 17391686 A JP17391686 A JP 17391686A JP S6332358 A JPS6332358 A JP S6332358A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
optical system
imaging
illumination means
lead
Prior art date
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Pending
Application number
JP17391686A
Other languages
English (en)
Inventor
Fumio Komachi
小町 文夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP17391686A priority Critical patent/JPS6332358A/ja
Publication of JPS6332358A publication Critical patent/JPS6332358A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806Specially adapted optical and illumination features

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的1 (産業上の利用分野) この発明は、例えば製品の外観検査等に使用されるms
装置に関する。
(従来の技術) 従来のm像装置を、DIP形のICの外観検査に使用さ
れるものを例にとり、第5図および第6図を用いて説明
する。
第5図中、1は、被検査体であるDIP形のICで、D
IP形のICIは、パッケージ本体2の両側にリード3
a、3bが2列に並んでいる。
このようなIC1の外観検査の対象は、主としてリード
3a13bの部分となるので、検査面、即ち撮像対象と
なる面は、その左右両側に2面存在する。
IC1等の製品の外観検査は、通常、自動的に効率よく
行なわれるので、左右両側の検査面は同時に189され
る。このため撮像手段は、IC1を中心として、その左
右に、同一構造のものが対向して2基備えられる。
第5図には、この2基のうち、リード3a側のもののみ
について示されている。4はその撮像手段となるカメラ
で、カメラ4にはイメージセンサ5およびレンズ6が備
えられている。7は照明手段で、反射光式のものが用い
られている。
そして、照明手゛段7で、撮像対象であるIC1のリー
ド3a側の面が照明され、その反射光により、レンズ6
を通してイメージセンサ5の受光面に、その撮像対象が
結像されて、搬像が行なわれる。イメージセンサ5から
は、その搬像対象に対応した画像信号が出力され、これ
に所要の画像処理が行なわれて、デイスプレィ等に第6
図に示すようなポジ画像が表示される。
IC1のにリード3b側の面についても、上記と同様の
囮鍮および所要の画像処理等が同時に進行し、そのポジ
画像がデイスプレィ等に別途に表示される。
IC1の外観検査は、この同時に表示される両検査面の
画像により行なわれる。
しかしながら、上記の画像入力装置にあっては、複数個
存在する検査面の各面について、同一構造の撮像手段を
複数基必要としていたため、コスト高につくとともに、
装置が大形化してしまうという問題点があった。
次いで、第7図は、他の従来例を示すもので、この従来
例は、照明手段をランプ9およびプリズム状のミラー1
1で構成し、撮像対象であるり−ド3a、3bの部分を
背面側から照明して、透過光によりイメージセンサ5の
受光面に撮像対象を結像させるようにしたものである。
この従来例においても、IC1の左右両側の検査面は、
同時に撮像されるので、カメラ4は、IC1を中心とし
て、その左右に、2基備えられているが、第7図中には
、リード3b側のものについては図示省略されている。
ランプ9からの光は、ミラー11で反射して左右に進行
し、その透過光により、リード3a、3bの両撮像対象
が、レンズ6を介して左右両側に備えられたイメージセ
ンサ5の受光面に同時に結像し、撮像が行なわれる。
イメージセンサ5から出力される画像信号に、所要の画
像処理が行なわれて、デイスプレィ等には、第8図に示
すようなネガ画像が表示される。
このように、この実施例では、前記第6図のポジ画像と
は、特性の異なったネガ画像が得られるので、このネガ
画像により、異なった角度からIC1の外観検査が行な
われる。
しかしながら、第7図の従来例においても、複数個存在
する検査面の各面について、同一構造の撮像手段を複数
基必要としていたため、前記第5図の従来例と同様の問
題点があった。    ″(発明が解決しようとする問
題点) 従来は、複数個存在する検査面、即ち複数の撮像対象に
ついて、同一構造の撮像手段をそれぞれ必要としていた
ため、コスト高につくとともに、装置が大型化してしま
うという問題点があった。
この発明は上記事情に基づいてなされたもので、装置の
小形化およびコスト低減を図ることのできる搬像装置を
提供することを目的とする。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段) この発明は上記問題点を解決するために、複数の撮像対
象を撮像する単一の撮像手段と、複数の撮像対象を照明
する照明手段と、該照明手段で照明された複数の1ll
i@対象を前記撮像手段の受光面に結像させる光学系と
を有することを特徴とする。
(作用) 照明手段で照明された複数の撮像対象が、光学系により
、単一の撮像手段の受光面に同時に結像して撮像される
。撮像手段から出力される複数のR像対象に対応した画
像信号は、記憶手段に記憶されたのち、適宜に画像処理
系に供給される。
(実施例) 以下、この発明の実施例を第1図〜第4図の(A)、(
B)に基づいて説明する。
第1図は装置本体部の構成図、第2図は多値信号を記憶
する多値メモリおよび画像処理回路部等を含む信号処理
回路のブロック図、第3図の<A)、(B)は撮像対象
を反射光で両画した場合の画像等を示す図、第4図の(
A>、(B)は画像対象を透過光で搬像した場合の画像
等を示す図である。
なお第1図等において、前記第5図および第7図におけ
る機器ならびに部材等と同一ないし均等のものは、前記
と同一符号を以って示し、重複した説明を省略する。
まず第1図を用いて装置本体部の構成から説明すると、
この実施例では、ICIに対する両検査面、即ちリード
3a、3bの部分の両撮像対象に対して単一のカメラ4
が配設されている。
両撮像対象を照明する照明手段としては、前記第5図中
に示したものと同様の反射光式の第1の照明手段7.8
と、ランプ9およびプリズム状のミラー11からなる前
記第7図に示したものと同様の透過光式の第2の照明手
段とが備えられている。
12は遮光板で、第1の照明手段における左右両側の照
明7.8からの光が相互に影響を及ぼすのを避けるため
に配設されている。
13a、13bは、第1の照明手段7.8に対する電源
、13cは第2の照明手段を構成するランプ9に対する
電源である。
電源13a、13bおよびび電源13cの電源線路には
、照明切替手段14が配設されている。
照明切替手段14で電源の供給が切替えられて、第1の
照明手段7.8および第2の照明手段9.11の作動が
切替えられる。
そして、第1の照明手段7.8、または第2の照明手段
9.11で照明される両撮像対象を、カメラ4のイメー
ジセンサ5の受光面に共通に結像させるため、第1の光
学系15および第2の光学系16が対称的に配設されて
いる。
第1の光学系15は、ミラー17.18.19で構成さ
れ、第2の光学系16は、ミラー21.22.23で構
成されている。
次いで、第2図を用いて多値メモリ等を含む信号処理回
路を説明する。
カメラ4の出力端子は、アンプ24およびA/D変換器
25を介して多値メモリ26に接続されている。
また多値メモリ26の出力端子は、多値量子化回路部2
7における平均値作成部28、スライスメモリ29およ
び量子化部3oを介して第1の二値メモリ31に接続さ
れている。
32は固定量子化回路部、33は画像処理回路部で、画
像処理回路部33には、画像処理cPU34および画像
処理メモリ35等が備えられている。
次に作用を説明する。
照明切替手段14で、電源13a、13bが第1の照明
手段7.8に通じるように切替えられると、Iolの検
査面である両リード3a、3bの部分が、その表面側か
ら第1の照明手段7.8により、同時に照明される。
リード3a側の像で反射した反射光は、第1の光学系1
5であるミラー17.18.19で反射されて、レンズ
6を通してイメージセンサ5に入射し、その受光面にリ
ード3a側の像が結像される。
これと同時に、リード3b側の像で反射した反射光は、
第2の光学系16であるミラー21.22.23で反射
されて、レンズ6を通してイメージセンサ5に入射し、
その受光面にリード3b側の像が結像される。
而して、リード3a側およびリード3b側の両搬像対象
が、同一のイメージセンサ5の受光面に同時に結像して
撮像される。
カメラ4からは、両県象対象に対応した画像信号が出力
され、アンプ24で適宜レベルに増幅されたのち、A/
D変換器25で256階調の多値画像データに変換され
、多値メモリ26に記憶される。
IC1の外観検査は、白、黒の画素からなる二値画像で
行なわれるので、多値メモリ26に記憶された多値画像
データは、さらに平均値作成部28、スライスメモリ2
つおよび量子化部3oを経て二値画像データに変換され
、第1の二値メモリ31に記憶される。
そして、ざらに二値画像データは、画像処理回路部33
における画像処理メモリ35に入力され、当該画像処理
回路部33で、適宜の画@処理が行なわれて、図示省略
のデイスプレィ等に第3図(B)に示すような、ポジの
二値画像が表示される。
二値画像は、リード3a、3bの部分の両搬像対象が、
対称的に配置されたパターンとなり、この二値画像から
IC1の外観の良、否が検査される。
一方、照明切替手段14で、電源13Cがランプ9に通
じるように切替えられると、第2の照明手段9.11が
作動してIC1の両リード3a、3b部分の撮像対象が
、背面側から同時に照明される。
リード3a側の象を透過した透過光は、第1の光学系1
5およびレンズ6を通してイメージセンサ5に入射し、
その受光面にリード3a側の像が結像される。
これとほぼ同様にして、リード3b側の像が、第2の光
学系16およびレンズ6を通して、イメージセンサ5の
受光面に同時に結像される。
而して、前記と同様にして、両@象対象が単一のカメラ
4で同時に撮像され、カメラ4から出力された画像信号
が、多値画像データに変換されて多値メモリ26に記憶
される。
多値画像データは、ざらに二値画像データに変換され、
第1の二値メモリ31を経て、画像処理メモリ35に受
入れられる。
透過光により撮像された二値画像は、第4図(B)に示
すような、ネガの二値画像として表示される。
したがって、ポジ、ネガの両二値画像を用いることによ
り、ICIの外観が確度よく検査される。
[発明の効果] 以上説明したようにこの発明の構成によれば、照明手段
で照明された複数の撮謄対象が、光学系により、単一の
撮像手段の受光面に同時に結像して撮像される。したが
って複数の撮像対象に対して単一の撮像手段を備えさせ
ればよいので、装置の小形化およびコスト低減を図るこ
とができるという利点がある。
また、照明手段として、反射光を利用する第1の照明手
段、透過光を利用する第2の照明手段、およびこれら両
照明手段の作動を切替える照明切替手段を備えさせた実
施例によれば、上記共通の効果に加えてさらに、ネガ、
ポジに対応した2通りの画像信号を簡単な操作で入力さ
せることができるので、当該搬像装置を製品の外観検査
装置等に適用したとき、特性の異なった画像により、製
品の外観の良、否等を一層正確に検査することができる
という利点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第4図はこの発明に係る搬象装置の実施例を示
すもので、第1図は装置本体部の構成図、第2図は記憶
手段等を含む信号処理回路のブロック図、第3図はm像
対象を反射光で撮像した場合の画像等を示す図、第4図
は撮像対象を透過光で撮像した場合の画像等を示す図、
第5図は従来の撮像装置の構成図、第6図は同上従来の
装置で得られる画像を示す図、第7図は他の従来例を示
す構成図、第8図は同上能の従来例で得られる画像を示
す図である。 1:IC1 3a、3b:IGのリード(躍像対泉)、4:カメラ(
R像手段)、 5:イメージセンサ、 6:レンズ、 7.8:第1の照明手段、 9:第2の照明手段を構成するランプ、11:第2の照
明手段を構成するミラー、14:照明切替手段、 15:第1の光学系、 16:第2の光学系、 17〜19:第1の光学系を構成するミラー、21〜2
3:第2の光学系を構成するミラー。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)複数の撮像対象を撮像する単一の撮像手段と、複
    数の撮像対象を照明する照明手段と、 該照明手段で照明された複数の撮像対象を前記撮像手段
    の受光面に結像させる光学系とを有することを特徴とす
    る撮像装置。
  2. (2)前記照明手段は、撮像対象を表面側から照明して
    反射光を光学系に入力させるものであることを特徴とす
    る特許請求の範囲第1項記載の撮像装置。
  3. (3)前記照明手段は、撮像対象を背面側から照明して
    透過光を光学系に入力させるものであることを特徴とす
    る特許請求の範囲第1項記載の撮像装置。
  4. (4)前記照明手段は、撮像対象を表面側から照明して
    反射光を光学系に入力させる第1の照明手段と、撮像対
    象を背面側から照明して透過光を光学系に入力させる第
    2の照明手段と、該第1の照明手段および第2の照明手
    段の作動を切替える照明切替手段とからなるものである
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の撮像装置
JP17391686A 1986-07-25 1986-07-25 撮像装置 Pending JPS6332358A (ja)

Priority Applications (1)

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JP17391686A JPS6332358A (ja) 1986-07-25 1986-07-25 撮像装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP17391686A JPS6332358A (ja) 1986-07-25 1986-07-25 撮像装置

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JPS6332358A true JPS6332358A (ja) 1988-02-12

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ID=15969453

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JP17391686A Pending JPS6332358A (ja) 1986-07-25 1986-07-25 撮像装置

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JP (1) JPS6332358A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03276007A (ja) * 1990-03-27 1991-12-06 Matsushita Electric Works Ltd 端子の傾き検出方法
JP2011017712A (ja) * 2010-08-19 2011-01-27 Nhk Spring Co Ltd 測定装置及び測定方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH03276007A (ja) * 1990-03-27 1991-12-06 Matsushita Electric Works Ltd 端子の傾き検出方法
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