JPS633227A - 電子天びん - Google Patents

電子天びん

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JPS633227A
JPS633227A JP14774286A JP14774286A JPS633227A JP S633227 A JPS633227 A JP S633227A JP 14774286 A JP14774286 A JP 14774286A JP 14774286 A JP14774286 A JP 14774286A JP S633227 A JPS633227 A JP S633227A
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Akira Kawamoto
河本 晟
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は電子天びんに関し、更に詳しくは、電磁力平衡
方式の電子天びんに関する。
〈従来の技術〉。
電磁力平衡式の電子天びんでは、磁界中にフォースコイ
ルを設けて、このフォースコイルに電流を流して皿上の
荷重と平衡する電磁力を発生させる。そして、この平衡
させるに要した電流を、基準抵抗Rによって電圧信号に
変換し、その電圧信号をA−D変換して荷重データを得
て、この荷重データの平均化処理等によって計量値を決
定して表示する。
荷iWと電流iとは比例関係にあり、基準抵抗Rにおけ
る消費電力Pは、 P= 12R=JW2R−−−(1) である。ここで、Jは磁界の強さやフォースコイルの巻
数等によって決まる定数である。すなわち、荷重Wの2
乗に比例して消費電力が増加する。基準抵抗はこの電流
によって自己加熱され、消費電力の大きさに応じてその
温度が上昇する。基準抵抗の温度上昇は、その抵抗値の
変化をきたし、計量誤差発生の原因となる。
従来、この対策として、温度係数が極めて小さく、かつ
、熱容量および放熱容量の大きなものを基準抵抗として
用いていた。
〈発明が解決しようとする問題点〉 特に高精度の天びんでは、基準抵抗値のわずかな変化で
も計量誤差となってあられれるため、高価な薄膜抵抗を
用い、しかも、ひょう量の大きな天びんでは数個の抵抗
をシリースあるいはパラレルに接続して、1個当りの発
熱量を極力抑制しなければならない。このことは電子天
びんのコストアップの要因となっているばかりでなく、
精度上のネックにもなっている。
本発明の目的は、上述のような高価な薄膜抵抗を用いず
とも、温度係数がある程度大きく、また熱容量等が小さ
い抵抗を用いても、精度的に問題とならない電子天びん
を提供することにある。
〈問題点を解決するための手段〉 上記の目的を達成するための構成を、第1図に示す基本
概念図を参照しつつ、以下に説明する。
磁界中のフォースコイルLに電流lを流して皿a上の荷
重と平衡する電磁力を発生させ、この電流iを基準抵抗
Rによって電圧信号に変換し、その電圧信号をA−D変
換器すでデジタル化して荷重データを得る。この荷重デ
ータを用いて、計量値決定手段Cによって計量値を決定
し、表示する。
このような電子天びんにおいて、本発明は、皿aに所定
荷重を作用させたときの荷重データの経時的変化に係る
情報を記↑、資する記憶手段dと、皿aへの荷重作用後
の経過時間を計測する計時手段eと、その計時手段eに
よる計時結果と記憶手段dの内容から計量値の補正を行
う補正演算手段fを備えたことによって特徴づけられる
く作用〉 皿a上に荷重Wを載せた状態を保持すると、基準抵抗R
は+11式で示す電力Pによって昇温するが、これによ
ってA−D変換器すがらの荷重データは変化する。この
変化は基準抵抗Rの温度係数等によって異るものとなる
。電子天びん個々について、その出荷時等に荷重Wの作
用による荷重データの経時的変化に係る情報を記jQ手
段dに格納しておけば、実際の測定時に、その情報と荷
重負荷後の経過時間とから、基準抵抗Rの昇温による抵
抗値の変化に伴う荷重データの誤差を、補正することが
できる。
〈実施例〉 本発明の実施例を、以下、図面に基づいて説明する。
第2図は本発明実施例の構成を示すブロック図である。
平衡機構1内には磁界中で可動のフォースコイルLが設
けられており、このフォースコイルLには皿1aが係合
されている。皿la上に荷重を載せたときの平衡機構1
の変位検出信号は電流供給回路2に送られ、この変位が
零となるような電磁力を発生すべく、電流供給回路2か
らフォースコイルLに電流iが供給される。
この電流iは基準抵抗Rによって電圧信号に変換され、
A−D変換器3に入力される。A−D変換器3によって
デジタル化された信号は、荷重データとして刻々とマイ
クロコンピュータ4に採り込まれる。
マイクロコンピュータ4は、CPU41.ROM42、
RAM4.3.不揮発性RAM44および入出力ポート
45等からなり、ROM42には後述する測定用プログ
ラムと調整用プログラムが書き込まれている。また、A
−D変換器3からのデジタル荷重データはRA M 4
3内に格納される。不揮発性RAM44は、後述する調
整用プログラムの実行時のA−D変換器3からの荷重デ
ータを格納するためのものである。入出力ポート45に
は、上述した測定用プログラムと調整用プログラムのい
ずれを実行するかを選択するためのモード切換器5が接
続されている。また、マイクロコンピュータ4には、計
量値をデジタル表示するための表示器6が接続されてい
る。
次に各部の動作および作用を説明する。モード切換器5
によって調整モードを選択すると、調整用プログラムが
実行される。このプログラムにおいては、当該天びんの
ひょう9値の分銅を皿la上に載せると、その荷重デー
タWを、あらかじめ設定された所定の周期、もしくはA
−D変換ごとに不揮発性RAM44内に格納してゆく。
このデータの格納は、あらかじめ実験的に荷重データの
変化が収まるまでの時間を求めておき、その時間が経過
するまで、例えば数分間にわたって継続される。このと
き、基準抵抗Rが正の温度係数を有しておれば、荷重デ
ータは第3図に太線で示すような変化を呈し、やがて飽
和して定常値を示す。
すなわち、皿la上に分銅を載せた当初のデータQQか
ら、時間経過とともにその値が漸増し、やがて飽和して
定常値を示す。負の温度係数を有する場合には、同図に
破線で示すような変化となる。
正負および変化量は製品によってばらつきがあり、上述
した不揮発性RAM44への荷重データの格納により、
個々の電子天びんについてのQOからの経時的変化量δ
Xと、最大変化量δmxを調査し、記憶したことになる
荷重を皿la上から降ろした場合には、放熱によって基
準抵抗Rの温度が低下し、この場合、荷重データは当初
のQO値に回復しだす。この放熱による冷却時の荷重デ
ータの変化は、負荷時のデータ変化特性から実験式によ
って求めることができる。すなわち、放熱特性は同一の
製品については殆んど同一であって、個々の基準抵抗R
の温度係数の違いは、変化量δ′Xの大きさのみに関係
し、変化曲線の形については差がなく、設計時等におい
て実験によって求めておくことができる。
従って、この放熱特性に係る情報は、調整モードにおい
て、例えば放熱後所定時間経過時の一点または複数点に
ついて荷重データを採り込むことによって知ることがで
きる。
通常の測定時には測定モードが選択され、測定用フログ
ラムが実行される。このプログラムニオいては、A−D
変換器3の出力Wは次のように補正され、表示値りが決
定される。第3図に示すように、試料を皿la上に載せ
た後、安定平衡状態に入った当初のA−D変換器3の出
力をWQとすると、を時間後に採取された荷重データW
は、D=W−δt    −・−(2) ただし、 によって経時的誤差δtが補正される。ここで、δXは
、試料載置後データWを得るまでの経過時間tに対応す
る、QOからの変化量である。
なお安定平衡状態の検出はA−D変換器3の出力が規定
回数、ある変動幅以内に入ったことなどにより検出する
次に、試料が降ろされて充分時間が経過して基準抵抗R
が完全に元の温度に戻った場合は、第3図に一薫鎖線で
示すように、当初の加熱特性と全く同じ特性のもとにデ
ータが変化するから上述と同様の補正で良い。しかし、
試料が降ろされてから次に試料が載せられるまでの時間
が少ないと、第3図に二点鎖線で示すように前回の加熱
による影響が残っている。この場合、試料が降ろされて
からの経過時間tから放熱特性に基づく誤差量を抽出し
、加熱特性においてその誤差量と等しい点を探し出し、
以後、その点から加熱特性曲線に沿って誤差が変化する
ものとして同様な補正をおこなえば良い。
なお、以上の実施例では、加熱特性の調査に当って、A
−D変換器3の出力を所定周期で全て格納する例を示し
たが、これに替えて、あらかじめデータが変化するパタ
ーンを近似式で求めておき、その式内の係数のみを製品
ごとに測定して記憶するよう構成することもでき、この
場合、メモリ容量を大幅に減することができる。
この近似式は例えば、 δt=k(1−e   )   −−−(4)で与えら
れる。ここでに、pはそれぞれ係数であって、kは、ひ
ょう量荷重を載せて充分な時間が経過した後のA−D変
換器3の出力から前述したδmxを求め、 k=δmx        ・−(5)として得られ、
またpは、上述のようにして求めたδmxの1/2の大
きさの誤差が生じるまでの経過時間thを求めて、 として得られる。実際の電子天びんについてこれらの係
数を求めて(4)式に当てはめると、δtを修正カウン
ト量、tを秒として、 −o、o17t δt−5,3(1−e    )  ・−(7)が得ら
れ、実測データによく一致することが確められた。
以上のような係数の算出は、電子天びんに内蔵するマイ
クロコンピュータで行ってもよいし、あるいは入出力ポ
ートによって接続し得る外部計算機によって求めて、電
子天びんのメモリに格納してもよいことは勿8余である
〈発明の効果〉 以上説明したように、本発明によれば、皿に所定荷重を
作用させたときの荷重データの経時的変化に係る情報を
あらかじめ記憶しておき、実測時における荷重データを
、負荷後の経過時間と上述の記憶内容とによって補正し
て計量値を得ているので、基準抵抗Rの自己加熱による
荷重データの誤差が除去されることになり、従来のよう
に高価な薄膜抵抗等を用いず、比較的熱容量が小さく、
かつ、温度係数がある程度大きい抵抗を用いても、高精
度の天びんが得られることになり、コストダウンに寄与
するところ大である。また、従来と同等の性能の抵抗を
基準抵抗として用い、かつ、本発明を適用した場合には
、精度が更に向上することになる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の構成を示す基本概念図、第2図は本発
明実施例の構成を示すブロック図、第3図は本発明の作
用説明図である。 l・−平衡機構 1a・−皿 2・・−電流供給回路 3−A −D変換器 4−マイクロコンピュータ 44−不揮発性メモリ 5−モード切換器 L−・〜フォースコイル R・−・基準抵抗

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)磁界中のフォースコイルに電流を流して皿上の荷
    重と平衡する電磁力を発生させるとともに、上記電流を
    基準抵抗によって電圧信号に変換し、その電圧信号をA
    −D変換して荷重データを得て、この荷重データから計
    量値を決定して表示する天びんにおいて、上記皿に所定
    荷重を作用させたときの上記荷重データの経時的変化に
    係る情報を記憶する記憶手段と、上記皿への荷重作用後
    の経過時間を計測する計時手段と、その計時手段による
    計時結果と上記記憶手段の内容から上記計量値の補正を
    行う補正演算手段を備えたことを特徴とする電子天びん
  2. (2)上記記憶手段に、上記皿に所定荷重を作用させた
    直後から所定周期で上記荷重データを順次格納させる、
    調整用プログラムを備えたことを特徴とする、特許請求
    の範囲第1項記載の電子天びん。
  3. (3)上記記憶手段に記憶されている荷重データの経時
    的変化に係る情報が、時間をパラメータとする荷重デー
    タのあらかじめ設定された形の関数であって、当該天び
    んの調整時にその関数の係数が決定されるとともに、実
    測時には上記関数の演算により計量値の補正が行われる
    よう構成したことを特徴とする、特許請求の範囲第1項
    または第2項記載の電子天びん。
  4. (4)上記記憶手段に、上記情報に加えて、上記皿から
    所定荷重を除去した後、次に所定荷重を載せるまでの経
    過時間に関する上記荷重データの経時的変化に係る情報
    が併せて記憶されており、これら両情報に基づいて計量
    値の補正が行われるよう構成したことを特徴とする、特
    許請求の範囲第1項、第2項または第3項記載の電子天
    びん。
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JPH0695033B2 JPH0695033B2 (ja) 1994-11-24

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