JPS63313023A - 焦電型赤外線アレイセンサ及びその製造方法 - Google Patents
焦電型赤外線アレイセンサ及びその製造方法Info
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- JPS63313023A JPS63313023A JP62149653A JP14965387A JPS63313023A JP S63313023 A JPS63313023 A JP S63313023A JP 62149653 A JP62149653 A JP 62149653A JP 14965387 A JP14965387 A JP 14965387A JP S63313023 A JPS63313023 A JP S63313023A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/10—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
- G01J5/34—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using capacitors, e.g. pyroelectric capacitors
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は焦電薄膜を用いた焦電型赤外線アレイセンサに
関するものである。
関するものである。
従来の技術
焦電型赤外線検出器は熱量の赤外線検出器で、常温動作
が可能で、感度の波長依存性が小さく、熱型検出器のな
かでは高感度である。
が可能で、感度の波長依存性が小さく、熱型検出器のな
かでは高感度である。
焦電型検出器に使用されている材料には、TGS系・L
iTaO3系等の単結晶、P b T i O3系・P
bxZrl−xTiO2系のセラミック、P V F
2系等の有機膜等がある。
iTaO3系等の単結晶、P b T i O3系・P
bxZrl−xTiO2系のセラミック、P V F
2系等の有機膜等がある。
P b T i Osは焦電材料の性能指数であるFv
(−r/εCv)及びFm(−r/CvJ e d
tanδ)が高い。
(−r/εCv)及びFm(−r/CvJ e d
tanδ)が高い。
ここでγは焦電係数、εは誘電率、Cvは体積比熱、d
は厚さである。また、P b T i Osは焦電係数
の温度変化が小さく、キュリ一点が十分高い等の特長を
もっている。焦電型検出器には、PbTiO3磁器が用
いられる場合が多い。磁器は多結晶であり、結晶軸の配
列に方向性は無<、シたがって自発分極Psもランダム
に配列している。焦電材料は自発分極Psの変化を出力
として取り出すため、Psが一方向に揃っているとき、
最大出力が得られる。そこで、磁器には高電界を印加し
てPsの向きを揃える分極処理が必要である。
は厚さである。また、P b T i Osは焦電係数
の温度変化が小さく、キュリ一点が十分高い等の特長を
もっている。焦電型検出器には、PbTiO3磁器が用
いられる場合が多い。磁器は多結晶であり、結晶軸の配
列に方向性は無<、シたがって自発分極Psもランダム
に配列している。焦電材料は自発分極Psの変化を出力
として取り出すため、Psが一方向に揃っているとき、
最大出力が得られる。そこで、磁器には高電界を印加し
てPsの向きを揃える分極処理が必要である。
また、C軸配向したP b T i O2薄膜の配向軸
方向に発生する焦電気を利用した場合、C軸方向の誘電
率が低下し、焦電係数が増大するので、PbT i O
2磁器の約3倍のFvを示す高感度焦電材料を実現でき
ることが、第30回送用物理学関係連合講演予稿集7P
−z−2に報告されている。
方向に発生する焦電気を利用した場合、C軸方向の誘電
率が低下し、焦電係数が増大するので、PbT i O
2磁器の約3倍のFvを示す高感度焦電材料を実現でき
ることが、第30回送用物理学関係連合講演予稿集7P
−z−2に報告されている。
赤外線アレイセンサは光学系との関係で空間分解能をよ
くするために微細な配列にすることが望ましい。
くするために微細な配列にすることが望ましい。
発明が解決しようとする問題点
焦電材料の厚さが薄(なるほど、雑音が小さくなり、検
出能:D本は増大する。P b T i O3磁器でア
レイを構成する場合、磁器の薄膜化には限界があり、厚
さを薄(してDIを向上することは限度がある。また、
各エレメント間のクロストークが太き(なり空間分解能
が低下する。そのため各エレメントを分離することが必
要となる。面積を小さくすると電気容量が小さくなるた
め、外部からの静電容量、浮遊容量の点から小形化も困
難となる。
出能:D本は増大する。P b T i O3磁器でア
レイを構成する場合、磁器の薄膜化には限界があり、厚
さを薄(してDIを向上することは限度がある。また、
各エレメント間のクロストークが太き(なり空間分解能
が低下する。そのため各エレメントを分離することが必
要となる。面積を小さくすると電気容量が小さくなるた
め、外部からの静電容量、浮遊容量の点から小形化も困
難となる。
さらに、焦電材料に分極処理を施すとき次のような問題
点が生じる。
点が生じる。
(1)分極処理により絶縁破壊が生じる場合がある。
(2)高密度に配列している高分解能アレイ素子では、
それらを均一に分極することが困難である。
それらを均一に分極することが困難である。
(3)半導体デバイス上に焦電薄膜を形成した集積化デ
バイスでは、分極処理そのものが不可能な場合がある。
バイスでは、分極処理そのものが不可能な場合がある。
一方、焦電薄膜はスパッタリングなどにより高温で作製
されるため、基板との熱膨張の違いによる熱応力が生じ
る。感度を向上するため焦電薄膜と接した基板の一部を
除去する構造では、この熱応力により焦電薄膜の割れが
生じた。またこれらの焦電薄膜は圧電体であるので、振
動や音による雑音も生じた。
されるため、基板との熱膨張の違いによる熱応力が生じ
る。感度を向上するため焦電薄膜と接した基板の一部を
除去する構造では、この熱応力により焦電薄膜の割れが
生じた。またこれらの焦電薄膜は圧電体であるので、振
動や音による雑音も生じた。
間履点を解決するための手段
基板と、前記基板上に形成された焦電薄膜群と、前記焦
電薄膜群上に形成された複数の分離した電極薄膜群と、
前記焦電薄膜の基板側の面に形成された第2の電極薄膜
と、前記焦電薄膜の少なくとも片面を被覆する有機薄膜
とを有し、少なくとも前記焦電薄膜と接する基板の一部
を除去した構成とする。
電薄膜群上に形成された複数の分離した電極薄膜群と、
前記焦電薄膜の基板側の面に形成された第2の電極薄膜
と、前記焦電薄膜の少なくとも片面を被覆する有機薄膜
とを有し、少なくとも前記焦電薄膜と接する基板の一部
を除去した構成とする。
作用
上記のような焦電薄膜及び構成を用いた赤外線アレイセ
ンサにおいては、熱拡散によるクロストークを低減しか
つ感度の向上を図ることができるばかりでな(、熱応力
による薄膜のはがれ・割れを防止できる。また有機薄膜
を用いることによりセンザ部の機械的Qを低減でき、振
動・音による雑音を抑制することができる。
ンサにおいては、熱拡散によるクロストークを低減しか
つ感度の向上を図ることができるばかりでな(、熱応力
による薄膜のはがれ・割れを防止できる。また有機薄膜
を用いることによりセンザ部の機械的Qを低減でき、振
動・音による雑音を抑制することができる。
実施例
第1図及び第2図は本発明の焦電型赤外線アレイ素子の
構造及び製造方法を示す図である。
構造及び製造方法を示す図である。
(100)でへき関し鏡面研摩したMgO単結晶基板1
上に、高周波マグネトロンスパッタ法で焦電薄膜群2と
して、Pb+−x Lax Tit−o、7sx 03
(PLT)4μm成長させた。上記焦電薄膜は各エレ
メントごとにメタルマスクにより分離されている。雰囲
気ガスにはArと02の混合ガスを用い、スパッタリン
グターゲットは、 1 (1−Y) Pb+−x Lax Tit−o、7
sx 03 +Y PbO1の粉末である。表1にスパ
ッタリング条件を示す。
上に、高周波マグネトロンスパッタ法で焦電薄膜群2と
して、Pb+−x Lax Tit−o、7sx 03
(PLT)4μm成長させた。上記焦電薄膜は各エレ
メントごとにメタルマスクにより分離されている。雰囲
気ガスにはArと02の混合ガスを用い、スパッタリン
グターゲットは、 1 (1−Y) Pb+−x Lax Tit−o、7
sx 03 +Y PbO1の粉末である。表1にスパ
ッタリング条件を示す。
次に、この焦電薄膜群2上に厚さ約0.2μmの複数の
Au電極薄膜3を蒸着により作製した。前記Au電極薄
膜3は、フォトグラフィの手法によリアレイのピッチに
合わせて格子状に分離、配列されている。 次にこれら
の上に有機薄膜4を設けた。上記有機薄膜4は感光性ポ
リイミド系樹脂をスピンナーで塗布し、紫外線に照射し
た後200℃で熱処理したものである。膜厚は3.5μ
mであった。電極薄膜3上の一部にはコンタクトホール
5を設けて取り出し電極6と接触させた。
Au電極薄膜3を蒸着により作製した。前記Au電極薄
膜3は、フォトグラフィの手法によリアレイのピッチに
合わせて格子状に分離、配列されている。 次にこれら
の上に有機薄膜4を設けた。上記有機薄膜4は感光性ポ
リイミド系樹脂をスピンナーで塗布し、紫外線に照射し
た後200℃で熱処理したものである。膜厚は3.5μ
mであった。電極薄膜3上の一部にはコンタクトホール
5を設けて取り出し電極6と接触させた。
表 1
さらに、焦電薄膜群2の下部におけるMgO基板1を熱
濃燐酸によりエツチングし、開口部7を設けた。このと
きエツチング幅を焦電薄膜群2の幅より太き(して、焦
電薄膜群2はMgO基板1に接触しないようにしている
。上記構成において、焦電薄膜群2とMgO基板1との
熱膨張の違いによる熱応力を有機薄膜4は緩和している
。前記開口部7を通して前記焦電薄膜群2の基板側の面
にNiCr電極薄膜8を蒸着により作製した。
濃燐酸によりエツチングし、開口部7を設けた。このと
きエツチング幅を焦電薄膜群2の幅より太き(して、焦
電薄膜群2はMgO基板1に接触しないようにしている
。上記構成において、焦電薄膜群2とMgO基板1との
熱膨張の違いによる熱応力を有機薄膜4は緩和している
。前記開口部7を通して前記焦電薄膜群2の基板側の面
にNiCr電極薄膜8を蒸着により作製した。
PLT焦電薄膜が分極軸の75零以上が一方向に配向し
ているとき、焦電係数:γは5×IO−〇C/ ca
Kとなり、この値は200℃で1oOkV/cm印加し
て分極処理を行ったPbTiO3セラミクス(γ=1.
8xlO−θC/c+#K)と(らべかなり大きい。配
向率9ozの場合焦電係数は6.8xlO−8C/ c
n?にである。また、分極処理後の値と比べ殆ど変わら
ないばかりでなく、配向率が小さい場合の分極後の値よ
り大きい。誘電率は、配向率90零の場合、セラミクス
とほぼ同等の値で約200である。
ているとき、焦電係数:γは5×IO−〇C/ ca
Kとなり、この値は200℃で1oOkV/cm印加し
て分極処理を行ったPbTiO3セラミクス(γ=1.
8xlO−θC/c+#K)と(らべかなり大きい。配
向率9ozの場合焦電係数は6.8xlO−8C/ c
n?にである。また、分極処理後の値と比べ殆ど変わら
ないばかりでなく、配向率が小さい場合の分極後の値よ
り大きい。誘電率は、配向率90零の場合、セラミクス
とほぼ同等の値で約200である。
このように本実施例に用いたPLT薄膜では、薄膜作製
時に十分にC軸に配向しておれば分極処理を行わな(で
も自発分極が揃っており、特に配向率75%以上の薄膜
でその効果が大きいことが明らかになった。また、焦電
材料としての性能指数であるFv(−γ/εCv)の値
も太き(なる。200℃で10分間100kV/cm印
加して分極処理を行ったPbTi0aセラミクスの値と
比較して、PLT薄膜は3倍強の値を示した。
時に十分にC軸に配向しておれば分極処理を行わな(で
も自発分極が揃っており、特に配向率75%以上の薄膜
でその効果が大きいことが明らかになった。また、焦電
材料としての性能指数であるFv(−γ/εCv)の値
も太き(なる。200℃で10分間100kV/cm印
加して分極処理を行ったPbTi0aセラミクスの値と
比較して、PLT薄膜は3倍強の値を示した。
PLT焦電薄膜のC軸配向率は、MgO基板に作製した
下地電極上より、直接M g O基板上に作製した方が
高く、性能指数の点でも分ti処理不要の点でも有利で
ある。
下地電極上より、直接M g O基板上に作製した方が
高く、性能指数の点でも分ti処理不要の点でも有利で
ある。
焦電型赤外線アレイセンサとしての特性も、材料性能指
数のアップ及び各エレメント間の熱拡散を小さくした構
成により大幅に向上した。焦電薄膜が各エレメントで分
離されていなくてその両端で基板に接触しているセンサ
と比較して、感度及びDIは5倍以上増大した。また、
クロストークは第3図に示すように一桁低減された。
数のアップ及び各エレメント間の熱拡散を小さくした構
成により大幅に向上した。焦電薄膜が各エレメントで分
離されていなくてその両端で基板に接触しているセンサ
と比較して、感度及びDIは5倍以上増大した。また、
クロストークは第3図に示すように一桁低減された。
さらに、振動・音波によるセンサの出力電圧も著しく低
下した。
下した。
以上述べたように、本発明による焦電型赤外線アレイセ
ンサは、MgO基板への熱拡散を抑制して高感度・低ク
ロストークを実現することができる。
ンサは、MgO基板への熱拡散を抑制して高感度・低ク
ロストークを実現することができる。
発明の効果
本発明による焦電型赤外線アレイセンサは、熱拡散によ
るクロストークを低減しかつ感度の向上を図ることがで
きるばかりでな(、焦電薄膜の熱応力による薄膜のはが
れ・割れを防止できる。また有機薄膜を用いる構成によ
りセンサ部の機械的Qを低減でき、振動・音による雑音
を抑制することができる。
るクロストークを低減しかつ感度の向上を図ることがで
きるばかりでな(、焦電薄膜の熱応力による薄膜のはが
れ・割れを防止できる。また有機薄膜を用いる構成によ
りセンサ部の機械的Qを低減でき、振動・音による雑音
を抑制することができる。
アレイセンサの製造方法を示す断面図、第3図は本発明
の一実施例に於ける焦電型赤外線アレイセンサのクロス
トーク特性を示すグラフである。
の一実施例に於ける焦電型赤外線アレイセンサのクロス
トーク特性を示すグラフである。
1・・・・MgO基板 2・・・・焦電薄膜3・・
・・電極薄膜 4・・・・有機薄膜6・・・・取
り出し電極 7・・・・開口部8・・・・第2の電極
薄膜 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 ほか1名第1図 、9 5コンタクト木−ル 第2図
・・電極薄膜 4・・・・有機薄膜6・・・・取
り出し電極 7・・・・開口部8・・・・第2の電極
薄膜 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 ほか1名第1図 、9 5コンタクト木−ル 第2図
Claims (6)
- (1)基板と、前記基板上に形成された焦電薄膜群と、
前記焦電薄膜群上に形成された複数の分離した電極薄膜
群と、前記焦電薄膜の基板側の面に形成された第2の電
極薄膜と、前記焦電薄膜の少なくとも片面を被覆する有
機薄膜とを有し、少なくとも前記焦電薄膜と接する基板
の一部を除去したことを特徴とする焦電型赤外線アレイ
センサ。 - (2)焦電薄膜が化学式(Pb_xLa_y)(Ti_
zZr_w)O_3で表され、 a)0.7≦x≦1、0.9≦x+y≦1、0.95≦
z≦1、w=0b)x=1、y=0、0.45≦z≦1
、z+w=1c)0.83≦x≦1、x+y=1、0.
5≦z≦1、0.96≦z+w≦1 のいずれかの組成をもち、<001>方向に高度に配向
していることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
焦電型赤外線アレイセンサ。 - (3)焦電薄膜が化学式(Pb_xLa_y)(Ti_
zZr_w)O_3で表され、 a)x=1、y=0、0.1≦z≦0.4、z+w=1
b)0.92≦x≦1、x+y=1、0.3≦z≦0.
45、0.98≦z+w≦1 のいずれかの組成をもち、<111>方向に配向してい
ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の焦電型
赤外線アレイセンサ。 - (4)焦電薄膜が基板に直接接触せず、有機薄膜を介し
て基板に支持されることを特徴とする特許請求の範囲第
1項記載の焦電型赤外線アレイセンサ。 - (5)有機薄膜がポリイミド系樹脂であることを特徴と
する特許請求の範囲第1項記載の焦電型赤外線アレイセ
ンサ。 - (6)基板上に化学式(Pb_xLa_y)(Ti_z
Zr_w)O_3で表され、 a)0.7≦x≦1、0.9≦x+y≦1、0.95≦
z≦1、w=0b)x=1、y=0、0.45≦z≦1
、z+w=1c)0.83≦x≦1、x+y=1、0.
5≦z≦1、 0.96≦z+w≦1 のいずれかの組成をもち、<001>方向に高度に配向
している焦電薄膜群、あるいは、 a)x=1、y=0、0.1≦z≦0.4、z+w=1
b)0.92≦x≦1、x+y=1、0.3≦z≦0.
45、0.98≦z+w≦1 のいずれかの組成をもち、<111>方向に配向してい
る焦電薄膜群を形成し、前記焦電薄膜上に複数の分離し
た電極薄膜を形成し、その上に有機薄膜を被覆し、前記
有機薄膜上に前記電極薄膜と接触した取り出し電極を作
製し、少なくとも前記焦電薄膜と接触する前記基板の一
部をエッチング等により取り除いて前記有機薄膜を介し
て支持した後、前記基板側から蒸着等により第2の電極
薄膜を作製することを特徴とする焦電型赤外線アレイセ
ンサの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62149653A JPH0658261B2 (ja) | 1987-06-16 | 1987-06-16 | 焦電型赤外線アレイセンサ及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62149653A JPH0658261B2 (ja) | 1987-06-16 | 1987-06-16 | 焦電型赤外線アレイセンサ及びその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63313023A true JPS63313023A (ja) | 1988-12-21 |
JPH0658261B2 JPH0658261B2 (ja) | 1994-08-03 |
Family
ID=15479925
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62149653A Expired - Fee Related JPH0658261B2 (ja) | 1987-06-16 | 1987-06-16 | 焦電型赤外線アレイセンサ及びその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0658261B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04170077A (ja) * | 1990-11-01 | 1992-06-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 焦電型赤外線検出器およびその製造方法 |
US5558905A (en) * | 1994-03-08 | 1996-09-24 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Method of making a pyroelectric film sensing device |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60180180A (ja) * | 1984-02-27 | 1985-09-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 赤外線検出素子 |
-
1987
- 1987-06-16 JP JP62149653A patent/JPH0658261B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60180180A (ja) * | 1984-02-27 | 1985-09-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 赤外線検出素子 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04170077A (ja) * | 1990-11-01 | 1992-06-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 焦電型赤外線検出器およびその製造方法 |
US5558905A (en) * | 1994-03-08 | 1996-09-24 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Method of making a pyroelectric film sensing device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0658261B2 (ja) | 1994-08-03 |
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