JPS63312673A - 集積型受光素子 - Google Patents
集積型受光素子Info
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- JPS63312673A JPS63312673A JP62148005A JP14800587A JPS63312673A JP S63312673 A JPS63312673 A JP S63312673A JP 62148005 A JP62148005 A JP 62148005A JP 14800587 A JP14800587 A JP 14800587A JP S63312673 A JPS63312673 A JP S63312673A
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- light receiving
- receiving element
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- electrode
- substrate
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- Pending
Links
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
集積型受光素子であって、一対の受光素子を同一基板上
に隣接して形成し、それらの受光素子と端子との接続を
基板上に対称に形成したパターン配線で行うことによっ
て、2つの受光素子にそれぞれ寄生する不要成分を互い
に等価にすることを可能とする。
に隣接して形成し、それらの受光素子と端子との接続を
基板上に対称に形成したパターン配線で行うことによっ
て、2つの受光素子にそれぞれ寄生する不要成分を互い
に等価にすることを可能とする。
本発明は、集積型受光素子に関し、特に、DBOR([
)ual Ba1anced 0ptical Rec
eiver )に使用する集積型の受光素子に関する。
)ual Ba1anced 0ptical Rec
eiver )に使用する集積型の受光素子に関する。
従来、レーザ光を使用した長波長帯光通信は、送信側で
はレーザ光を直接強度変調して光フアイバ内に送出し、
受信側では光ファイバを介して伝送された信号光を1つ
の受光素子で電気信号に変換して復調する直接検波方式
が一般的に利用されている。このような長波長帯光通信
方式は、扱いが簡単で安定した通信を行うことができる
長所を有しているが、信号光とその信号光に含まれる雑
音成分との分離が困難であるために雑音成分を信号光と
一緒に検波してしまう問題点がある。すなわち、従来の
長波長帯光通信方式は、信号光のSlN比が低く長距離
通信を行う場合には複数本の光フアイバケーブルおよび
複数個の中継器が必要となっている。
はレーザ光を直接強度変調して光フアイバ内に送出し、
受信側では光ファイバを介して伝送された信号光を1つ
の受光素子で電気信号に変換して復調する直接検波方式
が一般的に利用されている。このような長波長帯光通信
方式は、扱いが簡単で安定した通信を行うことができる
長所を有しているが、信号光とその信号光に含まれる雑
音成分との分離が困難であるために雑音成分を信号光と
一緒に検波してしまう問題点がある。すなわち、従来の
長波長帯光通信方式は、信号光のSlN比が低く長距離
通信を行う場合には複数本の光フアイバケーブルおよび
複数個の中継器が必要となっている。
これに対して、近年、無中継の光フアイバケーブルで一
層長距離の通信が可能な光通信方式として、コヒーレン
ト光通信方式が提案されている。
層長距離の通信が可能な光通信方式として、コヒーレン
ト光通信方式が提案されている。
このコヒーレント光通信方式の受信装置としては、光フ
ァイバを介して伝送されるレーザ光の強度雑音を相殺し
て低減できるDBORが注目されている。
ァイバを介して伝送されるレーザ光の強度雑音を相殺し
て低減できるDBORが注目されている。
第10図はコヒーレント光通信に使用するDBORの要
部を概略的に示す図である。
部を概略的に示す図である。
第1O図に示されるように、信号光を伝送する光ファイ
バ6aと局発光を供給する光ファイバ6bとは光カプラ
−7で混合され、その混合された光は2本の光ファイバ
8aおよび8bを介して一対の受光素子10および20
に供給される。一対の受光素子10および20では、光
ファイバ8aおよび8bを介して供給された光信号がそ
れぞれ電気信号に変換され、そして、差動合成された信
号が端子41および43に現出するようになされている
。ここで、端子42は中間周波数を出力するためのもの
である。
バ6aと局発光を供給する光ファイバ6bとは光カプラ
−7で混合され、その混合された光は2本の光ファイバ
8aおよび8bを介して一対の受光素子10および20
に供給される。一対の受光素子10および20では、光
ファイバ8aおよび8bを介して供給された光信号がそ
れぞれ電気信号に変換され、そして、差動合成された信
号が端子41および43に現出するようになされている
。ここで、端子42は中間周波数を出力するためのもの
である。
ところで、光ファイバ8aに供給される光と光ファイバ
8bに供給される光とは、180度の位相差を有するよ
うになされている。すなわち、光ファイバ6aを介して
伝送された信号光(コヒーレント光)は、カプラーで混
合された後180度の位相差を有する2つの中間周波数
光としてそれぞれ光ファイバ8aおよび8bに送出され
る。そのために、一対の受光素子lOおよび20により
電気信号に変換して差動合成される信号は、光ファイバ
8aおよび8bの中間周波数光が各々の受光素子により
電気信号に変換されたものの和となる。これに対して、
局発光に含まれる強度雑音光はその位相に相関があり、
カプラーを通った後にも同位相であり、したがって、一
対の受光素子IOおよび20により電気信号に変換して
差動合成されると、信号光に混入している強度雑音光は
相殺されて低減することになる。したがって、DBOR
を使用したコヒーレント光通信は、信号光のS/N比を
向上させることが可能なので、信号光を確実に伝送でき
る1本の光フアイバケーブルを長くすることができ、よ
り少ない中継器の使用により長距離通信を行うことが可
能となる。
8bに供給される光とは、180度の位相差を有するよ
うになされている。すなわち、光ファイバ6aを介して
伝送された信号光(コヒーレント光)は、カプラーで混
合された後180度の位相差を有する2つの中間周波数
光としてそれぞれ光ファイバ8aおよび8bに送出され
る。そのために、一対の受光素子lOおよび20により
電気信号に変換して差動合成される信号は、光ファイバ
8aおよび8bの中間周波数光が各々の受光素子により
電気信号に変換されたものの和となる。これに対して、
局発光に含まれる強度雑音光はその位相に相関があり、
カプラーを通った後にも同位相であり、したがって、一
対の受光素子IOおよび20により電気信号に変換して
差動合成されると、信号光に混入している強度雑音光は
相殺されて低減することになる。したがって、DBOR
を使用したコヒーレント光通信は、信号光のS/N比を
向上させることが可能なので、信号光を確実に伝送でき
る1本の光フアイバケーブルを長くすることができ、よ
り少ない中継器の使用により長距離通信を行うことが可
能となる。
第11図はDBORに使用する従来の受光素子の一例を
示す図であり、第11図(a)は受光素子としてフォト
コンダクタを使用したものを示す平面図、第11図(b
)は第11図(a)の等価回路図である。
示す図であり、第11図(a)は受光素子としてフォト
コンダクタを使用したものを示す平面図、第11図(b
)は第11図(a)の等価回路図である。
第11図(a)に示されるように、DBORに使用する
従来の受光素子は、2つの独立したフォトコンダクタt
oiおよび102を3つの端子141.142および1
43に対して4本の接続ワイヤ151.152.153
および154により接続することにより構成されている
。
従来の受光素子は、2つの独立したフォトコンダクタt
oiおよび102を3つの端子141.142および1
43に対して4本の接続ワイヤ151.152.153
および154により接続することにより構成されている
。
具体的に、フォトコンダクタ101の電極101aは接
続ワイヤ151により端子141と接続され、電極10
1bは接続ワイヤ152により端子142と接続されて
いる。また、フォトコンダクタ102の電極102aは
接続ワイヤ153により端子142と接続され、電極1
02bは接続ワイヤ154により端子143と接続され
ている。これにより、第11図(b)の等価回路図に示
されるような一対の受光素子で構成された受光部が形成
される。
続ワイヤ151により端子141と接続され、電極10
1bは接続ワイヤ152により端子142と接続されて
いる。また、フォトコンダクタ102の電極102aは
接続ワイヤ153により端子142と接続され、電極1
02bは接続ワイヤ154により端子143と接続され
ている。これにより、第11図(b)の等価回路図に示
されるような一対の受光素子で構成された受光部が形成
される。
上述したように、近年、信号光のS/N比を向上させる
ことのできるDBORを使用したコヒーレント光通信が
注目されている。
ことのできるDBORを使用したコヒーレント光通信が
注目されている。
しかし、DBORに使用する従来の受光素子は、第11
図(a)に示されるように、2つの独立したフォトコン
ダクタ101および102と3つの端子141゜142
および143とは、4本の接続ワイヤ151.152゜
153および154で接続されている。そのため、4本
の接続ワイヤ151,152.153および154を対
称とすることが困難であり、フォトコンダクタ101と
フォトコンダクタ102とにそれぞれ寄生する不要成分
、すなわち、寄生キャパシタンスおよび寄生インダクタ
ンス等の値を互いに等価にすることができない。
図(a)に示されるように、2つの独立したフォトコン
ダクタ101および102と3つの端子141゜142
および143とは、4本の接続ワイヤ151.152゜
153および154で接続されている。そのため、4本
の接続ワイヤ151,152.153および154を対
称とすることが困難であり、フォトコンダクタ101と
フォトコンダクタ102とにそれぞれ寄生する不要成分
、すなわち、寄生キャパシタンスおよび寄生インダクタ
ンス等の値を互いに等価にすることができない。
ところで、DBORは180度の位相差を有する2つの
中間周波数光を一対のフォトコンダクタ101および1
02にそれぞれ供給し、一対のフォトコンダクタ101
および102で変換された電気信号を差動合成すること
により強度雑音光を相殺して低減するものである。その
ために、一対のフォトコンダクタ101および102の
寄生キャパシタンスおよび寄生インダクタンス等の不要
成分の値が異なっていると、差動合成を行った場合に強
度雑音光を相殺して低減することができないことになる
。
中間周波数光を一対のフォトコンダクタ101および1
02にそれぞれ供給し、一対のフォトコンダクタ101
および102で変換された電気信号を差動合成すること
により強度雑音光を相殺して低減するものである。その
ために、一対のフォトコンダクタ101および102の
寄生キャパシタンスおよび寄生インダクタンス等の不要
成分の値が異なっていると、差動合成を行った場合に強
度雑音光を相殺して低減することができないことになる
。
本発明は、上述した従来形の集積型受光素子の有する問
題点に鑑み、一対の受光素子を同一基板上に隣接して形
成し、それらの受光素子と端子との接続を基板上に対称
に形成したパターン配線で行うことによって、2つの受
光素子のそれぞれ寄生する不要成分を互いに等価にする
ことを目的とする。
題点に鑑み、一対の受光素子を同一基板上に隣接して形
成し、それらの受光素子と端子との接続を基板上に対称
に形成したパターン配線で行うことによって、2つの受
光素子のそれぞれ寄生する不要成分を互いに等価にする
ことを目的とする。
第1図は本発明に係る集積型受光素子の原理を示す図で
ある。
ある。
本発明によれば、基板3上に形成された第1の受光素子
lと、該第1の受光素子1と同一素子で該第1の受光素
子1に隣接して前記基板3上に形成された第2の受光素
子2と、前記第1の受光素子lの一方の電極1aと第1
の端子41とを接続する第1のパターン配線51と、前
記第1の受光素子1の他方の電極1bと第2の端子42
とを接続する第2のパターン配vA52と、前記第2の
受光素子2の一方の電極2aと前記第2の端子42とを
接続する第3のパターン配線53と、前記第2の受光素
子2の他方の電tfI2bと第3の端子43とを接続す
る第4のパターン配線54と、を備え、前記第1のパタ
ーン配線51と前記第4のパターン配線54、および、
前記第2のパターン配線52と前記第3のパターン配線
53を前記基板3上に対称に形成し、前記第1の受光素
子1と前記第2の受光素子2とにそれぞれ寄生する不要
成分を互いに等価にすることを特徴とする集積型受光素
子が提供される。
lと、該第1の受光素子1と同一素子で該第1の受光素
子1に隣接して前記基板3上に形成された第2の受光素
子2と、前記第1の受光素子lの一方の電極1aと第1
の端子41とを接続する第1のパターン配線51と、前
記第1の受光素子1の他方の電極1bと第2の端子42
とを接続する第2のパターン配vA52と、前記第2の
受光素子2の一方の電極2aと前記第2の端子42とを
接続する第3のパターン配線53と、前記第2の受光素
子2の他方の電tfI2bと第3の端子43とを接続す
る第4のパターン配線54と、を備え、前記第1のパタ
ーン配線51と前記第4のパターン配線54、および、
前記第2のパターン配線52と前記第3のパターン配線
53を前記基板3上に対称に形成し、前記第1の受光素
子1と前記第2の受光素子2とにそれぞれ寄生する不要
成分を互いに等価にすることを特徴とする集積型受光素
子が提供される。
(作 用)
上述した構成を有する本発明の集積型受光素子によれば
、基板3上に形成された第1の受光素子1および第2の
受光素子2は、端子41.42および43に対してパタ
ーン配線51.52.53および54により接続される
。そして、これらのパターン配線51゜52.53およ
び54は基板3上に対称に形成されるので、第1の受光
素子1と第2の受光素子2とにそれぞれ寄生する不要成
分は互いに等価なものとなる。
、基板3上に形成された第1の受光素子1および第2の
受光素子2は、端子41.42および43に対してパタ
ーン配線51.52.53および54により接続される
。そして、これらのパターン配線51゜52.53およ
び54は基板3上に対称に形成されるので、第1の受光
素子1と第2の受光素子2とにそれぞれ寄生する不要成
分は互いに等価なものとなる。
したがって、DBORに本発明の集積型受光素子を使用
すれば、第1の受光素子lと第2の受光素子2とにそれ
ぞれ寄生する不要成分を互いに等価にすることができ、
さらに、集積型受光素子がモノリシックなので、信号光
に含まれる強度雑音光を有効に相殺して低減することが
できる。
すれば、第1の受光素子lと第2の受光素子2とにそれ
ぞれ寄生する不要成分を互いに等価にすることができ、
さらに、集積型受光素子がモノリシックなので、信号光
に含まれる強度雑音光を有効に相殺して低減することが
できる。
以下、図面を参照して本発明に係る集積型受光素子の実
施例を説明する0本発明の集積型受光素子は、例えば、
DBORの受光素子として使用するものである。
施例を説明する0本発明の集積型受光素子は、例えば、
DBORの受光素子として使用するものである。
第2図は本発明の集積型受光素子の第1の実施例を示す
図であり、第2図(a)はフォトコンダクタを使用した
集積型受光素子の平面図、第2図(b)は第2図(a)
の等価回路図である。また、第3図は第2図(a)にお
ける■−■線に沿って切断した1つの素子の断面図であ
る。
図であり、第2図(a)はフォトコンダクタを使用した
集積型受光素子の平面図、第2図(b)は第2図(a)
の等価回路図である。また、第3図は第2図(a)にお
ける■−■線に沿って切断した1つの素子の断面図であ
る。
第2図(a)に示されるように、集積型受光素子の第1
の実施例は、同一の基板3上に一対のフォトコンダクタ
11および21が隣接して形成されている。フォトコン
ダクタ21は、第3図の断面図に示されるように、半絶
縁性のインジウム・燐(SeIltInsulatin
g−1nP : S、1.−1nP )基板3上にはN
型ガリウム・インジウム・砒素(Ga1nAs )ml
域21cが形成され、さらに、Ga1nAspJ域21
cの両側上部には、金および金ゲルマニウムの積層体(
Au/AuGe:2700人/300人)で形成された
電極21aおよび21bが配設されている。また、フォ
トコンダクタ11の構成はフォトコンダクタ21と同一
で対称とされていて、電極11aおよびllbはそれぞ
れ電極21bおよび21aに対応している。
の実施例は、同一の基板3上に一対のフォトコンダクタ
11および21が隣接して形成されている。フォトコン
ダクタ21は、第3図の断面図に示されるように、半絶
縁性のインジウム・燐(SeIltInsulatin
g−1nP : S、1.−1nP )基板3上にはN
型ガリウム・インジウム・砒素(Ga1nAs )ml
域21cが形成され、さらに、Ga1nAspJ域21
cの両側上部には、金および金ゲルマニウムの積層体(
Au/AuGe:2700人/300人)で形成された
電極21aおよび21bが配設されている。また、フォ
トコンダクタ11の構成はフォトコンダクタ21と同一
で対称とされていて、電極11aおよびllbはそれぞ
れ電極21bおよび21aに対応している。
フォトコンダクタ11の電極11aはパターン配線51
により端子41と接続され、電極11bはパターン配線
52により端子42と接続されている。また、フォトコ
ンダクタ21の電極21aはパターン配線53により端
子42と接続され、電極21bはパターン配線54によ
り端子43と接続されている。このパターン配線51.
52.53および54は、金およびチタンの積層体(A
u/Ti )で形成されている。また、第3図に示され
るように、パターン配線と基板3との間には、厚さ約3
000人のシリコン窒化膜(SiJ*膜)21dが形成
されている。ここで、パターン配線51゜52、53お
よび54はSi、N、膜21dを介してS、1.−1n
P基板3上に形成されているので、一般的なN゛型の基
板に比してパターン配線に寄生する容量が無視し得る程
度に小さく、高速動作を行えるようになされている。以
上により、第2図(b)の等価回路に示されるような一
対のフォトコンダクタ11および21で構成された集積
型受光素子が形成される。
により端子41と接続され、電極11bはパターン配線
52により端子42と接続されている。また、フォトコ
ンダクタ21の電極21aはパターン配線53により端
子42と接続され、電極21bはパターン配線54によ
り端子43と接続されている。このパターン配線51.
52.53および54は、金およびチタンの積層体(A
u/Ti )で形成されている。また、第3図に示され
るように、パターン配線と基板3との間には、厚さ約3
000人のシリコン窒化膜(SiJ*膜)21dが形成
されている。ここで、パターン配線51゜52、53お
よび54はSi、N、膜21dを介してS、1.−1n
P基板3上に形成されているので、一般的なN゛型の基
板に比してパターン配線に寄生する容量が無視し得る程
度に小さく、高速動作を行えるようになされている。以
上により、第2図(b)の等価回路に示されるような一
対のフォトコンダクタ11および21で構成された集積
型受光素子が形成される。
第2図(a)から明らかなように、パターン配線51と
パターン配線54、および、パターン配線52パターン
配線53は、同一の基板3上に形成された一対のフォト
コンダクタ11および21を結ぶ線分りの垂直二等分線
lについて対称となるように形成されている。これによ
り、フォトコンダクタ11とフォトコンダクタ21とに
それぞれ寄生する寄生キャパシタンスおよび寄生インダ
クタンス等の不要成分を互いに等価にすることができる
。さらに、集積型受光素子がモノリシックなので、本実
施例の集積型受光素子をDBORに使用すれば、信号光
に含まれる強度雑音光を有効に相殺して低減することが
できる。
パターン配線54、および、パターン配線52パターン
配線53は、同一の基板3上に形成された一対のフォト
コンダクタ11および21を結ぶ線分りの垂直二等分線
lについて対称となるように形成されている。これによ
り、フォトコンダクタ11とフォトコンダクタ21とに
それぞれ寄生する寄生キャパシタンスおよび寄生インダ
クタンス等の不要成分を互いに等価にすることができる
。さらに、集積型受光素子がモノリシックなので、本実
施例の集積型受光素子をDBORに使用すれば、信号光
に含まれる強度雑音光を有効に相殺して低減することが
できる。
以下、第4図〜第9図は本発明の集積型受光素子の他の
3つの実施例を示すものであり、上述した第1の実施例
の受光素子(フォトコンダクタ)の代わりに他の3種類
の受光素子をそれぞれ使用したものである。これら第4
図〜第9図において、受光素子以外の構成は第2図およ
び第3図で説明したのと同様であり、また、パターン配
線51.52゜53および54の対称性についても全て
の実施例に共通であるので、以下の記載では説明を省略
する。
3つの実施例を示すものであり、上述した第1の実施例
の受光素子(フォトコンダクタ)の代わりに他の3種類
の受光素子をそれぞれ使用したものである。これら第4
図〜第9図において、受光素子以外の構成は第2図およ
び第3図で説明したのと同様であり、また、パターン配
線51.52゜53および54の対称性についても全て
の実施例に共通であるので、以下の記載では説明を省略
する。
第4図は本発明の集積型受光素子の第2の実施例を示す
図であり、第4図(a)はMSNフォトダイオードを使
用した集積型受光素子の平面図、第4図(b)は第4図
(a)の等価回路図である。
図であり、第4図(a)はMSNフォトダイオードを使
用した集積型受光素子の平面図、第4図(b)は第4図
(a)の等価回路図である。
また、第5図は第4図におけるv−■線に沿って切断し
た1つの素子の断面図である。
た1つの素子の断面図である。
MSNフォトダイオード22は、第5図の断面図に示さ
れるように、SJ、−InP基板3上にドープ量が10
”ell−3程度で厚さが約2.crmのN型Ga1n
AsSJ域22cが形成され、さらに、N型GaInA
s領域22c上に金、プラチナおよびシリコン合金の積
層体(^U/Pt/a−3i)で形成された櫛状の電極
22aおよび22bが交互に形成されたものである。こ
こで、N型Ga1nAs領域22c上の電極22aおよ
び22bの間、並びに、パターン配線51.52.53
および54とS、1.−1nP基板3との間には、厚さ
が3000人程度O3i3N、膜22dが形成されてい
る。また、MSNフォトダイオード12の構成はMSN
フォトダイオード22と同一で対称とされていて、電極
12aおよび12bはそれぞれ電極22bおよび22a
に対応している。
れるように、SJ、−InP基板3上にドープ量が10
”ell−3程度で厚さが約2.crmのN型Ga1n
AsSJ域22cが形成され、さらに、N型GaInA
s領域22c上に金、プラチナおよびシリコン合金の積
層体(^U/Pt/a−3i)で形成された櫛状の電極
22aおよび22bが交互に形成されたものである。こ
こで、N型Ga1nAs領域22c上の電極22aおよ
び22bの間、並びに、パターン配線51.52.53
および54とS、1.−1nP基板3との間には、厚さ
が3000人程度O3i3N、膜22dが形成されてい
る。また、MSNフォトダイオード12の構成はMSN
フォトダイオード22と同一で対称とされていて、電極
12aおよび12bはそれぞれ電極22bおよび22a
に対応している。
以上により、第4図(b)の等価回路に示されるような
一対のMSNフォトダイオード12および22で構成さ
れた集積型受光素子が形成される。
一対のMSNフォトダイオード12および22で構成さ
れた集積型受光素子が形成される。
第6図は本発明の集積型受光素子の第3の実施例を示す
図であり、第6図(a)はフォトトランジスタを使用し
た集積型受光素子の平面図、第6図(b)は第6図(a
)の等価回路図である。また、第7図は第6図における
■−■線に沿って切断した1つの素子の断面図である。
図であり、第6図(a)はフォトトランジスタを使用し
た集積型受光素子の平面図、第6図(b)は第6図(a
)の等価回路図である。また、第7図は第6図における
■−■線に沿って切断した1つの素子の断面図である。
フォトトランジスタ23は、第7図の断面図に示される
ように、S、1.−InP基板3上にP型GaInAs
4N域23cが形成され、また、Ga1nAsjl域2
3c上には金および金ゲルマニウムの積層体(^u/A
uGe)で形成された櫛状の電極23aおよび23bが
交互に形成されている。さらに、電極23aおよび23
bの下方のP型Ga1nAseJl域23c内には、そ
れぞれN型Ga1nAs領域23eが形成されている。
ように、S、1.−InP基板3上にP型GaInAs
4N域23cが形成され、また、Ga1nAsjl域2
3c上には金および金ゲルマニウムの積層体(^u/A
uGe)で形成された櫛状の電極23aおよび23bが
交互に形成されている。さらに、電極23aおよび23
bの下方のP型Ga1nAseJl域23c内には、そ
れぞれN型Ga1nAs領域23eが形成されている。
ここで、P型GaInAs領域23c上の電極23aお
よび23bの間、並びに、パターン配線51.52.5
3および54とS、!、−1nP基板3との間には、厚
さが3000人程度O3iJn膜23dが形成されてい
る。また、フォトトランジスタ■3の構成はフォトトラ
ンジスタ23と同一で対称とされていて、電極13aお
よび13bはそれぞれ電極23bおよび23aに対応し
ている。
よび23bの間、並びに、パターン配線51.52.5
3および54とS、!、−1nP基板3との間には、厚
さが3000人程度O3iJn膜23dが形成されてい
る。また、フォトトランジスタ■3の構成はフォトトラ
ンジスタ23と同一で対称とされていて、電極13aお
よび13bはそれぞれ電極23bおよび23aに対応し
ている。
以上により、第6図(b)の等価回路に示されるような
一対のフォトトランジスタ13および23で構成された
集積型受光素子が形成される。
一対のフォトトランジスタ13および23で構成された
集積型受光素子が形成される。
第8図は本発明の集積型受光素子の第4の実施例を示す
図であり、第8図、(a)はPINフォトダイオードを
使用した集積型受光素子の平面図、第8図(b)は第8
図(a)の等価回路図である。
図であり、第8図、(a)はPINフォトダイオードを
使用した集積型受光素子の平面図、第8図(b)は第8
図(a)の等価回路図である。
また、第9図は第8図におけるIX−IX線に沿って切
断した1つの素子の断面図である。
断した1つの素子の断面図である。
PINフォトダイオード24は、第9図の断面図に示さ
れるように、S、1.−InP基板3上にはN゛型In
P゛領域24hが形成され、このN゛型1nP領域24
h内にはN−型1nP領域24g、 N−型Gao、
ntIno、 5sAssi域24fおよびN型1nP
jil域24eがそれぞれ形成されている。N型1n
P 領域24eの中央部である受光領域には、Zn拡散
領域24cが形成されている。電極24aは金および金
ゲルマニウムの積層体(Au/AuGe )より成り、
N4型InP 85域24h、 N−型1nP領域24
g、N−型Gas、 awing、 5sAssl域2
4fおよびN型1nP領域24eの端部が接触するよう
なS、I、−1nP基板3上に形成されている。この電
極24aには、パターン配線53が接続されている。ま
た、電極24bは金、亜鉛および金の積層体(^u/Z
n/Au )より成るドーナッツ形状の電極で、Zn拡
散領域24cの周囲に接続するようになされている。こ
の電極24cには、パターン配vA54が接続されてい
る。ここで、電極24aおよび24bの周囲、並びに、
パターン配線51,52.53および54と8.1/−
1nP基板3との間には、5iJ4膜24dが形成され
ている。また、PINフォトダイオード14の構成はP
INフォトダイオード24と同一であり、電極14aお
よび14bはそれぞれ電極24aおよび24bに対応し
ている。
れるように、S、1.−InP基板3上にはN゛型In
P゛領域24hが形成され、このN゛型1nP領域24
h内にはN−型1nP領域24g、 N−型Gao、
ntIno、 5sAssi域24fおよびN型1nP
jil域24eがそれぞれ形成されている。N型1n
P 領域24eの中央部である受光領域には、Zn拡散
領域24cが形成されている。電極24aは金および金
ゲルマニウムの積層体(Au/AuGe )より成り、
N4型InP 85域24h、 N−型1nP領域24
g、N−型Gas、 awing、 5sAssl域2
4fおよびN型1nP領域24eの端部が接触するよう
なS、I、−1nP基板3上に形成されている。この電
極24aには、パターン配線53が接続されている。ま
た、電極24bは金、亜鉛および金の積層体(^u/Z
n/Au )より成るドーナッツ形状の電極で、Zn拡
散領域24cの周囲に接続するようになされている。こ
の電極24cには、パターン配vA54が接続されてい
る。ここで、電極24aおよび24bの周囲、並びに、
パターン配線51,52.53および54と8.1/−
1nP基板3との間には、5iJ4膜24dが形成され
ている。また、PINフォトダイオード14の構成はP
INフォトダイオード24と同一であり、電極14aお
よび14bはそれぞれ電極24aおよび24bに対応し
ている。
以上により、第8図(b)の等価回路に示されるような
一対のPINフォトダイオード14および24で構成さ
れた集積型受光素子が形成される。
一対のPINフォトダイオード14および24で構成さ
れた集積型受光素子が形成される。
上述した4つの実施例は、集積型受光素子として、フォ
トコンダクタ、MSNフォトダイオード、フォトトラン
ジスタおよびPINフォトダイオードを使用したもので
あるが、本発明の集積型受光素子は上記した4種類の受
光素子に限定されるものではない。
トコンダクタ、MSNフォトダイオード、フォトトラン
ジスタおよびPINフォトダイオードを使用したもので
あるが、本発明の集積型受光素子は上記した4種類の受
光素子に限定されるものではない。
以上、詳述したように、本発明に係る集積型受光素子は
、一対の受光素子を同一基板上に隣接して形成し、それ
らの受光素子と端子との接続を基板上に対称に形成した
パターン配線で行うことによって、2つの受光素子のそ
れぞれ寄生する不要成分を互いに等価にすることができ
る。
、一対の受光素子を同一基板上に隣接して形成し、それ
らの受光素子と端子との接続を基板上に対称に形成した
パターン配線で行うことによって、2つの受光素子のそ
れぞれ寄生する不要成分を互いに等価にすることができ
る。
第1図は本発明に係る集積型受光素子の原理を示す図、
第2図は本発明の集積型受光素子の第1の実施例を示す
図、 第3図は第2図における■−■線に沿って切断した1つ
の素子の断面図、 第4図は本発明の集積型受光素子の第2の実施例を示す
図、 第5図は第4図における■−■線に沿って切断した1つ
の素子の断面図、 第6図は本発明の集積型受光素子の第3の実施例を示す
図、 第7図は第6図における■−■線に沿って切断した1つ
の素子の断面図、 第8図は本発明の集積型受光素子の第4の実施例を示す
図、 第9図は第8図におけるIX−IX線に沿って切断した
1つの素子の断面図、 第10図はコヒーレント光通信に使用するDBORの要
部を概略的に示す図、 第11図はDBORに使用する従来の受光素子の一例を
示す図である。 (符号の説明) ■・・・第1の受光素子、 2・・・第2の受光素子、 3・・・基板、 11.21・・・フォトコンダクタ、 12.22・・・MSNフォトダイオード、13.23
・・・フォトトランジスタ、14.24・・・PINフ
ォトダイオード、41.42.43・・・端子、 51.52.53.54・・・パターン配線。
図、 第3図は第2図における■−■線に沿って切断した1つ
の素子の断面図、 第4図は本発明の集積型受光素子の第2の実施例を示す
図、 第5図は第4図における■−■線に沿って切断した1つ
の素子の断面図、 第6図は本発明の集積型受光素子の第3の実施例を示す
図、 第7図は第6図における■−■線に沿って切断した1つ
の素子の断面図、 第8図は本発明の集積型受光素子の第4の実施例を示す
図、 第9図は第8図におけるIX−IX線に沿って切断した
1つの素子の断面図、 第10図はコヒーレント光通信に使用するDBORの要
部を概略的に示す図、 第11図はDBORに使用する従来の受光素子の一例を
示す図である。 (符号の説明) ■・・・第1の受光素子、 2・・・第2の受光素子、 3・・・基板、 11.21・・・フォトコンダクタ、 12.22・・・MSNフォトダイオード、13.23
・・・フォトトランジスタ、14.24・・・PINフ
ォトダイオード、41.42.43・・・端子、 51.52.53.54・・・パターン配線。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、基板(3)上に形成された第1の受光素子(1)と
、 該第1の受光素子(1)と同一素子で該第1の受光素子
(1)に隣接して前記基板(3)上に形成された第2の
受光素子(2)と、 前記第1の受光素子(1)の一方の電極(1a)と第1
の端子(41)とを接続する第1のパターン配線(51
)と、 前記第1の受光素子(1)の他方の電極(1b)と第2
の端子(42)とを接続する第2のパターン配線(52
)と、 前記第2の受光素子(2)の一方の電極(2a)と前記
第2の端子(42)とを接続する第3のパターン配線(
53)と、 前記第2の受光素子(2)の他方の電極(2b)と第3
の端子(43)とを接続する第4のパターン配線(54
)と、 を備え、前記第1のパターン配線(51)と前記第4の
パターン配線(54)、および、前記第2のパターン配
線(52)と前記第3のパターン配線(53)を前記基
板(3)上に対称に形成し、前記第1の受光素子(1)
と前記第2の受光素子(2)とにそれぞれ寄生する不要
成分を互いに等価にすることを特徴とする集積型受光素
子。 2、前記第1のパターン配線(51)と前記第4のパタ
ーン配線(54)、および、前記第2のパターン配線(
52)と前記第3のパターン配線(53)は、前記第1
の受光素子(1)と前記第2の受光素子(2)とを結ぶ
線分(L)の垂直二等分線(l)について対称となって
いる特許請求の範囲第1項に記載の素子。 3、前記第1および第2の受光素子(1、2)は、フォ
トコンダクタで構成されている特許請求の範囲第1項に
記載の素子。 4、前記第1および第2の受光素子(1、2)は、MS
Mフォトダイオードで構成されている特許請求の範囲第
1項に記載の素子。 5、前記第1および第2の受光素子(1、2)は、フォ
トトランジスタで構成されている特許請求の範囲第1項
に記載の素子。 6、前記第1および第2の受光素子(1、2)は、PI
Nフォトダイオードで構成されている特許請求の範囲第
1項に記載の素子。 7、前記第1、第2、第3および第4のパターン配線(
51、52、53、54)は、前記基板(3)上に蒸着
された金属パターンで形成されている特許請求の範囲第
1項に記載の素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62148005A JPS63312673A (ja) | 1987-06-16 | 1987-06-16 | 集積型受光素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62148005A JPS63312673A (ja) | 1987-06-16 | 1987-06-16 | 集積型受光素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63312673A true JPS63312673A (ja) | 1988-12-21 |
Family
ID=15442979
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62148005A Pending JPS63312673A (ja) | 1987-06-16 | 1987-06-16 | 集積型受光素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63312673A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03104175A (ja) * | 1989-09-18 | 1991-05-01 | Hamamatsu Photonics Kk | 半導体受光素子 |
JP2013038216A (ja) * | 2011-08-08 | 2013-02-21 | Mitsubishi Electric Corp | 光受信モジュール |
-
1987
- 1987-06-16 JP JP62148005A patent/JPS63312673A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03104175A (ja) * | 1989-09-18 | 1991-05-01 | Hamamatsu Photonics Kk | 半導体受光素子 |
JP2013038216A (ja) * | 2011-08-08 | 2013-02-21 | Mitsubishi Electric Corp | 光受信モジュール |
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