JPS63311738A - 試料固定方法 - Google Patents

試料固定方法

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Publication number
JPS63311738A
JPS63311738A JP62147522A JP14752287A JPS63311738A JP S63311738 A JPS63311738 A JP S63311738A JP 62147522 A JP62147522 A JP 62147522A JP 14752287 A JP14752287 A JP 14752287A JP S63311738 A JPS63311738 A JP S63311738A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
fixing
stand
oil film
fixed
Prior art date
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Pending
Application number
JP62147522A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshio Sasaoka
笹岡 俊雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Omron Tateisi Electronics Co
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Filing date
Publication date
Application filed by Omron Tateisi Electronics Co filed Critical Omron Tateisi Electronics Co
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Publication of JPS63311738A publication Critical patent/JPS63311738A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Electron Beam Exposure (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の分野〕 本発明は電子ビーム描画装置、精密測定機器。
エネルギービーム加工装置等に用いられ、試料を試料台
上に固定する固定方法に関するものである。
〔従来技術とその問題点〕
(従来技術) 従来例えばフレネルレンズ等の微細なパターンを円板上
の試料に描画するためには電子ビーム等によるパターン
描画が用いられる。このようなパターン描画において試
料を試料台上に固定する際には、例えば第2図に示すよ
うに試料台1上に接着材層2を塗布し、その上面に平行
度の高い試料3を押圧して固定するようにした方法が用
いられている。
(発明が解決しようとする問題点) 従ってこのような試料の固定方法では、接着材層2に凹
凸があれば図示のように試料の平行度が損なわれたり、
試料が高い硬性を有する場合には例えば第3図に示すよ
うに接着材層によって試料台と試料と平行でなくなるこ
とがあった。そのため試料の特定位置に電子ビームの焦
点を一致させると他の位置では焦点が不一致となること
があり、正確なパターン描画を行うことができなくなる
という問題点があった。又試料3は試料台1上に強固に
固定されているために、描画後試料を取り外すときに破
損の可能性があるという問題点もあった。又微細なパタ
ーンの描画は真空中で行われるが、接着材を真空中で用
いた場合には接着材からガスを発生することがあり、真
空度が損なわれるという問題点もあった。
〔発明の目的〕
本発明はこのような従来の試料固定方法の問題点に鑑み
てなされたものであって、真空中で試料を固定する際に
試料の平行度を損なうことなく固定できるようにするこ
とを技術的課題とする。
〔発明の構成と効果〕
(問題点を解決するための手段) 本発明は試料台上に試料を固定する固定方法であって、
第1図に示すように、試料台上に油膜を塗布する塗布工
程と、油膜が塗布された試料台上に試料をt2置する載
置工程と、試料台上に載置された試料を押圧することに
よって試料を固定する固定工程と、を有することを特徴
とするものである。
(作用) このような特徴を有する本発明によれば、試料台上に油
膜を塗布した後試料を押圧、固定することによって試料
を取付けている。従って試料は極めて薄い油膜を介して
油膜の分子間結合力による固着力により強固に試料台に
固定されることとなる。
(発明の効果) そのため本発明によれば、油膜の厚さが極めて薄く例え
ば数ミクロン程度であるため電子ビームの焦点不一致が
生じることがなくなる。又試料を固定しても試料の平行
度がそのまま保持され試料表面に平面精度が劣化するこ
とがない。更に油膜を用いるため油膜からガスを生じる
ことがなく、真空中で試料に描画する場合にも真空度を
低下させることなく試料を固定することが可能となる。
〔実施例の説明〕
第1図は本発明の一実施例による試料の固定方法を示す
図である。試料台1上に試料を固定する際にはまず試料
台1上に油膜10を塗布する。油膜10は例えば真空中
で使用してもガスを発生させないフッ素系のオイルやグ
リス等を用いるものとし、試料台の表面に均一に塗布す
ることとする。
その後第1図(blに示すように例えばシリコンウェハ
等の試料3を真空吸着器11等を用いて保持して油膜1
0上に載置する。その後第1図(C)に示すように例え
ばエアシリンダ12によって押圧台13を介して試料3
を試料台1上に押圧して固定する。こうずれば試料3が
試料台l上に分子間結合力による固着力により固定され
る。この場合油膜10の膜厚は極めて薄く例えば数ミク
ロンの膜厚となるため、容易に試料を剥離することがで
きず試料3は試料台1上に強固に固定されることとなる
。この後図示しない描画装置に用いて試料3上にパター
ン描画を行うこととする。こうすれば真空中で試料を固
定しても試料上面の平行度が保たれ、しかも油膜よりガ
スが生じることがなく真空魔境を汚染することがないと
いう効果が得匂れる。
又試料3を試料台より取り外す場合には、試料台1をわ
ずかに湾曲させるだけで極めて容易に取り外すことがで
きる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例による試料固定方法を示す図
、第2図は接着材を用いて試料を試料台上に固定する従
来の方法を示す図であり、第3図は従来の試料台上に接
着剤で固定した試料に電子描画を用いてパターン描画す
る状態を示す図である。 1−・・−・試料台  3−・−・・試料  10−−
−−−一油膜12−・−・−エアシリンダ 特許出願人   立石電機株式会社 代理人 弁理士 岡本宜喜(他1名) 第1図 1−−−−−−a、斜當 3−・−−−一言艮料 1o・−*嗅 第2図 ↓ 第3図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)試料台上に試料を固定する固定方法であって、 試料台上に油膜を塗布する塗布工程と、 油膜が塗布された試料台上に試料を載置する載置工程と
    、 試料台上に載置された試料を押圧することによって試料
    を固定する固定工程と、を有することを特徴とする試料
    固定方法。
  2. (2)前記試料台に塗布される油膜は、フッ素系材料に
    よる油膜であることを特徴とする特許請求の範囲第1項
    記載の試料固定方法。
JP62147522A 1987-06-12 1987-06-12 試料固定方法 Pending JPS63311738A (ja)

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JPS63311738A true JPS63311738A (ja) 1988-12-20

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016099341A (ja) * 2014-11-19 2016-05-30 ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツングDr. Johannes Heidenhain Gesellschaft Mit Beschrankter Haftung キャリヤに固定された測定原器を有する装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016099341A (ja) * 2014-11-19 2016-05-30 ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツングDr. Johannes Heidenhain Gesellschaft Mit Beschrankter Haftung キャリヤに固定された測定原器を有する装置

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