JPS63302829A - Ｘ線断層撮影装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はＸ線断層撮影方法および装置に係り、特に、主
として平行に近いＸ線束を用いて、被検体の注目部分を
より高分解能に計測し得るＸ線断層撮影方法および装置
に関する。

〔従来の技術〕

Ｘ線断層撮影法（Ｘ　＠　ＣＴ　；　Ｘ　−ｒａｙ、Ｃ
ｏｍｐｕｔｅｄＴｏｍｏｇｒａｐｈｙ　）は人体の診断
手法として考案され、現在では広く医療機関で用いられ
ているが、近年本手法は工業材料の欠陥や異物の検査等
へ応用されるなど、その広い技術的可能性が注目されて
いる。ところで、ここ数年、このようなＸａ断層撮影装
置に、被検体の一部分のみをより高分解能に計測表示す
る機能をもたせる試みがなされている。

例えば、人体の全身を計測できる装置で、頭部のみをよ
り高分解能に計測できれば便利となるからである。

医療用では、例えば特開昭５６−１６１０３９号公報で
、位置敏感型の検出器で中央部の素子間隔が狭く、端部
は両側とも素子間隔が広いものを用いることで、中央の
注目部分のみ高分解能を断層像とするような手法がとり
あげられている。また、特開昭５８−３２７４９号公報
でも、検出器に中央部に素子が密の検出器、その片方に
素子が粗の検出器をつなげたような形状のものを用いて
いる。また、ファンビームも、光源と回転中心を結ぶ線
に対し対称でないようなものを用い、中央部の注目部分
のみを高分解能に計測・表示する手法が提出されている
。さらに、特開昭５８−１４９７３９号公報では、第２
世代の装置に関して、走査の量を減らし、注目部分の外
側は外挿を行って、注目部分のみ高分解能な断層像を得
ることのできる手法が記述されている。

また、後述する本発明の実施例で単色Ｘ線による断層像
計測について説明するが、その単色Ｘ線を利用した断層
像計測については、特開昭５４−１５１３８７号公報等
がある。また、シンクロトロン軌道放射光を用いた単色
Ｘ線による断層像計測については、Ｌ、　Ｇｒｏｄｚｉ
ｎｓ、　Ｎｕｃｌｅａｒ　Ｉｎｓｔｒｕｍｅｎｔｓ　ａ
ｎｄＭｅｔｈｏｄｓ、　　２０６．ｐ、５４１．ｐ、５
４７（１９８３）。

およびＡ、　Ｃ，Ｔｈｏｍｐｓｏｎ、　ａｔ　ａｌ、、
　ＮｕｃｌｅａｒＩｎｓｔｒｕｍｅｎｔｓ　ａｎｄ　Ｍ
ｅｔｈｏｄｓ　ｉｎ　Ｐｈｙｓｉｃａｌ　Ｒｅ５ｅａｒ
ｃｈ。

２２２、ｐ、３１９（１９８４）等の報告がなされてい
る。このような単色Ｘ線の利用は、断層像の定量性の向
上に極めて有効である。

〔発明が解決しようとする問題点〕

注目部分の断層像を高分解能に計測・表示しようとする
場合、従来の方法では、前述したように、検出器に素子
間隔の狭い領域と広い領域とを組み合わせたような複雑
形状のものを用いる必要があった。しかし、特に工業材
料の評価等のために非常に素子間隔が狭い検出器を用い
た場合、このような複雑形状のものを準備するのは、実
際１廻しいという問題があった。

また一方で、ＣＴ技術の課題として現在達成できる検出
器の分解能より、より高分解能な断層像を、注目部分だ
けでもよいから入手したいという要望や、高分解能の検
出器を用いた場合、その検出器の全長より幅のある被検
体の注目部分を、高分解能に計測したいといったことが
ある。

本発明の目的は、以上の点をふまえて、検出器に複雑形
状のものを用いないでも、注目部分の断Ｊ！像をより高
分解能に計測することが可能な方法および装置を提供す
ることにある。

〔問題点を解決するための゛手段〕

本発明に係るＸ線断層撮影方法は、Ｘ線を被検体の全体
と注目部分とを各々別個に透過させ、この二組の透過Ｘ
線の少なくとも一方は分解能変更手段により他方の透過
Ｘ線と分解能を異ならせて検出器に導き、前記二組の透
過Ｘ線より得られる二組の透過量計測データから被検体
の注目部分の高分解な断層像を得るものである。

第２の発明であるＸ線断層撮影装置は、Ｘ線を被検体の
全体と注目部分とを各々別個に透過させ、Ｘ線経路中に
前記二組の透過Ｘ線の少なくとも一方の分解能を変更す
る分解能変更手段を設けると共に、データ処理装置は前
記二組の透過Ｘ線に基づく二組の透過量計測データから
被検体の注目部分の高分解能な断層像を得るものである
。

〔作用〕

第１の発明によれば、一定の分解能の検出器であっても
、被検体の注目部分の高分解能な断層像が得られる。

第２の発明によれば、分解能変更手段を設けるだけで、
検出器自体の分解能を高めるために該検出器の構造を複
雑化する必要なく、高分解能の透過量計測データが得ら
れる。

すなわち、被検体全体の断層像計測と、注目部分のより
高分解能な計測の２度の計測により、それらのデータを
組み合わせることで、注目部分の高分解能な断層像を得
ることができる。特に、平行に近いＸ線束を用いた場合
、非対称反射結晶板を分解能変更手段として用いること
ができ、像の拡大が可能なため、これを注目部分の計測
に応用することで、使用する位置敏感型の検出器固有の
分解能より高い分解能で、注目部分の断層像を得ること
が可能となる。これは、素子間隙が狭く、もともと分解
能の高い検出器を用いた場合、それ以上の分解能を検出
器の工作で出すのは難しいので、非常に有効である。

また、平行に近いＸ線束の場合は、前記非対称反射結晶
板を逆向きに使うことで像の縮小が可能なため、これを
被検体全体の断層像計測に用いることによって、検出器
の全長より幅のある被検体の計測が可能となる。これは
、分解能の高い検出器を用いた場合、どうしても検出器
の全長が短かくなるので、その場合に有効である。あと
の２例は、非対称反射結晶板を利用することで、結果的
に単色Ｘ線による断層像を計測することになるので、定
量性等にも大変価れている。

Ｘ線源として扇形状に拡がるファンビームを用いた場合
、被検体をＸ線源側に相対的に近づけることで分解能向
上を達成することができる。しかし、従来の手法では、
ファンビームから被検体がはみ出る迄動かすことはかな
った。本手法では、被検体の全体を透過するＸ線の計測
は、ファンビーム内に被検体を置いて行い、注目部分の
透過Ｘ線の計測は、被検体をファンビームからはみ出る
迄、Ｘ線源側へ相対的に近づけて行う。これにより、一
層の分解能向上が期待できる。本手法の分解能変更手段
は、被検体の支持台を、Ｘ線源側にファンビームの拡が
り範囲を越える位置迄相対的に接離自在とすることによ
り構成される。二つの計測データにより被検体の注目部
分の高分解能な断層像を得る点は、前述のものと変わら
ない。

〔実施例〕 まず、本発明の原理を概説する。位置敏感型の検出器を
用いた断層像計測法で断層像の空間分解能を決定するの
は、検出素子の間隔である。しかし、技術的にこの間隔
を狭めるには限度があり。

断層像の分解能をさらに向上させるためには、光学系の
工夫等が必要である。光源として平行に近い単色Ｘ線を
用いると、非対称反射結晶板を利用して像の拡大が可能
であり、試料部での高い分解能を達成することができる
。第３図は、この像の拡大を説明したもので、被検体で
ある試料を透過してきた単色Ｘ線１を１回折結晶面１９
とブラック角ＯＢをなすように入射させると、Ｘ線は回
折結晶面１９においてブラッグ反射し、結晶表面１８に
対しては、同図に示すような非対称な角度で出射される
。この際、長さＱｌのものがＱ２へ拡大される。その拡
大率は、 拡大率＝　Ｑ　ｚ／　Ｑ　１＝ｓｉｎ（Ｏａ＋α）／５
ｉｎ（θｒｓ＋ａ）・・・（１） で表わされる。ここで、αは回折結晶面１９と結晶表面
１８とのなす角である。この方法で、光源に単色光では
なく、連続光で平行に近いＸ線を用いると、非対称反射
結晶板の回折結晶面１９とちょうどブラッグ角θＢをな
す波長のＸ線のみがブラッグ反射され、単色化と拡大を
同時に行うことができる。この手法は、このように利用
できることももちろんである。

本発明は、注目部分の計測に上記方法を用いたものであ
る。被検体の断層面全体の測定にあっては、分解能変更
手段として非対称反射結晶板を用いずに計測し、続く注
目部分の測定では、非対称反射結晶板による拡大で注目
部分の分解能のよい測定データを得る。これらのデータ
より、検出器の分解能以上の注目部分の高分解能な単色
Ｘ線断層像を求めることが可能である。

光源が平行に近いＸ線の場合、結晶による非対称反射は
、第４図に示したごとく、上記のような拡大ばかりでな
く、縮小にも利用できる。素子間隔の狭い検出器は、全
長が短かいので、被検体の断層面全体をカバーできない
ことがある。このような場合、上記縮小法により、被検
体断面全体の断層像測定が可能となる１本発明には、こ
の手法も用いることができる。すなわち、まず本縮小法
により、被検体の断層面全体の計測を行ったのち、注目
部分を非対称反射結晶板を置かずに、あるいは前述した
拡大法を用いて測定し、両データから注目部分の分解能
のよい単色Ｘ線断層像を求め得る。

これまで記述してきたように、本発明は、断層像の測定
に当り、被検体の断層面全体の測定と、その中の注目部
分の分解能の高い測定とから、該注目部分の高分解能な
断層像を得ようとするものである。これら二つの測定デ
ータを実際に組み合わせる手法は、種々考えられるが１
両者の７ングルピツチ数（投影像の数）を同数に設定し
た場合には、以下のような手法がとれる。それは、各投
影毎に、両データを組み合わせる方法で、その概要を第
５図に示す。同図は、ある投影の吸収曲線を描いたもの
で、Ｘは検出器のチャンネル、０は被検体へ入射するＸ
線の角度、μｔは吸光度を示す。図中、全体に拡がった
曲線２２は、断層面全体の計測で得られたデータで、斜
線部２１は、高分解能な部分測定で得られた領域である
。拡大図２４から分かるように、部分測定で得られたデ
ータ２３は、単位長さ当りの測定チャンネル数が多くな
っている。ところで、像再生を行うためには、等間隔の
計測データが必要であるから、斜線部２．１の外側の部
分を、部分測定のデータ２３の間隔と同じ間隔で分割し
て、見掛は上の測定データを算出することで、像再生が
可能となる。

この見掛は上の測定データを求める方式は、幾通りか考
えられるが、最も単純には、隣り合う二つの計測データ
を直線で結び、それを分割して見掛けの測定データとす
る方法がある。また、隣接する数個から数十個の計測デ
ータについて、２次以上の多項式をカーブフィツトし、
最小自乗法等で最適な曲線を求めて、それを分割する手
法も考えられる。その他分割点から計測点までの距離の
逆数を重みとして、隣接する数個のデータから算出する
手法等も考えられる。いずれにせよ、このような手法で
得られた見掛は上の測定データと、部分測定で得られた
データとを組み合わせることで、像再生が可能となり、
注目部分の高分解能な断層像を得ることができる。

断層面全体の計測データと、部分測定のデータとを組み
合わせる別の手法として、以下のようなものも考えられ
る。すなわち、断層面全体の像再生をまず行ったのちに
部分測定に移る方法で、予め求める注目部分の領域を、
例えば部分測定のときのスキャン幅を直径とする円内等
と決めておき、部分測定時の計測データから、この領域
の外側で吸収される量を全体の断層像から求めて差し引
くことで、注目部分の高分解能な断層像を求めることが
できる。第６図は、その手法を示したもので、図中、被
検体６の点線部分２８で吸収される量を全体の断層像か
ら求め、それを計測データがら差し引くことで、注目部
分２６のみの投影像を得るわけである。２７は注目部分
のみの吸収曲線を示す。

点線部分２８での吸収量の計算は、種々の方法が考えら
れるが、全体の断層像の各画素を細かく分割して、得ら
れた細かな画素の吸収係数を、もともとの大きな画素の
値から求めて、さらに部分測定の各投影時に、各検出素
子に入射するＸ線の透過領域と、この細かな画素の重な
り具合いから、やはり比例配分等をして点線部分２８で
の吸収量を求める手法が簡便である。細かな画素の吸収
係数の値は、例えば第７図に示すように、隣接４個の大
きな画素の値から求めればよい。同図において、３１は
断層像全体計測時の画素、３２は分割により得られた細
かな画素を示す。大きな画素の中心から、求めるべき小
さな画素の中心までの距離の逆数の重みをつけて平均化
することで、算出することが可能である。本手法により
、第７図の斜線部分で表わされる細かな画素Ａ　（４，
４）の吸収係数μ＾（４，４）は、隣接４個の大きな画
素Ａ、Ｂ、Ｃ，Ｄの各吸収係数μΔ〜μＤと、その中心
から各画素の中心までの距離Ｑ＾〜Ｑｏとから、より求
まる。この例では、 ・・・（３） となる。

ところで、このようなデータの組み合わせ手法は、アン
グルピッチ数を合わせる必要がない等の利点がある。

次に、本発明の実施例を第１図に基づいて説明する。初
めに、平行に近いＸ線束を用い、注目部分の測定にあっ
ては、非対称反射による像の拡大を行うことを特徴とす
る測定方法および装置について説明する。同図はその概
要を示したものである。装置は、平行に近いＸ線束１（
または１′）、そのＸ線束の形状を整える入射スリット
４（または４′）、被検体６の透過光の散乱線を一部除
去する出射スリット５（または５′）、像の拡大を必要
に応じて行うための非対称反射結晶板３よりなる分解能
変更手段、最終的にＸ線を検出する位置敏感型検出器９
（または９′）、データの出し入れや走査系等への駆動
信号送信を行うシーケンサ１３、シーケンサ１３をはじ
めとする系全体の制御と演算処理を行うコンピュータよ
りなるデータ処理装置１４、および得られた断層像等を
映すための画像表示装置１６．データ保存用の磁気ディ
スク装置１７９人間から命令を送るためのキーボード１
５等から構成されている。１０は検出器用回転ステージ
、１１は非対称反射結晶板３用の回転ステージ、１２は
同結晶板３の移動や調整を行うための支持台である。ま
た、８は被検体６の支持回転・走査ステージ、７は被検
体６の注目部分を表わしている。２（または２′）、最
終的に検出器９（または９′）で検出するＸ線束である
。

最初に、被検体６の断層面全体の計測を行う。

その場合、非対称反射結晶板３の支持台１２を移動させ
て、該結晶板３がＸ線束の経路より外れるようにして、
位置敏感型の検出器９′で被検体６の全体透過Ｘ線のＸ
線束２′を検出する。１回の投影像測定が終わったら、
被検体６を一定角度回転して、次の測定を行う。これを
、被検体６が１８０度ないし３６０度回転するまで繰り
返して。

像再生に必要な一連の透過量計測データを得る。

次に、注目部分７の計測に移る。今度は、非対称反射結
晶板３の支持台１２を逆方向に移動させて、該結晶板３
がＸ線束を非対称反射する位置までもっていく。被検体
６を透過したＸ線は、ここで非対称反射されることで、
前述の第３図に示したごとく拡大されて、位置敏感型の
検出器９へ入射する。この検出器９は、検出器用回転ス
テージ１０により前記検出器９′を同図の位置に移動さ
せたものである。そのため、検出器９の分解能で決まっ
ていた測定系の解像力は、この拡大された分だけ向上し
、より分解能の高い被検体６の計測データを得ることが
できる。入射Ｘ線束１が単色光の場合、非対称反射結晶
板３は、その回折結晶面１９でその単色Ｘ線をブラッグ
反射するよう入念に調整しておく。また、入射ｘ１束１
には連続光を用い、非対称反射結晶板３で単色化を行う
場合には、被検体６についての最初の断層面全体の測定
の際に、別途入射Ｘ線を分光して、同じ単色Ｘ線を得る
ようにする。非対称反射は非常に厳密な条件で行われる
ため、非対称反射結晶板３の結晶表面１８の切り出しお
よびセツティングは、入念に行う必要がある。また、断
ＷＪ像計測にあたっては、被検体６の回転中心と検出器
９，９′の相互位置を厳密に設定する必要があるので、
計測を行う前に、被検体６の回転中心位置、２回にわた
る計測の検出器９，９′の位置、非対称反射結晶板３の
位置や角度等を十分に調整しておくことが必要である。

非対称反射結晶板３は、用いるＸ線の波長や拡大率、Ｘ
線束の形状等を考慮して準備する必要がある。データ処
理に関して気を付けねばならないことは、非対称反射に
よって拡大されたＸ線束は、左右が反転していることで
ある。このため１両計測データから注目部分７の高分解
能な断層像を求める際には、注意を要する。

本実施例では、平行に近いＸ線束としてシンクロトロン
軌道放射光を用い、チャンネルカット型のＳｉ単結晶分
光器で分光し、単色Ｘ線とした。

これは、シンクロトロン軌道放射光がほとんど平行に近
く１強度の大きな光だからである。検出器９．９′には
、素子間隔２５μｍ、高さ２．５ｍ。

素子数１０２４個のフォトダイオードアレイを用いた。

この検出器９，９′は、Ｘ線を検出するために表面にシ
ンチレータが塗布しである。分解能変更手段としての非
対称反射結晶板３は、回折面が（２２０）面であるＳｉ
単結晶を用い、結晶表面１８と回折結晶面１９とのなす
角αは、α＝６．２°　に切り出しである。先ず初めに
、断層像全体の計測を行うために、スリット４・′でＸ
線束を幅３０　ｎｏ　、厚さ０．５ｍに成形した。また
、非対称反射結晶板３は、支持台１２を動かすことで、
Ｘ線束の経路より外れるようにしておく。検出器９′は
、検出器用回転ステージ１ｏにより入射Ｘ線１′の正面
の位置にもっていって、測定を行う。

被検体６の回転、投影像測定を繰り返すことで、直径２
５膿以内の被検体６の全体断層像である全体透過量計測
データを計測することができる。

次に、注目部分７の測定を行うために、スリット４で入
射Ｘ線束を幅８　ｍｍ　、厚さ０　、５　ｎｍに成形し
た。非対称反射結晶板３を支持台１２によりＸ線束を非
対称反射できる位置へもっていく。また、非対称反射結
晶板３は、測定を始める前に予め、用いる単色Ｘ線が該
結晶板３中の回折結晶面１９でブラッグ反射し、検出器
９へ入射するよう、その傾きやあおりを調整しておく。

検出器９の設定位置も、測定前に確認しておき、部分計
′ＪＩｌｌに移った際に、その位置まで精度よくもって
いく。ここで用いた非対称反射結晶板３では、波長０．
８２７人（１５ｋｅＶ）の単色Ｘ線に対し約３倍、波長
０．６２０人（２０ｋ　ｅ　Ｖ）では約５倍、波長０．
４９６人（２５ｋ　ｅ　Ｖ）では約１１倍の拡、大が行
われ、これにより、はぼその分だけ検出器９の固有の分
解能より優れた解像力を得ることができる。やはり、全
体の断層像計測の場合と同様な走査を行って、注目部分
７の高分解能な要部透過量計測データを得る。

このようにして得た２組の計測データから、注目部分７
の分解能の高い断層像を求める手法としては、既述した
二つの方法を用いた。すなわち、一つは、各投影像毎に
補正する手法で、見掛けの測定データを、隣接チャネル
のデータの直線近似より求めた（第５図）。、他の手法
は、一旦全体の断層像を求めて、注目部分７より外側の
吸収量を算出し、この注目部分７の計測データより差し
引くことで、該注目部分７のみの投影像を求め、それか
ら断層像を求める手法である（第６図）。

以上、注目部分７の測定の際に、非対称反射結晶板３を
用いた非対称反射による像拡大に応用した場合の一例に
つき記述したが、本発明は、本実施例に限定されるもの
ではない。測定系およびデータの組み合わせ法は、その
他の選択や組み合わせが可能である。光源は、シンクロ
トロン軌道放射光以外のもので、無論かまわない。検出
器９゜９′も、本実施例に用いたフォトダイオードアレ
イばかりでなく、医療用によく用いられるガスチェンバ
や、またより分解能の高い撮像管等を利用することもで
きる。非対称反射結晶板３は、拡大率２反射率、Ｘ線束
の形状、Ｘ線の波長等を考慮して、できれば数種類用意
しておくのがよい。また、Ｘ線が全く平行ではなく、わ
ずかな拡がりをもっている場合には、非対称反射結晶板
３をわずかに凹面になるように加工して用いることも可
能である。Ｘ線を当初は単色化せずに、非対称反射の際
、はじめて単色化することも可能だが、その場合は、全
体の断層像計測時に別途分光を行って、必要な単色Ｘ線
を取り出し、断層面の位置を注意深く合わせて計測を行
う必要がある。

次に、第２図に基づいて他実施例を示す。この実施例は
、平行に近いＸ線束を用い、全体の断層像計測時に非対
称反射による像の縮小を行うことを特徴とする測定方法
および装置の事例である。

装置の構成は第１図のものと同様である。ただし、分解
能変更手段である非対称反射結晶板３が拡大ではなく、
縮小を行う向きに固定されている。最初に被検体６の断
層面全体の計測を行う場合は、該結晶板３の支持台１２
を移動させて、該結晶板３が入射Ｘ線１のＸ線束を非対
称反射する位置までもっていく。被検体６を透過したＸ
線は、ここで非対称反射されることで縮小されて、位置
敏感型の検出器９へ入射する。この手法により、検出器
９の全長より幅のある被検体６の断層像の計測が可能と
なる。次に、注目部分７の計測を行う。

該結晶板３の支持台１２を移動させて、該結晶板３がＸ
線束の経路より外れるようにして、そのまま入射Ｘ！！
１の正面に設置した検出器９′で、被検体６の透過光を
検出する。あるいは、非対称反射結晶板３の上にさらに
拡大用の非対称反射結晶板を並設して拡大を行い、より
小さい領域をより高分解能に計測してもよい０本実施例
では、非対称反射結晶板３を縮小用として用いるため、
該結晶板３を透過Ｘ線の経路から外すことが、分解能を
向上させることになる。計測走査および光学系・非対称
反射結晶板の調整、前準備等は、前記実施例と同様であ
る。また、非対称反射の際には、やまり左右が反転する
点も゛同様である。本縮小法の利用は、素子間隔の狭い
位置敏感型の検出器９はどうしても全長が短かくなるの
で、そのような検出器９を用いた場合に、特に有効であ
る。

本実施例では、前記実施例と全く同様なシステムをとっ
た。すなわち、Ｘ線束にはシンクロトロン軌道放射光を
分光し九ものを用い、検出器９にはフォトダイオードア
レイを、また非対称反射結晶板３は全く同じものを向き
を変えて、縮小を行うように固定した。断層全体の計測
にあっては。

スリット４でＸ線束を幅６０ｍｍ、厚さ０．５■に成形
し、また被検体６を透過したＸ線を非対称反射結晶板３
で縮小して、検出器９に入射するようにした。また、注
目部分７の計測では、ここではスリット４′でＸ線束を
幅１５膿、厚さ０．５ｍに成形し、それを入射光の正面
に置いた検出器９′で検出するようにした。前記実施例
と同様な手法により、両計測データを組み合わせて、注
目部分７の高分解能な断面像を得た。因みに、縮小率は
、前記実施例の拡大率の逆数で、波長０．８２７人（１
５ｋ　ｅ　Ｖ）では約１／３．波長０．６２０人（２０
ｋ　ｅ　Ｖ）では約１１５である。測定系、走査系、２
組の計測データの組み合わせ法等、本発明が本実施例に
限定されるものでないことは、前記実施例と全く同様で
ある。特に、より分解能の高い検出器である撮像管等を
用いた場合、検出器の全長が短かく、本手法は有効であ
る。被検体６を大きくしていく４と、それだけ縮小率を
上げる必要があるが、その際、非対称反射結晶板３の全
長も、より長いものが必要になる。

〔発明の効果〕

本発明方法によれば、一定の分解能の検出器に、被検体
の全体と注目部分とを各々別個に透過させたＸ線であっ
て、少なくともその一方を分解能増加手段により分解能
を異ならせた二組の透過Ｘ線を導き、これにより得られ
る二組の透過量計測データからデータ処理装置によって
、被検体の注目部分の断層像を検出器の固有分解能より
高分解にて得ることができる。

また１本発明装置によれば、分解能変更手段を設けるだ
けで、該検出器の構造を複雑化す、る必要なく、高分解
能の透過量計測データを得ることができるので、構造簡
単にして、被検体の注目部分の断層像を高分解能で得る
ことができる。

さらに、本発明方法および装置によれば、分解能変更手
段を前記と逆方向に使用することにより、検出器の全長
より幅のある被検体の計測も可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例に係るＸ線断層撮影装置の構
成図、第２図は本発明の他実施例に係る同構成図、第３
図、第４図はそれぞれ非対称反射結晶板による像の拡大
、縮小の原理図、第５図。 第６図は断層像全体の計測データと注目部分の計ａ＋Ｉ
Ｉデータとの組み合わせ法の説明図、第７図は第６図の
吸収係数の求め方を示す説明図である。 １，１′・・・平行に近い入射Ｘ線、２，２′・・・検
出Ｘ線、３・・・非対称反射結晶板、４，４′・・・入
射スリット、５，５′・・・出射スリット、６・・・被
検体、７・・・注目部分、８・・・被検体支持回転・走
査ステージ、９，９′・・・位置敏感型検出器、１０・
・・検出器用回転ステージ、１１・・・非対称反射結晶
板用回転ステージ、１２・・・非対称反射結晶板用支持
台、１３・・・シーケンサ、１４・・・データ処理装置
、１５・・・キーボード、１６・・・画像表示装置、１
７・・・磁気ディスク装置。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、Ｘ線を被検体に多方向から照射し、検出器にて透過
   量計測データを得、この透過量計測データよりデータ処
   理装置によつて被検体の断層像を得るＸ線断層撮影方法
   において、Ｘ線を被検体の全体と注目部分とを各々別個
   に透過させ、この二組の透過Ｘ線の少なくとも一方は分
   解能変更手段により他方の透過Ｘ線と分解能を異ならせ
   て検出器に導き、前記二組の透過Ｘ線より得られる二組
   の透過量計測データから被検体の注目部分の高分解能な
   断層像を得ることを特徴とするＸ線断層撮影方法。 ２、Ｘ線源と、被検体を透過したＸ線を検出する検出器
   と、この検出器で得られた透過量計測データを処理して
   被検体の断層像を得るデータ処理装置とからなるＸ線断
   層撮影装置において、Ｘ線を被検体の全体と注目部分と
   を各々別個に透過させ、Ｘ線経路中に前記二組の透過Ｘ
   線の少なくとも一方の分解能を変更する分解能変更手段
   を設けると共に、データ処理装置は前記二組の透過Ｘ線
   に基づく二組の透過量計測データから被検体の注目部分
   の高分解能な断層像を得るものとしたことを特徴とする
   Ｘ線断層撮影装置。 ３、特許請求の範囲第２項において、分解能変更手段を
   被検体の注目部分を透過したＸ線を拡大して反射する非
   対称反射板にて形成したＸ線断層撮影装置。 ４、特許請求の範囲第２項において、分解能変更手段を
   被検体の全体を透過したＸ線を縮小して反射する非対称
   反射板にて形成したＸ線断層撮影装置。 ５、特許請求の範囲第２項において、Ｘ線源をファンビ
   ームとし、分解能変更手段を被検体の支持台をＸ線源側
   にファンビームの拡がり範囲を越える位置まで相対的に
   接離自在とする構成にしたＸ線断層撮影装置。