JPS63299161A - Cmosインバ−タ回路装置 - Google Patents
Cmosインバ−タ回路装置Info
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- JPS63299161A JPS63299161A JP62133108A JP13310887A JPS63299161A JP S63299161 A JPS63299161 A JP S63299161A JP 62133108 A JP62133108 A JP 62133108A JP 13310887 A JP13310887 A JP 13310887A JP S63299161 A JPS63299161 A JP S63299161A
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- JP
- Japan
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- voltage
- bias
- mosfet
- inverter circuit
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- 230000005669 field effect Effects 0.000 claims abstract description 11
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 3
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 2
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明はCMOSインバータ回路装置〜に関する。
[従来の技術]
昨今、標準ロジック、電卓、時計、ゲーム等の大規模集
積回路において、PチャンネルMOS電界効果トランジ
スタ(以下、MOSFETという。
積回路において、PチャンネルMOS電界効果トランジ
スタ(以下、MOSFETという。
)とNチャンネルMOSFETを並列接続したCMOS
インバータ回路が広く用いられている。第2図は従来例
のCMOSインバータ回路の回路図である。
インバータ回路が広く用いられている。第2図は従来例
のCMOSインバータ回路の回路図である。
第2図において、PチャンネルM’0SPETQl及び
NチャンネルMOSFET Q2の各ゲートが共に接続
されて入力端子lに接続され、また、MOSFET Q
lのドレイン及びMOSFETQ2のドレインは共に接
続されて出力端子2に接続される。MOSFET Ql
のソース及びNウェルのバックバイアスは共に接続され
て定電圧電源3の例えば+5vである直流電圧Vccの
出力端子に接続され、MOSFET Q2のソース及び
Nウェルのバックバイアスは共に接続されてアースに接
続される。
NチャンネルMOSFET Q2の各ゲートが共に接続
されて入力端子lに接続され、また、MOSFET Q
lのドレイン及びMOSFETQ2のドレインは共に接
続されて出力端子2に接続される。MOSFET Ql
のソース及びNウェルのバックバイアスは共に接続され
て定電圧電源3の例えば+5vである直流電圧Vccの
出力端子に接続され、MOSFET Q2のソース及び
Nウェルのバックバイアスは共に接続されてアースに接
続される。
以上のように構成されたCMOSインバータ回路におい
て、アース電位の信号が入力端子1に印加されるとき、
MOSFET Qlがオンとなり、一方、MOSFET
Q2がオフとなるので電圧Vccに等しい電圧が出力端
子2に出力される。
て、アース電位の信号が入力端子1に印加されるとき、
MOSFET Qlがオンとなり、一方、MOSFET
Q2がオフとなるので電圧Vccに等しい電圧が出力端
子2に出力される。
また、電圧Vccの信号が入力端子lに印加されるとき
MOSPET Qlがオフとなり、一方、MOSFET
Q2がオンとなるので、出力端子2はアース電位とな
る。従って、入力端子1に印加された信号が、反転され
て出力端子2に出力される。。
MOSPET Qlがオフとなり、一方、MOSFET
Q2がオンとなるので、出力端子2はアース電位とな
る。従って、入力端子1に印加された信号が、反転され
て出力端子2に出力される。。
[発明が解決しようとする問題点]
上述の従来例のCMQSインバータ回路において、入力
端子1のゲート電圧vgがアース電位から電圧Vccに
もしくは電圧Vccからアース電位に変化するとき、第
3図に示すように、そのゲート電圧vgが電圧Vccの
約半分の電圧Vcc/2付近で、MOSFET Ql及
びQ2が同時にオンとなる場合が生じる。このとき、定
電圧電源3からMOSFET Qlのソース及びドレイ
ン、並びにMOSFET Q2のドレイン及びソースを
介してアースに貫通電流1cが流れる。
端子1のゲート電圧vgがアース電位から電圧Vccに
もしくは電圧Vccからアース電位に変化するとき、第
3図に示すように、そのゲート電圧vgが電圧Vccの
約半分の電圧Vcc/2付近で、MOSFET Ql及
びQ2が同時にオンとなる場合が生じる。このとき、定
電圧電源3からMOSFET Qlのソース及びドレイ
ン、並びにMOSFET Q2のドレイン及びソースを
介してアースに貫通電流1cが流れる。
この貫通電流IcがこのCMOSインバータ回路のスイ
ッチング毎に流れるので、この回路のスイッチングの動
作周波数が高くなった場合、消費電力が増大することに
なる。従って、CMOSインバータ回路は動作周波数に
比例して消費電力が増大し、NMOSFETの回路に比
較して大きな電力が消費されることになるという問題点
があった。
ッチング毎に流れるので、この回路のスイッチングの動
作周波数が高くなった場合、消費電力が増大することに
なる。従って、CMOSインバータ回路は動作周波数に
比例して消費電力が増大し、NMOSFETの回路に比
較して大きな電力が消費されることになるという問題点
があった。
本発明の目的は以上の問題点を解決し、貫流電流1cを
小さくすることができ、従来例に比較し消費電力を軽減
することができるCMOSインバータ回路装置を提供す
ることにある。
小さくすることができ、従来例に比較し消費電力を軽減
することができるCMOSインバータ回路装置を提供す
ることにある。
[問題点を解決するための手段]
本発明は、PチャンネルMO8電界効果トランジスタと
NチャンネルMOS電界効果トランジスタを並列に接続
してなるCMOSインバータ回路装置において、少なく
とも1個の上記MO3ilt界効果トランジスタのウェ
ルのバックバイアスにバイアス電圧を重畳することを特
徴とする。
NチャンネルMOS電界効果トランジスタを並列に接続
してなるCMOSインバータ回路装置において、少なく
とも1個の上記MO3ilt界効果トランジスタのウェ
ルのバックバイアスにバイアス電圧を重畳することを特
徴とする。
[作用]
以上のように構成されたCMOSインバータ回路におい
て、例えば、電源直流電圧に正のバイアス電圧を重畳さ
せた電圧をPチャンネルMOSFETのNウェルのバッ
クバイアスに印加するとき、上記PチャンネルMOSF
ETのしきい値電圧が低下し、これによって、上記Pチ
ャンネルMOSFETと上記NチャンネルMOSFET
が同時にオンとなる電圧範囲が広くなり、上記2個のM
OSFETを流れる貫通電流が減少する。
て、例えば、電源直流電圧に正のバイアス電圧を重畳さ
せた電圧をPチャンネルMOSFETのNウェルのバッ
クバイアスに印加するとき、上記PチャンネルMOSF
ETのしきい値電圧が低下し、これによって、上記Pチ
ャンネルMOSFETと上記NチャンネルMOSFET
が同時にオンとなる電圧範囲が広くなり、上記2個のM
OSFETを流れる貫通電流が減少する。
また、正のバイアス電圧をNチャンネルMOSFETに
印加したとき、並びに、電源直流電圧に正のバイアス電
圧を重畳させた電圧をPチャンネルMOSFETのNウ
ェルのバックバイアスに印加しかつ正のバイアス電圧を
NチャンネルMOSFETに印加したとき、上述と同様
に、上記貫通電流が減少する。
印加したとき、並びに、電源直流電圧に正のバイアス電
圧を重畳させた電圧をPチャンネルMOSFETのNウ
ェルのバックバイアスに印加しかつ正のバイアス電圧を
NチャンネルMOSFETに印加したとき、上述と同様
に、上記貫通電流が減少する。
[実施例]
第1図は本発明の一実施例であるCMOSインバータ回
路の回路図であり、第1図において、第2図と同一のも
のについては同一の符号を付している。
路の回路図であり、第1図において、第2図と同一のも
のについては同一の符号を付している。
第1図の回路が従来例の第2図の回路と異なるのは、M
OSFET QlのNウェルのバックバイアスに電圧V
ccよりも正のバイアス電圧Vaだけ高い電圧(Vcc
+Va)が印加されていることである。以下、バイアス
電圧VaがMOSFET QlのNウェルのバックバイ
アスに重畳されている場合と重畳されていない場合の第
1図の回路動作について、第3図のゲート電圧vg対ド
レイン・ソース間電流Ids特性を参照して説明する。
OSFET QlのNウェルのバックバイアスに電圧V
ccよりも正のバイアス電圧Vaだけ高い電圧(Vcc
+Va)が印加されていることである。以下、バイアス
電圧VaがMOSFET QlのNウェルのバックバイ
アスに重畳されている場合と重畳されていない場合の第
1図の回路動作について、第3図のゲート電圧vg対ド
レイン・ソース間電流Ids特性を参照して説明する。
まず、バイアス電圧Vaが重畳されていないときを考え
る。いま、入力端子Iのゲート電圧Vgがアース電位で
あるとき、MOSFET QlはオンとなりMOSFE
T Q2はオフとなり、次いで、入力端子1のゲート電
圧vgをアース電位から電圧Vccに向かって上昇させ
てゆくと、しきい値電圧V thnを有するMOSFE
T Q2はゲート電圧Vthnにおいてオンとなり、ま
た、しきい値電圧v thpを有するMOSFET Q
lはゲート・ドレイン間電圧が電圧v thp以下とな
るゲート電圧(V cc −V thp)においてオフ
となる。
る。いま、入力端子Iのゲート電圧Vgがアース電位で
あるとき、MOSFET QlはオンとなりMOSFE
T Q2はオフとなり、次いで、入力端子1のゲート電
圧vgをアース電位から電圧Vccに向かって上昇させ
てゆくと、しきい値電圧V thnを有するMOSFE
T Q2はゲート電圧Vthnにおいてオンとなり、ま
た、しきい値電圧v thpを有するMOSFET Q
lはゲート・ドレイン間電圧が電圧v thp以下とな
るゲート電圧(V cc −V thp)においてオフ
となる。
従って、ゲート電圧Vgが電圧V thnと電圧(V
cc −■thp)(’)間テハ両方(7)MOSFE
T Ql及びQ2が共にオンとなり、第3図に示すよう
に貫通電流Icが、定電圧電源3からMOSFETQl
のソース及びドレイン、並びにMOSFETQ2のドレ
イン及びソースを介してアースに流れる。
cc −■thp)(’)間テハ両方(7)MOSFE
T Ql及びQ2が共にオンとなり、第3図に示すよう
に貫通電流Icが、定電圧電源3からMOSFETQl
のソース及びドレイン、並びにMOSFETQ2のドレ
イン及びソースを介してアースに流れる。
次に、バイアス電圧VaがMOSPET Qlの−Nウ
ェルのバックバイアスに重畳されている場合を考える。
ェルのバックバイアスに重畳されている場合を考える。
いま、入力端子Iのゲート電圧Vgがアース電位である
とき上述と同様に、MO8FETQIはオンとなり、一
方、MOSFET Q2はオフとなり、次いで、入力端
子lのゲート電圧vgをアース電位から電圧VCCに向
かって上昇させてゆくと、MOSFET Q2はゲート
電圧Vthnにおいてオンとなり、また、MOSFET
Qlはゲート電圧(vcc−vthp−ΔVth)ニ
おイテオフとなる。ここで、電圧ΔVthは、MO8F
ETQIのNウェルのバックバイアスにバイアス電圧V
aを重畳させた場合のいわゆる基板効果によるMOSF
ET Qlのしきい値電圧の上昇分である。
とき上述と同様に、MO8FETQIはオンとなり、一
方、MOSFET Q2はオフとなり、次いで、入力端
子lのゲート電圧vgをアース電位から電圧VCCに向
かって上昇させてゆくと、MOSFET Q2はゲート
電圧Vthnにおいてオンとなり、また、MOSFET
Qlはゲート電圧(vcc−vthp−ΔVth)ニ
おイテオフとなる。ここで、電圧ΔVthは、MO8F
ETQIのNウェルのバックバイアスにバイアス電圧V
aを重畳させた場合のいわゆる基板効果によるMOSF
ET Qlのしきい値電圧の上昇分である。
従って、MOSFET Qlはバイアス電圧Vaを重畳
させない場合に比較して電圧Δvthだけ高いしきい値
でオンとなるため、MOSFET QlとQ2の両方が
オンとなるゲート電圧vgの範囲は第3図に示すように
狭くなり、これにより、定電圧電源3からMOSFET
Qlのソース及びドレイン、並びにMOSFET Q
2のドレイン及びソースを介してアースに流れる貫通電
流ICが小さくなる。
させない場合に比較して電圧Δvthだけ高いしきい値
でオンとなるため、MOSFET QlとQ2の両方が
オンとなるゲート電圧vgの範囲は第3図に示すように
狭くなり、これにより、定電圧電源3からMOSFET
Qlのソース及びドレイン、並びにMOSFET Q
2のドレイン及びソースを介してアースに流れる貫通電
流ICが小さくなる。
それ故、MOSFET Qlのドレインに印加する駆動
直流電圧Vccよりもバイアス電圧Vaだけ高い電圧(
Vcc+Va)をMOSFET QlのN−ウェルのバ
ックバイアスに印加することによって、貫通電流1cを
小さくすることができ、特にスイッチング回数が多い高
速動作回路においては消費電力を大幅に軽減することが
できる。
直流電圧Vccよりもバイアス電圧Vaだけ高い電圧(
Vcc+Va)をMOSFET QlのN−ウェルのバ
ックバイアスに印加することによって、貫通電流1cを
小さくすることができ、特にスイッチング回数が多い高
速動作回路においては消費電力を大幅に軽減することが
できる。
以上の第1図の実施例においてはMOSFETQlのN
ウェルのバックバイアスにバイアス電圧Vaを重畳させ
ているが、これに限らず、MOSFET Q2のみのP
ウェルのバックバイアスにバイアス電圧Vaを印加して
もよいし、また、MOSFET QlのNウェルのバッ
クバイアスにバイアス電圧Vaを重畳しかつMOSFE
T Q2のPウェルのバックバイアスに上記バイアス電
圧Vaを印加してもよい。
ウェルのバックバイアスにバイアス電圧Vaを重畳させ
ているが、これに限らず、MOSFET Q2のみのP
ウェルのバックバイアスにバイアス電圧Vaを印加して
もよいし、また、MOSFET QlのNウェルのバッ
クバイアスにバイアス電圧Vaを重畳しかつMOSFE
T Q2のPウェルのバックバイアスに上記バイアス電
圧Vaを印加してもよい。
なお、以上の第1図の実施例において、バイアス電圧V
aの絶対値はバイアス電圧Vaを重畳する“ことにより
、電圧Vccの絶対値を超えないMOSFETのしきい
値電圧vthが生じるように設定される。
aの絶対値はバイアス電圧Vaを重畳する“ことにより
、電圧Vccの絶対値を超えないMOSFETのしきい
値電圧vthが生じるように設定される。
第4図は2個のCMOSインバータ回路が縦続接続され
た回路の回路図である。
た回路の回路図である。
第4図において、上述の第2図の従来例と同様にMOS
FET QlとQ2が並列接続された第1のCMOSイ
ンバータ回路と、第1図の実施例と同様にMOSFET
Q3とQ4が並列接続された第2のCMOSインバー
タ回路が縦続接続され、入力端子lがMOSFET Q
lとQ2の各ゲートに接続され、出力端子2がMOSF
ETQ3及びQ4の各ドレインに接続される。なお、M
OSFET Qlのソース及びNウェルのバックバイア
スは定電圧電源3の正電圧V ccaの出力端子に接続
され、また、MOSFET Q3のソースは定電圧電源
3の正電圧V ccbの出力端子に接続され、MOSF
ET Q3のNウェルのバックバイアスは、電圧Vcc
bに正のバイアス電圧Vaが重畳された電圧(Vccb
+va)の出力端子に接続される。
FET QlとQ2が並列接続された第1のCMOSイ
ンバータ回路と、第1図の実施例と同様にMOSFET
Q3とQ4が並列接続された第2のCMOSインバー
タ回路が縦続接続され、入力端子lがMOSFET Q
lとQ2の各ゲートに接続され、出力端子2がMOSF
ETQ3及びQ4の各ドレインに接続される。なお、M
OSFET Qlのソース及びNウェルのバックバイア
スは定電圧電源3の正電圧V ccaの出力端子に接続
され、また、MOSFET Q3のソースは定電圧電源
3の正電圧V ccbの出力端子に接続され、MOSF
ET Q3のNウェルのバックバイアスは、電圧Vcc
bに正のバイアス電圧Vaが重畳された電圧(Vccb
+va)の出力端子に接続される。
いま、電圧v ccaが電圧Vccbに比較して低く、
バイアス電圧Vaがゼロであり、第1のCMOSインバ
ータ回路の出力が第2のCMOSインバータ回路のMO
SFET Q3のゲートのしきい値電圧よりも低い場合
、第1のCMOSインバータ回路の出力によって第2の
CMOSインバータ回路が動作せず、入力端子1に入力
された信号が出力端子2に出力されないという問題点が
ある。
バイアス電圧Vaがゼロであり、第1のCMOSインバ
ータ回路の出力が第2のCMOSインバータ回路のMO
SFET Q3のゲートのしきい値電圧よりも低い場合
、第1のCMOSインバータ回路の出力によって第2の
CMOSインバータ回路が動作せず、入力端子1に入力
された信号が出力端子2に出力されないという問題点が
ある。
この問題点を解決する方法として上述の本発明の方法を
用いることができる。すなわち、第4図に示すように、
第2の回路MO8FET Q3のNウェルのバックバイ
アスに、該ソースに印加する直流電圧V ccbよりも
電圧Vaだけ高い電圧(Vc(J+Va)を印加し、M
OSFET Q3のゲートのしきい値電圧を第1のCM
OSインバータ回路の出力電圧V ccaよりも低くな
るように設定する。
用いることができる。すなわち、第4図に示すように、
第2の回路MO8FET Q3のNウェルのバックバイ
アスに、該ソースに印加する直流電圧V ccbよりも
電圧Vaだけ高い電圧(Vc(J+Va)を印加し、M
OSFET Q3のゲートのしきい値電圧を第1のCM
OSインバータ回路の出力電圧V ccaよりも低くな
るように設定する。
これによって、電圧V CCaに等しい第1のCMOS
インバータ回路のHレベルの出力電圧が第2のCMOS
インバータ回路に印加されるとき、MOSFET Q3
がオンとなる。
インバータ回路のHレベルの出力電圧が第2のCMOS
インバータ回路に印加されるとき、MOSFET Q3
がオンとなる。
従って、例えば同一チップ内で電源電圧の異なるCMO
Sインバータ回路を縦続接続した場合であっても、本発
明によるMOSFETのウェルのバックバイアスを印加
する方法によって、信号を伝送可能な41街用インタ一
フエース回路として用いることができるという利点があ
る。
Sインバータ回路を縦続接続した場合であっても、本発
明によるMOSFETのウェルのバックバイアスを印加
する方法によって、信号を伝送可能な41街用インタ一
フエース回路として用いることができるという利点があ
る。
第5図は本発明のCMOSインバータ回路の適用例を示
すブロック図であり、第6図は第5図のCMOSインバ
ータ回路の半導体基板IOの縦断面図である。ここで、
第6図の低速動作回路20は第2図の回路図に対応し、
一方、高速動作回路30は第1図の回路図に対応する。
すブロック図であり、第6図は第5図のCMOSインバ
ータ回路の半導体基板IOの縦断面図である。ここで、
第6図の低速動作回路20は第2図の回路図に対応し、
一方、高速動作回路30は第1図の回路図に対応する。
第5図において、例えば論理演算等の低速動作回路20
と、発振回路3!と分周及び内部クロック発生回路32
を含む高速動作回路30が半導体基板!O上に形成され
る。発振回路31は、所定の周波数のクロック信号TO
を分周及び内部クロック発生回路32に出力し、これに
応答して該分周及び内部クロック回路32はクロック信
号TOを分周等の処理を行い、種々の周波数のクロック
信号TIないしT4を低速動作回路20に出力する。
と、発振回路3!と分周及び内部クロック発生回路32
を含む高速動作回路30が半導体基板!O上に形成され
る。発振回路31は、所定の周波数のクロック信号TO
を分周及び内部クロック発生回路32に出力し、これに
応答して該分周及び内部クロック回路32はクロック信
号TOを分周等の処理を行い、種々の周波数のクロック
信号TIないしT4を低速動作回路20に出力する。
ここで、上記高速動作回路30内のCMOSインバータ
回路においては、第6図に示すように、半導体基板10
内のPチャンネルMOSFETのNウェルのバックバイ
アスに直流電源電圧Vccにバイアス電圧Vaを重畳し
た電圧(Vcc+Va)が印加され、一方、上記低速動
作回路20内のCMOSインバータ回路においては、第
6図に示すように、半導体基板IO内のPチャンネルM
OSFETのNウェルのバックバイアスに、バイアス電
圧Vaが重畳されていない直流電源電圧Vccが印加さ
れている。従って、スイッチング回数の多い高速動作回
路30のPチャンネルMOSFETのNウェルのバック
バイアスにバイアス電圧Vaが重畳されているので、上
述のように貫通電流Tcを減少させることができ、これ
によって、高速動作回路30の消費電力を、大幅に軽減
させることができる。
回路においては、第6図に示すように、半導体基板10
内のPチャンネルMOSFETのNウェルのバックバイ
アスに直流電源電圧Vccにバイアス電圧Vaを重畳し
た電圧(Vcc+Va)が印加され、一方、上記低速動
作回路20内のCMOSインバータ回路においては、第
6図に示すように、半導体基板IO内のPチャンネルM
OSFETのNウェルのバックバイアスに、バイアス電
圧Vaが重畳されていない直流電源電圧Vccが印加さ
れている。従って、スイッチング回数の多い高速動作回
路30のPチャンネルMOSFETのNウェルのバック
バイアスにバイアス電圧Vaが重畳されているので、上
述のように貫通電流Tcを減少させることができ、これ
によって、高速動作回路30の消費電力を、大幅に軽減
させることができる。
[発明の効果コ
以上詳述したように本発明によれば、従来のCMOSイ
ンバータ回路装置において、少なくとも1個の上記MO
S電界効果トランジスタのウェルのバックバイアスにバ
イアス電圧を重畳したので、バイアス電圧が重畳された
上記MOS電界効果トランジスタのしきい値電圧を変化
させ、上記CMOSインバータ回路の貫通電流を減少さ
せることができる。従って、上記CMOSインバータ回
路の消費電力を従来例に比較して軽減することができる
という利点が有る。
ンバータ回路装置において、少なくとも1個の上記MO
S電界効果トランジスタのウェルのバックバイアスにバ
イアス電圧を重畳したので、バイアス電圧が重畳された
上記MOS電界効果トランジスタのしきい値電圧を変化
させ、上記CMOSインバータ回路の貫通電流を減少さ
せることができる。従って、上記CMOSインバータ回
路の消費電力を従来例に比較して軽減することができる
という利点が有る。
第1図は本発明の一実施例であるCMOSインバータ回
路の回路図、 第2図は従来例のCMOSインバータ回路の回路図、 第3図は第1図及び第2図の回路の動作を示すゲート電
圧vg対ドレイン・ソース間電流Ids特性のグラフ、 第4図は2個のCMOSインバータ回路が縦続接続され
たインターフェース回路の回路図、第5図は本発明のC
MOSインバータ回路の適用例を示すブロック図、 第6図は第5図の適用例を示す半導体基板の縦断面図で
ある。 Ql、Q2・・・0MO8電界効果トランジスタ(MO
SFET)、 Vcc・・・直流電圧、 Va・・・バイアス電圧。 特 許 出 願 人 株式会社リコー 代 理 人 弁理士 前出 葆 ほか1名第1図
第2図 IK4図 第3図
路の回路図、 第2図は従来例のCMOSインバータ回路の回路図、 第3図は第1図及び第2図の回路の動作を示すゲート電
圧vg対ドレイン・ソース間電流Ids特性のグラフ、 第4図は2個のCMOSインバータ回路が縦続接続され
たインターフェース回路の回路図、第5図は本発明のC
MOSインバータ回路の適用例を示すブロック図、 第6図は第5図の適用例を示す半導体基板の縦断面図で
ある。 Ql、Q2・・・0MO8電界効果トランジスタ(MO
SFET)、 Vcc・・・直流電圧、 Va・・・バイアス電圧。 特 許 出 願 人 株式会社リコー 代 理 人 弁理士 前出 葆 ほか1名第1図
第2図 IK4図 第3図
Claims (1)
- (1)PチャンネルMOS電界効果トランジスタとNチ
ャンネルMOS電界効果トランジスタを並列に接続して
なるCMOSインバータ回路装置において、 少なくとも1個の上記MOS電界効果トランジスタのウ
エルのバックバイアスにバイアス電圧を重畳することを
特徴とするCMOSインバータ回路装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62133108A JPS63299161A (ja) | 1987-05-28 | 1987-05-28 | Cmosインバ−タ回路装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62133108A JPS63299161A (ja) | 1987-05-28 | 1987-05-28 | Cmosインバ−タ回路装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63299161A true JPS63299161A (ja) | 1988-12-06 |
Family
ID=15097000
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62133108A Pending JPS63299161A (ja) | 1987-05-28 | 1987-05-28 | Cmosインバ−タ回路装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63299161A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100283839B1 (ko) * | 1995-06-06 | 2001-04-02 | 니시무로 타이죠 | 반도체집적회로장치 |
JP2005070630A (ja) * | 2003-08-27 | 2005-03-17 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置およびそれを用いた電子機器 |
US7567230B2 (en) | 2001-03-15 | 2009-07-28 | Hitachi, Ltd. | Liquid crystal display device having a low-voltage driving circuit |
-
1987
- 1987-05-28 JP JP62133108A patent/JPS63299161A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100283839B1 (ko) * | 1995-06-06 | 2001-04-02 | 니시무로 타이죠 | 반도체집적회로장치 |
US7567230B2 (en) | 2001-03-15 | 2009-07-28 | Hitachi, Ltd. | Liquid crystal display device having a low-voltage driving circuit |
JP2005070630A (ja) * | 2003-08-27 | 2005-03-17 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置およびそれを用いた電子機器 |
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