JPS63285946A - ウェ−ハ搬送装置 - Google Patents

ウェ−ハ搬送装置

Info

Publication number
JPS63285946A
JPS63285946A JP62120749A JP12074987A JPS63285946A JP S63285946 A JPS63285946 A JP S63285946A JP 62120749 A JP62120749 A JP 62120749A JP 12074987 A JP12074987 A JP 12074987A JP S63285946 A JPS63285946 A JP S63285946A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
semiconductor wafer
spin coater
transfer device
holding
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP62120749A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2561467B2 (ja
Inventor
Mitsuo Sato
佐藤 光夫
Yoshiro Wakabayashi
若林 芳郎
Yoshi Komazawa
駒沢 叔
Shoichi Takahashi
高橋 捷一
Kimitoshi Iwasaki
岩崎 公俊
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
T C K KK
Coorstek KK
Original Assignee
T C K KK
Toshiba Ceramics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by T C K KK, Toshiba Ceramics Co Ltd filed Critical T C K KK
Priority to JP12074987A priority Critical patent/JP2561467B2/ja
Publication of JPS63285946A publication Critical patent/JPS63285946A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2561467B2 publication Critical patent/JP2561467B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Feeding Of Articles By Means Other Than Belts Or Rollers (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Specific Conveyance Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (1)発明の目的 [産業上の利用分野] 本発明は、ウェーハ搬送装置に関し、特に円盤状の半導
体ウェーハの中心をスピンコータの回転軸に対して整合
せしめるよう半導体ウェーハをスピンコータの回転シャ
フト上に載置せしめるウェーハ搬送装置に関するもので
ある。
[従来の技術] 従来この種のウェーハ搬送装置としては、ウェーハ収容
部材からベルトコンベアによって移送されてきた半導体
ウェーハをそのベルトコンベア上の所定位置で吸着手段
によって吸着することにより、ベルトコンベアから持ち
上げスピンコータの回転シャフト上に移送する構造のも
のか提案されていた。
[解決すべき問題点] しかしながら従来のウェーハ搬送装置では、ベルトコン
ベア上で吸着手段によって直接に半導体ウェーハを吸着
しスピンコータの回転シャフトに向けて移送していたの
で、ベルトコンベアによる搬送あるいは吸着手段による
吸着に際して半導体ウェーハか位置ズレを生じる欠点か
あり、ひいてはスピンコータの回転軸に半導体ウェーハ
の中心を整合せしめることができない欠点があって、ス
ピンコータによる拡散源溶解液あるいは7オトレジスト
などの塗布に際して塗布ムラを生じる欠点があり、更に
はスピンコータによる回転に際して半導体ウェーハが飛
散され破損される欠点もあった。
そこで本発明は、これらの問題点を解決するために、ウ
ェーハ収容部材からベルトコンベアによって移送されて
きた半導体ウェーハをウェーハ保持部材の凹部で直接に
受け取り保持レバーで押圧保持した状態でウェーハ保持
部材とともにスピンコータの回転シャフト上まで搬送す
ることにより、半導体ウェーハの中心を回転シャフトの
回転軸に整合せしめてなるウェーハ搬送装置を提供せん
とするものである。
[問題点の解決手段] 本発明により提供される問題点の解決手段は。
「ウェーハ収容部材からベルトコンベアによって移送さ
れてきた半導体ウェーハをスピンコータの回転シャフト
上に蔵置せしめるよう搬送するウェーハ搬送装置におい
て、 (a)前記半導体ウェーハの周面に対して当接される凹
部と、前記凹部に 対し前記半導体ウェーハを押圧し て保持する保持レバーとを包有し てなるウェーハ保持部材と、 (b)前記ウェーハ保持部材を、前記スピンコータに向
けて移動せしめ、 かつ前記凹部に保持された半導体 ウェーハの中心と前記回転シャツ トの回転軸とが整合する位置に停 止せしめる移動手段と を備えてなることを特徴とするウェーハ搬送装置」 である。
また本発明により提供される間■点の他の解決手段は、 「ウェーハ収容部材からベルトコンベアによって移送さ
れてきた半導体ウェーハをスピンコータの回転シャフト
上に載置せしめるよう搬送するウェーハ搬送装置におい
て、 (a)前記半導体ウェーハの周面に対して当接される凹
部と、前記凹部に 対し前記半導体ウェーハを押圧し て保持する保持レバーと、前記回 転シャフト上に4!鐙された半導体 ウェーハを受け取って保持する他 の凹部とを包有してなるウェーハ 保持部材と。
(b)前記ウェーハ保持部材を、前記スピンコータに向
けて移動せしめ、 かつ前記回転シャフト上に載置さ れた半導体ウェーハを前記他の凹 部で受け取って保持したのち前記 凹部に保持された半導体ウェーハ の中心と前記回転シャフトの回転 軸とか整合する位置に停止せしめ る移動手段と を備えてなることを特徴とするウェーハ搬送装こ」 である。
[作用] 本発明にかかるウェーハ搬送装置は、ウェーハ収容部材
からベルトコンベアによって移送されてきた半導体ウェ
ーハを受け取ってウェーハ保持部材の凹部に保持レバー
て保持し、かつ移動手段によってウェーハ保持部材を移
動しウェーハ保持部材の凹部に保持された半導体ウェー
ハの中心がスピンコータの回転シャフトの回転軸に整合
する位置に停止せしめる作用をなしており、スピンコー
タの回転シャフトの回転軸に対し中心を整合せしめて半
導体ウェーハを位置する作用をなし、結果的にスピンコ
ータによる拡散源溶解液あるいはフォトレジストなどの
塗布ムラを除去する作用、ならびにスピンコータの回転
に際する半導体ウェーハの飛散事故を防止する作用をな
す。
また本発明にかかる他のウェーハ搬送装置は、ウェーハ
収容部材からベルトコンベアによって移送されてきた半
導体ウェーハを受け取ってウェーハ保持部材の凹部に保
持レバーで保持し、かつ移動手段によってウェーハ保持
部材を移動しウェーハ保持部材の凹部に保持された半導
体ウェーハの中心がスピンコータの回転シャフトの回転
軸に整合する位置に停止せしめ、かつ回転シャフト上の
半導体ウェーハをウェーハ保持部材の他の凹部で受け取
って保持し移送する作用をなしており、上述の作用に加
え回転シャフト上から半導体ウェーハを損傷することな
く効率よく移送する作用をなす。
[実施例] 次に本発明について添付図面を参照しつつ具体的に説明
する。
第1図は1本発明のウェーハ搬送装置の一実施例を示す
主としてI−I線にそった縦断面図であって、スピンコ
ータおよび後続の熱処理装置も併せて示されている。
第2図は、第1図の実施例を示す主としてn−n線にそ
った横断面図であって、第1図と同様にスピンコータお
よび後続の熱処理装置も併せて示されている。
第3図は、第1図および第2図に一部か示された後続の
熱処理装置を示す■−m線にそった縦断面図である。
第4図は、第3図の熱処理装置を示す主としてIT−I
T線にそった横断面図である。
第5図は、第3図および第4図の熱処理装置を示す平面
図である。
まず本発明のウェーハ搬送装置の構成について詳細に説
明する。
すは本発明のウェーハ搬送装置で、両端部がそれぞれ支
持体11A、IIBに支持されかつ水平方向に向けて互
いに並行に延長された案内シャフト載置A。
載置Bと、前記案内シャフト載置Aに対し一端部がそれ
ぞれ案内可能に装着されかつ垂直方向に向けて互いに並
行に延長された案内シャフトl:lA、13Bと、前記
案内シャフト載置Bに対し一端部がそれぞれ案内可能に
装着されかつ垂直方向に向けて互いに並行に延長された
案内シャフト14A、14Bとを包有している。案内シ
ャフト13^、13Bおよび14A。
14Bの他端部には、支持基台15が案内可能に装着さ
れている、案内シャフト13A、13Bおよび14A。
14Bの中間部には、それぞれ他の支持基台16^。
16Bが固着されている。
支持基台15の下面には、懸垂シャフト17A、17B
およびt8A、LflBを介して半導体ウェーハ31の
品質を損なわない適宜の材料たとえばテフロンで形成さ
れたウェーハ保持部材たとえばウェーハ保持基板19.
20がそれぞれ配設されている。ウェーハ保持基板19
.20は、それぞれ案内シャフト+2A、載置Bの延長
方向に延長されており、互いに所定の間隔(すなわち後
述のスピンコータ並の回転シャフト41の直径よりも大
きな間隔)を隔てて配設されている。
ウェーハ保持基板19.20の一端部には、円盤状の半
導体ウェーハ31を保持するためのウェーハ保持部21
が形成されている。すなわちウェーハ保持基板19.2
0の一端部には、それぞれ円盤状の半導体ウェーハ31
の周面の一部たとえば178に対して同時に接触される
凹部19^、20^が互いに対向してそれぞれ形成され
、かつ凹部19^、20^に接触された半導体ウェーハ
31の周面の残部を押圧することによって半導体ウェー
ハ31を凹部19A、20Aに対して保持するためのそ
の品質を損なわない適宜の材料たとえばテフロンで形成
された保持レバー198゜2[IBが配設されている。
保持レバー19B、20Bは、適宜の駆動手段たとえば
支持基台16^、16R1に配設されかつ外部の加圧空
気源(図示せず)に連通されたエアシリンダ(図示せず
)などによって駆動される。ウェーハ保持基板−19,
20の他端部には、円盤状の半導体ウェーハ31を保持
するための他のウェーハ保持部22が形成されている。
すなわちウェーハ保持基板19.20の他端部には、そ
れぞれ円盤状の半導体ウェーハ31の周面の一部たとえ
ば1/8に対して同時に接触される凹部19c、20f
l:が互いに対向してそれぞれ形成され、かつ凹部19
C920Cに接触された半導体ウェーハ31の下面を保
持する凸部19D、200か互いに対向してそれぞれ形
成されている。ウェーハ保持基板19.20の凹部19
^。
20Aおよび19C,20Cの上縁部に対しテーパな形
成すれば、スピンコータ並の回転シャフト41に対する
半導体ウェーハ31の移送を円滑とでき好ましい。
支持基台16A、15B上には、支持基台15を案内シ
ャフト1:lA、13B、14A、14Bにそって昇降
せしめるための適宜の駆動手段たとえばエアシリンダ2
3A。
23Bがそれぞれ配設されている。駆動手段23A。
23Bは、それぞれ駆動杆体24A、24Bを介して支
持基台15に連結されている。案内シャフト14Aの一
端部は、適宜の駆動手段たとえばエアシリンダ25の出
力軸26に対して連結されており、案内シャフト14A
ひいては案内シャフト13A、138.14A、14B
に対して配設された支持基台1s、16A、15Bおよ
びウェーハ保持基板19.20などを案内シャフト載置
A。
IZBにそって移動可能としている。案内シャフト載置
^、載置Bおよび駆動手段25などは、ウェーハ保持部
材たとえばウェーハ保持基板19.20の移動手段とし
て機能している。
凹は本発明のウェーハ搬送装置すに対して半導体ウェー
ハ31を供給するためのウェーハ供給装置で、複数の半
導体ウェーハ31を互いに所定間隔をおいて水平方向に
収容したウェーハ収容部材32と、ウェーハ収容部材3
2を保持しかつ半導体クエーハ31の収容間隔に相当す
る距離ずつ間歇的に降下せしめるエレベータ装置33と
、ウェーハ収容部材32から半導体ウェーハ31を1枚
ずつ取り出しウェーハ搬送装置艮のウェーハ保持部21
に向けて移送するための半導体ウェーハコ1の品質を損
なわない適宜の材料たとえばテフロンで形成されたベル
トコンベア34とを包有している。ベルトコンベア34
は、エレベータ装置33の近傍に設置された支柱:15
.35間に対して配設されたシャフト36と、案内シャ
フト載置A、載置Bの−・端部近傍に設置された支柱3
7.37間に対して配設されかつ適宜の駆動手段たとえ
ば電動モータ(図示せず)に連結されたシャフト38と
の間に張設されている。
赳は案内シャフト載置A、載置Bの間に配設されたスピ
ンコータで、支持部材41Aに対しベアリング41Bを
介して装着されかつ適宜の駆動手段たとえば電動モータ
(図示せず)により歯車41Cを駆動せしめることによ
って回転される回転シャフト41と、支持部材42Aを
適宜の駆動手段たとえば電動モータ(図示せず)によっ
て駆動することにより−E下動されかつ回転シャフト4
1の周囲に配設されたシャフト部42Bの頂部に対し形
成され半導体ウェーハ31から飛散される拡散源溶解液
あるいはフォトレジストなどを捕集するためのカバー4
20をもつカバ一部材42とを包有している。回転シャ
フト41には、上端面41aに開口されかつ下端面at
bて管体43の一端部に連通された貫通孔44かその延
長方向に向けて穿設されている。管体43の他端部は、
外部の吸引源たとえば真空ポンプ(図示せず)に連通さ
れている。カバ一部材42には、底面すなわちシャフト
部42Bの上端面42aに開口されかつシャフト部42
Bの下端面42bで管体45の一端部に連通された排出
孔46か穿設されている。管体45の他端部は、適宜の
回収容器(図示せず)に連通されており、カバ一部材4
2のカバ一部42Gによって捕集された拡散源溶解液あ
るいはフォトレジストなどを回収する。
47は案内シャフト載置Bの外側に配設された拡散源溶
解液あるいはフォトレジストなどの滴下装置て、支柱4
8の頂部に対し基端部が枢支されかつ自由端部か回転シ
ャフト41の上方まで回動可部する回動アーム49と、
回動アーム49の自由端部に対し下方に向けて配設され
た滴下ノズル50とを包有している。滴下ノズル50は
、回動アーム49および支柱48内に配設された適宜の
管体(図示せず)を介して拡散源溶解液あるいはフォト
レジストなどの供給源(図示せず)に連通されている。
拡散源溶解液は、拡散源として機能するリンやホウ素な
どの化合物をアルコールなどの溶媒で溶解した液体であ
って、半導体ウェーハ31上に熱処理後に数100〜数
1,000人の塗布膜を形成しつるように滴下ノズル5
0によって滴下される。
観はスピンコータ赳に後続しており拡散源溶解液あるい
はフォトレジストなどを加熱し乾燥せしめて半導体ウェ
ーハ31に対し密着せしめるための熱処理装置で、案内
シャフト載置A、載置Bの他端部近傍に対して加熱空間
62の入口部が開口された加熱炉たとえば電気炉61を
包有している。加熱炉61の底面には、少なくとも3つ
たとえば4つ(以下この場合について説明する)を−組
とする貫通孔62Aか加熱空間62の入口部から出口部
に向けて所定間隔て複数組穿設されている。
63は加熱炉61の下方に配設された半導体ウェーハ3
1の持」二装置て、適宜の駆動手段たとえば電動モータ
(図示せず)により加熱炉61の底面すなわち加熱面に
向けて上下動される基板63Aと、基板63^の上面に
貫通孔[載置Aの数に対応し4つを一組として所定の間
隔すなわち貫通孔62Aと同一の間隔て配設された複数
の支柱63Bと、支柱63Bの頂部に対して破損時など
に所望により着脱可能に植設されかつ基板63Aの上動
に伴って貫通孔62Aに挿入され加熱炉6Iの底面に載
置された半導体ウェーハ31を持ち」二げるための複数
の支持ピン63Cとを包有している。支持ピン63Cは
、熱処理中の半導体ウェーハ31を損傷せずかつ熱処理
後の半導体ウェーハ31の品質を損なわない適宜の材料
たとえば酸化病IFのためにテフロンの塗布された金属
あるいは石英ガラスなどで作成されていることか好まし
い。支持ピン63Gは、加熱空間62の入口部外方にも
一組だけ配設されており、ウェーハ保持部材たとえばウ
ェーハ保持基板19.20の間の間隔よりも横幅の狭小
な受取台64の貫通孔64Aに挿通される。これにより
、スピンコータ赳によって拡散源溶解液あるいはフォト
レジストなどの滴下塗布されたのちウェーハ搬送装fi
lOのウェーハ保持部22によって保持されかつ移送さ
れてきて下記の要望で受取台64に載置された半導体ウ
ェーハ31を持ち上げる。
65は加熱炉61の加熱空間62内で半導体ウェーハ3
1を間歇的に移動するための間歇移送装こで、加熱空間
62にそいその入口部から出口部に向けて延長されてお
り互いに接近離間される第1.第2の移送半休66.6
7を包有している。移送半体66は、加熱炉61の上部
において加熱空間62に並行にその入口部から出口部に
向けて延長された基部66Aと、基部66^の両端部に
対しそれぞれ連結部66Bを介して両端部か連結されて
おり加熱空間62内で入口部から出口部に向けて延長さ
れた支持本体66Cと、支持本体65Gに対して所定間
隔すなわち貫通孔62Aの穿設間隔と同一の間隔でたと
えば2木を一組として植設されており支持ピン63Gに
よって持ち上げられた半導体ウェーハ31を保持するた
めの支持手段たとえば支持爪[i6Dとを包有している
。移送半体67は、加熱炉61の上部において加熱空間
62に並行にその入口部から出口部に向けて延長された
基部67Aと、基部67Aの両端部に対しそれぞれ連結
部67Bを介して両端部が連結されており加熱空間62
内て入口部から出口部に向けて延長された支持本体67
Gと、支持本体67Cに対して所定間隔すなわち貫通孔
62Aの穿設間隔と同一の間隔でたとえば2木を一組と
して植設されており支持ピン63Gによって持ち上げら
れた半導体ウェーハ31を保持するための支持手段たと
えば支持爪67Dとを包有している。
支持手段たとえば支持爪560,67Dは、支持ピン6
3Cと同様に熱処理中の半導体ウェー八31を損傷せず
かつ熱処理後の半導体ウェーハ31の品質を損なわない
適宜の材料たとえば酸化防止のためにテフロンの塗布さ
れた金属あるいは石英ガラスなどで作成されていること
が好ましい。また支持手段たとえば支持爪66D、67
0は、それぞれ半導体ウェーハ31の下面に接触される
部分たとえば水平部分を少なくとも1つ包有しているこ
とか好ましく、特に半導体ウェーハ31の下面および上
面に対してそれぞれ接触される部分たとえば水平部分を
少なくとも1つずつ包有している(その部分間の間隔は
、半導体ウェーハ31よりも若干大きいことが好ましい
)ことか好ましい、加えて支持手段たとえば支持爪66
D、67Dは、半導体ウェーハ31の周面に対して接触
されない構造とされていることが好ましい、更に支持手
段たとえば支持爪66D、67Dは、たとえば破損時な
どに支持本体65(:、67Cから取り外し新たな支持
手段たとえば支持爪66D、67D交換できるように形
成されておれば、特に好ましい。
68は間歇移送装W165の駆動手段で、支持体68^
で両端部がそれぞれ支持されかつ加熱炉61の上方にお
いて加熱空間62に並行にその入口部から出口部に向け
て延長された案内シャフト68Bと、前記案内シャフト
68Bに装着されかつ案内シャフト68Bにそって移動
するエアシリンダなどの動力源68Cと、前記動力源6
8Cを介して移送半体66、 Ii7の基部66A、5
7Aを互いに連結しかつ所望に応じて基部65A、67
Aを互いに接近離間せしめる連結体68Dとを包有して
いる。69は加熱空間62の出口部外方に配設された放
冷台で、加熱炉61の底面と同一の高さを有しており、
加熱炉61の底面と同様に4つを一組とする貫通孔69
Aか穿設されている。
これに応じて貫通孔69^に挿通され半導体ウェーハ3
1を持ち上げる支持ピン63Cが、基板63A上の支柱
53Bに対して植設されている。また間砿移送装226
5に包有される移送半休66.67の支持本体66G、
67C:には、たとえば2木を一組として支持手段たと
えば支持爪56D、67Dがそれぞれ植設されており、
支持ピン63Cによりて放冷台69から持ち上げられた
半導体ウェーハ31を保持する。
期は熱処理′?を置並から熱処理済の半導体ウェーハ3
1を受け取り排出するためのウェーハ排出装置で、放冷
台69から間歇移送装2t65によって移送されてきた
半導体ウェーハ31を一端部で受け取り移送するための
半導体ウェーハ31の品質を損なわない適宜の材料たと
えばテフロンで形成されたベルトコンベア71を包有し
ている。ベルトコンベア71は、放冷台69の近傍に設
置された支柱72.72間に対して配設されたシャフト
73と、他の支柱74.74間に対して配設されかつ適
宜の駆動手段たとえば電動モータ(図示せず)に連結さ
れたシャフト75との間に張設されている。76はベル
トコンベア71の他端部の近傍に配設されたウェーハ収
容部材で、ベルトコンベア71によって移送されてきた
半導体ウェーハ31かその他端部から順次収容される。
77はエレベータ装置で、ウェーハ収容部材76を保持
しており、半導体ウェーハ31が収容されるごとに間歇
的に上昇せしめる。
更に本発明のウェーハ搬送装置の作用について詳細に説
明する。
ウェーハ供給装置30のエレベータ装置3コを最上位置
まで上昇せしめたのち、エレベータ装と33に対してウ
ェーハ収容部材32を設置する。エレベータ装置33に
よってウェーハ収容部材32を矢印へ方向に向けて若干
降下せしめると、最下位の半導体ウェーハ31かベルト
コンベア34の一端部表面に接触され、ベルトコンベア
34の移動に伴って矢印B方向に取り出される。ウェー
ハ収容部材32から取り出された半導体ウェーハ31は
、ベルトコンベア34によってウェーハ搬送装置赳のウ
ェーハ保持部21まて移送すなわち搬送される。ウェー
ハ保持部21では、ベルトコンベア34によって半導体
ウェーハ31がその周面を凹部19A、20Aに対して
当接されたのち、保持レバー198,208が矢印Cr
 、 C2方向に回転せしめられる。これによって半導
体ウェーハ31の周面か保持レバー19B、20Bによ
り凹部19^。
20^に対し押圧され、半導体ウェーハ31がウェーハ
保持部21に確実に保持され、結果的に後続の搬送に際
して位置ズレを生じない。
案内シャフト14Aの一端部に連結された駆動手段25
によって、クエーへ搬送装置210すなわち案内シャフ
ト1転ひいては案内シャフト13A、13B、14A。
14Bおよびこれらに装着された支持基台15.16A
168などを案内シャフト載置A、載置Bにそい矢印D
1方向に移動せしめる。ウェーハ保持部21がスピンコ
ータ赳に達し半導体ウェーハ31が回転シャフト41の
直上に位nしたとき、ウェーハ搬送装置赳の移動が停止
される。このとき半導体ウェーハ31の中心が、回転シ
ャフト41の回転軸に対して整合せしめられている。支
持基台16A、1[iB上の駆動手段23A、23Bが
動作せしめられ、駆動杆体24A、24Bを介して支持
基台15か案内シャフト13A、13B、14A。
14flにそい降下される。これに応じてウェーハ保持
部材すなわちウェーハ保持基板19.20も降下され、
ウェーハ保持部21に保持された半導体ウェーハ31の
下面が回転シャフト41の上端面41aの近傍に到達す
る。保持レバー19B、20Bが開放され、半導体ウェ
ーハ31が回転シャフト4Iの上端面41aに載置され
たのち、管体43および貫通孔44を介して外部の吸引
源で吸引を開始すると、半導体ウェーハ31が回転シャ
フト41の上端面41aに対して吸着される。そののち
支持基台I5およびウェーハ保持基板19.20が更に
降下され、ウェーハ保持基板19.20の上面か回転シ
ャフト41の上端面41aに吸着された半導体ウェーハ
31の下面よりも下方位置とされる。
ウェーハ搬送装置10のウェーハ保持部22に半導体ウ
ェーハ31か保持されていないので、受取台64上に半
導体ウェーハ3Iが載δされることはなく、この状態で
は未だ間歇移送装置65によって加熱炉51の内部すな
わち加熱空間62に半導体ウェーハ31か移送されるこ
とがない、したがって説明を簡潔とするために、ここに
おける持上装置63および間歇移送装置64などからな
る熱処理装置並以下の動作の説明を省略する。
ウェーハ搬送装置1[1が、案内シャフト載置A、載置
Bにそって矢印D2方向に移動され、スピンコータ凹の
近傍を通過して当初の位とに復帰される。そののち支持
基台16A、16B上の駆動手段23A、23Bが動作
せしめられ、駆動杆体24A、24Bを介して支持基台
15か案内シャフト13A、1’lB、14A、14B
にそい上昇せしめられる。これによってウェーハ保持基
板19.20も上昇され、ウェーハ供給装fi130か
ら次の半導体ウェーハ31を受け取ることが可能とされ
る。
次いで滴下装置47の回動アーム49が1回動シャフト
41の直上まで矢印E方向に向けて回動され、その自由
端部の滴下ノズル50から所定量の拡散源溶解液あるい
はフォトレジストなどが回動シャフト41に吸着された
半導体ウェーハ31の上面のほぼ中心に滴下される0滴
下ノズル50から拡散源溶解液あるいはフォトレジスト
などが滴下されると。
回動アーム49が再度回動され当初の位置へ復帰される
。そののちカバ一部材42が矢印F□力方向上昇され、
カバー42Cで回転シャフト41の上端面41aに吸着
された半導体ウェーパフェの周囲を包囲する。歯車41
Gを介して適宜の駆動手段て回転シャフト41を回転せ
しめることにより、滴下された拡散源溶解液あるいはフ
ォトレジストなどを半導体ウェーハ31の上面に対し均
一の肉厚で塗布する0回転シャフト41の回転によって
半導体ウエーハ31の上面から飛散した拡散源溶解液あ
るいはフォトレジストなどは、カバー42Gによって捕
集され、底面42aに開口された貫通孔46および管体
45を介して回収容器(図示せず)に回収される。
拡散源溶解液あるいはフォトレジストなどの塗布が完了
すると、回転シャフト41の回転が停止され、カバ一部
材42か矢印F2方向に降下される。
スピンコータ並における半導体ウェーハ31に対する拡
散源溶解液あるいはフォトレジストなどの塗布動作に並
行して、次の半導体ウェーハ31か上述と同様にウェー
ハ搬送装置刊のウェーハ保持部21に対して保持されて
いる。
スピンコータ赳にによる拡散源溶解液あるいはフォトレ
ジストなどの塗布が完了すると、貫通孔44および管体
43を介した半導体ウェーハ31の回転シャフト41の
上端部41aに対する吸引が遮断され、かつウェーハ搬
送装置■が上述と同様に案内シャフト載置A、載置Bに
そって矢印D□力方向移動される。ウェーハ搬送装置艮
のウェーハ保持部22の凸部190,200が、回転シ
ャフト41の上端面41aに載置された半導体ウェーハ
31の下面にそい所定の間隔をおいて矢印り、方向に移
動され、結果的にスピンコータ赳による拡散源溶解液あ
るいはフォトレジストなどの塗布された半導体ウェーハ
31の周面かウェーハ保持部22の凹部19G、20G
に当接され、これにより半導体ウェーハ31か回転シャ
フト41の上端面41aからウェーバ保持部22へ移動
される。ウェーハ搬送装置用が矢印D1方向へ移動され
続け、ウェーハ保持部21か回転シャフト41の真上へ
到達されると停■二される。ウェーハ搬送装a厘のうち
支持基台15およびウェーハ保持基板19゜20が上述
と同様その中心を回転シャフト41の回転軸に一致せし
めた状態でに降下されるので1次の半導体ウェーハ31
か回転シャフト41の上端面41a上に対し適宜にai
され、管体43および貫通孔44を介して適宜の吸着源
によって吸着される。
ウェーハ搬送装置1!!のウェーハ保持部22に保持さ
れた半導体ウェーハ31は、支持基台15およびウェー
ハ保持基板19.20の降下に伴って受取台64上に移
転される。すなわち受取台64の表面か回転シャフト4
1の上端面41aとほぼ同一の高さとされており、かつ
受取台64の横幅がウェーハ保持部材たとえばウェーハ
保持基板19.20の間の間隔よりも狭小であるので、
支持基台15およびウェーハ保持基板19.20の降下
に伴ってウェーハ保持基板19.20の間に受取台64
が侵入することとなり、受取台64がウェーハ保持部2
2に保持された半導体ウェーハ31の下面を支持し、半
導体ウェーハ31を受け取ることとなる。
ウェーハ搬送装置用は、矢印D2方向に移動されて上述
と同様に当初の状態に復帰される。
持上装置63が矢印G、力方向上昇され、その支持ビン
63Gのうち加熱炉61の入口部外方に位置するものが
受取台64の貫通孔1i4Aに挿通される。これにより
受取台64に載置された半導体ウェーハ31が、持上装
j163の支持ビン63Cの頂部に!を詮され支持され
る。
持上装置63の支持とン63Cに半導体ウェーハ31が
vL置されると1間歇移送装置i6sの移動手段68が
動作される。すなわち動力源68Gおよび連結体68D
によって移送半休66.67の基部65A、67Aか、
矢印H1方向に移動され互いに接近される。基部56A
、67Aの接近に伴ッテ支持本体66G、67Cも、矢
印H,力方向移動され互いに接近される。これにより支
持手段たとえば支持爪66D、67Dが支持ビン63C
にa2iされた半導体ウェーハ31の下方に進出する。
持上装2163が矢印G2方向に降下されると、支持ビ
ン63Cにa近された半導体ウェーハ31が支持手段た
とえば支持爪66D、67D上に移動される。
動力源58Cか案内シャフト68Bにそって矢印1、方
向に所定距離たけ移動すると、移送半休66.67も矢
印1.方向に所定距離だけ移動される。この状態で持上
装置63が再び矢印G1方向に上昇されると、加熱炉6
1の入口部に最も近い貫通孔62Aに挿通された支持ビ
ン63Cによって半導体ウェーハ31か支持される。動
力源58Gによって移送半休66.67が、矢印H2方
向に向は互いに離間されたのち、更に矢印I2方向に移
動され当初の位こに復帰される。そののち持上装置63
か矢印G2方向に降下されると、支持ピン63C上の半
導体ウェーハ31か加熱炉61の底面すなわち加熱面上
に直接a、辺され、効率よく加熱処理される。これによ
り、スピンコータ赳で塗布された拡散源溶解液あるいは
フォトレジストなどが、加熱乾燥されて半導体ウェーハ
31の表面に対し密着される。
ウェーハ搬送型を匹のウェーハ保持部22によってスピ
ンコータ赳から半導体ウェーハ31が移送されてくるご
とに、持上装置63および間歇移送装置65か上述の動
作を反復するので、半導体ウェーハ31が加熱炉61内
を所定距離すなわち底面の貫通孔62Aの穿設間隔ずつ
間歇的に移送される。
加熱炉61の出口部まで移送された半導体ウェーハ31
は、持上装置63および間歇移送装置55によって放冷
台69上に一旦@装置されたのち、更に放冷台69から
ウェーハ排出袋W170のベルトコンベア71の一端部
上に移送される。
ベルトコンベア71に載置された半導体ウェーハ31は
、矢印J方向に移送され、その他端部でウェーハ収容部
材76に収容される。ウェーハ収容部材76は、半導体
ウェーハ31が収容されるごとにエレベータ装置77に
よって矢印に方向に間歇的に上昇される。ウェーハ収容
部材76の収容空間が半導体ウェーハ31によって充満
されると、エレベータ装置77から取り外され、新たな
ウェーハ収容部材76と交換される。エレベータ装置7
7は、当初の位置まで降下され、再び上述の動作が反復
される。
以上の動作が反復されることにより、ウェーハ収容部材
32に収容された半導体ウェーハ31が、順次ウェーハ
搬送型gllOによってスピンコータ凹に移送され、か
つスピンコータ赳で拡散源溶解液あるいはフォトレジス
トなどが塗布されたのち再びウェーハ搬送装置圧によっ
てスピンコータ赳から熱処理袋fi60に移送され、熱
処理装置並で適宜の熱処理を施したのち他のウェーハ収
容部材76に収容される。
なお上述においてはウェーハ搬送装置すのウェーハ保持
部22によってスピンコータ赳の回転シャフト41上の
半導体ウェーハ31を受け取り後続の熱処理装置並に向
けて移送しているが、本発明は、これに限定されるもの
ではなく、他の手段によって回転シャフト41上から半
導体ウェーハ31を後続の熱処理装置廷に向けて移送す
る構成としてもよい。
またウェーハ搬送装置艮の支持基台15およびウェーハ
保持部材たとえばウェーハ保持基板19゜20を昇降す
ることにより半導体ウェーハ31をスピンコータ赳の回
転シャフト41に対して移送し、かつウェーハ搬送装置
艮がウェーハ供給装置用の近傍へ復帰するに際してスピ
ンコータ赳との接触などを回避しているか、本発明は、
これに限定されるものではなく、たとえばスピンコータ
些の回転シャフト41を昇降せしめることによってウェ
ーハ搬送装近耗との間で半導体ウェーハ31を移送し、
かつウェーハ搬送装置圧との接触などを回避してもよい
(3)発明の効果 上述より明らかなように本発明にかかるウェーハ搬送装
置は、ウェーハ収容部材からベルトコンベアによって移
送されてきた半導体ウェーハをスピンコータの回転シャ
フト上に蔵置せしめるよう搬送するウェーハ搬送装置で
あって、(a)前記半導体ウェーハの周面に対して当接
される凹部と、前記凹部に 対し前記半導体ウェーハを押圧し て保持する保持レバーとを包有し てなるウェーハ保持部材と、 (b)前記ウェーハ保持部材を、前記スピンコータに向
けて移動せしめ、 かつ前記凹部に保持された半導体 ウェーハの中心と前記回転シャツ トの回転軸とが整合する位置に停 止せしめる移動手段と を備えてなるので、 (i)スピンコータの回転シャフトの回転中心に対し中
心を整合せしめて半導体ウエーハを蔵置できる効果 を有し、ひいては (ii)スピンコータによる拡散源溶解液あるいはフォ
トレジストなどの塗布ムラを除去できる効果 ならびに (iii)スピンコータによる回転に際する半導体ウェ
ーハの飛散事故を防止できる効果 を有する。
また本発明にかかる他のウェーハ搬送装置は、ウェーハ
収容部材からベルトコンベアによって移送されてきた半
導体ウェーハをスピンコータの回転シャフト上に蔵置せ
しめるよう搬送するウェーハ搬送装置であって、 (a)前記半導体ウェーハの周面に対して当接される凹
部と、前記凹部に 対し前記半導体ウェーハを押圧し て保持する保持レバーと、前記回 転シャフト上に載置された半導体 ウェーハを受け取って保持する他 の凹部とを包有してなるウェーハ 保持部材と、 (b)前記ウェーハ保持部材を、前記スピンコータに向
けて移動せしめ、 かつ前記回転シャフト上に載置さ れた半導体ウェーハを前記他の凹 部で受け取って保持したのち前記 凹部に保持された半導体ウェーハ の中心と前記回転シャフトの回転 軸とが整合する位置に停止せしめ る移動手段と を備えてなるので、上記(+)〜(iii)の効果に加
え (iv)スピンコータの回転シャフト上から半導体ウェ
ーハを損傷することなく効率よく移送できる効果 を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す主としてI−■線にそ
った縦断面図、第2図は回生としてn−■線にそった横
断面図、第3図は後続の熱処理装置を示す■−m線にそ
った縦断面図、第4図は回生としてff−IV線にそっ
た横断面図、第5図は同平面図である。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ウェーハ収容部材からベルトコンベアによって移
    送されてきた半導体ウェーハをスピンコータの回転シャ
    フト上に載置せしめるよう搬送するウェーハ搬送装置に
    おいて、 (a)前記半導体ウェーハの周面に対して当接される凹
    部と、前記凹部に対し前記半導 体ウェーハを押圧して保持する保持レ バーとを包有してなるウェーハ保持部材 と、 (b)前記ウェーハ保持部材を、前記スピンコータに向
    けて移動せしめ、かつ前記凹 部に保持された半導体ウェーハの中心と 前記回転シャフトの回転軸とが整合する 位置に停止せしめる移動手段と を備えてなることを特徴とするウェーハ搬送装置。
  2. (2)ウェーハ収容部材からベルトコンベアによって移
    送されてきた半導体ウェーハをスピンコータの回転シャ
    フト上に載置せしめるよう搬送するウェーハ搬送装置に
    おいて、 (a)前記半導体ウェーハの周面に対して当接される凹
    部と、前記凹部に対し前記半導 体ウェーハを押圧して保持する保持レ バーと、前記回転シャフト上に載置され た半導体ウェーハを受け取って保持する 他の凹部とを包有してなるウェーハ保持 部材と、 (b)前記ウェーハ保持部材を、前記スピンコータに向
    けて移動せしめ、かつ前記回 転シャフト上に載置された半導体ウェー ハを前記他の凹部で受け取って保持した のち前記凹部に保持された半導体ウェー ハの中心と前記回転シャフトの回転軸と が整合する位置に停止せしめる移動手段 と を備えてなることを特徴とするウェーハ搬送装置。
JP12074987A 1987-05-18 1987-05-18 ウェ−ハ搬送装置 Expired - Lifetime JP2561467B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12074987A JP2561467B2 (ja) 1987-05-18 1987-05-18 ウェ−ハ搬送装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12074987A JP2561467B2 (ja) 1987-05-18 1987-05-18 ウェ−ハ搬送装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63285946A true JPS63285946A (ja) 1988-11-22
JP2561467B2 JP2561467B2 (ja) 1996-12-11

Family

ID=14794033

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP12074987A Expired - Lifetime JP2561467B2 (ja) 1987-05-18 1987-05-18 ウェ−ハ搬送装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2561467B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH023909A (ja) * 1988-06-20 1990-01-09 Tokyo Electron Ltd 加熱装置
JPH02189949A (ja) * 1989-01-18 1990-07-25 Tokyo Electron Ltd 搬送装置
CN110310908A (zh) * 2019-07-12 2019-10-08 无锡奥特维科技股份有限公司 规整装置和退火炉设备

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6272137A (ja) * 1985-09-25 1987-04-02 Mitsubishi Electric Corp ウエハの位置決め装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6272137A (ja) * 1985-09-25 1987-04-02 Mitsubishi Electric Corp ウエハの位置決め装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH023909A (ja) * 1988-06-20 1990-01-09 Tokyo Electron Ltd 加熱装置
JPH02189949A (ja) * 1989-01-18 1990-07-25 Tokyo Electron Ltd 搬送装置
CN110310908A (zh) * 2019-07-12 2019-10-08 无锡奥特维科技股份有限公司 规整装置和退火炉设备

Also Published As

Publication number Publication date
JP2561467B2 (ja) 1996-12-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100782529B1 (ko) 증착 장치
US5250114A (en) Coating apparatus with nozzle moving means
JPH084105B2 (ja) ウェハ接着方法
JPH01502866A (ja) 自動ウェファーローディング方法及び装置
CN108889566A (zh) 固态贴蜡机
JPS63285946A (ja) ウェ−ハ搬送装置
KR20040103714A (ko) 기판의 로딩 장치 및 이를 이용한 기판의 로딩 방법
US6196906B1 (en) Surface polishing apparatus and method of taking out workpiece
KR930007099B1 (ko) 접착장치
JP2002184725A (ja) ラップ盤及びその制御法並びにラップ盤用ワーク搬出入装置
JP2852024B2 (ja) 容器洗浄装置
JP3563851B2 (ja) 基板搬送装置
JPH10245283A (ja) 施釉設備
JP2584995B2 (ja) ウェ−ハ熱処理装置
JP2585009B2 (ja) ウェ−ハ熱処理装置
CN208824893U (zh) 固态贴蜡机
JP2585008B2 (ja) ウェ−ハ熱処理装置
JPH0939905A (ja) 供給コンベヤから洗卵コンベヤへの鶏卵移替え装置
JPH0543184B2 (ja)
JPH06263243A (ja) 物品移送装置
KR100406328B1 (ko) 칩의 외부 전극 도포 장치
JP3205525B2 (ja) 基板の取出装置,搬入装置及び取出搬入装置
JP3500260B2 (ja) 研磨装置
JP3266287B2 (ja) 加熱処理装置
JPH10335429A (ja) 基板整列方法およびその装置