JPS63278934A - ポリイミド薄膜の製造方法 - Google Patents
ポリイミド薄膜の製造方法Info
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- JPS63278934A JPS63278934A JP11546087A JP11546087A JPS63278934A JP S63278934 A JPS63278934 A JP S63278934A JP 11546087 A JP11546087 A JP 11546087A JP 11546087 A JP11546087 A JP 11546087A JP S63278934 A JPS63278934 A JP S63278934A
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Links
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 title claims abstract description 19
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 6
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims abstract description 14
- XQUPVDVFXZDTLT-UHFFFAOYSA-N 1-[4-[[4-(2,5-dioxopyrrol-1-yl)phenyl]methyl]phenyl]pyrrole-2,5-dione Chemical compound O=C1C=CC(=O)N1C(C=C1)=CC=C1CC1=CC=C(N2C(C=CC2=O)=O)C=C1 XQUPVDVFXZDTLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 9
- 150000001793 charged compounds Chemical class 0.000 claims abstract description 8
- 229920003192 poly(bis maleimide) Polymers 0.000 claims abstract description 6
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims abstract description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 15
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 claims description 13
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims description 12
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 10
- 150000004985 diamines Chemical class 0.000 claims description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 abstract description 5
- 238000010292 electrical insulation Methods 0.000 abstract description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 12
- 239000010408 film Substances 0.000 description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 4
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 4
- 238000003795 desorption Methods 0.000 description 3
- YBRVSVVVWCFQMG-UHFFFAOYSA-N 4,4'-diaminodiphenylmethane Chemical compound C1=CC(N)=CC=C1CC1=CC=C(N)C=C1 YBRVSVVVWCFQMG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 2
- 238000005979 thermal decomposition reaction Methods 0.000 description 2
- 238000012644 addition polymerization Methods 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 1
- 238000005187 foaming Methods 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 1
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 1
- 238000000752 ionisation method Methods 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 1
- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 description 1
- 238000001819 mass spectrum Methods 0.000 description 1
- 239000000178 monomer Substances 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 239000005416 organic matter Substances 0.000 description 1
- 238000002161 passivation Methods 0.000 description 1
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000379 polymerizing effect Effects 0.000 description 1
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000000992 sputter etching Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Polymers With Sulfur, Phosphorus Or Metals In The Main Chain (AREA)
- Macromolecular Compounds Obtained By Forming Nitrogen-Containing Linkages In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この発明は、金属、セラミックス、無機物質、有機物質
等の基板上に、所望の特性を持ち、かつ基板との密着性
如優れたポリイミド薄膜を形成させる方法に関するもの
である。
等の基板上に、所望の特性を持ち、かつ基板との密着性
如優れたポリイミド薄膜を形成させる方法に関するもの
である。
(従来技術)
半導体分野で、層間絶縁膜やパシベーション膜などとし
て利用されているポリイミドの薄膜法としては、従来溶
媒に原料ポリイミドを溶かしたものを塗布した後加熱に
よる溶媒の乾燥除去と重合の完結を行うという簡単な方
法がある。
て利用されているポリイミドの薄膜法としては、従来溶
媒に原料ポリイミドを溶かしたものを塗布した後加熱に
よる溶媒の乾燥除去と重合の完結を行うという簡単な方
法がある。
しかしこの方法では、溶剤除去という後処理が必要であ
り、環境衛生上好ましくないばかりか発泡、あばた等の
膜厚のむらが生じゃすく又基板との密着性を改善するこ
とが難しいという欠点がある。
り、環境衛生上好ましくないばかりか発泡、あばた等の
膜厚のむらが生じゃすく又基板との密着性を改善するこ
とが難しいという欠点がある。
溶剤を用いない方法としては、ポリイミドをターゲット
としたスパッタリング法があるが、この方法により得ら
れた膜は原料ポリイミドとは構造が大きく変化するとい
う欠点がある。
としたスパッタリング法があるが、この方法により得ら
れた膜は原料ポリイミドとは構造が大きく変化するとい
う欠点がある。
(発明が解決しようとする問題点)
そこで、本発明は前述゛のようなポリイミド膜の形成方
法の欠点を改良し基板との密着性がすぐれ、ピンホール
がなく、耐熱性、絶縁性にすぐれたボリイミド薄膜を形
成する方法を提供することである。さらに具体的には、
一般に加熱すると蒸発する前に熱分解を起こしやすい有
機物質を熱分解させずに分子イオンあるいは帯電粒子と
するために電界脱離法を応用したことを特徴とするポリ
イミド膜を製造する方法を提供することである。
法の欠点を改良し基板との密着性がすぐれ、ピンホール
がなく、耐熱性、絶縁性にすぐれたボリイミド薄膜を形
成する方法を提供することである。さらに具体的には、
一般に加熱すると蒸発する前に熱分解を起こしやすい有
機物質を熱分解させずに分子イオンあるいは帯電粒子と
するために電界脱離法を応用したことを特徴とするポリ
イミド膜を製造する方法を提供することである。
(問題点を解決するための手段)
本発明においては、原料有機物の分解を抑制し、これを
分子イオンあるいは帯電粒子等の微細な粒子とするため
、いわゆる電界脱離(Field Desorptio
n )法を利用する。即ち加熱可能な電極に原料物質を
保持させて溶融状態とし空間を隔てた電極との間に高電
圧を印加する。これにより発生した電界の吸引力により
ぶ料物質を分子イオンあるいは帯電り 粒子として気相に引き出し、これを基板へ析出させ薄膜
とする。
分子イオンあるいは帯電粒子等の微細な粒子とするため
、いわゆる電界脱離(Field Desorptio
n )法を利用する。即ち加熱可能な電極に原料物質を
保持させて溶融状態とし空間を隔てた電極との間に高電
圧を印加する。これにより発生した電界の吸引力により
ぶ料物質を分子イオンあるいは帯電り 粒子として気相に引き出し、これを基板へ析出させ薄膜
とする。
なお、ここで用いる原料有機物質としては、加熱等によ
り重合、硬化し耐熱性、絶縁性に優れたポリイミドとな
るビスマレイミドモノマーや低分子量のポリイミド前駆
体を使用する。
り重合、硬化し耐熱性、絶縁性に優れたポリイミドとな
るビスマレイミドモノマーや低分子量のポリイミド前駆
体を使用する。
また特許請求の範囲第(2)項に示すように、ビスマン
イミドとジアミンの2種類の物質を同時に脱離させ気相
中あるいは基板上で重合させポリイミド膜を得ることも
可能である。
イミドとジアミンの2種類の物質を同時に脱離させ気相
中あるいは基板上で重合させポリイミド膜を得ることも
可能である。
(作用)
以下に電界脱離法について簡単に説明する。高分子材料
などが塗っである鋭く尖った針金やかみそりの刃の先端
などき対向電極との間に高電圧をかけ約108論以上の
強い電場を作り、徐々に温度を上げると先端に塗られた
材料が部分的にイオン化され飛び出す。この場合、材料
は非常に微細な液滴となり、ジェット噴射状で飛び出す
場合および分子状のいわゆる分子イオ゛ンとして飛び出
す場合がある。
などが塗っである鋭く尖った針金やかみそりの刃の先端
などき対向電極との間に高電圧をかけ約108論以上の
強い電場を作り、徐々に温度を上げると先端に塗られた
材料が部分的にイオン化され飛び出す。この場合、材料
は非常に微細な液滴となり、ジェット噴射状で飛び出す
場合および分子状のいわゆる分子イオ゛ンとして飛び出
す場合がある。
質量分析法において、後者の現象が難揮発性物質の分子
イオンスペクトルを測定するためのイオン化法として応
用されているが、非常に微量のイオンで質量スペクトル
が得られるのでジェット噴射は利用されず、むしろ有害
なものとして前処理により除去される。
イオンスペクトルを測定するためのイオン化法として応
用されているが、非常に微量のイオンで質量スペクトル
が得られるのでジェット噴射は利用されず、むしろ有害
なものとして前処理により除去される。
本発明の方法においてジェット噴射および分子イオンの
両方を有効に利用する。高分子物質等の難揮発性物質の
分解を最小限に押え、これを分子状にして気相中に取り
出す。次いで直接被覆すべき基板上に導き有機薄膜を形
成させる。
両方を有効に利用する。高分子物質等の難揮発性物質の
分解を最小限に押え、これを分子状にして気相中に取り
出す。次いで直接被覆すべき基板上に導き有機薄膜を形
成させる。
原料物質を導入する前に公知のイオンエツチングあるい
はプラズマエツチング等の処理により基板表面をエツチ
ングするかもしくは中間接合層を形成することが可能で
あり、これによって基板と高分子薄膜との密着性を更に
向上させることができる。
はプラズマエツチング等の処理により基板表面をエツチ
ングするかもしくは中間接合層を形成することが可能で
あり、これによって基板と高分子薄膜との密着性を更に
向上させることができる。
また加熱可能な原料保持電極の形状としては先端が針状
であればいろいろな形状のものが利用可能である。
であればいろいろな形状のものが利用可能である。
(実施例)
以下、添付図面を参照して本発明の製法を実施例につい
て説明するが、本発明はこれに限定されるものではない
。
て説明するが、本発明はこれに限定されるものではない
。
実施例1゜
第1図//i原料有機物としてジフェニルメタンビスマ
レイミドを用い、これを多孔質金属(1)に保持させ、
この多孔質金属を200℃に加熱し、原料物質を溶融状
態にする。これと空間を隔てて対向した電極(2)との
間に電圧を15KV印加する。5分後基板(3)上に膜
厚5000A0の薄膜が得られた。これを250℃、3
0分加熱することにより基板との密着性が良好でピンホ
ールのない耐熱性、絶縁性に優れたポリイミド薄膜が作
製できた。
レイミドを用い、これを多孔質金属(1)に保持させ、
この多孔質金属を200℃に加熱し、原料物質を溶融状
態にする。これと空間を隔てて対向した電極(2)との
間に電圧を15KV印加する。5分後基板(3)上に膜
厚5000A0の薄膜が得られた。これを250℃、3
0分加熱することにより基板との密着性が良好でピンホ
ールのない耐熱性、絶縁性に優れたポリイミド薄膜が作
製できた。
なお第1図中(4)は高電圧源、(5)はヒーターであ
る。
る。
実施例2
第2図Ir12種類の物質を原料として用いる場合の例
である。原料として、ジフェニルメタンビスマレイミド
と4,4′ジアミノジフエニルメタンを用い、それぞれ
を多孔質金属(6)に保持する。
である。原料として、ジフェニルメタンビスマレイミド
と4,4′ジアミノジフエニルメタンを用い、それぞれ
を多孔質金属(6)に保持する。
それからジフェニルメタンビスマレイミドを保持したも
のを200℃に、4.4’−ジアミノジフェニルメタン
を保持したものを120℃に加熱し、これと空間を隔て
たメツシュ状の電極(8)との間に20KVを印加する
。5分後基板(9)上に膜厚1μmの薄膜か得られた。
のを200℃に、4.4’−ジアミノジフェニルメタン
を保持したものを120℃に加熱し、これと空間を隔て
たメツシュ状の電極(8)との間に20KVを印加する
。5分後基板(9)上に膜厚1μmの薄膜か得られた。
これを250℃で30分間加熱することにより付加重合
が完結しポリアミノ°ビスマレイミドとなる。この薄膜
は基板との密着性か良好でピンホールがなく、耐熱性、
絶縁性に優れたものであった。
が完結しポリアミノ°ビスマレイミドとなる。この薄膜
は基板との密着性か良好でピンホールがなく、耐熱性、
絶縁性に優れたものであった。
なお第2図中(7)はヒーター、(10)は高電圧源で
ある。
ある。
(発明の効果)
本発明のポリイミド薄膜の製造法により、従来の方法に
比べてはるかに基板との密着性が優れたピンホールのな
い膜が作製でき、またこの膜は耐熱性、電気絶縁性が良
好で、牛導体等の絶縁膜として有効である。
比べてはるかに基板との密着性が優れたピンホールのな
い膜が作製でき、またこの膜は耐熱性、電気絶縁性が良
好で、牛導体等の絶縁膜として有効である。
第1図および@2図は本発明のポリイミド薄膜を作製す
るために用いる装置を夫々例示している。 (1)、(S)・・・多孔質金属、(2)、(8)・・
・対向電極、(3) 、(9)・・・基板、(4)・・
・高電圧源、(5)、(7)・・・ヒーター、(10)
・・・高電圧源り::″、t・ 代理人 弁理士 吉 竹 昌 司 1゛・、1第1図 第2図 66 r
るために用いる装置を夫々例示している。 (1)、(S)・・・多孔質金属、(2)、(8)・・
・対向電極、(3) 、(9)・・・基板、(4)・・
・高電圧源、(5)、(7)・・・ヒーター、(10)
・・・高電圧源り::″、t・ 代理人 弁理士 吉 竹 昌 司 1゛・、1第1図 第2図 66 r
Claims (2)
- (1)原料物質のビスマレイミドあるいはポリイミドの
プレポリマーをその軟化点以上に加熱できる電極に保持
させ、その電極と空間を隔てて対向する電極間に電圧を
印加し、その電界の吸引力により原料物質を保持電極か
ら分子イオンあるいは帯電粒子として気相中へ脱離させ
、これを基板へ析出させることを特徴とするポリイミド
薄膜の製造方法。 - (2)ビスマレイミドとジアミンとを同時に気相中に脱
離させる特許請求の範囲第(1)項記載のポリイミド薄
膜の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11546087A JPS63278934A (ja) | 1987-05-11 | 1987-05-11 | ポリイミド薄膜の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11546087A JPS63278934A (ja) | 1987-05-11 | 1987-05-11 | ポリイミド薄膜の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63278934A true JPS63278934A (ja) | 1988-11-16 |
Family
ID=14663097
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11546087A Pending JPS63278934A (ja) | 1987-05-11 | 1987-05-11 | ポリイミド薄膜の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63278934A (ja) |
-
1987
- 1987-05-11 JP JP11546087A patent/JPS63278934A/ja active Pending
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