JPS63269074A - ユニバ−サル周辺回路装置 - Google Patents

ユニバ−サル周辺回路装置

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JPS63269074A
JPS63269074A JP62103517A JP10351787A JPS63269074A JP S63269074 A JPS63269074 A JP S63269074A JP 62103517 A JP62103517 A JP 62103517A JP 10351787 A JP10351787 A JP 10351787A JP S63269074 A JPS63269074 A JP S63269074A
Authority
JP
Japan
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circuit
terminals
program
peripheral circuit
source
Prior art date
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Pending
Application number
JP62103517A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideaki Ogawa
秀明 小川
Makoto Shimomura
誠 下村
Tetsuo Kojima
哲郎 小島
Shigechika Koga
古賀 茂義
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、集積回路、厚膜集積回路等の電子部品の自動
検査に際して、各々の検査回路をコントローラのプログ
ラムを作成するだけで、簡単かつ短時間に構成できるユ
ニバーサル周辺回路装置に関するものである。
従来の技術 従来、集積回路、厚膜集積回路の自動検査は、第4図に
示すような構成であった。第4図において、1はコント
ローラ、2は電源、測定器等のユニット、3は周辺回路
、4は被測定物である。ここで、周辺回路3とは1つの
品種の電気的特性を検査するのに必要な数種類の検査回
路を、1つの基板上に構成したもので、コントローラの
プログラムに従って、検査回路が切換わり、電源、測定
器等のユニット2と被測定物4を電気的に接続するもの
である。また、コントローラ1、電源、測定器等のユニ
ット2は汎用であシ、全品種に使用可能であるが、周辺
回路3は、品種によって検査回路が異るため、品種毎に
作らなければならない。
発明が解決しようとする問題点 上述のように、従来の技術では、品種毎に周辺回路を作
らなければならず、制作時間、費用、調整時間がかかる
という問題点があった。また、品種切換時には、周辺回
路を交換しなければならず時間がかかった。
本発明はこのような問題点を解決するもので、周辺回路
を品種毎に作る必要がなく、コントローラのプログラム
だけで、検査回路を構成することを目的とするものであ
る。
問題点を解決するための手段 この問題点を解決するため、本発明では、被測定物の端
子と全ユニットの間に各々スイッチング手段を配置し、
スイッチング手段が動作することによって各端子と、電
源、測定器等の各ユニットが接続されるようにしたもの
である。
作用 この構成により、適切なプログラムを組むことによって
、必要な端子に必要なユニットをつなぐことができ、検
査回路をプログラムだけで構成するとと°ができる。
実施例 第1図は本発明の一実施例の構成図であシ、第2図はユ
ニバーサル周辺回路3′の構成図である。
第2図において、AI、A2.B1・・・・・・は電源
測定器等のユニットであり、X1〜x6は被測定物の端
子を示す。ユニバーサル周辺回路3′は、電源、測定器
等のユニッ)AI 、A2.B1・川・・と端子の交点
にリレーY1〜Y12に配置することによって構成され
る。
第3図は、本発明を用いて構成しようとする厚膜集積回
路の検査回路の一例であシ、○内は、被測定物の端子番
号を示す。
第2図において、人を第1の定電圧源、Bを第2の定電
圧源、Cを交流源、Dを電圧計と仮定すれば、ム〜Dの
ユニットと被測定物の端子の交点にあたるリレーY1〜
Y12を動作させれば第3図の検査回路を構成すること
ができる。
発明の効果 以上のように本発明によれば、検査回路をコントローラ
のプログラムだけで簡単に構成することができ、検査回
路の追加・削除・変更等も容易である。また、プログラ
ムだけで検査回路を構成できることから、構想の段階か
ら、費用を発生させずに検査回路を検討することができ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例によるユニバーサル周辺回路
装置のブロック図、第2図はユニバーサル周辺回路の回
路構成図、第3図は本発明によシ構成しようとする検査
回路の一例を示す回路図、第4図は従来のユニバーサル
周辺回路装置のブロック図である。 1・・・・・・コントローラ、2・・・・・・電源、測
定器等のユニット、3′・・・・・・ユニバーサル周辺
回路、4・・・・・・被測定物、Y1〜Y12・・・・
・・リレー。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  集積回路、厚膜集積回路等の製品の電気的特性の検査
    において、電源、測定器等のユニットと被測定物とをス
    イッチング手段を介して接続し、そのスイッチング手段
    を切換えて検査回路を構成したユニバーサル周辺回路装
    置。
JP62103517A 1987-04-27 1987-04-27 ユニバ−サル周辺回路装置 Pending JPS63269074A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0279471U (ja) * 1988-12-08 1990-06-19

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6020705A (ja) * 1983-06-28 1985-02-02 エーリコン―コントラベス・アクチェンゲゼルシャフト 垂直構成架台の構造
JPS61223568A (ja) * 1985-03-29 1986-10-04 Toshiba Corp Icテスタ用インタ−フエ−スボ−ド

Patent Citations (2)

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JPS61223568A (ja) * 1985-03-29 1986-10-04 Toshiba Corp Icテスタ用インタ−フエ−スボ−ド

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