JPS63266655A - 磁気光学ヘツド - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ｍ気光学ヘッドの構成に係り、特に半導体レ
ーザ光源の強度変動を検出するために好適な構成′に関
する。

〔従来の技術〕

情報の書き換えが可能な大容量高密度メモリとして、磁
気光学的情報記録媒体である光磁気ディスクメモリが実
用化されようとしている。しかし。

その磁気光学ヘッドは、通常の光デイスク用光学ヘッド
に比べ、情報記録面から反射してくる光の偏光状態の微
小変化（カー効果）を検出しなければならないため、Ｃ
／Ｎの向上が最も重要な課題となっている。とくに、磁
気光学ヘッドではレーザへの戻り光が多いのでレーザノ
イズが発生し、十分なＣ／Ｎが得られなかった。

従来、半導体レーザ光源の強度変動を抑えるためにＡＰ
Ｃ（オートパワーコントロール）回Ｍが設けられている
。これは、半導体レーザ光源の後方に配置した光検出器
によって、半導体レーザ光源の後方光を検出し、これが
一定になるように牛導体レーザの印加電流を自動制御す
るものであ褐しかし、半導体レーザ光源の強度変動の様
子を調べると、前方光と後方光とで強度変動の振幅や位
相が異なっている場合があるため、前方光の強度変動の
抑制が不十分であったり、逆に変動が大きくなることも
あった。

これに対し、特開昭５７−２００９６１号に記載のよ５
Ｋ、半導体レーザ光源から発射された光束のビームスプ
リッタによる反射光束を検出し、これを用いて再生信号
中のノイズを除去する方法が提案されている。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかし上記従来技術は、半導体レーザ光源からの前方光
を検出するために１新たに光検出器や集光レンズが必要
となるため、部品点数が多（、構成が複雑であり、コス
ト高となっており、かつ小形化も困難であった。集光レ
ンズを省略し、ビームスプリッタによる反射光束を直接
光検出器で検出すれば構成は簡単になるが、この場合受
光面積が大きい光検出器を用いる必要がある。しかし、
受光面積が大きい光検出器は周波数帯域が狭いため、高
い周波数のノイズは除去することができなかった。

本発明の目的は、上記問題点を解決し、新たに光検出器
や集光レンズを必要とせず、簡単な構成で、半導体レー
ザ光源の強度変動を検出できる磁気光学ヘッドの構成を
提供することにある。

〔問題点を解決するための手段〕

上記した目的を達成するために１本発明では、半導体レ
ーザ光源から発射された光束のビームスプリッタによる
反射光束が入射する反射面を設けるとともＫ、その反射
面による反射光束を光検出器の他の受光領域で検出する
ために反射面を所定の角度傾けて構成した。

〔作用〕

反射面の傾き角度をθとすると、その反射面による反射
光束は、光磁気ディスクからの反射光束のビームスプリ
ッタによる反射光束に対して２θ傾く。θを小さく設定
すれば、上記２つの光束はビームスプリッタを出射後０
、はぼ同一方向に進行することになる。したがって、同
一光検出器上の隣接して配置された受光領域に導びくこ
とか可能となる。したがって、新たに光検出器や集光レ
ンズを必要とせず、反射面の追加といった簡単な構成で
、半導体レーザ光源の強度変動を検出できちまた、光磁
気ディスクの再生信号検出用の光検出器は、受光面積が
小さく周波数帯域が広いため、高い周波数のノイズまで
除去することができる。

〔実施例〕

以下、本発明の実施例を、図面を参照して詳細に説明す
る。

第１図は本発明による磁気光学ヘッドの第１の実施例を
示す側面図である。第１図において、直線偏光光源であ
る半導体レーザ光源１から発射された発散光束２は、コ
リメータレンズ３Ｖｃより平行光束４となる。平行光束
４は、その一部がビームスプリッタ５を透過して、ミラ
ー６で反射された後、対物レンズ７により絞り込まれて
、磁気光学的情報記録媒体であるディスク８の情報記録
面８ａ上に照射される。

ディスク８からの反射光束９は、対物レンズ７により再
び平行光束１０に変換され、ミラー６で反射され、ビー
ムスプリッタ５の反射面５＆で反射される。反射後の平
行光束１１は、光学軸の方位が２２．５度の７波長板１
２に入射し、出射光の偏光の方位を４５度回転させる。

この平行光束１１は、集光レンズ１３に入射して収束１
４となる。収束光束１４は、略４５度回転して配置され
た円柱レンズ１５に入射し、非点収差が与えられる。円
柱レンズ１５を通過した収束光束１４は、検光子である
偏光ビームスプリッタ１１５に入射する。

偏光ビームスプリッタ１６は、Ｐ偏光（紙面に平行な振
動方向の偏光）を透過し、Ｓ偏光（紙面に垂直な振動方
向の偏光）を反射する偏光膜１６ａをはさんで、二等辺
直角三角柱プリズム１６ｂと、平行な透明平板１６　ｏ
により成っている。収束光束１４は、三角柱プリズム１
６ｂの上側より偏光膜１６＆に入射する。偏光Ｊｌ１１
６ｍを透過したＰ偏光１４　ｍは、透明平板１６　ｏの
裏側平面１（Ｓｄで全反射して再度偏光膜１６＆を透過
して三角柱プリズム１６１）の左側に向かりて進行する
。一方、偏光膜１６＆で反射されたＳ偏光１４１）も、
Ｐ偏光１４ａと同じ方向に進行し、光検出器１７に入射
する。

一方、平行光束４のうちビームスプリッタ５を透過しな
かりた残りは、ビームスプリッタ５の反射面５ａで反射
され、反射面５１）Ｋ入射する。反射面５ｂは角度θだ
け傾けられており、その反射面５ｂによる反射光束１８
は、光磁気ディスク８からの反射光束１０のビームスプ
リッタ５による反射光束１１　Ｋ対して２θ傾けられる
。

この反射光束１Ｂは、反射光束１１と同様に、　Ｔ波長
板１２に入射し、出射光の偏光の方位を４５度回転させ
る。この光束１８は、集光レンズ１３に入射して収束光
束１９となる。収束光束１９は、円柱レンズ１５に入射
し、非点収差が与えられる。円柱レンズ１５を通過した
収束光束１９は、偏光ビームスプリッタ１６に入射する
。収束光束１９は、三角柱プリズム１６ｂの上側より偏
光膜１６＆に入射する。偏光膜１６＆を透過したＰ偏光
１９為は、透明平板１６　ｏの裏側平面１６　（ｌで全
反射して再度偏光１１ｉ１６ａを透過して三角柱プリズ
ム１６　ｂの左側に−向かりて進行する。一方、偏光膜
１６＆で反射されたＳ偏光１９１）も、Ｐ偏光１９＆と
同じ方向に進行し、光検出器１７に入射する。

光検出器１７は、第２図に示すように、Ｐ偏光１４　、
を受光する田の字状の４分割受光領域１７　ｂ。

１７　ａ　、　１７ｄ　、　１７・と、Ｓ偏光１４ｂを
受光する受光領域１７＆と、Ｓ偏光１９ｂを受光する受
光領域１７ｆとを含み、かつ各受光領域１７＆〜ｆが同
一平面上に一体化して形成された６分割受光素子である
。このような６分割受光素子は、広くコンパクトディス
クグレーヤ等に使用されており、安価に入手可能である
。例えば、Ｐ偏光１４ａとＳ偏光１４ｂの間隔ｄ１が、 ＋１１＃α５６ｍｍ　　　　　　　　　−−−−−・−
・−（ｔ）の時は、透明平板１６　ｏの厚さｔを、１−
　ｄ、　５ ζ１２５ｍｍ　　　　　　　　・・・・・・・・・・・
・（２）に設定すれば良い。また、Ｓ偏光１４　ｂとＳ
偏光１９ｂの間隔ｄ２は、 ｄ２−”　２　（１１ ”：ｔＯ，７２ｍｍ　　　　　　　　　　　　・・・・
・・・・・・・・　（３）と設定とすれば良い。集光レ
ンズ１３の焦点距離ｆが、 ｆ　””’ｒ　５６　”　”　　　　　　　　　・・・
・・・・・・・・・（４）の時は、反射面５ｂの傾き角
度θを、 ”；　Ｏ，Ｄｌ　ｒａａ＃［１５７度　　−・−・−−
−−−−・（５）に設定すれば良い。

受光領域１７　ｂ　、　１７　（Ｌの出力信号２１と受
光領域１７　ａ　、　１７　ｅの出力信号２０は、加算
器２２により加算され信号２５となる。受光領域１７　
ｍの出力信号２４と信号２６は、減算器２５により減算
され差動再生法による再生信号２６が検出される。一方
、出力信号２０と出力信号２１は、減算器２７により減
算されフォーカス誤差信号２８が検出される。さらに、
信号２４と出力信号２３は、加算器２９により加算され
、和信号３０が検出される。和信号３０からは、トラッ
キング誤差信号やプリフォーマット信号が検出されるが
、本発明の主旨とは関−係ないので説明は省略する。受
光領域１７ｆの出力信号３１は、ＡＰＣ回路５２に入力
され、ＡＰＣ回路３２の出力電流３３が半導体レーザ光
源１に印加される。

本実施例では、反射面５ｂをビームスプリッタ５に設け
たがこれに限るものではない。

第３図は、本発明による磁気光学ヘッドの第２の実施例
を示す側面図である。第５図では、ビームスプリッタ５
の外部に反射面５４　ｍを具える反射鏡３４を配置した
。平行光束４のうちビームスプリッタ５を透過しなかっ
た残りは、ビームスプリッタ５の反射面５ａで反射され
、反射鏡３４の反射面５４＆に入射する。反射面５４　
ｂは角度θだけ傾けて配置することによって、その反射
面５４　ｂＫよる反射光束１Ｂを、光磁気ディスク８か
らの反射光束１０のビームスプリッタ５による反射光束
１１に対して２θ傾けることができる。その他は、第１
図と同じである。

本実施例では、受光領域１７　ｔの出力信号３１は、Ａ
ＰＣ回路５２に入力され、ＡＰＣ回路３２の出力電流５
３が半導体レーザ光源１に印加されたが、これに限るも
のではない。

第４図は、和信号３０に含まれるノイズを除去する方法
を示すブロック図である。

受光領域１７′ｆの出力信号５１は、ＡＧＣ回路５４に
入力される。ＡＧＣ回路３４の出力信号３５と和信号５
０は、減算器３６により減算され、ノイズを除去された
信号５７が検出される。この時、信号３７をローパスフ
ィルタ５ＢＩＩＣ入力させ、その出力３９をＡＧＣ回路
３４に入力させることにより、減算器３６のＣＭＲＲ（
同相除去比）を常に大きく保つことができる。

第５図は、Ｐ偏光１４＆の信号２３とＳ偏光１４ｂの信
号２４に含まれるノイズを除去する方法を示すブロック
図である。

すなわちＰ偏光１９　ｍを受光する受光領域１７ｇを追
加する。受光領域１７　ｆの出力信号５１は、ＡＧＣ回
路４０　Ｋ入力される。ＡＧＣ回路４ｏの出力信号４１
と信号２４は、減算器４２により減算され、ノイズを除
去された信号４３が出力される。この時、信号４５をロ
ーパスフィルタ４４に入力させ、その出力４５をＡＧＣ
回路４０　Ｋ入力させることにより、減算器４２のＣＭ
ＲＲを常に大きく保つことができる。受光領域１７　ｇ
の出力信号４６は、ＡＧＣ回路４７に入力される。ＡＧ
Ｃ回路４７の出力信号４８と信号２５は、減算器４９に
より減算され。

ノイズを除去された信号５０が出力される。この時、・
信号５０をローパスフィルタ５１に入力させることによ
り、減算器４７のＣＭＲＲを常に大きく保つことができ
る。信号４５と信号５ｏは、減算器５５により減算され
差動再生法による再生信号２６が検出される。さらに、
信号４５と信号５ｏは、加算器５５により加算され、信
号５６が検出される。信号５６からは、トラッキング誤
差信号やプリフォーマット信号が検出される。

この他にも、様々な変形例が可能であることは言うまで
もない。

以上説明したよ５Ｋ、本発明の一実施例によれば、半導
体レーザ光源から発射された光束のビームスプリッタに
よる反射光束が入射する反射面を設けるとともＫ、その
反射面による反射光束を光検出器の他の受光領域で検出
するために反射面を　・所定の角度傾けて構成した。

これＫより、半導体レーザ光源からの前方光を検出する
ためＫ、新たに光検出器や集光レンズを必要としない。

特Ｋ、反射面をビームスプリッタに設ける場合、構成が
最も簡単になる。

また、光磁気ディスクの再生信号検出用の光検出器は、
受光面積が小さく周波数帯域が広いため。

この光検出器で検出される半導体レーザ光源からの前方
光の信号を用いれば、高い周波数のノイズまで除去可能
となる。

また、この前方光の信号を、ノイズ除去以外の用途に応
用可能なことは言うまでもない。

〔発明の効果〕

本発明によれば、新たに光検出器や集光レンズを必要と
せず、ビームスプリッタで反射した前方光を反射させ、
かつ再生信号検出用の光検出器の他の受光領域で検出さ
れるべく傾けて配置した反射面を追加するといった簡単
な構成で、半導体レザ光源の強度変動を検出できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の磁気光学ヘッドの側面図、
第２図は第１図の光検出器と信号処理ブロック図、第５
図は本発明の他の実施例の磁気光学ヘッドの側面図、第
４図は第２図の変形例の光検出器と信号処理ブロック図
、第５図は第２図の変形例の光検出器と信号処理ブロッ
ク図である。 １・・・半導体レーザ光源、　４・・・光束、５・・・
ビームスプリッタ、　　５ｂ・・・反射面、θ・・・傾
き角度、　　　　　　１７・・・光検出器、１７ｆ・・
・受光領域。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １、半導体レーザ光源と、該半導体レーザ光源から発射
   された光束の一部を反射し残りを透過するビームスプリ
   ッタと、該ビームスプリッタを透過した光束を集光して
   磁気光学的情報記録媒体の情報記録面上に導く対物レン
   ズと、該情報記録面から反射光束の該ビームスプリッタ
   による反射光束を検波するための検光子と、該検波され
   た光を検出する受光領域を含む光検出器を有する磁気光
   学ヘッドにおいて、該半導体レーザ光源から発射された
   光束の該ビームスプリッタによる反射光束が入射する反
   射面を設けるとともに、該反射面による反射光束を該光
   検出器の他の受光領域で検出するために該反射面を所定
   の角度傾けて構成したことを特徴とする磁気光学ヘッド
   。