JPS63257963A - 光カ−ドデ−タの改ざんチエツク方式 - Google Patents

光カ−ドデ−タの改ざんチエツク方式

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JPS63257963A
JPS63257963A JP62090854A JP9085487A JPS63257963A JP S63257963 A JPS63257963 A JP S63257963A JP 62090854 A JP62090854 A JP 62090854A JP 9085487 A JP9085487 A JP 9085487A JP S63257963 A JPS63257963 A JP S63257963A
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optical card
recorded
recording
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JP62090854A
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Takahiko Miyata
宮田 孝彦
Yourou Mizuno
養老 水野
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光カードデータの改ざんチェック方式に関し
、特に光カードにおいて、カード内データの改ざんチェ
ックを簡便に行うのに好適な改ざんチェック方式に関す
る。
〔従来の技術〕
従来、レーザー光によって情報を記録し、その記録され
た情報をCCDまたはレーザ光によって光学的に再生で
きるカードとして光カード(光メモリ・カード)が開発
されている。このような光カードには、現在、追加記録
のできるWrite 0nce型と、読み出し専用のR
OM型がある。磁気カードのように消去・再書込みはで
きない。しかし、Write 0nce型でも、記録容
量が大きいので、新たな情報を追加して書き込める。一
方、ROM型は同じ内容を大量に配布する用途に向く。
光カードにおけるデータ記録・再生について、少し詳し
く言えば、データの記録は、レーザー・ビームをカード
表面(記録媒体表面)に当て、そこに発生する熱で穴を
あけることにより行う、再生はCCDやレーザー光を当
て、穴のあるなしで反射光の強弱が違うため、これを検
出することにより行う。この穴の大きさは、約5−程度
である。
上述したような光カードにおいて、データチェックを行
う場合、以下ような方式が考えられる。
すなわち、特開昭57−188159号公報に記載のよ
うに、複数のBCC(ブロック・チェック・キャラクタ
)を持つことにより複数のチェック方式の組合せで読み
取りデータの正当性チェックする方式や、特開昭57−
140050号公報に記載のように、データの内容に関
連したある項目の合計値を求め、これをチェック用デー
タとし、データチェック時にはデータから同じ合計値を
求め、チェック用データとの照合を行う方式である。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上記従来技術では、いずれのデータチェック方式も複雑
化することによりデータの信頼性を上げる傾向にあり、
チェックデータの作成およびチェック回路の負担が大き
くなるという問題点があった。
本発明の目的は、このような従来の問題点を解決し、光
カードにおいて、簡単に、データの改ざんチェックおよ
び正当性チェックを行える光カードデータの改ざんチェ
ック方式を提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
上記問題点を解決するため、本発明では、レーザ光の照
射により記録媒体に穴をあけてデータ記録を行い、上記
穴の有無を照射レーザ光の反射の強弱により光学的に検
出することでデータ再生をしか可能でない光カードにお
いて、データ記録時、記録データと該記録データの全ビ
ットすべてを反転させた改ざんチェック用データを、上
記記録データと共に記録しておき、データ読取り時、デ
ータ部と改ざんチェック用データ部との各ビットが反転
関係にあるか否かを調べることにより、記録データの改
ざんをチェックすることに特徴がある。
〔作用〕
本発明においては、光カードにデータ記録時。
記録データと全ピット全てが反転したチェック用データ
をデータと共に記録する。光カードは、記録媒体にレー
ザ光で穴をあけ、読取り時はその穴の有無を照射レーザ
光の反射の強弱により光学的に検出し記録データを読み
取る方式で、一度穴をあけたビットは再生不可であるた
め、データ改ざんは穴をあける方向にしか可能でない。
このため、光カード上のデータが第三者により改ざんさ
れていれば、データとチェック用データの該当ビットが
共に穴あき状態となり、改ざんされていることが判明す
る。すなわち、記録データの全ビットとチェック用デー
タの全ビットが、反転関係にあることのチェックのみで
レーザカード上の記録データ改ざんチェックが実現でき
る。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を1図面により詳細に説明する
第2図は、本発明の対象となる光カードの構成図である
。ここで、12は光カード、13はデータを記録する光
カード記録部、14は書込みデータをそのまま記録する
データ部、15は書込みデータをビット反転させたデー
タを記録するチェック用データ部である。
第1図は、本発明の一実施例を示す光カードデータの改
ざんチェック方式を説明するための図である。(a)は
データの書込み動作を示し、(b)はデータの読取り動
作を示している。この書込みおよび読取り動作は、カー
ドリーダ/ライタ等で行うものとする。
第1図(a)、(b)において、1は光カードへの書込
みデータ、2は光カードからの読取りデータ、3はエラ
ー検出信号、10は書込みデータ1の全ピット全てを1
,0反転するデータ反転機構、11は書込みデータ1お
よびデータ反転機構10で作成されたチェック用データ
を光カード12内の光カード記録部13に書込みを行う
光カード書込み機構、12は光カード、16は光カード
12内の光カード記録部13からデータの読取りを行う
レーザカード読取り機構、17は光カード読取り機構1
6で読取ったデータ部14とチェック用データ部15が
全ピット全て0.1の反転関係にあるか否かをチェック
する同値検出機構である。これらの機構は、カードリー
ダ/ライタ(図示せず)内に組込まれる機構である。
まず、光カードへのデータ記録について、第1図(a)
を用いて説明する。
光カードにデータを記録する場合、書込みデータ1の全
ピット全てを1,0反転させたチェック用データをデー
タ反転機構10により作成し、光カード12内の光カー
ド記録部13へ書込みデー¥i1と共に光カード書込み
機構11により書込む。
この場合、光カード記録部13は、データ部14とデー
タ反転機構10によって作成されたチェック用データ部
15とに別れて記録される。記録されたデータの様子を
、データ艮8ビットの場合の例を第3図に示す、第3図
に示すように、データ部14とチェック用データ部15
との間には全ビットが0.1の反転関係にあるようにそ
れぞれデータ部14とチェック用データ部15に記録さ
れている。この状態でデータ改ざんを行うには、光カー
ドの記録方式から一度穴をあけたデータビットの再生は
不可であるためデータ改ざんは穴をあける方向にしかで
きないため、0(穴あき状態でない)のビットを1(穴
あき状態)にするしかない(上記ではOを穴あきでない
状態、1を穴あき状態としているが、この逆でもよい)
。すなわち、データの改ざんが行われると、上述のデー
タ部14とチェック用データ部15との間の全ビットの
0゜1の反転関係がくずれてしまい、この関係をチェッ
クすることにより、改ざんの有無をチェックすることが
できる。
次に、光カードデータの改ざんチェックについて、第1
図(b)を用いて説明する。
光カード12に記録された書込みデータを読取る際、光
カード記録部13から光カード読取り機構16によりデ
ータ部14とチェック用データ部15を共に読取り、同
値検出機構17にデータ部14とチェック用データ部1
5の両方を与える。
同値検出機構17は、受は取ったデータ部14とチェッ
ク用データ部15の全ビットを各ビット対応に同値であ
るか否かをチェックし、1ビツトでも同値(1,1また
は0.O)のものがあれば、改ざん発生または読取りエ
ラー発生としてエラー検出信号3を発生させる。同値検
出機構17により、データ部14とチェック用データ部
15の全ビットが各ビット対応に全て真値(1と0が反
転されている状態)であれば、エラー検出信号3を発生
させず、読取りデータ2は書込み時の書込みデータ1と
同等であり、改ざんがされていない正常なデータである
ことを意味する。
このように、本実施例においては、光カードの記録方式
から一度穴をあけたビットは再生不可であり、データの
改ざんは穴をあける方向にしか可能でないことを利用し
、容易に光カード内のデータ改ざんチェックができる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明によれば、光カードにおい
て、簡単に、データの改ざんチェックおよび正当性チェ
ックが行えるようになる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す光カードデータの改ざ
んチェック方式を説明するための図、第2図は本発明の
対象となる光カードの構成図、第3図は本発明の実施例
における光カードに記録されたデータの様子を示す図で
ある。 1:書込みデータ、2:読取りデータ、3:エラー検出
信号、1o:データ反転機構、11:光カード書込み機
構、12:光カード、13:光カードデータ記録部、1
4:データ部、15:チェック用データ部、16:光カ
ード読取り機構、17:同値検出機構。 第   1   図 (a) 第   1   図 (b)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、レーザ光の照射により記録媒体に穴をあけてデータ
    記録を行い、上記穴の有無を照射レーザ光の反射の強弱
    により光学的に検出することでデータ再生を行い、一度
    穴をあけたらそのデータ(ビット)の消去は不可で、デ
    ータの改ざんは穴をあける方向にしか可能でない光カー
    ドにおいて、データ記録時、記録データと該記録データ
    の全ビットすべてを反転させた改ざんチェック用データ
    を、上記記録データと共に記録しておき、データ読取り
    時、データ部と改ざんチェック用データ部との各ビット
    が反転関係にあるか否かを調べることにより、記録デー
    タの改ざんをチェックすることを特徴とする光カードデ
    ータの改ざんチェック方式。
JP62090854A 1987-04-15 1987-04-15 光カ−ドデ−タの改ざんチエツク方式 Expired - Lifetime JPH0743881B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62090854A JPH0743881B2 (ja) 1987-04-15 1987-04-15 光カ−ドデ−タの改ざんチエツク方式

Applications Claiming Priority (1)

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JP62090854A JPH0743881B2 (ja) 1987-04-15 1987-04-15 光カ−ドデ−タの改ざんチエツク方式

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63257963A true JPS63257963A (ja) 1988-10-25
JPH0743881B2 JPH0743881B2 (ja) 1995-05-15

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JP62090854A Expired - Lifetime JPH0743881B2 (ja) 1987-04-15 1987-04-15 光カ−ドデ−タの改ざんチエツク方式

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