JPS63257933A - 光学式情報記録媒体 - Google Patents
光学式情報記録媒体Info
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- JPS63257933A JPS63257933A JP62092556A JP9255687A JPS63257933A JP S63257933 A JPS63257933 A JP S63257933A JP 62092556 A JP62092556 A JP 62092556A JP 9255687 A JP9255687 A JP 9255687A JP S63257933 A JPS63257933 A JP S63257933A
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Landscapes
- Polyesters Or Polycarbonates (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、光磁気ディスク、追記型光ディスク。
コンパクトディスク等の光学式情報記録媒体に関するも
のであり、特にその長期信頼性や基板強度の改善に関す
るものである。
のであり、特にその長期信頼性や基板強度の改善に関す
るものである。
本発明は、ポリカーボネート樹脂基板上に情報記録層を
有する光学式情報記録媒体において、上記基板に残存す
る残留遊離塩素量を1.0 PP−以下、かつリン含有
量を5〜toppmとすることにより、 酸化や分解による変質の発生を抑え長期信頼性の向上を
図ると同時に、成形時の熱分解を抑制し基板強度の向上
を図ろうとするものである。
有する光学式情報記録媒体において、上記基板に残存す
る残留遊離塩素量を1.0 PP−以下、かつリン含有
量を5〜toppmとすることにより、 酸化や分解による変質の発生を抑え長期信頼性の向上を
図ると同時に、成形時の熱分解を抑制し基板強度の向上
を図ろうとするものである。
光記録方式は、非接触で記録・再生ができ、取り扱いが
容易であること、傷や汚れ等に強いこと、等の特徴を有
し、さらには磁気記録方式等に比べて記憶容量が数十倍
から数百倍大きいという利点を有することから、音声信
号や画像信号を記録する所謂コンパクトディスクやビデ
オディスクとして実用化されるとともに、コード情報や
イメージ情報等の大容量ファイルへの活用が期待されて
いる。
容易であること、傷や汚れ等に強いこと、等の特徴を有
し、さらには磁気記録方式等に比べて記憶容量が数十倍
から数百倍大きいという利点を有することから、音声信
号や画像信号を記録する所謂コンパクトディスクやビデ
オディスクとして実用化されるとともに、コード情報や
イメージ情報等の大容量ファイルへの活用が期待されて
いる。
この光記録方式の情報記録媒体としては、前述のコンパ
クトディスクのような再生専用のものの他、追記型光デ
ィスクや光磁気ディスク等、各種方式の媒体があるが、
何れにしてもポリカーボネート樹脂等よりなる透明基板
上に情報記録層を形成することによって構成されている
。
クトディスクのような再生専用のものの他、追記型光デ
ィスクや光磁気ディスク等、各種方式の媒体があるが、
何れにしてもポリカーボネート樹脂等よりなる透明基板
上に情報記録層を形成することによって構成されている
。
ポリカーボネート樹脂は、溶融成形時に耐熱性を有し成
形しやすいこと、ディスク成形後に変形。
形しやすいこと、ディスク成形後に変形。
変質が少ないこと、機械的特性が優れていること、等の
特徴を有し、上述の光学式情報記録媒体の基板材料とし
て有用なものである。
特徴を有し、上述の光学式情報記録媒体の基板材料とし
て有用なものである。
一方、情報記録層の記録材料としては、光磁気ディスク
における希土類元素−遷移金属非晶質合金膜に代表され
るように、金属系の記録材料の開発が進められており、
例えばTbFeCo、TbFe、GdFe等の材料は感
度、読み出し性能等の点で良好な特性が得られることが
報告されている。
における希土類元素−遷移金属非晶質合金膜に代表され
るように、金属系の記録材料の開発が進められており、
例えばTbFeCo、TbFe、GdFe等の材料は感
度、読み出し性能等の点で良好な特性が得られることが
報告されている。
ところで、上述の金属系記録材料により情報記録層が形
成されてなる光学式情報記録媒体においては、その実用
化にあたって長期信頼性の改善が大きな課題となる。
成されてなる光学式情報記録媒体においては、その実用
化にあたって長期信頼性の改善が大きな課題となる。
例えば、ポリカーボネート樹脂成形体を基板とする光学
式情報記録媒体(例えばコンパクトディスクや光磁気デ
ィスク等、)を高温高湿下で保存すると、局部酸化によ
り記録膜や反射膜等に腐食が発生する。この腐食の発生
は、再生不良等をもたらし、信軌性を保証しなければな
らない光学式情報記録媒体において大きな問題となる。
式情報記録媒体(例えばコンパクトディスクや光磁気デ
ィスク等、)を高温高湿下で保存すると、局部酸化によ
り記録膜や反射膜等に腐食が発生する。この腐食の発生
は、再生不良等をもたらし、信軌性を保証しなければな
らない光学式情報記録媒体において大きな問題となる。
あるいは、基板においても局部的加水分解等により変質
が生じ、これに応じてバイトエラー数が増加する等、光
学式情報記録媒体の商品価値を低下させる原因となって
いる。
が生じ、これに応じてバイトエラー数が増加する等、光
学式情報記録媒体の商品価値を低下させる原因となって
いる。
そこで本発明は、かかる従来の実情に鑑みて提案された
ものであって、ポリカーボネート樹脂成形体を基板とす
る光学式情報記録媒体における長期信頼性の改善を目的
とし、再生不良の発生が少なく機械的強度にも優れ、信
頼性の高い光学式情報記録媒体を提供することを目的と
する。
ものであって、ポリカーボネート樹脂成形体を基板とす
る光学式情報記録媒体における長期信頼性の改善を目的
とし、再生不良の発生が少なく機械的強度にも優れ、信
頼性の高い光学式情報記録媒体を提供することを目的と
する。
C問題点を解決するための手段〕
本発明者等は、ポリカーボネート樹脂を基板材料とする
光学式情報記録媒体における欠陥の発生のメカニズムを
究明すべく長期に亘り鋭意検討を重ねた結果、基板に残
存する残留遊離塩素量及びリン含有量が深く関わってい
るとの知見を得るに至った。
光学式情報記録媒体における欠陥の発生のメカニズムを
究明すべく長期に亘り鋭意検討を重ねた結果、基板に残
存する残留遊離塩素量及びリン含有量が深く関わってい
るとの知見を得るに至った。
本発明は、かかる知見に基づいて完成されたち)良
のであって、ポリカーボネート樹脂よりなる基板上に光
学的に信号が読み取られる情報記録層を設けてなる光学
式情報記録媒体において、上記基板は残留m11m塩素
量が1. o ppm以下、かつリン含有量が5〜10
pp+mとされたことを特徴とするものである。
学的に信号が読み取られる情報記録層を設けてなる光学
式情報記録媒体において、上記基板は残留m11m塩素
量が1. o ppm以下、かつリン含有量が5〜10
pp+mとされたことを特徴とするものである。
本発明の光学式情報記録媒体において、基板材料として
使用されるポリカーボネート樹脂は、二価フェノール系
化合物(I+1えばビスフェノールA)を酸結合剤(例
えば水酸化ナトリウム等のアルカリ)及び溶剤(塩化メ
チレン)の存在下、ホスゲンと反応させることにより合
成するホスゲン法によって製造されるものであって、通
常のポリカーボネート樹脂の他、分岐化剤としてフェノ
ール性水酸基を有する三官能以上の多官能性有機化合物
を用いた分岐化ポリカーボネート樹脂、末端停止剤とし
て長鎖アルキル酸クロライド若しくは長鎖アルキルエス
テル置換フェノール等の一官能性有機化合物を用いた末
端長鎖アルキルポリカーボネート樹脂、前述の分岐化剤
及び末端停止剤の両者を用いた末端長鎖アルキル分岐ポ
リカーボネート樹脂、さらにはこれらの混合物等が使用
される。
使用されるポリカーボネート樹脂は、二価フェノール系
化合物(I+1えばビスフェノールA)を酸結合剤(例
えば水酸化ナトリウム等のアルカリ)及び溶剤(塩化メ
チレン)の存在下、ホスゲンと反応させることにより合
成するホスゲン法によって製造されるものであって、通
常のポリカーボネート樹脂の他、分岐化剤としてフェノ
ール性水酸基を有する三官能以上の多官能性有機化合物
を用いた分岐化ポリカーボネート樹脂、末端停止剤とし
て長鎖アルキル酸クロライド若しくは長鎖アルキルエス
テル置換フェノール等の一官能性有機化合物を用いた末
端長鎖アルキルポリカーボネート樹脂、前述の分岐化剤
及び末端停止剤の両者を用いた末端長鎖アルキル分岐ポ
リカーボネート樹脂、さらにはこれらの混合物等が使用
される。
そして、これらポリカーボネート樹脂は、ペレット状態
で射出成形機に投入し、ヒータにより流動化した後、金
型中に押し出すことにより基板に成形されるが、本発明
では、先ずこの射出成形により得られた成形体の状態で
基板中に残存する残留′fl離塩素の量を1.0ρρm
以下とする。本発明者等の実験によれば、上記残留遊離
塩素量が1.0ppn+を越えると、エラーレートの増
加が見られた。
で射出成形機に投入し、ヒータにより流動化した後、金
型中に押し出すことにより基板に成形されるが、本発明
では、先ずこの射出成形により得られた成形体の状態で
基板中に残存する残留′fl離塩素の量を1.0ρρm
以下とする。本発明者等の実験によれば、上記残留遊離
塩素量が1.0ppn+を越えると、エラーレートの増
加が見られた。
上記残留a離塩素を低減するには、・ホスゲン法で製造
されるポリカーボネート樹脂の精製を充分なものとすれ
ばよく、例えばホスゲン法により生成した重合体溶液か
ら不純物である塩類、アルカリ等の電解質物質を除去す
るための水洗工程を繰り返し行いこれらを完全に除去す
ること、溶剤である塩化メチレンをポリカーボネート樹
脂中から徹底的に追い出すこと、等によりポリカーボネ
ート樹脂に含まれる塩素の量を抑えることができ、その
結果基板成形時の残留遊離塩素量を低減することができ
る。
されるポリカーボネート樹脂の精製を充分なものとすれ
ばよく、例えばホスゲン法により生成した重合体溶液か
ら不純物である塩類、アルカリ等の電解質物質を除去す
るための水洗工程を繰り返し行いこれらを完全に除去す
ること、溶剤である塩化メチレンをポリカーボネート樹
脂中から徹底的に追い出すこと、等によりポリカーボネ
ート樹脂に含まれる塩素の量を抑えることができ、その
結果基板成形時の残留遊離塩素量を低減することができ
る。
一方、ポリカーボネート樹脂の熱安定性を改善するため
に、ポリカーボネート樹脂製造の際にリン化合物(例え
ば亜リン酸エステル等)を添加するが、この結果として
基板に含まれるリン含有量がやはり腐食や変質に大きな
影響を与えることから、その量を10ppm以下に抑え
ることとする。
に、ポリカーボネート樹脂製造の際にリン化合物(例え
ば亜リン酸エステル等)を添加するが、この結果として
基板に含まれるリン含有量がやはり腐食や変質に大きな
影響を与えることから、その量を10ppm以下に抑え
ることとする。
本発明者等の実験によれば、前記のリン含有量が1op
pmを越えると急激に欠陥(腐食や変質等による。・)
が増加することが確認された。
pmを越えると急激に欠陥(腐食や変質等による。・)
が増加することが確認された。
この場合、ポリカーボネート樹脂にリン化合物を添加し
ないことが前記の欠陥を防止する上で好ましいが、リン
化合物を添加しないものでは、例えば射出成形された基
板の強度劣化に右いて差が生ずる。これはリン化合物を
添加しないと、射出成形時に樹脂が高温化で加水分解を
生じ分子量を低下させるためである0分子量の低下は、
材料の機械的強度を劣化させる0本発明者等の実験によ
れば、リン含有量が5 pp+s以上であれば熱分解防
止に充分な効果を発揮することが判明した。
ないことが前記の欠陥を防止する上で好ましいが、リン
化合物を添加しないものでは、例えば射出成形された基
板の強度劣化に右いて差が生ずる。これはリン化合物を
添加しないと、射出成形時に樹脂が高温化で加水分解を
生じ分子量を低下させるためである0分子量の低下は、
材料の機械的強度を劣化させる0本発明者等の実験によ
れば、リン含有量が5 pp+s以上であれば熱分解防
止に充分な効果を発揮することが判明した。
したがって、充分な熱安定性能を発揮せしめ、また欠陥
の発生を防止するためには、リン含有量が5〜1opp
s+であることが望ましいとの結論を得た。
の発生を防止するためには、リン含有量が5〜1opp
s+であることが望ましいとの結論を得た。
一般に、市販のポリカーボネート樹脂にはかなりの遊離
塩素が残存しており、基板に成形した時点で残留′il
!#塩素量は1.3〜1.6 ppm程度にもなる。
塩素が残存しており、基板に成形した時点で残留′il
!#塩素量は1.3〜1.6 ppm程度にもなる。
この残留遊離塩素は、例えばポリカーボネート樹脂重合
体中に残存する電解質(塩化ナトリウム)や溶剤である
塩化メチレン、さらには重合体の末端に結合する塩素等
に由来するもので、光学式情報記録媒体の耐蝕性に対し
て著しく悪影響を及ぼす。
体中に残存する電解質(塩化ナトリウム)や溶剤である
塩化メチレン、さらには重合体の末端に結合する塩素等
に由来するもので、光学式情報記録媒体の耐蝕性に対し
て著しく悪影響を及ぼす。
残留am塩素による影響を抑える方法としては、例えば
基板を洗浄する方法が考えられるが、応急的な処置にす
ぎず、根本的な解決にはならない。
基板を洗浄する方法が考えられるが、応急的な処置にす
ぎず、根本的な解決にはならない。
また、保護膜を設けることも考えられているが、わずか
のクラックを生ずると腐食が始まり、やはりこれも根本
的な解決策とは言い難い。
のクラックを生ずると腐食が始まり、やはりこれも根本
的な解決策とは言い難い。
本発明では、ポリカーボネート樹脂の精製工程を見直し
、基板原料のポリカーボネート樹脂中に含まれる含塩素
成分を徹底的に除去し、基板状態での残留遊離塩素量を
1.0 ppm以下とすることにより、光学式情報記録
媒体の情報記録層に発生する腐食を抑制する。
、基板原料のポリカーボネート樹脂中に含まれる含塩素
成分を徹底的に除去し、基板状態での残留遊離塩素量を
1.0 ppm以下とすることにより、光学式情報記録
媒体の情報記録層に発生する腐食を抑制する。
一方、ポリカーボネート樹脂には、熱安定性の観点から
リン化合物が添加されるが、基板に成形したときにはこ
のリン化合物の含有量も同様に腐食や基板変質等の原因
となる。但し、リン化合物を全く添加しないとポリカー
ボネート樹脂の熱安定性が不足し強度の点で問題が生ず
る、そこで、本発明ではリン含有量を5〜10ppmの
範囲内に抑えることにより、情報記録層に発生する欠陥
を抑制し、同時に基板の機械的強度をも確保するように
する。
リン化合物が添加されるが、基板に成形したときにはこ
のリン化合物の含有量も同様に腐食や基板変質等の原因
となる。但し、リン化合物を全く添加しないとポリカー
ボネート樹脂の熱安定性が不足し強度の点で問題が生ず
る、そこで、本発明ではリン含有量を5〜10ppmの
範囲内に抑えることにより、情報記録層に発生する欠陥
を抑制し、同時に基板の機械的強度をも確保するように
する。
以下、本発明を具体的な実験結果に基づいて説明する。
先ず、塩素除去プロセスの程度の異なるポリカーボネー
ト樹脂ペレットを用意し、これを射出成形機に投入し、
ヒータ温度320〜360°C1金型温度80〜115
℃で射出成形を行い、厚さ1.2 wiのディスク状の
基板を成形した。これを基板A−基板りとする。
ト樹脂ペレットを用意し、これを射出成形機に投入し、
ヒータ温度320〜360°C1金型温度80〜115
℃で射出成形を行い、厚さ1.2 wiのディスク状の
基板を成形した。これを基板A−基板りとする。
次に、これら基板A〜基板りに残存する残留遊離塩素量
を定量した。定量は電位差滴定法によった。すなわち、
各基板より試料を5g切り取り、これを精秤してメチレ
ンクロライド150−に熔解し、これにアセトンを加え
て直ちに0.005M硝酸11!/アセトン溶液で自動
滴定装置を用いて電位差滴定により塩素を定量し濃度を
求めた。この方法により遊離した塩素イオン量が定量さ
れた。なお、使用した自動滴定装置は手招レボーティン
グタイトレータ−COMT ITE−7型である。
を定量した。定量は電位差滴定法によった。すなわち、
各基板より試料を5g切り取り、これを精秤してメチレ
ンクロライド150−に熔解し、これにアセトンを加え
て直ちに0.005M硝酸11!/アセトン溶液で自動
滴定装置を用いて電位差滴定により塩素を定量し濃度を
求めた。この方法により遊離した塩素イオン量が定量さ
れた。なお、使用した自動滴定装置は手招レボーティン
グタイトレータ−COMT ITE−7型である。
その結果、基板への残留遊離塩素量は0.9 ppm、
基板Bの残留遊離塩素量は1.2ppm、基板Cの残留
ti離塩素量は1.3ρpI11.基板りの残留遊離塩
素量は1.9 ppmであった番 そこで次に、第1図に示すように、これら基板(1)〔
基板A−基板Dり上に膜厚500人の5i3Na膜(2
)、膜厚600人のTbFeCo膜(3)〔このTbF
eC。
基板Bの残留遊離塩素量は1.2ppm、基板Cの残留
ti離塩素量は1.3ρpI11.基板りの残留遊離塩
素量は1.9 ppmであった番 そこで次に、第1図に示すように、これら基板(1)〔
基板A−基板Dり上に膜厚500人の5i3Na膜(2
)、膜厚600人のTbFeCo膜(3)〔このTbF
eC。
膜(3)は記録層としての役割を果たす、〕及び厚さ5
μmの紫外線硬化樹脂層(4)を順次被着形成し、光磁
気ディスクを作製した。
μmの紫外線硬化樹脂層(4)を順次被着形成し、光磁
気ディスクを作製した。
得られた各光磁気ディスクについて、エラーレートの増
加を評価した。評価方法としては、90°C1相対湿度
85%の条件下で各光磁気ディスクを保存し、経時によ
るエラーレートの増加を初期のエラーレートに対する比
で表した。結果を第2図に示す、なお、図中曲線Aは基
板Aを用いた光磁気ディスクを、曲線Bは基板Bを用い
た光磁気ディスクを、曲線Cは基板Cを用いた光磁気デ
ィスクを、曲LADは基板りを用いた光るn気ディスク
をそれぞれ表す。
加を評価した。評価方法としては、90°C1相対湿度
85%の条件下で各光磁気ディスクを保存し、経時によ
るエラーレートの増加を初期のエラーレートに対する比
で表した。結果を第2図に示す、なお、図中曲線Aは基
板Aを用いた光磁気ディスクを、曲線Bは基板Bを用い
た光磁気ディスクを、曲線Cは基板Cを用いた光磁気デ
ィスクを、曲LADは基板りを用いた光るn気ディスク
をそれぞれ表す。
この第2図より、基板(1)に残存する残留′ti離塩
素の量が1.0pP−以下のもの(基板Aを使用した光
磁気ディスク〕ではエラーレートの増加はほとんど見ら
れず、良好な耐蝕性を示すことがわかる。これに対して
、基板の残留遊離塩素量が1.0ppmを越えると腐食
の発生に伴うエラーレートの増加が見られ、この傾向は
残留i離塩素■が多いほど顕著であることが確認された
。
素の量が1.0pP−以下のもの(基板Aを使用した光
磁気ディスク〕ではエラーレートの増加はほとんど見ら
れず、良好な耐蝕性を示すことがわかる。これに対して
、基板の残留遊離塩素量が1.0ppmを越えると腐食
の発生に伴うエラーレートの増加が見られ、この傾向は
残留i離塩素■が多いほど顕著であることが確認された
。
以上の結果を基に、こんどはリン含有量の影響を調べる
ために、遊離塩素量が0.9 ppmとなるような精製
プロセスを経てリン含有量の異なる数種のポリカーボネ
ート樹脂を調製し、通常の方法により射出成形を行い基
板を作製した。なお、リン化合物としては亜リン酸エス
テルを使用した。
ために、遊離塩素量が0.9 ppmとなるような精製
プロセスを経てリン含有量の異なる数種のポリカーボネ
ート樹脂を調製し、通常の方法により射出成形を行い基
板を作製した。なお、リン化合物としては亜リン酸エス
テルを使用した。
成形した各基板のケイ光X線解析を行い、各サンプルで
のリン含有量を求めた。その結果、リン含有量はそれぞ
れ0,5,10.15,22pp+aであった。
のリン含有量を求めた。その結果、リン含有量はそれぞ
れ0,5,10.15,22pp+aであった。
次に、基板の熱安定性を調べるために、基板成形前の各
ポリカーボネート樹脂(リン含有IO25,10,15
,22ppm)の流動性を測定し、熱分解のデータとし
て評価した。結果を第4図に示す、なお、流動性はペレ
ットの状態にてフローテスタ法(JIS規格)により流
れ値の変化ΔQを測定した。この流れ値の変化ΔQが大
きければ分子量の低下が大きいということになる。
ポリカーボネート樹脂(リン含有IO25,10,15
,22ppm)の流動性を測定し、熱分解のデータとし
て評価した。結果を第4図に示す、なお、流動性はペレ
ットの状態にてフローテスタ法(JIS規格)により流
れ値の変化ΔQを測定した。この流れ値の変化ΔQが大
きければ分子量の低下が大きいということになる。
その結果、リンの基板内含有量を5 ppH以上にすれ
ば、ΔQが抑えられ熱酸化防止には充分であることがわ
かった。
ば、ΔQが抑えられ熱酸化防止には充分であることがわ
かった。
さらに、これら基板を用いて第1回に示すような光磁気
ディスクを作製した。
ディスクを作製した。
そして、先ずこれら光磁気ディスクに対して初期の外観
検査を行い、欠陥のないことを確認した。
検査を行い、欠陥のないことを確認した。
次に各光磁気ディスクを90°C1相対湿度80%の恒
温恒温槽内で150時間保存し、保存後に外観検査を行
った。この外観検査により確認された欠陥の発生数とリ
ン含有量の関係を第3図に示す、なお、第3図中の欠陥
発生数は、各光磁気ディスクサンプル8枚中に見られた
欠陥の数を表す。
温恒温槽内で150時間保存し、保存後に外観検査を行
った。この外観検査により確認された欠陥の発生数とリ
ン含有量の関係を第3図に示す、なお、第3図中の欠陥
発生数は、各光磁気ディスクサンプル8枚中に見られた
欠陥の数を表す。
その結果、10ppmを越えるリンが含まれるポリカー
ボネート樹脂を使用した光磁気ディスクにおいては、9
0°C1相対湿度80%の恒温恒湿下の信転性試験で1
50時間後に目視で確認できる欠陥が発生し、バイトエ
ラーに影響を与えることが判明した。これに対して、リ
ンの基板内含有量を10ppm以下にすることにより、
150時間後の目視試験では欠陥は認められなかった。
ボネート樹脂を使用した光磁気ディスクにおいては、9
0°C1相対湿度80%の恒温恒湿下の信転性試験で1
50時間後に目視で確認できる欠陥が発生し、バイトエ
ラーに影響を与えることが判明した。これに対して、リ
ンの基板内含有量を10ppm以下にすることにより、
150時間後の目視試験では欠陥は認められなかった。
以上、本発明を具体的な実験結果により説明したが、本
発明の適用範囲が上述の光磁気ディスクに限定されるも
のではなく、いわゆるコンパクトディスクや追記型光デ
ィスク等あらゆる種類の光学式情報記録媒体に適用可能
であって、また媒体の構造も何ら限定されるものではな
い。
発明の適用範囲が上述の光磁気ディスクに限定されるも
のではなく、いわゆるコンパクトディスクや追記型光デ
ィスク等あらゆる種類の光学式情報記録媒体に適用可能
であって、また媒体の構造も何ら限定されるものではな
い。
以上の説明からも明らかなように、本発明の光学式情報
記録媒体においては、ポリカーボネート樹脂基板に残存
する残留遊離塩素量を1.0 ppm以下、かつリン含
有1110pp■以下としているので、情報記録層の腐
食や基板の変質が大幅に抑えられ、再生不良が少なく長
期信頬性に優れた光学式情報記録媒体を提供することが
可能である。
記録媒体においては、ポリカーボネート樹脂基板に残存
する残留遊離塩素量を1.0 ppm以下、かつリン含
有1110pp■以下としているので、情報記録層の腐
食や基板の変質が大幅に抑えられ、再生不良が少なく長
期信頬性に優れた光学式情報記録媒体を提供することが
可能である。
また、リン含有量を5 ppm以上としているので、ポ
リカーボネート樹脂の熱安定性の点で有利であり、基板
の機械的強度を確保することができる。
リカーボネート樹脂の熱安定性の点で有利であり、基板
の機械的強度を確保することができる。
第1図は光磁気ディスクの構成例を示す要部概略断面図
であり、第2図は基板に残存する残留塩素量を変化させ
たときの各光磁気ディスクのエラーレートの経時変化を
示す特性図である。 第3図は基板のリン含有量と保存後の欠陥発生数の関係
を示す特性図であり、第4図はポリカーボネート樹脂中
のリン含有量と流れ値の変化ΔQの大きさの関係を示す
特性図である。 l・・・基板 3・・・TbFeCo膜(情報記録層)5・・・記録層
であり、第2図は基板に残存する残留塩素量を変化させ
たときの各光磁気ディスクのエラーレートの経時変化を
示す特性図である。 第3図は基板のリン含有量と保存後の欠陥発生数の関係
を示す特性図であり、第4図はポリカーボネート樹脂中
のリン含有量と流れ値の変化ΔQの大きさの関係を示す
特性図である。 l・・・基板 3・・・TbFeCo膜(情報記録層)5・・・記録層
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ポリカーボネート樹脂よりなる基板上に光学的に信号が
読み取られる情報記録層を設けてなる光学式情報記録媒
体において、 上記基板は残留遊離塩素量が1.0ppm以下、かつリ
ン含有量が5〜10ppmとされたことを特徴とする光
学式情報記録媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62092556A JPH07118093B2 (ja) | 1987-04-15 | 1987-04-15 | 光学式情報記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62092556A JPH07118093B2 (ja) | 1987-04-15 | 1987-04-15 | 光学式情報記録媒体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63257933A true JPS63257933A (ja) | 1988-10-25 |
JPH07118093B2 JPH07118093B2 (ja) | 1995-12-18 |
Family
ID=14057686
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62092556A Expired - Fee Related JPH07118093B2 (ja) | 1987-04-15 | 1987-04-15 | 光学式情報記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07118093B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01271939A (ja) * | 1988-04-23 | 1989-10-31 | Hitachi Maxell Ltd | 光情報記録媒体 |
EP0380002A2 (en) * | 1989-01-25 | 1990-08-01 | Idemitsu Petrochemical Co. Ltd. | Optical disk substrate and optical information-storage medium |
JPH03116559A (ja) * | 1989-09-29 | 1991-05-17 | Sony Corp | 光学的情報記録媒体 |
-
1987
- 1987-04-15 JP JP62092556A patent/JPH07118093B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01271939A (ja) * | 1988-04-23 | 1989-10-31 | Hitachi Maxell Ltd | 光情報記録媒体 |
EP0380002A2 (en) * | 1989-01-25 | 1990-08-01 | Idemitsu Petrochemical Co. Ltd. | Optical disk substrate and optical information-storage medium |
JPH03116559A (ja) * | 1989-09-29 | 1991-05-17 | Sony Corp | 光学的情報記録媒体 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH07118093B2 (ja) | 1995-12-18 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |