JPS63255857A - 光磁気記録材料 - Google Patents
光磁気記録材料Info
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Landscapes
- Thin Magnetic Films (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
この発明は光磁気ディスクに使用される光磁気記録材料
に関し、特別の元素を添加するとともに各組成比を特別
の範囲に限定することにより耐食性を向上させたもので
ある。
に関し、特別の元素を添加するとともに各組成比を特別
の範囲に限定することにより耐食性を向上させたもので
ある。
「従来の技術」
近時、大容量記録が可能な光磁気ディスクが種々開発さ
れつつあり、この種の光磁気ディスクの一例として、磁
化容易軸を基板表面に垂直とした光磁気記録材料からな
る薄膜を基板表面に形成してなるものが知られている。
れつつあり、この種の光磁気ディスクの一例として、磁
化容易軸を基板表面に垂直とした光磁気記録材料からな
る薄膜を基板表面に形成してなるものが知られている。
この種の光磁気ディスクに信号を書き込むには、表面部
分の薄膜の磁化方向を予め揃えておき、薄膜の一部にレ
ーザー光線を照射し、そのキュリ一温度付近まで加熱し
、この状態で逆向きの弱磁場を加えて加熱部分の磁化方
向を反転させ、室温まで冷却することにより行っている
。また、信号の読み出しを行うには、磁気的カー効果を
利用し、偏光したレーザ光線を薄膜に照射し、反射光の
偏光面の回転角(これをカー回転角;θにと呼ぶ。)の
違いによる光の強度差を検出して行っている。
分の薄膜の磁化方向を予め揃えておき、薄膜の一部にレ
ーザー光線を照射し、そのキュリ一温度付近まで加熱し
、この状態で逆向きの弱磁場を加えて加熱部分の磁化方
向を反転させ、室温まで冷却することにより行っている
。また、信号の読み出しを行うには、磁気的カー効果を
利用し、偏光したレーザ光線を薄膜に照射し、反射光の
偏光面の回転角(これをカー回転角;θにと呼ぶ。)の
違いによる光の強度差を検出して行っている。
ところで従来、このような光磁気ディスクの記録材料と
なる磁性体として種々のものが提案されているが、近年
では例えばTb−Fe−Co系合金などの希土類金属、
遷移金属系合金が主流になりつつある。これは、この系
の合金のキュリ一温度が200℃前後と比較的低く、磁
気反転が容易であること、更には、保磁力(Hc)が2
40kA/m程度であって室温付近で容易に磁気反転し
ない上に、記録安定性が良好であるとともに記録密度を
高め易いなどの理由によるためである。
なる磁性体として種々のものが提案されているが、近年
では例えばTb−Fe−Co系合金などの希土類金属、
遷移金属系合金が主流になりつつある。これは、この系
の合金のキュリ一温度が200℃前後と比較的低く、磁
気反転が容易であること、更には、保磁力(Hc)が2
40kA/m程度であって室温付近で容易に磁気反転し
ない上に、記録安定性が良好であるとともに記録密度を
高め易いなどの理由によるためである。
「発明が解決しようとする問題点」
しかしながら、前記希土類金属、遷移金属系合金からな
る光磁気記録材料にあっては、Tbが活性な金属である
ことから、酸化され易く、耐食性に劣る欠点があった。
る光磁気記録材料にあっては、Tbが活性な金属である
ことから、酸化され易く、耐食性に劣る欠点があった。
このため従来、希土類金属、遷移金属系の合金にAlや
TiあるいはOrなどの金属を添加して耐食性を改善す
るようにしている。
TiあるいはOrなどの金属を添加して耐食性を改善す
るようにしている。
ここで、この系の合金の耐食性を十分に向上させるため
には、前記元素の添加量を多くする必要があるが、添加
量を多くすると、カー回転角や保磁力が急激に低下して
実用上の問題を生じる欠点がある。また、この系の合金
は、媒体上への人体圧の付着などに起因するNa+イオ
ンやCI−イオンを含むような電気化学的腐食環境下で
は十分な耐食性を示さない欠点がある。
には、前記元素の添加量を多くする必要があるが、添加
量を多くすると、カー回転角や保磁力が急激に低下して
実用上の問題を生じる欠点がある。また、この系の合金
は、媒体上への人体圧の付着などに起因するNa+イオ
ンやCI−イオンを含むような電気化学的腐食環境下で
は十分な耐食性を示さない欠点がある。
「問題点を解決するための手段」
そこでこの発明にあっては、前記問題点を解決して耐食
性を向上させるために、 組成式(REa、TMb)+ −c−d Mc Be
d[ただし、REは、La(ランタン)、Ce(セリウ
ム)、Pr(プラセオジム)、Nd(ネオジム)、Pm
(プロメチウム)、Sm(サマリウム)、Eu(ユーロ
ピウム)。
性を向上させるために、 組成式(REa、TMb)+ −c−d Mc Be
d[ただし、REは、La(ランタン)、Ce(セリウ
ム)、Pr(プラセオジム)、Nd(ネオジム)、Pm
(プロメチウム)、Sm(サマリウム)、Eu(ユーロ
ピウム)。
Gd(ガドリウム)、Tb(テルビウム)、Dy(ジス
プロシウム)、Ho(ホルミウム)、Er(エルビウム
)、Tm(ツリウム)、Yb(イッテルビウム)、Lu
(ルテチウム)などのランタニド元素とSc(スカンジ
ウム)とY(イツトリウム)の中から選択される1種以
上の元素を示し、 TMは、Fe(鉄)、Co(コバルト)、Niにッケル
)などの鉄族元素の中から選択される1種以上の元素を
示し、 Mは、Ti(チタン)、Zr(ジルコニウム)、1((
(ハフニウム)などのNa族元素と■(バナジウム)、
Nbにオブ)、Ta(タンタル)などのVa族元素とC
r(クロム)、Mo(モリブデン)、W (タングステ
ン)などのVIa族元素とAI(アルミニウム)とAu
(金)とAg(銀)とRu(ルテニウム)、Rh(ロジ
ウム)、Pd(パラジウム)、Os(オスミウム)、I
r(イリジウム)、Pt(白金)などの白金族元素とC
u(銅)とIn(インジウム)とSi(ケイ素)とGe
(ゲルマニウム)の中から選択される1種以上の元素を
示し、 Beはベリリウムを示すものとする。]で示されるとと
もに、各原子の組成比を06≦a≦0.9・ 0.1≦b≦0.4 0.001≦C≦0.4 0.01≦d≦0.4 (ただし、a+b=1) の範囲としたものである。
プロシウム)、Ho(ホルミウム)、Er(エルビウム
)、Tm(ツリウム)、Yb(イッテルビウム)、Lu
(ルテチウム)などのランタニド元素とSc(スカンジ
ウム)とY(イツトリウム)の中から選択される1種以
上の元素を示し、 TMは、Fe(鉄)、Co(コバルト)、Niにッケル
)などの鉄族元素の中から選択される1種以上の元素を
示し、 Mは、Ti(チタン)、Zr(ジルコニウム)、1((
(ハフニウム)などのNa族元素と■(バナジウム)、
Nbにオブ)、Ta(タンタル)などのVa族元素とC
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ン)などのVIa族元素とAI(アルミニウム)とAu
(金)とAg(銀)とRu(ルテニウム)、Rh(ロジ
ウム)、Pd(パラジウム)、Os(オスミウム)、I
r(イリジウム)、Pt(白金)などの白金族元素とC
u(銅)とIn(インジウム)とSi(ケイ素)とGe
(ゲルマニウム)の中から選択される1種以上の元素を
示し、 Beはベリリウムを示すものとする。]で示されるとと
もに、各原子の組成比を06≦a≦0.9・ 0.1≦b≦0.4 0.001≦C≦0.4 0.01≦d≦0.4 (ただし、a+b=1) の範囲としたものである。
なお、前記組成比において、b>0.4であると、即ち
、希土類元素が遷移金属元素に対して40%を越えると
媒体の抗磁力が小さくなりすぎて安定に存在しうる磁区
の大きさが大きくなりすぎ、十分な記録密度を得ること
ができない。また、逆にb< O、lでは書き込みスポ
ット内でざらに磁区の反転が生じてC/N(搬送波対雑
音比)の低下につながり好ましくない。
、希土類元素が遷移金属元素に対して40%を越えると
媒体の抗磁力が小さくなりすぎて安定に存在しうる磁区
の大きさが大きくなりすぎ、十分な記録密度を得ること
ができない。また、逆にb< O、lでは書き込みスポ
ット内でざらに磁区の反転が生じてC/N(搬送波対雑
音比)の低下につながり好ましくない。
このような組成の光磁気材料は、透明プラスチックやガ
ラスなどの基板上に、蒸着、スパッタなどの薄膜作成技
術によって厚さ50〜1100nの薄膜を形成して光磁
気ディスクを製造するために使用される。また、この薄
膜上に必要に応じて5io7.AIN、5i3Nt、S
iC,MgFtなどの誘電材料からなる薄膜を形成して
耐食性を更に向上させ、カー回転角のエンハンスメント
効果を期待することも自由であり、薄膜上に反射層を形
成してファラデー効果を利用するようにしても良い。
ラスなどの基板上に、蒸着、スパッタなどの薄膜作成技
術によって厚さ50〜1100nの薄膜を形成して光磁
気ディスクを製造するために使用される。また、この薄
膜上に必要に応じて5io7.AIN、5i3Nt、S
iC,MgFtなどの誘電材料からなる薄膜を形成して
耐食性を更に向上させ、カー回転角のエンハンスメント
効果を期待することも自由であり、薄膜上に反射層を形
成してファラデー効果を利用するようにしても良い。
「実施例1」
表面洗浄したガラス製基板を真空容器内にセットし、ま
ずその内部を0.07mPa以下に排気した後、純度9
9.99%のアルゴンガスを内部圧力か0.7Paとな
るまで導入する。次にFe−C。
ずその内部を0.07mPa以下に排気した後、純度9
9.99%のアルゴンガスを内部圧力か0.7Paとな
るまで導入する。次にFe−C。
系合金からなるターゲット上にTbチップとBeチップ
とCrチップを所定量並べた複合ターゲットを用い、直
流スパッタ(400VX0.5A)によって、前記基板
上に下記に示す組成を有する厚さ50〜1100nの薄
膜を膜生成速度5〜15 nm/分で形成し、光磁気デ
ィスクA 、B 、Cを得た。各光ディスクA、B、C
の薄膜の組成を以下に示す。
とCrチップを所定量並べた複合ターゲットを用い、直
流スパッタ(400VX0.5A)によって、前記基板
上に下記に示す組成を有する厚さ50〜1100nの薄
膜を膜生成速度5〜15 nm/分で形成し、光磁気デ
ィスクA 、B 、Cを得た。各光ディスクA、B、C
の薄膜の組成を以下に示す。
A :[(F eo、ec 00.1)O,?6T
bo、t5コo、acro、+Beo、+B :[
(F eo、sc 011.1)0.75T bo、t
s]o、ac ro、2C;[(F eo、ec 00
.1)0.75T bo、zs]o、sB eo、z「
実験例1」 前記各光ディスクA、B、Cを80°C190%R1H
1の恒温恒湿中に所定時間放置し、残留カー回転角(θ
[)の変化を測定することにより耐食性の評価を行った
。その結果を第1図に示す。
bo、t5コo、acro、+Beo、+B :[
(F eo、sc 011.1)0.75T bo、t
s]o、ac ro、2C;[(F eo、ec 00
.1)0.75T bo、zs]o、sB eo、z「
実験例1」 前記各光ディスクA、B、Cを80°C190%R1H
1の恒温恒湿中に所定時間放置し、残留カー回転角(θ
[)の変化を測定することにより耐食性の評価を行った
。その結果を第1図に示す。
第1図から、BeとCrを各々単独に添加するよりもB
eとCrを複合添加した方か、残留カー回転角の変化が
少なく、より耐食性が向上していることが判明した。
eとCrを複合添加した方か、残留カー回転角の変化が
少なく、より耐食性が向上していることが判明した。
「実験例2」
また、面記実施例1で行った製法と同等の製法によりC
rとBeの含有量を種々の値に変化させて多数の光磁気
ディスクを製造し、各光ディスクについて、各薄膜のカ
ー回転角とBeおよびCr添加量の関係を求めた。その
結果を第2図に示す。
rとBeの含有量を種々の値に変化させて多数の光磁気
ディスクを製造し、各光ディスクについて、各薄膜のカ
ー回転角とBeおよびCr添加量の関係を求めた。その
結果を第2図に示す。
第2図から明らかなように、Cr添加量の増加とともに
カー回転角が減少している。ここで、実用上は前記薄膜
の上に、S io 、S iN等の透明誘電膜を被着す
ることにより見掛は上のカー回転角を大きくすることが
できる上に、読み出しピックアップの性能向上によりカ
ー回転角が0.l°程度でもデジタル記録に十分なC/
N50dBを確保することが可能となる。更に、Cr含
有量が0.1%以下、また、Be含有量が0.1%以下
では耐食性を向上させることは期待できない。したがっ
て、カー回転角の下限を0.1° として、前記諸条件
と第2図から求められる最適なCr、Beの添加量は以
下の通りとなる。
カー回転角が減少している。ここで、実用上は前記薄膜
の上に、S io 、S iN等の透明誘電膜を被着す
ることにより見掛は上のカー回転角を大きくすることが
できる上に、読み出しピックアップの性能向上によりカ
ー回転角が0.l°程度でもデジタル記録に十分なC/
N50dBを確保することが可能となる。更に、Cr含
有量が0.1%以下、また、Be含有量が0.1%以下
では耐食性を向上させることは期待できない。したがっ
て、カー回転角の下限を0.1° として、前記諸条件
と第2図から求められる最適なCr、Beの添加量は以
下の通りとなる。
0.01≦Be≦0,38.
0.005≦Cr≦0.25
「実験例3」
実験例1で使用した光ディスクの腐食電位(Ecorr
)を0.1規定のN aC10、中において測定した。
)を0.1規定のN aC10、中において測定した。
その結果を第3図に示す。
第3図から明らかなように、Cr無添加のものは、Be
添加により高い腐食電位を示すが、BeとCrを添加す
ることによりこの腐食電圧の問題は改善できることが判
明した。なお、Crの添加により腐食電位を低下させる
ことはできるものの、第2図に示す実験結果から見てC
rの添加量には限界があり、第2図と第3図に示す実験
結果から鑑みてBeとCrの添加量は以下に示す範囲が
好ましい。
添加により高い腐食電位を示すが、BeとCrを添加す
ることによりこの腐食電圧の問題は改善できることが判
明した。なお、Crの添加により腐食電位を低下させる
ことはできるものの、第2図に示す実験結果から見てC
rの添加量には限界があり、第2図と第3図に示す実験
結果から鑑みてBeとCrの添加量は以下に示す範囲が
好ましい。
0.01≦Be≦0.38.
0.025≦Cr≦0.25
「実施例2」
前記実施例1で行った製造方法と同等の製造方法を実施
して組成式 %式% で示される組成となるような薄膜を有する光ディスクを
作成した。ただし、前記組成式における添加元素Mは、
CrとTiとZrとHfとVとNbとTaとMoとWと
AlとAuとAgとRuとRhとPdとO8とIrとP
tとCuとinとSiとGeの中の1種を用いるものと
する。
して組成式 %式% で示される組成となるような薄膜を有する光ディスクを
作成した。ただし、前記組成式における添加元素Mは、
CrとTiとZrとHfとVとNbとTaとMoとWと
AlとAuとAgとRuとRhとPdとO8とIrとP
tとCuとinとSiとGeの中の1種を用いるものと
する。
これらの光ディスクを80℃、90%R,H,の恒温恒
湿中に100時間放置し、その耐食性を検討した。この
場合の耐食性の評価は、100時間放置前後のカー回転
角の比[θpc (100)/θK(0);ただし、θ
K(0)は、浸漬前のカー回転角を示し、θK (10
0)は、100時間放置後のカー回転角を示す。]を求
めて行うとともに、腐食電位(Ecorr)(mV )
を測定した。第1表にその結果を示す。
湿中に100時間放置し、その耐食性を検討した。この
場合の耐食性の評価は、100時間放置前後のカー回転
角の比[θpc (100)/θK(0);ただし、θ
K(0)は、浸漬前のカー回転角を示し、θK (10
0)は、100時間放置後のカー回転角を示す。]を求
めて行うとともに、腐食電位(Ecorr)(mV )
を測定した。第1表にその結果を示す。
第1表
第1表に示す結果から、To−Fe−Co系の合金に、
添加元素Mのみを20%添加した各試料は耐食性の面で
不足であるが、10%のBeと添加元素Mを複合して添
加した場合は耐食性が向上することが明らかとなった。
添加元素Mのみを20%添加した各試料は耐食性の面で
不足であるが、10%のBeと添加元素Mを複合して添
加した場合は耐食性が向上することが明らかとなった。
「発明の効果」
以上説明したようにこの発明は、組成式(RE a。
TMb)+ −c−d Me Be dで示される光記
録材料であって、組成比を特別な範囲に設定したもので
あるために、耐食性が向上し、電気化学的腐食環境下で
あっても腐食を防止できる効果かある。従ってこの発明
の光磁気記録材料を用いる光磁気ディスクは信頼性が向
上するとともに、特別な酸化防止膜を設ける必要がなく
なる。また、Beに加えて元素Mの添加によってカー回
転角を低下させることなく耐食性を向上させることがで
き、デジタル記録用として十分なC/Nを有する光磁気
ディスクを得ることができる効果がある。
録材料であって、組成比を特別な範囲に設定したもので
あるために、耐食性が向上し、電気化学的腐食環境下で
あっても腐食を防止できる効果かある。従ってこの発明
の光磁気記録材料を用いる光磁気ディスクは信頼性が向
上するとともに、特別な酸化防止膜を設ける必要がなく
なる。また、Beに加えて元素Mの添加によってカー回
転角を低下させることなく耐食性を向上させることがで
き、デジタル記録用として十分なC/Nを有する光磁気
ディスクを得ることができる効果がある。
第1図ないし第3図はこの発明の光磁気材料の特性を説
明するためのもので、 第1図は放置時間と残留カー回転角の関係を示す線図、 第2図はCrおよびBe含有量とカー回転角の関係を示
す線図、 第3図はCrおよびBe含有量と腐食電位の関係を示す
線図である。
明するためのもので、 第1図は放置時間と残留カー回転角の関係を示す線図、 第2図はCrおよびBe含有量とカー回転角の関係を示
す線図、 第3図はCrおよびBe含有量と腐食電位の関係を示す
線図である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 組成式(RE_a、TM_b)_1_−_c_−_d
M_cBe_d(ただし、REは、ランタニド元素とS
cとYの中から選択される1種以上の元素を示し、 TMは鉄族元素の中から選択される1種以上の元素を示
し、 Mは周期律表IVa族元素とVa族元素とVIa族元素とA
lとAuとAgと白金族元素とCuとInとSiとGe
の中から選択される1種以上の元素を示す。)で示され
るとともに、組成比a、b、c、dを0.6≦a≦0.
9 0.1≦b≦0.4 0.001≦c≦0.4 0.01≦d≦0.4 (ただし、a+b=1) の範囲としたことを特徴とする光磁気記録材料。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9164387A JPS63255857A (ja) | 1987-04-14 | 1987-04-14 | 光磁気記録材料 |
US07/885,906 US5273836A (en) | 1987-04-14 | 1992-05-18 | Magnetooptic recording material |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9164387A JPS63255857A (ja) | 1987-04-14 | 1987-04-14 | 光磁気記録材料 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63255857A true JPS63255857A (ja) | 1988-10-24 |
Family
ID=14032205
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9164387A Pending JPS63255857A (ja) | 1987-04-14 | 1987-04-14 | 光磁気記録材料 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63255857A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01224960A (ja) * | 1988-03-03 | 1989-09-07 | Nec Corp | 光磁気記録媒体 |
-
1987
- 1987-04-14 JP JP9164387A patent/JPS63255857A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01224960A (ja) * | 1988-03-03 | 1989-09-07 | Nec Corp | 光磁気記録媒体 |
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