JPS63247639A - 半導体製造用ガスの分析用捕集材 - Google Patents

半導体製造用ガスの分析用捕集材

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JPS63247639A
JPS63247639A JP8106487A JP8106487A JPS63247639A JP S63247639 A JPS63247639 A JP S63247639A JP 8106487 A JP8106487 A JP 8106487A JP 8106487 A JP8106487 A JP 8106487A JP S63247639 A JPS63247639 A JP S63247639A
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mercuric chloride
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sodium hydroxide
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(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はガス分析用の捕集材に係り、殊に半導体製造用
ガスの分析用捕集材に係る。
(従来の技術) 半導体の製造に際してはドーピングやPN接合の形成に
特殊な且つ有毒性の材料ガス、例えば砒化水素(アルシ
ン、^5lls)、燐化水素(ホスフィン、P II 
3>、トリク00 シラン(シラン、5illCI3)
、ゲルマン化水素(ゲルマン、GeH4)、硼化水素(
ジボラン、B2H6)、セレン化水素(Sel12)等
が用いられている。
従って、環境保全のためには作業場内空気中におけるこ
れら有毒性ガスの濃度を測定する必要性があり、アルシ
ンに関しては米国のNl0SI+(National 
In5titute or 5afety and 1
lealth)による Nl08HManual  o
f  人nalitieal  MethodsS−2
29があり、これには櫃子殻活性炭を用いた捕集法とグ
ラファイト炉原子吸光分光法による分析法が示されてい
る。
(発明が解決しようとする世!題点及び発明の目的) 上記のNrOSllによるアルシンの分析法によれば、
捕集材として揶子殻活性炭を用いており、櫃子殻等の自
然界から得られたものは分析すべき成分を自体含有して
おり、これが所謂バックグラウンドとなって検出精度が
低下し、場合によっては分析不能に至る点に問題がある
更に、アルシン以外の上記材料ガスに関しては作業環境
測定のための分析法すら確立されるに至っていないのが
実情である。
従って、本発明の目的は、半導体製造に用いられる上記
のような各種の材料ガスの捕集材を提供し、これによっ
てこの種ガスの濃縮サンプリングを可能になし、延いて
は分析法確立への途を開くことにある。
(問題点を解決し、目的を達成する手段及び作用) 本発明によれば、上記の問題点は、水酸1ヒナ1〜リウ
ム又は塩化第二水銀が添着されている活性炭であること
を特徴とする、半導体製造用ガスの分析用捕集材により
解決され、上記の目的が達成される。
本発明による捕集材において、水酸化すトリウムが添着
されている活性炭はアルシンやホスフィンの捕集に適し
、一方塩化第二水銀が添着されている活性炭はシランや
ゲルマンの捕集に適している。活性炭に添着される捕集
剤が水酸化ナトリウムの場合であっても、又塩化第二水
銀の場合であってもジボランやセレン化水素は充分に捕
集することができる。
水酸化ナトリウムは、活性炭10g当たり 0.5−2
g添着されているのが好ましい。この場合の下限値は許
容濃度[TLV (Thre!Ihold Lim1t
 orValue)のゲルマン(TLV = 0.2P
Pl)を3リツトル捕集する能力の限界から設定され、
一方上限値は活性炭への添着に際しての操作容易性を配
慮して設定された。
塩化第二水銀は、活性炭10g当たり 2−201g添
着されているのが好ましい。この場合の下限値は許容濃
度のホスフィン(TLV・Ojppm)を3リツトル捕
集する能力の限界から設定され、一方上限値は必要充分
量を配慮して設定された。
尚、塩化第二水銀を捕集剤として用いる場合には、その
安定性をもたらすために例えば塩化ナトリウムを併存さ
せるのが好ましく、この安定剤の量も捕集材である塩化
第二水銀と同程度であることが望ましい。
これらの捕集剤が添着されるべき担体としての活性炭は
任意のものであることができ、例えば熱硬化性樹脂ビー
ズ、椰子殻、木材等を炭化賦活したものであることがで
きる。これらの内で奢那子殻や木材を素材とするものは
周知であり、熱硬化性樹脂ビーズを素材とするものとし
ては、例えば住友ベークライト株式会社からrMl、4
5」及びr M934 Jなる標章の下に市販されてい
るものがある。熱硬1ヒ性崩脂ビーズを素材とする活性
炭はアルシン等の材料ガスの分析に際して妨害即ち測定
精度を低下させる元素成分である燐、砒素、硼素、シリ
コン等の含有量が極めて低いので、その侭捕集剤の担体
として用いることにより、本発明による補集材とするこ
とができる。しかしながら、木材や瀉子殻等を素材とす
る活性炭はこれらの妨害元素成分の含有量が比鮫的高く
、これを直接捕集剤の担体として用いることは好ましく
ないので、この種の活性炭を利用しようとする場合には
これら妨害元素成分の含有量を低下させるための処理が
行われる。この処理は酸洗であることができ、二段階で
例えば塩酸と弗化水素酸とを用いて行われるのが好まし
い。
(実施例等) 次に、参考例、試@例及び製造例に関連して本発明を更
に詳細に説明する。
11匠ユ(椰子殻活性炭からの被測定元素成分の低下処
理) 市販の椰子殻活性炭(Calgon社製のr PCB2
0X40J 、比表面積818 m2/g)を2N−塩
酸水溶液に1−2時間浸漬し、蒸留水で洗浄し、次いで
+00− +50°Cの熱風で乾燥させる。この予備処
理済みの活性炭を弗化水素酸に浸漬し、60−70°C
の加温状態に保持して一晩放置し、蒸留水で洗浄し、次
いで+00−150℃の熱風で乾燥させた。
得られた処理済みの椰子殻活性炭と無処理の椰子殻活性
炭について、グラファイト(パイロコートグラフアイl
−>炉原子吸光分光法を用いて、砒素及びシリコン含有
量を測定した結果は下記の表1に示される通りであった
未−よ 因に、熱硬化性樹脂ビーズを炭化賦活した活性炭(住友
ベークライト社製のrM934」、比表面積1524鹸
八)の砒素及びシリコン含有量はそれぞれ0.001−
0.004及び0.1−0.51zg/l00mgであ
った。
尚、半導体製造用材料ガスの分析精度は材料ガスの濃度
が低くなる程悪くなるが、許容濃度(TLV)の1/1
0程度は測定できることが実用上型まれる。この場合の
元素成分量は次式により算出することがそきる。
^ =  Cx  (MW/24.5)  x  V(
式中、A コ 被験元素成分の量(μg)C: 被験元
素成分ノ1/10 TLV濃度(ppm> MW:  被験元素成分の分子量 V : 材料ガスのm<リットル) 従って、I/10 TLν濃度のアルシンガス2リット
ルを活性炭200+agで捕集した場合に上記の式を適
用すれば、 Q、005 x <75/24.5) x 2 = 0
.03即ち砒素の量は0.03ggとなり、又1/10
 TLV濃度のシランガス2リツトルを活性炭200+
uで捕集した場合に上記の式を適用すれば、0.5 x
 (28/24.5)に2・1.14即ちシリコンの量
は1.14ggとなる。このことは捕集すべき元素成分
量が、砒素に関しては無処理椰子殻活性炭のバックグラ
ウンド量とほぼ等しくなり、一方シリコンに関しては無
処理4子殻活性炭におけるそのバックグラウンド量の方
が10倍程度になること、換言すればアルシンの測定に
際して無処理4子殻活性炭を捕集材として使用すれば、
測定精度が低いことを意味し、又シランの測定に関して
はバックグラウンドが大き過ぎて測定不能となることを
意味している。但し、1子殻活性炭を上記のように処理
すればバックグラウンドの比率を砒素に関して10%程
度に、又シリコンに関して50%程度に低下させること
゛ができるので、良好な精度で測定することが可能とな
る。
11匠ユ 1gの特級〜aO)[を81の蒸留水に溶解させ、この
溶液を10gの椿子殻活性炭(参考例で得た処理済みの
もの)に吸着させた6次いで、これを活性炭中の含水率
が0−2%になるまで7゜−80℃の温度で真空乾燥さ
せて、水酸化ナトリウムが添着されている活性炭である
所望の捕集材を得た。
11匠ニ アmgのIIgChと7BのNaClとを81の蒸留水
に溶解させ、この溶液を10gの椰子殻活性炭(参考例
で得た処理済みのもの)に吸着させた0次いで、これを
活性炭中の含水率が5− lotになるまで70−80
℃の温度で真空乾燥させて、塩化第二水銀が添着されて
いる活性炭である所望の捕集材を得た。
1庭且」≦幻L1 製造例1及び2と同様にして、但し処理済み奢那子殻活
性炭の代わりに熱硬化性樹脂ビーズを炭化賦活してなる
活性炭(住友ベークライト社製のrM934」)を用い
て水酸化ナトリウム又は塩化第二水銀が添着されている
活性炭である所望の捕集材をそれぞれ得た。
a昨 製造例1−4で得た本発明による各捕集材並びに参考例
で得た処理済み櫃子殻活性炭及び熱硬化性樹脂活性炭(
捕集剤を添着させなかったもの)を用いて、半導体製造
用の各種材料ガスを捕集させた。材料ガスとして各ガス
の許容濃度と等しい濃度のガスをそれぞれ使用し、各捕
集材150mg当たりの捕集容量を測定した結果は下記
の表2に示される通りであった。
表2から明らかなように、塩化第二水銀を添着させた活
性炭は、これを添着させなかった活性炭と比較する場合
に、アルシンに関しては椰子殻活性炭で5倍以上に、又
熱硬化性樹脂活性炭で71g以上に捕集容量が向上し、
ホスフィンに関しては(那子殻活性炭及び熱硬化性樹脂
活性炭共に100倍以上捕集容量向上すること並びに水
酸化すl・リウムを添着させた活性炭は、これを添着さ
せなかった活性炭と比較する場合に、無添着活性炭がシ
ランを吸着し得なかったのに対して 14−20リツト
ルの捕集容量を示し、又ゲルマンに関しては椰子前活性
炭及び熱硬化性樹脂活性炭共に5倍以上に捕集容量が向
上することが判明した。
尚、ジボラン及びセレン1ヒ水素は捕集剤を添着させて
も、又添着させなくても充分に捕集し得ることも併せて
判明した。
11匝ユ 本発明による捕集材は、例えばガラス管に装填され、所
謂一般の「ガス検知管」とほぼ同様に構成されて実用に
供せられる。その−例が添は図面に示されている。この
捕集管IOにおいて、I2はガラス管であり、このガラ
ス管12内に本発明による捕集材14が収容されている
。ガラス管12の一端(図面において左側)を折割って
矢印にて示される向きから材料ガスを導入させれば、こ
のガスはグラスウール製の充填物16を導通して捕集材
14に達し該捕集材により捕集される。
尚、18及び18aは例えばウレタンフオームからなる
バッキング材であり、14aは14 と同じの本発明に
よる捕集材であって、捕集材14で材料ガスを捕集し切
れなかったか否かを検査するためのバックアップ用であ
る。
(発明の効果) 本発明による捕集材は、半導体製造用の材ト1ガスに関
してその捕集容量が極めて高いのみならず、従来の活性
炭では捕集が不可能であったシランをも高い捕集容量に
て捕集することができる。
捕集されたガスは白木公知の脱着液(例えば、アルシン
の場合には旧20μg/ml及びLa50μg/ml 
をマトリクス・モディファイア−として含有する 0.
01N−)INO3溶液〉を用いて離脱させ、原子吸光
分光法により定量することができるので、本発明による
捕集材は半導体製造における作業環境の保全を可能にす
るものである。
【図面の簡単な説明】
添付図面は本発明による半導体製造用ガスの分析用捕集
材を装填したガス捕集管を略示する側面図である。 1O−−−ガス捕集管、12−−−ガラス管、14、1
4a −−一捕集材、16−−−充填物、18、18a
 −−−バッキング材 特許出願人  株式会社ガスチック 、、   Iト 代 理 人  弁理土佐々木  功1□、、・パ。

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)水酸化ナトリウム又は塩化第二水銀が添着されて
    いる活性炭であることを特徴とする、半導体製造用ガス
    の分析用捕集材。
  2. (2)活性炭10g当たり、水酸化ナトリウムが0.5
    −2g添着されていることを特徴とする、特許請求の範
    囲第1項に記載の半導体製造用ガスの分析用捕集材。
  3. (3)活性炭10g当たり、塩化第二水銀が2−20m
    g添着されていることを特徴とする、特許請求の範囲第
    1項に記載の半導体製造用ガスの分析用捕集材。
  4. (4)活性炭が熱硬化性樹脂ビーズを炭化賦活したもの
    であることを特徴とする、特許請求の範囲第1−3項の
    いずれか1つに記載の半導体製造用ガスの分析用捕集材
  5. (5)活性炭が酸処理された椰子殻活性炭であることを
    特徴とする、特許請求の範囲第1−3項のいずれか1つ
    に記載の半導体製造用ガスの分析用捕集材。
  6. (6)活性炭が塩酸及び弗化水素酸により酸処理された
    椰子殻活性炭であることを特徴とする、特許請求の範囲
    第5項に記載の半導体製造用ガスの分析用捕集材。
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