JPS632447B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS632447B2 JPS632447B2 JP56142783A JP14278381A JPS632447B2 JP S632447 B2 JPS632447 B2 JP S632447B2 JP 56142783 A JP56142783 A JP 56142783A JP 14278381 A JP14278381 A JP 14278381A JP S632447 B2 JPS632447 B2 JP S632447B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thickness
- radiation
- reference plate
- irradiation area
- radiation source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B15/00—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
- G01B15/02—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness
- G01B15/025—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness by measuring absorption
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は放射線を鉄板などの被測定物に透過
させてその線量の減衰により、上記被測定物の厚
みを測定するようにした透過形の放射線厚み計に
関する。
させてその線量の減衰により、上記被測定物の厚
みを測定するようにした透過形の放射線厚み計に
関する。
従来の放射線厚み計は第１図にみられるような
ブロツク構成をなしている。すなわち、放射線源
（例えば放射性同位元素）１は線源容器２に収納
されており、検出器５の方向のみ放射線４を照射
するようになつている。そして、上記放射線４の
照射はシヤツタ３によつてオン・オフされる。検
出器５の出力はアナログ・デジタル変換器（以後
Ａ／Ｄ変換器と称す）６によつてデジタル信号に
変換され、演算装置７へと入力される。この演算
装置７には、例えばマイクロコンピユータなどが
用いられ、入力信号と、予め設定した校正定数か
ら被測定物の板厚を求める演算処理を行い、その
結果を表示器８へ出力するのである。
ブロツク構成をなしている。すなわち、放射線源
（例えば放射性同位元素）１は線源容器２に収納
されており、検出器５の方向のみ放射線４を照射
するようになつている。そして、上記放射線４の
照射はシヤツタ３によつてオン・オフされる。検
出器５の出力はアナログ・デジタル変換器（以後
Ａ／Ｄ変換器と称す）６によつてデジタル信号に
変換され、演算装置７へと入力される。この演算
装置７には、例えばマイクロコンピユータなどが
用いられ、入力信号と、予め設定した校正定数か
ら被測定物の板厚を求める演算処理を行い、その
結果を表示器８へ出力するのである。
上記板厚Ｔは次の式で求めることができる。
Ｔ＝１／μ（lnVo−lnV）
ここでμは定数であり、Voは板厚０mmにおけ
る検出器出力電圧、Ｖは測定中の検出器出力電圧
である。したがつて、検出器出力Ｖと板厚Ｔとの
関係は第２図のようになる。しかるに、この従来
形の厚み形の測定範囲は、検出器の出力における
誤差電圧、すなわちオフセツト電圧やオフセツト
電圧の変動量などによつて決定される。例えば
Am−241を用いた厚み計では最高、被測定物厚
さが８mmまで測定できる。このときの検出器出力
電圧は10ｍＶ以下になろう。したがつて、この
Am−241を用いた厚み計では10mmの厚さの被測
定物を測定できない。
る検出器出力電圧、Ｖは測定中の検出器出力電圧
である。したがつて、検出器出力Ｖと板厚Ｔとの
関係は第２図のようになる。しかるに、この従来
形の厚み形の測定範囲は、検出器の出力における
誤差電圧、すなわちオフセツト電圧やオフセツト
電圧の変動量などによつて決定される。例えば
Am−241を用いた厚み計では最高、被測定物厚
さが８mmまで測定できる。このときの検出器出力
電圧は10ｍＶ以下になろう。したがつて、この
Am−241を用いた厚み計では10mmの厚さの被測
定物を測定できない。
この発明は上記事情にもとづいてなされたもの
で、任意の厚みの基準板を用いることにより、被
測定物を測る時、最大測定厚みを増大させること
を目的としてなされた放射線厚み計を提供するも
のである。
で、任意の厚みの基準板を用いることにより、被
測定物を測る時、最大測定厚みを増大させること
を目的としてなされた放射線厚み計を提供するも
のである。
以下、この発明を第３図および第４図の実施例
にもとずいて具体的に説明する。なお、従来例と
同じ部分については同一符号を付してその構成の
説明を省略する。ここでは、厚み測定の基準とな
るための基準板１０が追加して設けられており、
厚み計の校正指令スイツチ９が押されて校正を行
う時に上記基準板１０が駆動されて放射線４の照
射領域にくり出される。そして、従来例における
板厚Ｏmmの検出器出力電圧V0を維持する如く、
つまり基準板１０による線量減衰分（e-〓
にもとずいて具体的に説明する。なお、従来例と
同じ部分については同一符号を付してその構成の
説明を省略する。ここでは、厚み測定の基準とな
るための基準板１０が追加して設けられており、
厚み計の校正指令スイツチ９が押されて校正を行
う時に上記基準板１０が駆動されて放射線４の照
射領域にくり出される。そして、従来例における
板厚Ｏmmの検出器出力電圧V0を維持する如く、
つまり基準板１０による線量減衰分（e-〓
Claims (1)
- １ 線源から照射され、被測定物を透過した放射
線を検出し厚み測定を行うものにおいて、前記放
射線照射領域に挿入される任意の厚みの基準板
と、この基準板の放射線照射領域への挿入時に基
準板厚相当分の線量減衰分だけ前記線源の強度を
増加させて所定の検出器出力を維持させることに
より前記基準板厚相当分だけ測定板厚範囲をシフ
トさせる測定レンジシフト手段と、このシフト手
段により前記放射線源強度を固定させて前記基準
板を前記放射線照射領域から抜き取り前記基準板
を基準点とする校正曲線を作成する校正手段とを
備えたことを特徴とする放射線厚み計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56142783A JPS5844305A (ja) | 1981-09-10 | 1981-09-10 | 放射線厚み計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56142783A JPS5844305A (ja) | 1981-09-10 | 1981-09-10 | 放射線厚み計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5844305A JPS5844305A (ja) | 1983-03-15 |
| JPS632447B2 true JPS632447B2 (ja) | 1988-01-19 |
Family
ID=15323490
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56142783A Granted JPS5844305A (ja) | 1981-09-10 | 1981-09-10 | 放射線厚み計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5844305A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011242254A (ja) * | 2010-05-18 | 2011-12-01 | Nippon Steel Corp | 鋼板の板厚測定装置およびその校正方法 |
-
1981
- 1981-09-10 JP JP56142783A patent/JPS5844305A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5844305A (ja) | 1983-03-15 |
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