JPS585364B2 - 放射線厚み測定装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、放射線を板厚み測定物に照射し、その吸収量
により厚みを測定する装置において、ターゲツト板の付
加により線源と検出器の位置関係を改良した装置に関す
るものである。

さらに詳しくは、たとえばＸ線・γ線等の放射線を被測
定物を介して透過させてターゲットと呼ばれるケイ光Ｘ
線発生用物質に照射し、この物質から発生する特定の波
長の螢光Ｘ線を板厚み測定物質を透過させたのち放射線
検出器で検出し、カウントし、透過の際の吸収の量に基
づいて前記板厚み測定物質の厚みを算出する放射線厚み
測定装置に関するものである。

従来、放射線を用いて紙・高分子フィルム・アルミバク
・ナマリハク等の被測定物に放射線を照射し、透過して
被測定物の厚みを測定する場合、第１図に示す様な構造
の放射線厚み測定装置が知られている。

この第１図に示される放射線厚み測定装置は、ケイ光Ｘ
線源または低エネルギＸ線源１と、この線源１より発生
するケイ光Ｘ線が板厚み測定物質２を介して透過後の強
度を測定する検出器３と、この検出器３からの計数率を
前記板厚み測定物質、２の厚みを算出するための計数回
路４から成っている。

前記線源１のうち、ケイ光Ｘ線源は、第２図のようにア
イソトープ１２およびターゲットメタル１３から成る。

そして、前記アイソトープ１２より発生する放射線は前
記ターゲットメタル１３に照射され、このターゲットメ
タル１３からは、ターゲットメタルの種類たとえば鉄の
場合、鉄特有のケイ光Ｘ線を発生し、そして、そのケイ
光Ｘ線は、ケイ光Ｘ線発生器１の開口部１４より発生さ
せる。

しかし、この様な構成から成る従来の放射線厚み測定装
置は、どうしてもこの装置のフレームを第３図に示すよ
うに０字型か図示しないＣ型に形成し、その０字内ある
いは６字の側内に相対応させて螢光Ｘ線発生器１および
検出器３を配置しなければならない。

この場合、前記螢光Ｘ線発生器１および検出器３は、矢
印ＡＢ力方向常に対向して、フレーム内部に装備された
駆動装置（たとえば同期プーリ装置）によって駆動され
、板厚み測定物質２を走査する。

そして、これにより、前記線源１より発生する放射線は
順次板厚み測定物質２を介して検出器３に照射され、板
厚み測定物質２の厚みを測定することができる。

この様なＯ字型フレームもしくはＣ字型フレームである
と、フレームがきわめて大型化してしまいコストアップ
になり、また、取り付は場所に大きな制約があるばかり
か、フレームに高い精度が要求され製造・運搬・取付・
保守に問題が多い。

また、紙や高分子フィルム等のように、吸収係数が低く
、しかも薄い測定対象では、Ｘ線では減衰が少く充分な
精度が出ない。

さらに従来、単に１種類の検量線だけでは、板厚み測定
物質の厚みあるいは材料等によっては検量線の極端に傾
きの小さい区間も使用しなければならなくなり、この結
果、板厚み測定物の厚さの変化に対するケイ光Ｘ線の検
出強度がごく僅かであり、測定精度が悪くなる。

この解決策としてラジオアイソトープの線源を何種類か
用意する方法では、半減期の長く、しかもエネルギの適
当な線源が少ないこと、複数の線源をもつことは安全・
管理上から好ましくない。

ターゲットのアッセンブリを線源とすれば、最適エネル
ギは得られるが強度が得られにくく、また、線源を増す
ことは安全管理上好ましくない。

本発明は以上従来の種々の欠点を解消するために発明さ
れたものであり、構造が簡単であり、長いライフで流さ
れている帯状の物体の厚みを測定するのに適する放射線
厚み測定装置を得ることを目的とする。

以下本発明を第４図に示す一実施例を基にして説明する
。

第４図は、本発明放射線測定装置の概略図を示し、ラジ
オアイソトープ５（γ線またはＸ線源）またはＸ線管を
用いた線源と、ケイ光Ｘ線を検出してその強度を測定す
るための検出器６と、これらの線源５および検出器６を
収納するためのケース体１と、板厚み測定物質２を境と
して前記ケース体Ｉと反対側に配置されるターゲツト板
８とから構成されている。

この実施例の放射線測定装置は、次の様にして板厚み測
定物質の厚みを測定する。

まず、Ｘ線またはγ線が線源５から前記板厚み測定物質
２を介して透過して前記ターゲツト板８に照射する。

これにより、前記ターゲツト板８にターゲツト板８の材
質特有のエネルギのケイ光Ｘ線を発生させる。

このターゲツト板８より発生するケイ光Ｘ線は、前記板
厚み測定物質２を介し透過して前記検出器６を照射する
。

この場合、線源５からの放射線（Ｘ線またはγ線）およ
び前記ターゲツト板８より発生したケイ光Ｘ線は、前記
板厚み測定物質２を透過する際に、その測定物質８の厚
みに応じてその強度が減衰する。

そして、これらの減衰は、前記検出器６によって検出さ
れ、その検出値は、板厚み測定物質の厚さとケイ光Ｘ線
の強度を線図化した検量線と比較され、板厚み測定物質
２の厚みが決定される。

なお、前記検量線は、第５図に示すように前記ターゲツ
ト板８と検出器６との間に既知の厚みをもつ板厚み測定
サンプル材を介在させ、順次様々のサンプルがＸ線また
はγ線を吸収する値を測定し、サンプルの厚みとＸ線強
度との関係をグラフ化した線図である。

検量線の傾きは、前記ターゲツト板８の材質を変えるか
、あるいは、前記放射線源５を変えれば変化させること
ができる。

次に第６図に示す他の実施例について説明する。

この実施例は、前述した実施例のターゲツト板８で丸棒
状のロール本体８１の外周部分に巻き付けるようにおお
いターゲットロール９を形成し、このターゲットロール
９に板厚み測定物２１を接触させ、ケース体７の内部に
収納されたラジオアイソトープまたはＸ線管５より放射
線（Ｘ線またはγ線）を前記板厚み測定物２１を透過さ
せ前記ターゲツト板８に照射し、このターゲツト板８よ
り発生するケイ光Ｘ線を前記検出器６により検出するこ
とにより、前記板厚み測定物２１の厚みを測定するもの
である。

他の構成および動作は、前に述べた実施例に順するので
これの説明を省略するとともに前の実施例と同一の構成
については。

対応符号をもって省略する。

以上本発明の構成によれば、次の効果がある。

（１）放射線発生源とケイ光Ｘ線検出器は、被測定物を
はさんで配置する必要が無いため、幅広い帯状の物質の
厚みを測定するのに、放射線源およびケイ光Ｘ線検出器
を動かしてケイ光Ｘ線を被測定物上を走査する場合、被
測定物の片側で動かすだけでよいので、非常に簡単なフ
レームおよび機械装置ですむ。

特に第６図のロールを使ったものでは既設ラインに取付
ける場合、既設ロールをそのまま利用でき、小型化でき
るので、スペースのないラインでもゲージを入れられる
。

（２）また、ターゲツト板は、前記放射線源およびケイ
光Ｘ線検出器と全く別体に構成配置することができるた
め、ターゲットの取り換えがきわめて容易である。

従って、種々の厚さ・材質について被測定物を測る場合
、種々の検量線が必要であるが、それは多−ゲットの金
属の変更ですむため、複数の強度の異なる放射線源を用
いることなく安全度高く放射性物質の管理ができる。

また、この構成によると、被厚み測定物質の厚み材質に
応じて常に適切な検量線で被厚み測定物質の厚みの測定
を行うことができ、しかも線源は１つで済み、危険を伴
う線源の交換作業が不要となる。

また、線源に半減期の長いラジオアイソトープを使用し
た場合は安定した測定が可能な上、保守が簡単になる。

（３）紙や高分子フィルムのような吸収係数の小さく薄
い物をＸ線やγ線で測定する場合、従来の構成より精度
が高い。

（４）ターゲツト板がＸ線源で広い面積からＸ線が出る
ので測定面積を大きくすることができる。

従って、被測定物の正確な厚さの平均値を測ることがで
きる。

【図面の簡単な説明】

第１図〜第３図は、従来の放射線厚み測定装置の説明図
およびケイ光Ｘ線源（ターゲットアッセンブリー）の断
面図（平面・正面断面図）ならびに斜視図である。 第４図は、本発明の一実施例を示す放射線厚み測定装置
の説明図。 第５図は、検量線図、第６図は、他の実施例を示す断面
略図である。 ５・・・・・・放射線源〔ラジオアイソトープ（γ線ま
たはＸ線用）またはＸ線管法〕６・・・・・・検出器、
２・・・被厚み測定物質、８・・・・・・ターゲツト板
。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ Ｘ線又はγ線を被測定物に照射すると共に透過させ
   、そのＸ線又はγ線の減衰を検出することによって板厚
   み測定物質の厚さを測定するものにおいて、板厚み測定
   物の一方の側に設けられたＸ線又はγ線の発生源および
   放射線検出器と、板厚み測定物の他方の側に設けられ金
   属よりなるターゲツト板とを備え、前記Ｘ線又はγ線の
   発生源からの放射線がターゲツト板に照射され、ターゲ
   ツト板からのケイ光大線の強度を前記放射線検出器によ
   り検出し板厚み測定物の厚さを測定するようにしたこと
   を特徴とする放射線吸収型厚み測定装置。