JPS63241951A - 半導体集積回路の製造方法 - Google Patents

半導体集積回路の製造方法

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JPS63241951A
JPS63241951A JP62074810A JP7481087A JPS63241951A JP S63241951 A JPS63241951 A JP S63241951A JP 62074810 A JP62074810 A JP 62074810A JP 7481087 A JP7481087 A JP 7481087A JP S63241951 A JPS63241951 A JP S63241951A
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JP
Japan
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integrated circuit
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semiconductor integrated
bit data
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JP62074810A
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Junji Mori
順治 森
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Toshiba Corp
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/04Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body
    • H01L27/10Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a repetitive configuration
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 し発明の目的] (産業上の利用分野) この発明は半導体集積回路のマスクパターン製造方法に
関し、特にそのデータパス部のパターン作成技術に係わ
る。
(従来の技術) 半導体集積回路のマスクパターンの製造において、nビ
ットのデータ幅を有する集積回路をスタンダードセルを
用いて作成する場合には、第4図(Aンに示すように、
まず1ビット分のデータの流れ(データパス)に対応す
るパターンを作成しておき、これを第4図(B)に示す
ようにパスのビット数だけ展開してnビットのデータパ
スのパターンを作成した後、このパターンを用いて実際
のマスクパターンを製造する方法が用いられる。
この方法で集積回路をレイアウトする場合には、各ビッ
ト共通に与えられている制御信号はこのデータパス部を
横切っていく形になるので各ビット間の制御線のインプ
ットの位置と、アウトプットの位置とを合せておかない
と、第4図(B)に示されているように制御線がパスと
パスとの間でつながらなくなってしまうことがある。
このような問題を解決するために、従来では、隣り合っ
たパターンを第5図に示すように互いにミラー反転(I
)Ql)・・・)させることによって各パス間の制御線
の位置合せをする方法が用いられている。この方法を用
いれば、各パス間の制御線の接続を容易に行なうことが
できるようなる。
しかしながら、このようなミラー反転によるパターン形
成では、制御線については単なるスルー配線であるため
そのインプットとアウトプットを逆にしても支障がない
ので有効であるが、キャリーや、各ビットの論理和、論
理積等をとる場合のように信号線が方向性を有するもの
については、ミラー反転を行なった際にインプット同士
、アウトプット同士のぶつかり合いが生じてしまうとい
う問題がある。
このため、方向性を有する信号線が配線される配置![
については、前述のようなミラー反転を行なうことがで
きないので、その配線領域の配線のレイアウトは限定さ
れたものとなり、パターン面積の増大を招くことになる
(発明が解決しようとする問題点) この発明は上記のような点に名みなされたもので、従来
の方法では方向性を有する信号線の入力同士、または出
力同士が接続されてしまう場合があるので信号の方向性
を考慮してパターンを作成しなければならなかった点を
改善し、隣あったデータパス間での信号の入出力関係に
拘らずに自由な配線レイアウトが可能な半導体集積回路
のマスクパターン製造方法を提供することを目的とする
[発明の構成] (問題点を解決するための手段と作用)この発明による
半導体集積回路のマスクパターン製造方法にあっては、
スタンダードセル列間の配線により作成される1ビット
分のデータパスの第1のパターンを交互にその表裏を反
転させて順次隣接配置することによってnビットのデー
タパスのパターンを作成する半導体集積回路のマスクパ
ターン製造方法において、前記第1のパターンと同一の
セル配置および配線を備え、しかも特定のセルに関する
信号入力線および出力線についてはその配置関係が前記
第1のパターンとは逆転された第2のパターンを作成し
、この第2のパターンの表裏を反転させた状態で前記第
1のパターンとこの第2のパターンとを順次交互に隣接
配置することによりnビットのデータパスのパターンを
作成するものである。
上記方法によれば、方向性を有する信号線の接続を入出
力関係を合せた状態で行なうことができ、配線のレイア
ウトを自由に行なうことが可能となる。
(実施例) 以下、図面を参照してこの発明の一実施例に係わる半導
体集積回路のマスクパターン製造方法を説明する。
第1図(A)にデータパス10aのパターンを示す。こ
のパターンは、データパス人力11でデータを入力し、
データパス出力12からそのデータを出力するもので、
そのパターン内には複数のスタンダードセル13が配置
されている。このスタンダードセル13のセル列間には
、配線領域14.15が設けられ、その配線領域14に
は各ビット共通の制御線141.142が配線されてい
る。また、配線領域15には、各ビット共通の制御II
線151の他に、例えばビット間のキャリー信号のよう
に方向性を有する信号伝達のための信号線152が配線
されている。
この信号I!152における信号の伝達方向は、この線
に接続されるセル131の1能すなわちセル131を構
成する回路によって決定される。
ここで、信号線152に接続されるセル131を例えば
EXORゲートと仮定すると、そのセル131は第1図
(B)のように示すことができる。この場合、信号1i
1152は、キャリー人力21と、キャリー出力22と
にその入出力が分類される。また、セル131とセル1
32とを接続する線153はセル131への制御線23
と見なすことができる。 。
第2図(A)は第1図(A>のパターンがミラ−反転さ
れる時の前記の問題を解決するために方向性を有するセ
ルの方向を反転して配置したデータパスパターン10b
を示すもので、セル13の配置および配線の形状は第1
図のパターン10aと同様であるが、方向性を有する信
号線152の信号の流れの方向は第1図の信号線と逆に
なっている。
すなわち、このパターン10bでは第2図(B)に示す
ように、信号線152に接続されるセル131を第1図
(B)と入出力が反転されたEXORゲートで構成して
、21をキャリー出力、22をキャリー人力、23を制
御信号とするものである。
次に、第1図(A>に示したパターン10aと、第2図
(B)に示したパターン10bを用い、パターン10b
の裏表を反転した状態でこれらのパターン10a 、 
10bを順次交互に隣接配置し、第3図に示すようなn
ビットのデータパスパターンを作成する。つまり、パタ
ーン10aを前述のようなミラー反転によるデータパス
展開のp用のパターンとして用い、パターン10bをq
用のパターンとして用いる。
このようにすれば、$!141.142 、151.1
52のレイアウトに関係なく、これらの線を各ビット間
でそれぞれ容易に接続することができると共に、方向性
を有する信号線152の入出力関係を各ビット間でそれ
ぞれ適合できるようになる。
したがって、データパスのパターンにおける配線領域の
配線は自由なレイアウトが可能となるので、パターンの
縮小化が実現される。
[発明の効果] 以上のようにこの発明によれば、方向性を有する信号線
の入力同士、または出力同士が各ビット間で接続されて
しまうことがなくなり、隣あったデータパス間での信号
の入出力関係に拘らずに、配線領域の自由なレイアウト
が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図乃至第3図はこの発明の一実施例に係わる半導体
集積回路のマスクパターン製造方法を説明するための図
、第4図および第5図は従来のマスクパターン製造方法
を説明するための図である。 10a 、 10b・・・1ビツトデータパスのパター
ン、13・・・スタンダードセル、14.15・・・配
線領域。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 (A)  第1図 (A) 第4図 第5図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 スタンダードセル列間の配線により作成される1ビット
    分のデータパスの第1のパターンを交互にその表裏を反
    転させて順次隣接配置することによってnビットのデー
    タパスのパターンを作成する半導体集積回路のマスクパ
    ターン製造方法において、 前記第1のパターンと同一のセル配置および配線を備え
    、しかも特定のセルに関する信号入力線および出力線に
    ついてはその配置関係が前記第1のパターンとは逆転さ
    れた第2のパターンを作成し、この第2のパターンの表
    裏を反転させた状態で前記第1のパターンとこの第2の
    パターンとを順次交互に隣接配置することによりnビッ
    トのデータパスのパターンを作成することを特徴とする
    半導体集積回路のマスクパターン製造方法。
JP7481087A 1987-03-28 1987-03-28 半導体集積回路の製造方法 Expired - Fee Related JPH0738415B2 (ja)

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JPH0738415B2 JPH0738415B2 (ja) 1995-04-26

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02251958A (ja) * 1989-03-27 1990-10-09 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体マスク図
JPH04280668A (ja) * 1991-03-08 1992-10-06 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58107648A (ja) * 1981-12-21 1983-06-27 Nec Corp 集積回路装置

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JPH04280668A (ja) * 1991-03-08 1992-10-06 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路

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