JPS63241408A - 陶磁器製品のクラツク検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） 本発明は陶磁器製品に生じたクラックを自動的に検査す
るための陶磁器製品のクラック検査装置に関する。

（従来の技術） 例えば皿等の陶磁器製品では製造段階でクラックが発生
してしまうことがあるから、出荷時にこれを検査してク
ラックを有するものは不良品として排除する必要がある
。この検査方法として、従前は、検査員が皿を１枚づつ
手にとって目視によりクラックの有無を確認することが
一般的であった。

（発明が解決しようとする問題点） しかしながら、上述の方法では、検査員の視覚に頼って
いるため、検査ミスが発生したり、検査員毎の基鵡が異
なったりし昌く検査結果のばらつきが大きいという欠点
があった。

そこで、本発明の目的は、検査員の視覚に頼ることなく
、客観的な検査を自動的に行うことがモきる陶磁器製品
のクラック検査装置を提供するにある。

［発明のＭ成］ （間ｍ点を解決するための手段） 本発明に係る陶磁器製品のクラック検査装置は、表面に
浸透性検査液が塗布された陶磁器製品を撮影してその映
像を光電変換する撮像装置と、この撮像装置からの画像
信号に基づき前記映像を構成する各画素をその明暗に応
じて二値化する二値化処理回路と、この二値化処理回路
からの二値化信号に基づいて前記陶磁器製品のクラック
に対応する画素数を計数してクラック面積を算出するク
ラック面ｆａ算出手段と、このクラック面積算出手段に
より算出したクラック面積を所定の基準値と比較する比
較手段とを設けた構成に特徴を自°するものである。　
　゛ （作用） クラックを有する陶磁器製品の表面に浸透性検査液が塗
布されると、そのクラックに検査液が浸透してクラック
が明瞭化される。このように明瞭化されたクラックを有
する陶磁器製品が撮像装置により撮影されると陶磁器製
品の映像が充電変換されて二値化処理回路に与えられる
。二値化処理回路では、その映像を構成する各画素をそ
の明暗に応じて二値化するため、クラック部分に対応す
る画素が生地部分とは異なる論理値に置き換えられる。

次いでクラック面積算出手段によりクラックに対応する
画素数を計数することによりクラック面積が算出される
。そして、比較手段により算出したクラック面積と基準
値とが比較されて陶磁器製品が有するクラックのを無が
判断される。

（実施例） 以ド本発明を陶磁器製品たる皿の僅寸法検査、高さ・変
形検査及びクラック検査を一連に実行する自動検査装置
に適用した一実施例につき図面を参照して説明する。

まず、一連の工程を模式的に示す第２図において、１は
検査ラインに沿って多数設けられた回転テーブルである
。この回転テーブル１上には図示しない製品移載ポート
において検査対象たる１１１１２が移載され、その皿２
を載置したまま回転テーブル１が径寸法検査ポートＰ１
、高さ・変形検査ポー）Ｐ、、検査液塗布ポートＰ３、
クラック検査ポートＰ４及び取出しポートＰ５を順に通
過するように図示右側に向けて移動される。さて、径寸
法検査ボートＰｌには、環状ランプ３を備えたカメラ４
が移動してきた回転テーブル１の上方に位置するように
設けられており、そのカメラ４からの画像信号は中央処
理装置５に与えられる。６は芯出し装置であり、これは
先端に吸着盤７ａを取付けたアーム７を駆動機構８によ
り直交３方向に移動し得るように構成され、その吸着盤
７ａにて皿２を眼前して移動させることにより１ｌｌｌ
　２の中心を回転テーブルｌの中心に一致させ得るよう
になっている。この径寸法検査ボートＰ１における駆動
機構８の動作は」―記中央処理装置５により制御される
もので、その具体的内容については後述する作用説明に
て明らかにされる。

次に、高さ・変形検査ポー）Ｐ２において、９は回転テ
ーブル１の回転角度を検出する回転角度検出装置、１０
は照明装置、１１はカメラである。

照明装置１０及びカメラ１１は送られてくる皿２の種類
が異なる度に移動装置１２．１３により所定位置に移動
されると共に、画像信号はやはり中央処理装置５に入力
され、後述する画像信号処理が行われて皿２の高さ寸法
及び変形量が測定される。

検査液塗布ポートＰ３には、押え装置１４、検査液塗布
装置１５及び検査液拭き取り装置１６が設けられている
。押え装置１４は、中央処理装置５からの信号に基づき
アーム１４ａを下降させて＋１１１２を回転テーブル１
１−に固定するためのものである。検査液塗布装置１５
はやはり中央処理装置５からの信号に基づき動作して皿
２に浸透性検査液を塗布するためのもので、具体的には
例えば第３図に示すように構成される。同図において、
１７はアーム１８の先端に回転可能に設けたスポンジ製
の塗布ローラー、１９は例えば青色に着色された浸透性
検査液を貯溜した検査液タンクで、この検査液タンク１
９と塗布ローラー１７との間には給液管２０が設けられ
て浸透性検査液を塗布ローラー１７に常時供給できるよ
うになっている。

また、上記アーム１８は駆動機構部２１に取付けられて
いて、検査液塗布ポートＰ３に回転テープル１が移動さ
れたときに中央処理装置５からの信号に基づきその駆動
機構部２１により塗布ローラー１７が皿２に接触するよ
うに進出され、同時に回転駆動されて浸透性検査液を皿
２に塗布できるようになっている。一方、検査液拭き取
り装置１６は、やはりアーム２３の先端に回転可能に取
付けたスポンジ製の拭き取りローラー２４を備え、駆動
機構部２５により塗布ローラー１７と同時に１１１１２
に接触するように進出され、回転して皿２に何首した過
剰の浸透性検査液を除去すると共に、その下方に設けた
水容器２６内の水により洗浄されるようになっている。

このように皿２に通磁の浸透性検査液が塗布されると、
皿２にクラ・ツクが発生している場合には、そのクラ・
ツクに検査Ｓｌが浸透して着色状態になるため、皿２の
生地の白色との対比によりクラックが明瞭化される。

次に、クラック検査ポートＰ４において、２７は回転テ
ーブル１の回転角度を検出する回転角度検出装置、２８
は照明装置、２９はクラ・ツク検査ボートＰａに送られ
た皿２を撮影してその映像を光電変換する撮像装置に相
当するカメラである。

これらの照明装置２８及びカメラ２９は送られてくる皿
２の種類（ロフト）が異なる度に移動装置３０．３１に
より所定位置に移動されると共に、画像信号は中央処理
装置５に入力される。さて、中央処理装置５において、
本発明の要旨に関連するクラック検査のための構成は第
１図に示すような機能ブロックにより表される。同図に
示す３２は回転テーブル１の回転駆動装置であり、これ
は回転角度検出装置２７からの信号を受けて回転テーブ
ル１を角度θずつ間欠的に移動させるもので、角度θだ
け回転さける度に中央処理装置５の画像信号取込み部３
３にタイミング信号を出力する。

尚、この角度θは、皿２のうちカメラ２９が１視野内に
撮影できる領域の角度と略等しく設定されている。画像
取込み部３３はタイミング信号を受けるとカメラ２９か
らの画像信号を取込んでそれを二値化処理回路３４に与
える。そして、二値化処理回路３４では、カメラ２９か
らの画像信号に基づき皿２の映像を構成する各画素の明
暗レベルを所定のスライスレベルと比較することにより
、各画素を二値化する。このスライスレベルは、１ＩＩ
２の種類（ロフト）毎に予め変数メモリー３５に設定さ
れている。このような二値化処理により、検査液が浸透
したクラック部分は暗部として撮影されているから、ク
ラック部分は明るい生地部分から明瞭に区別され、クラ
ック部分の画素は例えば論理値「０」に、生地部分の画
素は論理値「１」に置き換えられる。次に、３６はクラ
・ツク面積算出手段である。これは二値化処理回路３４
からの二値化信号に基づき、１視野毎にクラ・ツクに対
応する画素の数を計数することによりクラ・ツク面積を
算出する。３７は比較手段で、これはクラ・ツク面積算
出手段３６により算出したクラ・ツク面積とｐめ変数メ
モリー３５に皿２の種類毎に設定された基準値と比較す
るもので、クラ・ツク面積が基準値よりも大であるとき
にクラ・ツク検出信号を判定手段３８に与える。斯かる
比較動作は回転テーブル１が角度θだけ回転する度に、
換言すればカメラ２９の１視野分の画像信号が取入れら
れる度に実行され、これが皿２の全周にわたって繰返さ
れる。一方、３９は微分手段である。第１図に示した微
分手段３９以下の構成はクラックの検出をより確実に実
行するために付加的に設けたものであり、その詳細は後
述する作用説明において明らかにされるので、ここでは
概略的に述べる。微分手段３９は、回転テーブル１が角
度θだけ同転する度に取込まれた画像信号を受けて所定
の条件にて微分して微分画像を作成し、その結果を二値
化処理回路４０に出力する。微分手段３９により作成さ
れた微分画像はクラックの輪郭線のみが抽出された画像
である。そして、二値化処理回路４０ては、微分画像の
各画素をその明暗レベルを変数メモリー３５に予め設定
されたスライスレベルと比較することにより二値化し、
その結果を輪郭線測定手段４１に出力する。この輪郭線
／１１１定手段４１では、前記クラック面積算出手段３
６と同様に、クラックの輪郭線に対応する画素数を計数
することによりクラックの輪郭線の大きさを測定する。

このようにして計１定されたクラック輪郭の大きさは、
比較手段４２にて、予め皿２の種類（ロット）毎に変数
メモリー３５に設定された基準値と比較され、それが基
準値を上回るときにはクラック検出信号を前記判定手段
３８に与えるようになっている。

次に、第２図に示す取出しポートＰ５において、４３は
取出し装置である。この取出し装置４３は先端部に吸着
盤４４ａを備えたアーム４４を駆動機ｔｆｉ　４５にて
直交３方向に移動可能に構成したものであり、回転テー
ブル１が取出しポートＰ５に移動されたときに中央処理
装置５からの信号に基づき動作して吸着盤４４ａにて皿
２を吸着゛し、これをその良・不良に応じて回転テーブ
ル１上から所定の位置に振り分けるように移゛動させる
ようになっている。

次に上記構成の作用につき説明する。

（１）径寸法検査ポートＰ１において ■　皿２の中心の検出 検査対象たる皿２を載置した回転テーブル１が径寸法検
査ボートＰ！に移動されると、まずカメラ４により皿２
の全体が真」−から撮影され、その画像信号が中央処理
装置５に入力される。そして、１中央処理装置５では皿
２の映像を構成する各画素の明暗信号をＡ／Ｄ変換する
ことにより所定のスライスレベルにて二値化して皿２の
上方からの二値化画像を作成する。この二値化画像に基
づき１１１１２の重心位置（中心）を求める。これには
、例えば第４図に示すように、４つの象限における画素
数が等しくなるような直交座標軸ｘ−ｙを求め、その原
点（ｘｏ、ｙｏ）を重心（中心）位置とする等の方法が
ある。尚、第４図において、斜線を付して示した部分が
皿の映像に対応する。

■　芯出し 次に、−１−述のようにして測定した皿２の中心位置（
Ｘｏ＋’ｙｏ　）と、中央処理装置５の変数メモリー３
５にｆめ設定しである回転テーブル１の回転中心位置（
ｘｌ、Ｙｔ）との偏差を求め、中央処理装置５から駆動
機構８に皿２の中心位置（Ｘ。、ｙｏ）と上記偏差とを
指示する。これにより、駆動機構８がまずアーム７の先
端の吸着盤７ａを皿２の中心位置（Ｘｏ　＋　　Ｖｏ　
）の上方にまで移動させ、次いでこれを下降させること
により皿２の中心を吸着盤７ａによって成行する。そし
て、皿゛２を引上げてアーム７を上記偏差分だ、け移動
させ、この後アーム７を再び下降させると共に吸着を解
除する。これにて皿２の中心と回転テーブルｌの回転中
心とが一致した芯出し状態となる。尚、回転テーブル１
の回転中心位置は変数メモリー３５にｐめ設定しておく
に限らず、皿２の重心（中心）位置の検出と同様にして
検出するようにしても良い。

■　径寸法検査 これには、まず前記二値化画像から皿２の画像を構成す
る画素数を計数することにより、−上方からの投影面積
を測定する。次いで、測定された投影面積が変数メモリ
ー３０に記憶された皿２の種頌毎の基準値と比較され、
その投影面積が上記基準値に対し所定の誤差内にあると
きには良品と判定し、所定値以上の誤差があるときには
不良品と判定する。このように投影面積に基づき皿２の
径寸法検査を行うようにすれば、皿２が必ずしも真円で
なくとも簡易に良・不良の判定が可能になる。

楕円、矩形等の異形の皿では一方向の寸法７Ｉ１１定で
は正確な判定が困難だからである。

（２）高さ・変形検査ポートＰ２において■　カメラ及
び照明の移動 回転テーブル１が高さ・変形検査ポートＰ２に移動され
ると、送られた皿２の種類（ロフト）応じて照明装置１
０及びカメラ１１が夫々の移動装置１２．１３により移
動される。これはｌｌＴｌ　２の形状によっては、第５
図に夫々示すように、照明装置１０をカメラ１１と反対
側に位置させたり（Ａ）、同じ側に位置させたり（Ｂ）
、或はカメラ１１を真横ではなく斜め下方から撮影した
りする（Ｃ）ことが望ましいからである。ここでカメラ
１１はいずれにしても側方から皿２を撮影することにな
る。

■　縁部の特徴値の抽出 照明装置１０及びカメラ１１が所定位置にセットされる
と、回転テーブル１が図示しない回転駆動装置により角
度θずつ間欠的に回転され、角度θたけ回転する度にカ
メラ１１からの画像信号が中央処理装置５に人力される
。中央処理装置５では、角度θの領域を撮影した１視野
分の映像を構成する各画素の明暗信号がＡ／Ｄ変換され
、１ｔｒｌ　２のロット毎に設定されたスライスレベル
に応じて二値化される。これにより、角度θの領域毎に
例えば第６図に示すような縁部の二値化画像が作成され
る（同図に示したものはｌ１ｒｌ　２の縁部のいわゆる
波打ちを誇張して描いである）。次いで、この二値化画
像に基づき、１視野内の縁の最高高さし、上下変動幅Ｙ
１高さ変動ΔＤ１最大肉厚ｄ等の特徴値が抽出される。

このような特徴値の抽出は回転テーブル１を角度θずつ
ステップ回転させながら皿２の全周にわたって行われる
。

■　差分面積の測定 上述の各特徴値の抽出と同時に、次のようにして差分画
像が作成され、差分面積が測定される。

ここで差分画像とは、回転テーブル１が角度θだけステ
ップ回転する前後の２つの映像に基づき作成されるもの
であって、両映像の同一番地の画素間において明暗レベ
ルの差分を求め、それを二値化した二値化画像をいう。

このようにして差分画像を作成した後、それを構成する
各画素数を計数することにより差分面積ΔＳを算出する
。この差分面積ΔＳを算出する意義は局部的変形をより
明瞭に抽出するにあり、やはり回転テーブル１を角度θ
ずつステップ回転させながら皿２の全周にわたって実行
する。

■　判定 さて、以上のように角度θ毎に縁部の特徴値及び差分面
積ΔＳを抽出し、これを全周にわたって実行して次の変
形判定項目を得る。

１周内の最大高さ：ＬＩＩｌａｘ １周内の最低高さ：Ｌｍｉｎ 対称位置の高さ偏差 ：　Δｈ　（−Ｌｉ　−Ｌｌ＋１８０　＠）１視野内の
高さ変動：ΔＤ　（−Ｙ−ｄ）差分面積：ΔＳ そして、これらを皿２のロット毎に予め変数メモリー３
５に設定した各項目の限界値と比較し、所定の腹合条件
（ＡＮＤ、ＯＲ条件の組合わせ）に基づき製品の良・不
良を判定する。

（３）検査液塗布ポートＰ３において 回転テーブル１が同ポートＰ３に移動されると、中央処
理装置５からの指令に基づき、押え装置１４が作動して
アーム１４ａにより皿２の中心を回転テーブル１に押え
付け、皿２を固定する。この後、駆動機構部２１．２５
に中央処理装置５から信号が！ｊえられて検査液塗布装
置１５の塗布ローラー１７及び検査液拭き取り装置１６
の拭き取りローラー２３が回転する皿２に接するように
進出する。すると、回転駆動される塗布ローラー１７に
よって浸透性検査液が皿２の全周に塗布され、これはＩ
ｌｌ　２が回転して検査液の塗布部分が拭き取りローラ
ー２４の接触部分に至ったところで拭き取られる。この
場合、＠２にクラックが生じているとすると、イク色さ
れた検査液が拭き取りローラー２４により拭き取られる
前にそのクラック内に浸透するから、クラック部分が着
色状態になる。

このようにして浸透性検査液が皿２の全周にわたり塗布
され、且つ過剰の検査液が拭き取られると、検査液塗布
装置１５及び検査液拭き取り装置１６が退避すると共に
、押え装置１４のアーム１４ａがに昇し、回転テーブル
１は次のクラック検査ポートＰ４に移動される。

（４）クラック検査ポートＰ４において■　カメラ及び
照明装置の移動 回転テーブル１がクラック検査ポートＰ２に移動される
と、送られた皿２の種類（ロット）に応じて照明装置２
８及びカメラ２９が夫々の移動装置３０．３１により移
動される。これは高さ・変形検査ポートＰ２における場
合と同様な理由による。

■　クラック面積の見出・比較 照明装置２８及びカメラ２９が所定位置にセットされる
と、回転テーブル１が回転駆動装置３２により角度θず
つ間欠的に回転される。すると、回転テーブル１が角度
θだけ回転する戊に回転駆動装置３２から中央処理装置
５の画像信号取込み部３３にタイミング信号が出力され
、これに基づき画像信号取込み部３３はカメラ２９から
１視野分の画像信号を取込んでこれを二値化処理回路３
４に与える。二値化処理回路３４では、カメラ２９が撮
影した映像を構成する各画素の明暗信号がＡ／Ｄ変換さ
れて皿２のロット毎に設定されたスライスレベルに応じ
て二値化され、これにより縁部の二値化画像が作成され
る。この場合、クラックは浸透性検査液により着色され
てその映像は暗部としてとらえられるから、クラックが
ある部分の二値化画像は例えば第７図に示すようになる
（同図において斜線を付して示した部分がクラックに対
応する）。この後、二値化処理回路３４からの二値化信
号に基づいて、クラック而積算出手段３６においてクラ
ックに対応する画素数が計数され、これにてクラック面
積が算出される。次いで、比較手段３７にて、算出した
クラック面積と変数メモリー３５に予め皿２のロット毎
に設定された基■値とが比較され、クラック面積が−１
−記基準値を越えるときにはクラック検出信号が出力さ
れる。

■　微分画像の作成・比較 上に述べたクラック面積の算出・比較と同時に、微分手
段３９において次のようにして微分画像が作成される。

まず、画像信号取込み部３３から微分手段３９に１視野
分の画像信号が取込まれると、微分手段３９ではその映
像を構成する画素群のうち例えば映像の横方向に隣接す
る各画素の明暗レベル差を算出し、その明暗レベル差に
応じた明暗信号の画素から構成された映像（微分画像）
を構成する。このようにして作成された微分画像は、次
いで二値化処理回路４０にて各画素の明暗信号がＡ／Ｄ
変換されて皿２のロット毎に変数メモリー３５に設定さ
れたスライスレベルに応じて二値化され、これにより第
８図に示すように二値化された微分画像が作成される。

この画像は、同図に示すようにクラックの輪郭を抽出し
たものとなり、斯かる画像を作成することにより照明装
置２８やカメラ２９の位置或はクラックの大きさによっ
ては上記■に述べたプロセスでは検出しにくいクラック
をより一層明確に検出できるようになる。この後、二値
化処理回路４０からの二値化１８号に基づいて、輪郭線
測定手段４１により輪郭線を構成する画素数が計数され
、これにて輪郭線の大きさが測定される。次いで、測定
された輪郭線の大きさは比較手段４２において、変数メ
モリー３５にｒめ設定された基準値と比較され。その基
準値を越えるときには判定手段３８にやはりクラック検
出信号を出力する。

■　判定 さて、以上のように１視野毎にクラック面積の算出・比
較及び微分画像の作成・比較が行われると、判定手段３
８においてクラック検出信号が与えられたか否かが判断
され、ロット毎に変数メモリー３５に予め設定された判
断条件に従い良・不良が判断される。１視野分の判定に
よって良品と判断された場合でも、次に角度θだけステ
ップ回転した後に再び判定が行われ、結局、皿２の全周
について判定が繰返される。

（５）取出しポートＰ５において 回転テーブル１が取出しポー１−Ｐ、に移動されると、
中央処理装置５からの指令により取出し装置４３の駆動
機構４５が作動し、アーム４４が移動して吸着盤４４ａ
を皿２の中央に押し当ててこれを吸ｒ１する。そして、
その皿２を回転テーブル１から引き上げて径寸法検査、
高さ・変形検査及びクラック検査における判定により不
良品と判断されたものと、良品と判断されたものとを別
々の場所に移動させ、これにて両者を振分ける。

以上述べたように、従来、検査員の目視検査によりクラ
ックの有無を検査していたところ、本実施例によれば皿
２をカメラ２９により撮影してその映像を構成する画素
数に基づきクラックの有無・太き、さ等を判断するよう
にしたから、それらを客観的且つ正確に判別することが
でき、検査ミスが生じたり検査結果がばらついたりする
ことがなくなる。しかも、皿２の表面に浸透性検査液を
塗布した状態でカメラ２９にて撮影するから、クラック
が検査液により明瞭化されて高精度の検査を行うことが
できる。また、本実施例のように浸透性検査液の塗布及
び製品取出しをも自動的に行うようにすれば、クラック
検査の全自動化が可能になり、大幅な検査効率の向」二
を図ることができる。

更に、従来、特殊な検査器具を使用して冊の径寸法や高
さ・変形の検査を行っていたところ、特に本実施例のよ
うに径寸法検査ポートＰｌや高さ・変形ポートＰ２を付
設するようにすれば、クラック検査のみならず、各種の
検査も一連に行うことができて検査効率を飛躍的に向上
させることができるものである。

尚、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、例
えば次のような変形が可能である。

■上記実施例では撮像装置として映像を・１４面的に撮
影する二次元形のカメラ４，１１．２９を使用するよう
にしたが、これに代えて、光電変換素子を直線的に配列
して成る一次元形のカメラにより撮影しても良く、その
場合には皿を微少角度ずつ回転させて全周を走査するよ
うにすればよい。

■回転テーブル１は必ずしも所定角度ずつステップ回転
させるに限らず、例えば等速度にて連続的に回転させて
おき、所定角度回転する度にタイミング信号を画像信号
取込み部３３に与えるようにしてもよい。

■クラック検査ポートＰ４においてカメラ２９により１
１１１２を撮影するに際し、浸透性検査液による石仏状
態を強調するフィルターを用いるようにすれば、クラッ
クの検出をより明瞭に行うことができる。

■径寸法検査ポートＰ１において、皿２の中心を検出す
るに際し、光源３は皿２の下方に位置するように設けて
皿２の陰影を撮影するようにしてもよい。

■径寸法検査ポートＰ１或は取出しポートＰ５において
、皿２を吸着するための吸盤？ａ、４４ａの上ド方向移
動量は、予め皿のロット毎に設定した値に従い決定する
ようにしてもよく、或は吸着盤７ａ、４４ａをアーム７
．４４の先端にばねを介して取付けることにより皿２の
ロット毎に異なる高さ偏差を吸収するようにしてもよい
。

■検査液塗布ポートＰ３において、皿２を回転テーブル
１に固定するためには、必ずしもアーム１４にて押えつ
けずとも、いわゆる真空チャック方式により皿２を回転
テーブル１に固定するようにしてもよい。

■クラック検査の検査対象としては皿に限らず、陶磁器
製品一般に広く適用できることは勿論である。

［発明の効果］ 本発明は以」ユ述べたように、浸透性検査液を塗布した
陶磁器製品を撮像装置により撮影し、画像処理によりク
ラック面積を算出して基準値と比較するところに特徴を
有し、この結果、検査員の視覚に頼ることなくクラック
検査を行うことができるから、正確且つ客観的な検査を
自動的に行うことができるという優れた効果を奏するも
のである。

【図面の簡単な説明】

図面は本発明の一実施例を示し、第１図はクラック検査
ポートにおける検査プロセスを示すブロック図、第２図
は検査ライン全体の概略的！＋’４成を示す斜視図、第
３図は検査液塗布装置を示す側面図、第４図は径寸法検
査を行う際における皿の二値化画像を示す図、第５図は
照明装置とカメラとの位置関係を示す概略的な断面図、
第６図は高さ・変形検査を行う際における皿の縁部の二
値化画像を示す図、第７図はクラック面積を算出する際
におけるクラックの二値化画像を示す図、第８図はクラ
ックの微分画像を二値化処理した画像を示す図である。 図面中、１は回転テーブル、２は皿（陶磁器製品）、２
９はカメラ（撮像装置）、３４は二値化処理回路、３６
はクラック面積算出手段、３７は比較手段である。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １、表面に浸透性検査液が塗布された陶磁器製品を撮影
   してその映像を光電変換する撮像装置と、この撮像装置
   からの画像信号に基づき前記映像を構成する各画素をそ
   の明暗に応じて二値化する二値化処理回路と、この二値
   化処理回路からの二値化信号に基づいて前記陶磁器製品
   のクラックに対応する画素数を計数してクラック面積を
   算出するクラック面積算出手段と、このクラック面積算
   出手段により算出したクラック面積を所定の基準値と比
   較する比較手段とを具備して成る陶磁器製品のクラック
   検査装置。