JPS6324138A - 光ファイバの伝送損失測定装置 - Google Patents
光ファイバの伝送損失測定装置Info
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- JPS6324138A JPS6324138A JP62116011A JP11601187A JPS6324138A JP S6324138 A JPS6324138 A JP S6324138A JP 62116011 A JP62116011 A JP 62116011A JP 11601187 A JP11601187 A JP 11601187A JP S6324138 A JPS6324138 A JP S6324138A
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- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims description 47
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 20
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 15
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 7
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
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- 241000722947 Acanthocybium Species 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、光送信機と出射ファイバ（ｌａｕｎｃｈｉｎ
ｇｆｉｂｅｒ）とを有し、この出射ファイバの光は、該
出射ファイバと同軸に配設された供試ファイバに結合さ
れ、更に供試ファイバより出る光を受ける光受信機も有
する光ファイバの伝送損失測定装置に関するものである
。
ｇｆｉｂｅｒ）とを有し、この出射ファイバの光は、該
出射ファイバと同軸に配設された供試ファイバに結合さ
れ、更に供試ファイバより出る光を受ける光受信機も有
する光ファイバの伝送損失測定装置に関するものである
。
この種の装置は［オプティカル・アンド・クワンタム・
エレクＩ・ロニクス（Ｏｐｔｉｃａｌ ａｎｄ Ｑｕａ
ｎｔｕｍＥｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓ） １０号（１９７８
年）の２５３〜２６５頁より既知である。ここではＬＥ
Ｄが光源として用いられている。この既知の装置は、光
源のビームを供試ファイバ（以下テストファイバと云う
）にできる限り正確に心合せするために複雑な調整を必
要とする光学装置を有する。
エレクＩ・ロニクス（Ｏｐｔｉｃａｌ ａｎｄ Ｑｕａ
ｎｔｕｍＥｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓ） １０号（１９７８
年）の２５３〜２６５頁より既知である。ここではＬＥ
Ｄが光源として用いられている。この既知の装置は、光
源のビームを供試ファイバ（以下テストファイバと云う
）にできる限り正確に心合せするために複雑な調整を必
要とする光学装置を有する。
コネクタで得られる光ファイバの接続部は遷移損失は一
定でない。２つのファイバの軸方向心合せの幾何学上の
公差から生じる遷移損失はかなり変動する。したがって
、既知の光学装置がコネクタで代えられると、損失の測
定値は再現性がない。
定でない。２つのファイバの軸方向心合せの幾何学上の
公差から生じる遷移損失はかなり変動する。したがって
、既知の光学装置がコネクタで代えられると、損失の測
定値は再現性がない。
本発明の目的は、損失測定の正確さおよび再現性を改良
することにある。
することにある。
この目的は、ビーム拡張素子（ｂｅａｍ ｅｘｐａｎｓ
ｉｏｎｅｌｅｍｅｎｔ）を出射ファイバの出口面とテス
トファイバの入口面との間に配設することによって達成
することができる。
ｉｏｎｅｌｅｍｅｎｔ）を出射ファイバの出口面とテス
トファイバの入口面との間に配設することによって達成
することができる。
出射ファイバより出る光がビーム拡張素子を経て、同軸
に心合せされたテストファイバと結合されると、公差に
よる心狂いがあっても著しく低減された無視し得る影響
しかない。たとえこの場合減少された光エネルギがテス
トファイバと結合しても、残りの受信された光の量は、
例えばＬＥＤが光源として用いられた場合、通常の光検
出器例えばフォトダイオードを用いた光検出器によって
適当な測定信号を形成するのに十分である。
に心合せされたテストファイバと結合されると、公差に
よる心狂いがあっても著しく低減された無視し得る影響
しかない。たとえこの場合減少された光エネルギがテス
トファイバと結合しても、残りの受信された光の量は、
例えばＬＥＤが光源として用いられた場合、通常の光検
出器例えばフォトダイオードを用いた光検出器によって
適当な測定信号を形成するのに十分である。
本発明の装置を用いると、第１の測定の後切断によって
短かくしたテストファイバの端で第２（参照）測定を行
わねばならない所謂カットバック（ｃｕｔｂａｃｋ）法
によってのみしかこれまで得られなかった正確さで測定
結果が得られる。空間的結合の入射公差と実質的に無関
係に、テストファイバと結合された光エネルギは著しく
正確に所定値に対応することが確実に想定されるので、
本発明ではこの方法は無くてすむ。実際に変動は０．１
ｄＢ以下であった。
短かくしたテストファイバの端で第２（参照）測定を行
わねばならない所謂カットバック（ｃｕｔｂａｃｋ）法
によってのみしかこれまで得られなかった正確さで測定
結果が得られる。空間的結合の入射公差と実質的に無関
係に、テストファイバと結合された光エネルギは著しく
正確に所定値に対応することが確実に想定されるので、
本発明ではこの方法は無くてすむ。実際に変動は０．１
ｄＢ以下であった。
ビーム拡張は、出射ファイバの出口面とテストファイバ
の入口面の間が１００μｍ以上離れていると特に簡単に
実現される。このような解決は、光ファイバで伝送され
る光がこの光ファイバを出た後均等な媒体例えば空気に
入るとＩ直ちに拡がるという事実を利用したものである
。
の入口面の間が１００μｍ以上離れていると特に簡単に
実現される。このような解決は、光ファイバで伝送され
る光がこの光ファイバを出た後均等な媒体例えば空気に
入るとＩ直ちに拡がるという事実を利用したものである
。
５００〜６００μｍの距離が特に好ましいことがわかっ
た。この場合、達成可能な正確さとテストファイバの残
った光の強さの間に適当な妥協が得られる。
た。この場合、達成可能な正確さとテストファイバの残
った光の強さの間に適当な妥協が得られる。
云う迄もなく、新たな各測定に対して選択された距離を
正確に調整することが必要である。これは、テストファ
イバの入口面を装置の基準面に対して心合せ可能にする
ことによって行うのが有利である。本発明の好ましい実
施例では、装置の基準面はコネクタ部分で形成される。
正確に調整することが必要である。これは、テストファ
イバの入口面を装置の基準面に対して心合せ可能にする
ことによって行うのが有利である。本発明の好ましい実
施例では、装置の基準面はコネクタ部分で形成される。
光送信機はインコヒーレント光源特にＬＥＤで形成され
、そのビームは、光検出器への光路内に配設された狭帯
域光フィルタ特に帯域または干渉フィルタを経て通され
るのが好ましい。ＬＥＤの光伝送エネルギは安定化さる
べきである。これは簡単な方法で行うことができ、この
ため、温度変化または長期ドリフトの場合でも、伝送さ
れる波長または光エネルギに変動が生じない。
、そのビームは、光検出器への光路内に配設された狭帯
域光フィルタ特に帯域または干渉フィルタを経て通され
るのが好ましい。ＬＥＤの光伝送エネルギは安定化さる
べきである。これは簡単な方法で行うことができ、この
ため、温度変化または長期ドリフトの場合でも、伝送さ
れる波長または光エネルギに変動が生じない。
インコヒーレントな光源が好ましい、というのは、この
場合反射、モードノイズおよび扁先に基（ノイズ効果が
レーザの場合のように測定結果を変造することがないか
らである。受動波長選択素子を用いると、単一の波長お
よび狭帯域での測定が可能である。この素子はＬＥＤの
直ぐ後に配設することができるが代りに光検出器の前方
の他の任意の位置に配設してもよい。
場合反射、モードノイズおよび扁先に基（ノイズ効果が
レーザの場合のように測定結果を変造することがないか
らである。受動波長選択素子を用いると、単一の波長お
よび狭帯域での測定が可能である。この素子はＬＥＤの
直ぐ後に配設することができるが代りに光検出器の前方
の他の任意の位置に配設してもよい。
極めて狭い帯域を有する光源が利用可能なので、損失は
、正確に規定された波長で測定することができる。した
がって、広い帯域を用いる測定にくらべて、所定の波長
範囲に亘って平均された損失が得られるということがな
い。波長範囲に関しては、この場合掻く近接した異なる
波長でテストファイバに数多くの測定を行うことができ
るので、損失の波長依存性を知ることができる。
、正確に規定された波長で測定することができる。した
がって、広い帯域を用いる測定にくらべて、所定の波長
範囲に亘って平均された損失が得られるということがな
い。波長範囲に関しては、この場合掻く近接した異なる
波長でテストファイバに数多くの測定を行うことができ
るので、損失の波長依存性を知ることができる。
普通は、最大損失（最悪の場合）は関係の仕様によりフ
ァイバに許される最も短かい波長に対して生じる。特に
中心波長が指定値より３ｎｍ以下の偏差である特に正確
な狭帯域フィルタを用いると、実際に極めて重要なこの
損失値を測定することも可能である。
ァイバに許される最も短かい波長に対して生じる。特に
中心波長が指定値より３ｎｍ以下の偏差である特に正確
な狭帯域フィルタを用いると、実際に極めて重要なこの
損失値を測定することも可能である。
テストファイバの結合の正確さは本発明の装置ではさ程
決定的ではない。このことは、出射ファイバとテストフ
ァイバの同軸心合せおよびその軸方向距離の両方に当嵌
る。
決定的ではない。このことは、出射ファイバとテストフ
ァイバの同軸心合せおよびその軸方向距離の両方に当嵌
る。
総括すると、本発明は、複雑でなく作動させることので
きる簡単で正確な測定装置を供するものである。
きる簡単で正確な測定装置を供するものである。
以下本発明を添付の図面を参照して実施例によって更に
詳しく説明する。
詳しく説明する。
図面はテストファイバの伝送損失を測定する本発明の装
置の腫瘍構成部分の相対位置を示す。
置の腫瘍構成部分の相対位置を示す。
テストファイバ８の伝送損失測定装置は、送信機７と通
常はフォトダイオード１０および電気表示素子１１より
成る受信機９とより成り、この電気表示素子の表示は、
テストファイバ８より出てフォトダイオード１０に入射
する光の強さに左右される。
常はフォトダイオード１０および電気表示素子１１より
成る受信機９とより成り、この電気表示素子の表示は、
テストファイバ８より出てフォトダイオード１０に入射
する光の強さに左右される。
送信機７内にはＬＥＤ２がインコヒーレント光源として
配設され、この光源は、伝送光１４の強さおよび／また
はスペクトルの中心波長が一定の所定値を有するように
、電源回路１を経て制御される。フィルタ素子３は、Ｌ
ＥＤ２の比較的広い波長スペクトルの特に中心範囲の１
つの波長だけを通す。光帯域フィルタまたは干渉フィル
タがこの点で極めて通している。
配設され、この光源は、伝送光１４の強さおよび／また
はスペクトルの中心波長が一定の所定値を有するように
、電源回路１を経て制御される。フィルタ素子３は、Ｌ
ＥＤ２の比較的広い波長スペクトルの特に中心範囲の１
つの波長だけを通す。光帯域フィルタまたは干渉フィル
タがこの点で極めて通している。
テストファイバ８の入口面１３は、この入口面の領域で
ビーム断面積が（破線で示したように）値６に拡げられ
るように、出射ファイバ４の出口面１２より５００から
６００μｍの距離に位置される。
ビーム断面積が（破線で示したように）値６に拡げられ
るように、出射ファイバ４の出口面１２より５００から
６００μｍの距離に位置される。
出射ファイバ４とテストファイバ８の心狂い並びにそれ
等の面１２と１３の間の距離のずれは、それがたとえ数
μｍ台の場合でさえも、表示素子の表示に目につく程の
影響を与えない。テストファイバに加えられる光の強さ
のレベルは常にＬＥＤ２の既知の光の強さの一定部分に
なるので、送信機７が一端較正されると、テトスファイ
バの入力レベルは常に既知である。したがって、テスト
ファイバ８の伝送損失を測定するためには、テストファ
イバ８のカットバック部分についての比較測定なしに、
単一の測定で十分である。
等の面１２と１３の間の距離のずれは、それがたとえ数
μｍ台の場合でさえも、表示素子の表示に目につく程の
影響を与えない。テストファイバに加えられる光の強さ
のレベルは常にＬＥＤ２の既知の光の強さの一定部分に
なるので、送信機７が一端較正されると、テトスファイ
バの入力レベルは常に既知である。したがって、テスト
ファイバ８の伝送損失を測定するためには、テストファ
イバ８のカットバック部分についての比較測定なしに、
単一の測定で十分である。
面１２と１３の間のスペースは空気で満たすのが好まし
いが、代りにこのスペースを別の均質な透明媒体で満た
すこともできる。
いが、代りにこのスペースを別の均質な透明媒体で満た
すこともできる。
より速い拡がりがこの場合短い通路に望まれる時には、
特別な公知の拡張素子特にデフォーカス屈折率分布形レ
ンズ（ｄｅｆｏｃｕｓｉｎｇ ｇｒａｄｉｅｎｔ Ｉｅ
ｎｓｅ）を面１２と１３の間に配設することができる。
特別な公知の拡張素子特にデフォーカス屈折率分布形レ
ンズ（ｄｅｆｏｃｕｓｉｎｇ ｇｒａｄｉｅｎｔ Ｉｅ
ｎｓｅ）を面１２と１３の間に配設することができる。
図面は本発明を説明するための装置の路線図である。
１・−電＃（２−・ＬＥＤ
３−・−フィルタ素子 ４・−・出射ファイバ７・
・−送信機 ８−・テストファイバ９−受信
機 １０・−・フォトダイオード１１−・・
電気表示素子 １２・・−出口面工３−・−人口面 特 許 出 願 人 エヌ・ベー・フィリップス・
フルーイランペンファブリケン 手 続 補 正 書（方式） 昭和６２年 ８月 ７日 特許庁長官 小 川 邦 夫 殿１
、事件の表示 昭和６２年特許願第１１６０１１号 ２、発明の名称 光ファイバの伝送損失測定装置 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 名称 ニス・べ−・フィリツプス・フルーイランペ
ンファブリケン ４、代理人 ６、補正の対象 明細書の「開面の筒車な説明」の欄、 図 面１、明細
書第９頁第１６行の「図面」を「第１図」に訂正する。 ２、図面第１図を提出する（内容に変更なし）。
・−送信機 ８−・テストファイバ９−受信
機 １０・−・フォトダイオード１１−・・
電気表示素子 １２・・−出口面工３−・−人口面 特 許 出 願 人 エヌ・ベー・フィリップス・
フルーイランペンファブリケン 手 続 補 正 書（方式） 昭和６２年 ８月 ７日 特許庁長官 小 川 邦 夫 殿１
、事件の表示 昭和６２年特許願第１１６０１１号 ２、発明の名称 光ファイバの伝送損失測定装置 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 名称 ニス・べ−・フィリツプス・フルーイランペ
ンファブリケン ４、代理人 ６、補正の対象 明細書の「開面の筒車な説明」の欄、 図 面１、明細
書第９頁第１６行の「図面」を「第１図」に訂正する。 ２、図面第１図を提出する（内容に変更なし）。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、光送信機と出射ファイバとを有し、この出射ファイ
バの光は、該出射ファイバと同軸に配設された供試ファ
イバに結合され、更に供試ファイバより出る光を受ける
光受信機も有する光ファイバの伝送損失測定装置におい
て、ビーム拡張素子が出射ファイバの出口面と供試ファ
イバの入口面と間に配設されたことを特徴とする光ファ
イバの伝送損失測定装置。 ２、出射ファイバの出口面と供試ファイバの入口面とは
１００μｍ以上離された特許請求の範囲第１項記載の装
置。 ３、距離は５００から６００μｍである特許請求の範囲
第２項記載の装置。 ４、供試ファイバの入口面が装置の基準面に対して心合
させれた特許請求の範囲第３項記載の装置。 ５、装置の基準面はコネクタ部分で形成された特許請求
の範囲第４項記載の装置。 ６、光送信機はインコヒーレント光源特にＬＥＤで形成
され、そのビームは、光検出器への光路内に配設された
狭帯域光フィルタ特に光帯域または干渉フィルタを経て
通される特許請求の範囲第１項乃至第５項の何れか１項
記載の装置。 ７、ＬＥＤの光送信エネルギは安定化された特許請求の
範囲第６項記載の装置。 ８、光源で放出されたスペクトルの中心波長は安定化さ
れた特許請求の範囲第６項または第７項記載の装置。 ９、フィルタの中心波長の指定値よりの偏差は＋または
−３ｎｍ以下である特許請求の範囲第１項乃至第８項の
何れか１項記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19863616841 DE3616841A1 (de) | 1986-05-17 | 1986-05-17 | Vorrichtung zur messung der durchgangsdaempfung eines lichtwellenleiters |
| DE3616841.6 | 1986-05-17 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6324138A true JPS6324138A (ja) | 1988-02-01 |
Family
ID=6301170
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62116011A Pending JPS6324138A (ja) | 1986-05-17 | 1987-05-14 | 光ファイバの伝送損失測定装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0246691B1 (ja) |
| JP (1) | JPS6324138A (ja) |
| DE (2) | DE3616841A1 (ja) |
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| DE4430512C2 (de) * | 1994-08-27 | 2000-06-29 | Bosch Gmbh Robert | Vorrichtung zum Beschalten einer verstärkenden Faser |
| DE19645542A1 (de) * | 1996-11-05 | 1998-05-07 | Lucent Tech Network Sys Gmbh | Optisches Signalübertragungssystem |
| DE10144339B4 (de) * | 2001-09-10 | 2017-07-27 | Lisa Dräxlmaier GmbH | Prüfeinrichtung zum Bestimmen der Dämpfung eines zu prüfenden Lichtwellenleiters |
| DE10322188B4 (de) * | 2003-05-16 | 2008-08-21 | Lisa Dräxlmaier GmbH | Lichtleistungsregelvorrichtung mit Modenmischer |
| DE102005060460B4 (de) * | 2005-12-17 | 2012-10-18 | Schäfer Werkzeug- und Sondermaschinenbau GmbH | Verfahren zur Kontrolle von Lichtwellenleitern |
| DE202013103148U1 (de) | 2013-07-15 | 2014-10-16 | Walo - Tl Gmbh | Vorrichtung zur Prüfung einer optischen Faser |
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| JPS5855969A (ja) * | 1981-09-29 | 1983-04-02 | 東芝ライテック株式会社 | 表示装置 |
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| JPS6132948B2 (ja) * | 1982-11-11 | 1986-07-30 | Besuto Kogyo Kk |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US4556314A (en) * | 1983-08-31 | 1985-12-03 | At&T Bell Laboratories | Dispersion determining method and apparatus |
| JPS60142228A (ja) * | 1983-12-29 | 1985-07-27 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光フアイバの特性測定方法 |
-
1986
- 1986-05-17 DE DE19863616841 patent/DE3616841A1/de not_active Withdrawn
-
1987
- 1987-05-11 EP EP87200853A patent/EP0246691B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1987-05-11 DE DE8787200853T patent/DE3781022D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1987-05-14 JP JP62116011A patent/JPS6324138A/ja active Pending
Patent Citations (6)
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| JPS60127443A (ja) * | 1983-10-25 | 1985-07-08 | レイケム・コ−ポレイシヨン | 光フアイバスプライスにおける減衰を求める方法および装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0246691A3 (en) | 1989-09-06 |
| DE3616841A1 (de) | 1987-11-19 |
| EP0246691A2 (de) | 1987-11-25 |
| DE3781022D1 (de) | 1992-09-17 |
| EP0246691B1 (de) | 1992-08-12 |
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