JPS63241348A - 金属材料の劣化検査方法 - Google Patents
金属材料の劣化検査方法Info
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- JPS63241348A JPS63241348A JP62074099A JP7409987A JPS63241348A JP S63241348 A JPS63241348 A JP S63241348A JP 62074099 A JP62074099 A JP 62074099A JP 7409987 A JP7409987 A JP 7409987A JP S63241348 A JPS63241348 A JP S63241348A
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、金属材料の劣化検査方法に係り、特に、化学
プラント及び原子カプラントの高温環境下で使用されて
いる含フェライト系ステンレス鋼等の金属材料実機部材
の高温時効脆化損傷の検知に好適な測定に関する。
プラント及び原子カプラントの高温環境下で使用されて
いる含フェライト系ステンレス鋼等の金属材料実機部材
の高温時効脆化損傷の検知に好適な測定に関する。
従来の脆化測定方法の例としては、特開昭54−619
81号に記載のような方法がある。ここには、オーステ
ナイト系ステンレス鋼溶接金属の脆化の有無を初期のδ
フエライト量が5%以上減少したことで判定するとしで
ある。
81号に記載のような方法がある。ここには、オーステ
ナイト系ステンレス鋼溶接金属の脆化の有無を初期のδ
フエライト量が5%以上減少したことで判定するとしで
ある。
高温で使用される金属材料の内で、特に含フェライトス
テンレス鋼を例にとれば、−高温長時間の使用により時
効脆化を起こすことがすでに知られている。これは、お
よそ600℃以上の比較的高温においてはσ相の析出に
起因するσ相脆化が生じ、また、400℃〜500”C
の範囲においては。
テンレス鋼を例にとれば、−高温長時間の使用により時
効脆化を起こすことがすでに知られている。これは、お
よそ600℃以上の比較的高温においてはσ相の析出に
起因するσ相脆化が生じ、また、400℃〜500”C
の範囲においては。
いわゆる475℃脆性が生じることによる。しかし、4
75℃脆性は、400℃以下の温度範囲においても長時
間使用中に生じうる可能性があり、含フェライトステン
レス鋼実機部材の高温での使用には十分の配慮が必要で
ある。
75℃脆性は、400℃以下の温度範囲においても長時
間使用中に生じうる可能性があり、含フェライトステン
レス鋼実機部材の高温での使用には十分の配慮が必要で
ある。
しかしながら上記従来技術は、500”C以下の脆化に
ついては配慮されておらず、475℃脆性の程度を検出
できなかった。
ついては配慮されておらず、475℃脆性の程度を検出
できなかった。
また、実機溶接部の初期フェライト量は溶接位置で異な
り、ばらつきも大きい。さらに実機では溶接箇所が膨大
であるため、全部の溶接部のフェライト量を監視するこ
とは困難である。したがって、初期フェライト量の不明
な箇所には、従来技術は適用できないという問題があっ
た。
り、ばらつきも大きい。さらに実機では溶接箇所が膨大
であるため、全部の溶接部のフェライト量を監視するこ
とは困難である。したがって、初期フェライト量の不明
な箇所には、従来技術は適用できないという問題があっ
た。
一方、渦電流測定法(Eddy Current Te
stMethod、以下ECTという)の例としては、
特開昭55−141653号「強析出硬化型鉄基合金の
劣化状態判定方法」がある。この従来例は、鉄基合金の
劣化状態を、初測定材のECT値と、使用前の被測定材
またはそれと同種材質の材料を被測定材の初期熱処理と
同様の熱処理を施したものをECT値を比較し、その値
が正か負かによって判定する方法を示している。
stMethod、以下ECTという)の例としては、
特開昭55−141653号「強析出硬化型鉄基合金の
劣化状態判定方法」がある。この従来例は、鉄基合金の
劣化状態を、初測定材のECT値と、使用前の被測定材
またはそれと同種材質の材料を被測定材の初期熱処理と
同様の熱処理を施したものをECT値を比較し、その値
が正か負かによって判定する方法を示している。
しかしながら、正負によって判定するのみであるから、
定量的な測定ができなかった。
定量的な測定ができなかった。
本発明の目的は、高温環境下で使用する含フェライト系
ステンレス鋼などの金属材料実機部材の脆化の程度を非
破壊的にかつ精度よく検知できる方法を提供することに
ある。
ステンレス鋼などの金属材料実機部材の脆化の程度を非
破壊的にかつ精度よく検知できる方法を提供することに
ある。
金属材料の電気的な特性は、高温で長時間使用に伴って
変化することに着目し、交流ブリッジを用いて、基準に
対する被測定体の不平衡電圧の絶対値と位相角並びに金
属材料のかたさ、組織などの機械的性質の変化を比較し
て金属材料の脆化の程度を決定する金属材料の劣化検査
方法を提案するものである。
変化することに着目し、交流ブリッジを用いて、基準に
対する被測定体の不平衡電圧の絶対値と位相角並びに金
属材料のかたさ、組織などの機械的性質の変化を比較し
て金属材料の脆化の程度を決定する金属材料の劣化検査
方法を提案するものである。
具体的には、3つの測定方法を提案している。
まず、第1の方法においては、基準に対する劣化材の交
流ブリッジの不平衡電圧を測定し、この不平tM雷電圧
り劣化材の初期状態における不平衡電圧を推定する。こ
の劣化材の初期推定不平衡電圧と測定不平tM電圧との
変化量から金属材料の劣化の程度を算出する。なお、測
定周波数を変えて同様に評価を行うことで劣化の程度の
確実精度は向上させる。
流ブリッジの不平衡電圧を測定し、この不平tM雷電圧
り劣化材の初期状態における不平衡電圧を推定する。こ
の劣化材の初期推定不平衡電圧と測定不平tM電圧との
変化量から金属材料の劣化の程度を算出する。なお、測
定周波数を変えて同様に評価を行うことで劣化の程度の
確実精度は向上させる。
一方、第2の方法においては、劣化した材料の表面の−
・部にエツチングなどの処理を施こしてレプリカ法等で
組織の情報を採り、劣化材の初期の状態における不平衡
電圧を推定する。この初期推定不平衡電圧と劣化材の不
平衡電圧との変化量から金属材料の劣化の程度を算出す
る。
・部にエツチングなどの処理を施こしてレプリカ法等で
組織の情報を採り、劣化材の初期の状態における不平衡
電圧を推定する。この初期推定不平衡電圧と劣化材の不
平衡電圧との変化量から金属材料の劣化の程度を算出す
る。
さらに、第3の方法においては、劣化材の硬さ等の値と
不平衡電圧を測定し、この2つ以上のパラメータとの関
係から劣化材の脆化の程度を評価する。
不平衡電圧を測定し、この2つ以上のパラメータとの関
係から劣化材の脆化の程度を評価する。
いずれの方法においても、劣化材の判定結果は定量的と
なる。
なる。
金属材料は、高温環境中で長時間使用すると、内部組織
に変化を生じ、強度が低下する。これに伴い、金属材料
の電気抵抗率ρや透磁率μなどの電気的特性及び硬さや
金属組織などの機械的性質も変化することがわかる。例
えば、含フェライト系ステンレス鋼などの高温加熱によ
る脆化について種々検討した結果、脆化の程度とECT
の不平衡電圧の間に一定の相関々係のあることから、こ
の関係を利用して、含フェライト系ステンレス鋼等の金
属材料の脆化度を、特に、劣化材の不平衡電圧の絶対値
及び位相角の値、レプリカ法等による金属組織の情報あ
るいは硬さ等の測定結果から、劣化材の初期状態を推定
することによって、脆化の進行程度を精度良く検知する
ことができる。
に変化を生じ、強度が低下する。これに伴い、金属材料
の電気抵抗率ρや透磁率μなどの電気的特性及び硬さや
金属組織などの機械的性質も変化することがわかる。例
えば、含フェライト系ステンレス鋼などの高温加熱によ
る脆化について種々検討した結果、脆化の程度とECT
の不平衡電圧の間に一定の相関々係のあることから、こ
の関係を利用して、含フェライト系ステンレス鋼等の金
属材料の脆化度を、特に、劣化材の不平衡電圧の絶対値
及び位相角の値、レプリカ法等による金属組織の情報あ
るいは硬さ等の測定結果から、劣化材の初期状態を推定
することによって、脆化の進行程度を精度良く検知する
ことができる。
次に、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第1図は、本発明による金属材料の劣化検査方法を実施
するためのシステム構成の一例を示す図である。図にお
いて、1は原子カプラント等に用いられる配管であり、
被測定体である。また、2A、2Bは探触子コイル、3
はその走査駆動装置、4は走査駆動制御装置、5は渦電
流探偏器、6はコンピュータ、7は外部記憶装置、8は
外部記録装置、100はデータ処理装置、200は金属
の内部組織a蒸装置、210は硬さ計測装置である。被
測定体1の表面には探触子コイル2Aを配置してあり、
基準となる試験片11の表面には探触子コイル2Bを配
置しである。
するためのシステム構成の一例を示す図である。図にお
いて、1は原子カプラント等に用いられる配管であり、
被測定体である。また、2A、2Bは探触子コイル、3
はその走査駆動装置、4は走査駆動制御装置、5は渦電
流探偏器、6はコンピュータ、7は外部記憶装置、8は
外部記録装置、100はデータ処理装置、200は金属
の内部組織a蒸装置、210は硬さ計測装置である。被
測定体1の表面には探触子コイル2Aを配置してあり、
基準となる試験片11の表面には探触子コイル2Bを配
置しである。
走査駆動装置3の詳細を第2図に示す。
被測定体であるパイプ1の外周には、移動用リング30
があり、移動リング30には120°間隔で駆動車輪4
1.補助車軸36.連結シャフト40、モータ36.ベ
ルト35及びギャップセンサ39からなる駆動機構が設
けである。駆動車輪41はベルト35を介してエンコー
ダ付ステッピングモータ36で駆動される。また、駆動
車輪41は連結シャフト4oに固定してあり、外周リン
グ30に取り付けである。連結シャフト4oの他方には
補助車軸34が設けてあり、駆動車輪41と補助車軸3
4は、連結シャフト40の弾性変形の範囲でパイプ1に
適当な力で押し付けられている。外周リング30の姿勢
制御は、3つのギャップセンサ39を連結シャフト40
の真上に配置して外周リング30のねじれの状態を検出
、補正することで行う。外周リング30には、固定棒3
1で固定リング32が取り付けてあり、固定リング32
の内側には固定リング32に接して回転する回転リング
33が設けである。回転リング33の内面はラック構造
で、ピニオンギア38を持つモータ37で回転する。回
転リング33には。
があり、移動リング30には120°間隔で駆動車輪4
1.補助車軸36.連結シャフト40、モータ36.ベ
ルト35及びギャップセンサ39からなる駆動機構が設
けである。駆動車輪41はベルト35を介してエンコー
ダ付ステッピングモータ36で駆動される。また、駆動
車輪41は連結シャフト4oに固定してあり、外周リン
グ30に取り付けである。連結シャフト4oの他方には
補助車軸34が設けてあり、駆動車輪41と補助車軸3
4は、連結シャフト40の弾性変形の範囲でパイプ1に
適当な力で押し付けられている。外周リング30の姿勢
制御は、3つのギャップセンサ39を連結シャフト40
の真上に配置して外周リング30のねじれの状態を検出
、補正することで行う。外周リング30には、固定棒3
1で固定リング32が取り付けてあり、固定リング32
の内側には固定リング32に接して回転する回転リング
33が設けである。回転リング33の内面はラック構造
で、ピニオンギア38を持つモータ37で回転する。回
転リング33には。
コイル2Aを設けたシリンダ2oと硬さを計測する硬さ
計210と表面を研摩する研摩装置121゜エツチング
処理装置140からなる表面処理装置と光源201.ズ
ーム機能を有するビデオカメラ202からなる表面i蒸
装置が取り付けである。
計210と表面を研摩する研摩装置121゜エツチング
処理装置140からなる表面処理装置と光源201.ズ
ーム機能を有するビデオカメラ202からなる表面i蒸
装置が取り付けである。
これらがパイプ表面上を移動可能な機構となっている。
コイル2人を上下させるシリンダ部20の詳細を第3図
に示す。探触子コイル2Aは、ボールねじ機構22を介
してモータ23により被測定体1に押し付けられる。こ
の押し付は力は、ロードセル21で検出する。また、コ
イルの上下移動量は、ギャップセンサ24で検出する。
に示す。探触子コイル2Aは、ボールねじ機構22を介
してモータ23により被測定体1に押し付けられる。こ
の押し付は力は、ロードセル21で検出する。また、コ
イルの上下移動量は、ギャップセンサ24で検出する。
探触コイルは、回転リング33により、周方向の移動が
でき、外周リング3oの軸方向の移動できる。
でき、外周リング3oの軸方向の移動できる。
研摩装置121の詳細を第4図に示す。回転研摩ヘッド
126は連結レバー122を介してモータ123で回転
する。連結レバー122は、直交方向に駆動するシリン
ダ124で動作し、被測定体1表面に押し付けられ、表
面を研摩できる。研摩装置121は、回転リング33に
より周方向の移動ができる。
126は連結レバー122を介してモータ123で回転
する。連結レバー122は、直交方向に駆動するシリン
ダ124で動作し、被測定体1表面に押し付けられ、表
面を研摩できる。研摩装置121は、回転リング33に
より周方向の移動ができる。
エツチング装置140の詳細を第5図に示す。
被測定体1の表面をエツチング処理するためのセル14
3には、被測定体1と接する端にはゴム状の物質142
を設け、セル143の密閉を図っている。セル143は
ロードセル147付のシリンダ145で一定圧力で押し
付けられる。セル143には、エツチング液150と中
和液151が切り換えバルブ149で選択され、ポンプ
148で供給される。シリンダ145は回転リング33
に固定され、周方向の移動ができる。
3には、被測定体1と接する端にはゴム状の物質142
を設け、セル143の密閉を図っている。セル143は
ロードセル147付のシリンダ145で一定圧力で押し
付けられる。セル143には、エツチング液150と中
和液151が切り換えバルブ149で選択され、ポンプ
148で供給される。シリンダ145は回転リング33
に固定され、周方向の移動ができる。
組織iI!祭装@200の詳細を第6図に示す。組織観
察装置200は、光源201と拡大鏡203を有するビ
デオカメラ202とこれらを回転リング33に固定する
治具204からなる。回転リング33により周方向の移
動が可能である。
察装置200は、光源201と拡大鏡203を有するビ
デオカメラ202とこれらを回転リング33に固定する
治具204からなる。回転リング33により周方向の移
動が可能である。
硬さ計測装置210の詳細を第7図に示す。圧子211
はロードセル212を有するシャフト214の先端に設
けである。シャフト214はボールねじ機構213でモ
ータ215で上下する。
はロードセル212を有するシャフト214の先端に設
けである。シャフト214はボールねじ機構213でモ
ータ215で上下する。
圧子211の変位はギャップセンサ216で測定できる
。硬さ計測装[210は、回転リングに固定され2周方
向の移動が可能である。
。硬さ計測装[210は、回転リングに固定され2周方
向の移動が可能である。
被測定体1の表面には、探触子コイル2Aを配置してあ
り、基準とする試験片11の表面には、探触子コイル2
Bを配置しである。
り、基準とする試験片11の表面には、探触子コイル2
Bを配置しである。
走査l5lix動装置3のモータ及びその他部動部と信
号系は、走査駆動制御装置4に接続されており、制御を
受ける。
号系は、走査駆動制御装置4に接続されており、制御を
受ける。
2個の探触子コイルは、コイル形状は直径3++m巻数
70ターンのものを絶縁性樹脂の中に埋め込み、同じ特
性を持つ。これらの探触子コイルは、交流ブリッジ回路
を持つ渦電流探傷器5に接続され、等価的に第24図に
示す回路を形成している。
70ターンのものを絶縁性樹脂の中に埋め込み、同じ特
性を持つ。これらの探触子コイルは、交流ブリッジ回路
を持つ渦電流探傷器5に接続され、等価的に第24図に
示す回路を形成している。
渦電流探傷器5は、周波数範囲り、C,〜5MHzで自
動平衡機能を有している。ここで、測定した不平衡電圧
の絶対値と位相角は、デジタル信号に変換され、コンピ
ュータ6に取り込まれる。
動平衡機能を有している。ここで、測定した不平衡電圧
の絶対値と位相角は、デジタル信号に変換され、コンピ
ュータ6に取り込まれる。
コンピュータ6は、インターフェイスを介して、駆動制
御装置4.渦電流探傷器5.外部記憶装置7、外部記録
装置8を制御する。ここでは、コンピュータ6に16ビ
ツトCPUを用い、外部記憶装置7としてフロッピーデ
ィスクをパラレルインターフェイスで接続しである。ま
た、駆動制御装置4とは、ペリファリ・インターフェイ
ス・アダプタ(P’IA)を介して、一方、渦電流探傷
器5とはGP−IBインターフェイスを介して、データ
をやりとりするようになっている。
御装置4.渦電流探傷器5.外部記憶装置7、外部記録
装置8を制御する。ここでは、コンピュータ6に16ビ
ツトCPUを用い、外部記憶装置7としてフロッピーデ
ィスクをパラレルインターフェイスで接続しである。ま
た、駆動制御装置4とは、ペリファリ・インターフェイ
ス・アダプタ(P’IA)を介して、一方、渦電流探傷
器5とはGP−IBインターフェイスを介して、データ
をやりとりするようになっている。
また、研摩装置121.エツチング処理装置140は、
駆動制御装置4で制御され、金属組織の観察結果及び硬
さ等のデータは、データ処理装置100で処理され、コ
ンピュータ6に取り込まれる。
駆動制御装置4で制御され、金属組織の観察結果及び硬
さ等のデータは、データ処理装置100で処理され、コ
ンピュータ6に取り込まれる。
さて、上記の如く構成したシステムにおいて、本発明の
測定方法を実行するメインルーチンを、第8図のフロー
チャートにより説明する。
測定方法を実行するメインルーチンを、第8図のフロー
チャートにより説明する。
まず、駆動装置3を原子炉の配管等の被測定体1の表面
に配置し、駆動装置:3を測定系の原点にセットする。
に配置し、駆動装置:3を測定系の原点にセットする。
そこでコンピュータ6から時効劣化の検査範囲と後述の
測定方法とを選択して入力する。測定開始とともに、駆
動装置3は測定開始点に移動し、入力された測定方法に
従って渦電流を測定し、3つの評価のうち1つを実施す
る。測定終了後、駆動装置3は次の測定位置に移動する
。
測定方法とを選択して入力する。測定開始とともに、駆
動装置3は測定開始点に移動し、入力された測定方法に
従って渦電流を測定し、3つの評価のうち1つを実施す
る。測定終了後、駆動装置3は次の測定位置に移動する
。
同様に検査を繰り返し、駆動装置3が最終位置に達する
まで続ける。測定中のデータは、フロッピーディスク7
に記憶される。測定終了後、測定データはフロッピーデ
ィスク7からコンピュータ6に再び取り込まれる。この
データは、先に指定された測定方法に対応じてデータ処
理方法で処理され1時効脆化の判定材料となる。その結
果は外部記録装置8に出力され、あるいはコンピュータ
のCRTに表示される。
まで続ける。測定中のデータは、フロッピーディスク7
に記憶される。測定終了後、測定データはフロッピーデ
ィスク7からコンピュータ6に再び取り込まれる。この
データは、先に指定された測定方法に対応じてデータ処
理方法で処理され1時効脆化の判定材料となる。その結
果は外部記録装置8に出力され、あるいはコンピュータ
のCRTに表示される。
第9図は、ECTのデータ収集段階を示すフローチャー
トであり、第8図のステップ0内を詳細に表わしている
。ここではまず、周波数Jを決定する。次に、任意の基
準試験片11に探触子コイル2Bを押し付けて平衡をと
り、それから、探触子コイル2Bをリフトオフしく持ち
上げ)、リフトオフ信号を位相角O″にセットして、キ
ャンセルすべきオフセット値を測定する。探触子コイル
2Aをパイプ(被測定体)1の内面に押し付けた後、探
触子コイル2Aと2Bを切換えて、不平衡電圧の絶対値
と位相角とを渦電流探傷器5で測定する。このデータは
、コンピュータ6を介してフロッピーディスク7に記憶
される。その後、周波数Δfだけ高くして再びルーチン
を繰り返し、周波数が最終周波数になったら測定を終り
、データ処理に移行する。
トであり、第8図のステップ0内を詳細に表わしている
。ここではまず、周波数Jを決定する。次に、任意の基
準試験片11に探触子コイル2Bを押し付けて平衡をと
り、それから、探触子コイル2Bをリフトオフしく持ち
上げ)、リフトオフ信号を位相角O″にセットして、キ
ャンセルすべきオフセット値を測定する。探触子コイル
2Aをパイプ(被測定体)1の内面に押し付けた後、探
触子コイル2Aと2Bを切換えて、不平衡電圧の絶対値
と位相角とを渦電流探傷器5で測定する。このデータは
、コンピュータ6を介してフロッピーディスク7に記憶
される。その後、周波数Δfだけ高くして再びルーチン
を繰り返し、周波数が最終周波数になったら測定を終り
、データ処理に移行する。
なお、測定データはフロッピーディスクに一旦格納する
と述べたが、コンピュータ6内のDRAM等からなる内
部メモリの容量が充分な場合は、そこに蓄積しても良く
、次の段階のデータ処理の速度が速くなることは勿論で
ある。また、大容量のハードディスクを利用することも
できる。
と述べたが、コンピュータ6内のDRAM等からなる内
部メモリの容量が充分な場合は、そこに蓄積しても良く
、次の段階のデータ処理の速度が速くなることは勿論で
ある。また、大容量のハードディスクを利用することも
できる。
第8図のステップ0に対応する評価lの詳細を第10図
から第13図を用いて説明する。
から第13図を用いて説明する。
第10図は、ECT信号のみの評価フローチャートであ
り、第8図のステップ0を一詳細に表わしている。フロ
ッピーディスク7に記憶していた測定位置、不平衡電圧
の絶対値2位相角のデータをコンピュータ6に取り付込
む。
り、第8図のステップ0を一詳細に表わしている。フロ
ッピーディスク7に記憶していた測定位置、不平衡電圧
の絶対値2位相角のデータをコンピュータ6に取り付込
む。
ところで、材料の劣化試験によ九ば、処女材の不平衡電
圧は、第11図に示すように、材料のばらつきで絶対値
を変化するが、特定の周波数では一定の位相角θlの方
向に現われた。また、材料の劣化は、位相角02の方向
に現われ、劣化の程度は、処女材の不平衡電圧と劣化後
の不平衡電圧の差Δ■とよく対応があった。
圧は、第11図に示すように、材料のばらつきで絶対値
を変化するが、特定の周波数では一定の位相角θlの方
向に現われた。また、材料の劣化は、位相角02の方向
に現われ、劣化の程度は、処女材の不平衡電圧と劣化後
の不平衡電圧の差Δ■とよく対応があった。
そこで、第12図に示すように、測定した劣化材の不平
衡電圧から、劣化方向ベクトルと処女材のベクトル方向
との交点を求め、これを劣化の初期推定値Vsとし、V
sと劣化材の不平tFJ電圧の差ΔVを求める。この劣
化の不平衡電圧Δ■と材料の強度との対応は、第13図
に示すように、初期推定値Vsの劣化マスターカーブを
予め求めておき、これを用いて、ΔVに対応する材料の
強度(例えばKIc)を算出する。このように第10図
のフローチャートに従って上述の評価を行った後、測定
位置と評価した値を外部記録装置8に出力し、他の測定
位置について同じルーチンを繰り返し行う。
衡電圧から、劣化方向ベクトルと処女材のベクトル方向
との交点を求め、これを劣化の初期推定値Vsとし、V
sと劣化材の不平tFJ電圧の差ΔVを求める。この劣
化の不平衡電圧Δ■と材料の強度との対応は、第13図
に示すように、初期推定値Vsの劣化マスターカーブを
予め求めておき、これを用いて、ΔVに対応する材料の
強度(例えばKIc)を算出する。このように第10図
のフローチャートに従って上述の評価を行った後、測定
位置と評価した値を外部記録装置8に出力し、他の測定
位置について同じルーチンを繰り返し行う。
次に、第8図のステップ■及び@に対応する組織の観察
及び評価の詳細を第14図から第18図を用いて説明す
る。
及び評価の詳細を第14図から第18図を用いて説明す
る。
第14図は、第8図のステップ■の内部組織の検査のフ
ローチャートである。
ローチャートである。
検査位置を読み込み、研摩装置121を移動して、一定
研摩時間Ktimeの開被測定体2を研摩する。研摩終
了後、同一位置に、エツチング装置140を移動して、
一定時間Ktimeの間研摩位置をエツチング処理する
。エツチング処理後、llt察装置202で金属組織を
画像処理し、相の面積比を演算する。この結果をメモリ
に記憶する。
研摩時間Ktimeの開被測定体2を研摩する。研摩終
了後、同一位置に、エツチング装置140を移動して、
一定時間Ktimeの間研摩位置をエツチング処理する
。エツチング処理後、llt察装置202で金属組織を
画像処理し、相の面積比を演算する。この結果をメモリ
に記憶する。
なお、被測定体1の表面を表面処理装置で処理した後、
この表面をレプリカあるいは超音波顕微鏡などの表面観
察装置でも金属組織のデータを測定することもできる。
この表面をレプリカあるいは超音波顕微鏡などの表面観
察装置でも金属組織のデータを測定することもできる。
この状態の一例を第16図に示す。第16図のような2
相金属組織を持つ場合は500℃以下の高温時効では、
金属組織に大きな変化がないことから、マトリックス組
織に対する析出組織の面積比あるいは結晶粒径などから
、劣化の初期の物性を推定できる。
相金属組織を持つ場合は500℃以下の高温時効では、
金属組織に大きな変化がないことから、マトリックス組
織に対する析出組織の面積比あるいは結晶粒径などから
、劣化の初期の物性を推定できる。
第15図は、第8図のステップ@の評価2の詳細フロー
チャートを示す。
チャートを示す。
不平衡電圧及び劣化材の組織面積比をメモリから読み込
む。処女材において第17図のようなマスターカーブを
採用しておくことにより容易に劣化材の初期状態が推定
できる。第18図より、求めた劣化材の初期不平衡電圧
Vsと劣化材の飲手i電圧との差ΔVを求めて、上述し
たように第13図に従って金属材料の劣化の程度を評価
できる。
む。処女材において第17図のようなマスターカーブを
採用しておくことにより容易に劣化材の初期状態が推定
できる。第18図より、求めた劣化材の初期不平衡電圧
Vsと劣化材の飲手i電圧との差ΔVを求めて、上述し
たように第13図に従って金属材料の劣化の程度を評価
できる。
第8図のステップO及び[相]に対応する硬さ及び評価
3の詳細を第19図から第23図を用いて説明する。
3の詳細を第19図から第23図を用いて説明する。
第1.9図は、第8図のステップ[相]の硬さ測定のフ
ローチャートである。
ローチャートである。
検査位置を読み込み、装置を移動する。圧力を押し付は
硬さを測定する。
硬さを測定する。
第20図は、第8図のステップ[相]の詳細フローチャ
ートである。
ートである。
実験において5時効劣化に伴い、例えば、不平衡電圧と
硬さの関係は、第21図に示すような傾向にあることを
確認した。すなわち、劣化に伴う変化する2つのパラメ
ータより、材料の劣化を推定する。第22図に示すよう
に、劣化材の値を、劣化方向に延長し、処女材のカーブ
と交差した位置を初期推定値Hoとして劣化材との差を
パラメータxoで表わす。このxoとHoの値より、予
め求めておいた強度とパラメータX。どの関係(第23
図)より劣化材の劣化の程度を評価できる。
硬さの関係は、第21図に示すような傾向にあることを
確認した。すなわち、劣化に伴う変化する2つのパラメ
ータより、材料の劣化を推定する。第22図に示すよう
に、劣化材の値を、劣化方向に延長し、処女材のカーブ
と交差した位置を初期推定値Hoとして劣化材との差を
パラメータxoで表わす。このxoとHoの値より、予
め求めておいた強度とパラメータX。どの関係(第23
図)より劣化材の劣化の程度を評価できる。
本発明によれば、高温で使用される金属材料の脆化の程
度を非破壊的にかつ迅速に検知できるので脆化損傷を未
然に防ぐことが可能であり、実機機の安全性を高めるこ
とができる。
度を非破壊的にかつ迅速に検知できるので脆化損傷を未
然に防ぐことが可能であり、実機機の安全性を高めるこ
とができる。
第1図は本発明の実施例のシステム構成図、第2図は、
本発明の実施例によるパイプの測定装置の斜視図、第3
図は、第2図中の探触子コイルの押し付は機構の斜視図
、第4図は、第2図中の研摩装置の斜視図、第5図は、
第2図中のエツチング処理装置の斜視図、第6図は、第
2図中の観察装置の斜視図、第7図は、第2図中の硬さ
測定装置の斜視図、第8図は本発明の実施例における作
動メインルーチンのフローチャート図、第9図は、第8
図中のECT測定のフローチャート図、第10図は、第
8図中の評価1のフローチャートで。 第11図から第13図は、第10図のフローチャート中
での説明の為のグラフ図、第14図は、本発明の実施例
における内部組織の検査フローチャート、第15図は第
8図中の評価2のフローチャート図、第16図から第1
8図は、第15図のフローチャートの説明の為の解説図
、第19図は、第8図中の硬さ測定のフローチャート図
、第20図は、第8図中の評価3のフローチャート図、
第21図から第23図は第20図のフローチャート説明
の為の解説図、第24図は渦電流探傷器の等価回路図で
ある。 1・・・被測定体、2A、2B・・・探触子コイル、3
・・・走査駆動装置、4・・・走査駆動制御装置、5・
・・渦電流探傷器、6・・・コンピュータ、7・・・外
部記憶装置、8・・・記録装置、11・・・基準試験片
、100・・・データ処理装置、121・・・研摩装置
、140・・・エツチング処理装置、200・・・組織
R察装置、201・・・光源、202・・・ビデオカメ
ラ、210・・・硬さ計測装置。
本発明の実施例によるパイプの測定装置の斜視図、第3
図は、第2図中の探触子コイルの押し付は機構の斜視図
、第4図は、第2図中の研摩装置の斜視図、第5図は、
第2図中のエツチング処理装置の斜視図、第6図は、第
2図中の観察装置の斜視図、第7図は、第2図中の硬さ
測定装置の斜視図、第8図は本発明の実施例における作
動メインルーチンのフローチャート図、第9図は、第8
図中のECT測定のフローチャート図、第10図は、第
8図中の評価1のフローチャートで。 第11図から第13図は、第10図のフローチャート中
での説明の為のグラフ図、第14図は、本発明の実施例
における内部組織の検査フローチャート、第15図は第
8図中の評価2のフローチャート図、第16図から第1
8図は、第15図のフローチャートの説明の為の解説図
、第19図は、第8図中の硬さ測定のフローチャート図
、第20図は、第8図中の評価3のフローチャート図、
第21図から第23図は第20図のフローチャート説明
の為の解説図、第24図は渦電流探傷器の等価回路図で
ある。 1・・・被測定体、2A、2B・・・探触子コイル、3
・・・走査駆動装置、4・・・走査駆動制御装置、5・
・・渦電流探傷器、6・・・コンピュータ、7・・・外
部記憶装置、8・・・記録装置、11・・・基準試験片
、100・・・データ処理装置、121・・・研摩装置
、140・・・エツチング処理装置、200・・・組織
R察装置、201・・・光源、202・・・ビデオカメ
ラ、210・・・硬さ計測装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、被測定体と基準試験片とに交流信号を印加しそれら
に生じた渦電流を交流ブリッジ回路で検出する渦電流探
傷法による金属材料の劣化検査方法において、 特定の基準試験片を選択し、交流信号の周波数を変えな
がら交流ブリッジ回路の不平衡電圧と位相角とのデータ
を収集するAステップと、金属材料の処女材と劣化材の
関係より予め求めておいた校正曲線を用いて、劣化材の
初期不平衡電圧を推定するBステップと、 劣化材の初期推定不平衡電圧と測定した不平衡電圧の差
から、予め求めておいた校正曲線と比較し、被測定体の
強度を算出するCステップとからなることを特徴とする
金属材料の劣化検査方法。 2、特許請求の範囲第1項において、Bステップで劣化
材の初期状態を推定するために、劣化材の金属組織等を
測定し、結晶粒径や相の面積率より、予め求めておいた
校正曲線と比較し、劣化材の初期不平衡電圧を推定する
ステップを用いたことを特徴とする金属材料の劣化検査
方法。 3、被測定体と基準試験片とに交流信号を印加し、それ
らに生じた渦電流を交流ブリッジ回路で検出する渦電流
探傷法において、 特定の基準試験片を選択し、交流信号の周波数を変えな
がら交流ブリッジ回路の不平衡電圧と位相角とのデータ
を収集するAステップと、被測定体の硬さ、ヤング率、
音速等の機械的性質を測定するBステップと、 不平衡電圧と機械的性質の2以上のパラメータとの関係
を求め、予め求めておいたパラメータの校正曲線と比較
し、被測定体の劣化を判定するCステップと、 からなることを特徴とする金属材料の劣化検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62074099A JP2559401B2 (ja) | 1987-03-30 | 1987-03-30 | 金属材料の劣化検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62074099A JP2559401B2 (ja) | 1987-03-30 | 1987-03-30 | 金属材料の劣化検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63241348A true JPS63241348A (ja) | 1988-10-06 |
JP2559401B2 JP2559401B2 (ja) | 1996-12-04 |
Family
ID=13537400
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62074099A Expired - Lifetime JP2559401B2 (ja) | 1987-03-30 | 1987-03-30 | 金属材料の劣化検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2559401B2 (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5059903A (en) * | 1987-09-21 | 1991-10-22 | Hitachi, Ltd. | Method and apparatus utilizing a magnetic field for detecting degradation of metal material |
JP2003522937A (ja) * | 1999-12-23 | 2003-07-29 | ケーエルエー−テンカー テクノロジィース コーポレイション | 渦電流測定あるいは光学測定を利用して、メタライゼーション処理を実状態で監視する方法 |
JP2007292769A (ja) * | 2006-04-26 | 2007-11-08 | Snecma | 特にはブレードの肉厚の渦電流による測定 |
JP2007333577A (ja) * | 2006-06-15 | 2007-12-27 | Dia Consultant:Kk | コンクリート構造物の機能診断方法 |
JP2010230637A (ja) * | 2009-03-30 | 2010-10-14 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 脆化度判定方法 |
JP2011085502A (ja) * | 2009-10-16 | 2011-04-28 | Shinshu Univ | 金属部品の磁界検出センサー及び金属部品の良否判定方法 |
JP2016166750A (ja) * | 2015-03-09 | 2016-09-15 | 中日本高速道路株式会社 | 斜張橋の斜材点検装置及び斜材点検方法 |
JP2018119970A (ja) * | 2018-02-19 | 2018-08-02 | 中日本高速道路株式会社 | 斜張橋の斜材点検方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59183359A (ja) * | 1983-04-01 | 1984-10-18 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 鉄鋼材の材質試験方法 |
JPS60225058A (ja) * | 1984-04-24 | 1985-11-09 | Shigeru Kitagawa | 強磁性材料の機械的性質非破壊測定装置 |
JPS6162858A (ja) * | 1984-09-04 | 1986-03-31 | Hitachi Ltd | 自動探傷装置 |
-
1987
- 1987-03-30 JP JP62074099A patent/JP2559401B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS59183359A (ja) * | 1983-04-01 | 1984-10-18 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 鉄鋼材の材質試験方法 |
JPS60225058A (ja) * | 1984-04-24 | 1985-11-09 | Shigeru Kitagawa | 強磁性材料の機械的性質非破壊測定装置 |
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JP2007292769A (ja) * | 2006-04-26 | 2007-11-08 | Snecma | 特にはブレードの肉厚の渦電流による測定 |
JP2007333577A (ja) * | 2006-06-15 | 2007-12-27 | Dia Consultant:Kk | コンクリート構造物の機能診断方法 |
JP2010230637A (ja) * | 2009-03-30 | 2010-10-14 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 脆化度判定方法 |
JP2011085502A (ja) * | 2009-10-16 | 2011-04-28 | Shinshu Univ | 金属部品の磁界検出センサー及び金属部品の良否判定方法 |
JP2016166750A (ja) * | 2015-03-09 | 2016-09-15 | 中日本高速道路株式会社 | 斜張橋の斜材点検装置及び斜材点検方法 |
JP2018119970A (ja) * | 2018-02-19 | 2018-08-02 | 中日本高速道路株式会社 | 斜張橋の斜材点検方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2559401B2 (ja) | 1996-12-04 |
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