JPS63240835A - 撮像装置 - Google Patents

撮像装置

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JPS63240835A
JPS63240835A JP62074823A JP7482387A JPS63240835A JP S63240835 A JPS63240835 A JP S63240835A JP 62074823 A JP62074823 A JP 62074823A JP 7482387 A JP7482387 A JP 7482387A JP S63240835 A JPS63240835 A JP S63240835A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
radiation
pulse signal
ray
data
output
Prior art date
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Pending
Application number
JP62074823A
Other languages
English (en)
Inventor
喜一郎 宇山
雄二 佐野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP62074823A priority Critical patent/JPS63240835A/ja
Publication of JPS63240835A publication Critical patent/JPS63240835A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、非破壊検査等に用いられる撮@装置に関づる
(従来の技術) 礒@装置としては、被検査体の特定断面に放射線源によ
り放射線を全周方向から照射し、放射F2検出器で放射
線の透過IIを測定することにより投影データを得、こ
の投影データから上記被検査体の特定断面の断層像を得
る、いわゆるCTスキャナが一般的である。このCTス
キャナにより得られた各スライス位置の断層像からは上
記被検査体の計測に関する情報、例えば被検査体の寸法
断面形状および欠陥の有無等の情報を得ることができる
ので、産業用または医療用として広く用いられている。
ところで、CTスキャナのなかには、放射線源としてパ
ルス状放射線源を採用し、パルス状放射線を被検査体に
照射して非破壊検査を行なうようにしたものがある。こ
の種のCTスキャナに6いては、放射線源からのパルス
状放射線出力タイミングは放射ね発生パルス信号によっ
て制御され、データ収集部での放射線投影データ収集タ
イミングはデータ収集パルス信号によって制御される。
従来のパルス状CTスキャナにおけるデータ収集時の動
作タイミング図を第5図に示す。同図においてAは放l
)1線発生パルス信号、Bはパルス信号Aの立上がりに
同期してパルス状放射線から放射される放射線の出力強
度、Cはデータ収集パルス信号、Dは放射線検出器の検
出出力を増幅するための前置増幅器の出力波形、Eは前
置増幅器出力を積分するための積分区間を示している。
同図に示すように、従来のパルス状CTスキャナにおい
ては、パルス状放射線の出力が単一周期で行なわれる。
このため、被検査体のスキャン中はオフセットデータを
収集することができないので、オフセットデータの収集
はスキャン前に行なっていた。
また、データ収集動作が放射線発生動作と同一周期で行
なわれる。このため、データ収集部はデータ収集パルス
信@Cの立上がりから次のデータ収集パルス信号Cの立
上がりまでを1周期として動作するので、1回の積分動
作中にはパルス状放射線が1度しか発生されなかった。
(発明が解決しようとする問題点) 上述したように、従来のこの種の撮像装置においては、
データ収集動作において1回の積分動作中にパルス状放
射線が1度しか発生されなかったので、収集されるべく
放射線量が不足していた。
このため、データのS/N比が低くなり、画(象ノイズ
が発生して画質の低下を招いていた。また、オフセット
データをスキャン前に収集していたので放射線吸収の大
ぎな被検査体の場合にはオフセット補正に誤差を生じ易
く、リング状アーヂファクトの原因になっていた。
そこで本発明は、画像ノイズの低減をはかり得、画質の
良好な断層像あるいは投影像を得ることができるR像装
置を提供するこを目的とする。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段) 本発明は、被検査体にパルス状放射線源からのパルス状
放射線を照制し、この被検査体の放射線投影データをデ
ータ収集部で収集し、この収集した放射線投影データに
基いて前記被検査体の断層像あるいは投影間を出力する
撮像装置において、パルス状族!)J線源からのパルス
状放射線の放射を指令するだめの放射線発生パルス信号
を出力する放射線発生パルス信号出力手段と、データ収
集部による放射線投影データの収集を指令するだめのデ
ータ収集パルス信号を出力するデータ収集パルス信号出
力手段とを設け、データ収集パルス信号出力手段による
データ収集パルス信号の出力周期よりも放射線発生パル
ス信号出力手段による放射線発生パルス信号の出力周期
を短くしたものである。
(作用) このような手段を講じたiee置であれば、データi1
5?集動作において1回の積分動作中にパルス状hり射
線を複数回放射させることにより、収集されるべく放射
線分の増加をはかり得、S/N比を高めることができる
(実施例) 以下1本発明の実施例を図面を参照しながら説明する。
第1図は本発明をパルス状X線CTスキャナに適用した
一実滴例の全体構成図である。同図において1は被検査
体であって′、回転機構2によって回転自在な回転テー
ブル3上に載置される。4は上記被検査体1を透過し得
る放射線としてパルス状X線ご−ム5をこの被検査体1
の特定断面に沿いかつ所定の広がり角度を有する扇状を
なして放射するパルス状xli1mであって、例えば線
形加速器が用いられる。6は上記X線源4から放射され
て到達したX線ビーム5の強度を検出するX線検出器で
あって、前記X線ヒーム5をそれぞれ受信可能な複数チ
ャンネルの検出素子からなり、また各検出素子の出力信
号を増幅するための前置増幅器等が内蔵されている。
データ収集部7は、前記X$1検出器6の各検出素子に
て検出されたX線強度に基く投影データを前記被検査体
1の多方向にわたって収集するものであって、前記前置
増幅器の出力を積分する積分回路等が内蔵されている。
、CPU8は演算回路。
メモリ等を内蔵し、データ収集部7にて収集された投影
データを受けて、この投影データにオフセット補正等の
各種補正演算を行なう前処理機能、前処理されたデータ
を再構成アルゴリズムにしたがって前記被検査体1の特
定断面のX線透過度分布による断層像に再構成する再構
成機能等を有している。また、CPU8には再構成され
た断層像を表示するためのCRTディスプレイ9および
制御コンソール部10が接続されている。制御コンソー
ル部10はCPU8からの制御指令、あるいは外部から
の入力情報に応じて救構制御部11またはXF2制御部
12に動作指令を出力する機能を有しており、これらの
動作指令に応じて機構制御部11は回転機構2の駆動制
御を行ない、X線制御部12はパルス状X線源4のX線
放射を制御する。
パルス変換部13は、回転機構2に設けられたロータリ
ーエンコーダ(不図示)からのエンコーダパルスPに基
いて、パルス状X線源4からのパルス状X$!2ビーム
の放射タイミングを指令するX線発生パルス信号量と、
データ収集部7におけるデータ収集動作タイミングを指
令するデータ収集パルス信号Nとを作成するものであっ
て、Xp;A発生パルス信号量はX線制御部12に送出
され、データ収集パルス信号Nはデータ収集部7に送出
されろ。このパルス変換部13は、具体的には第2図に
示す回路構成をなしている。すなわち、エンコーダパル
スPのパルス数を計数して所定数を計数毎に基準パルス
信号Qを出力する基準カウンタ21と、この基準パルス
信@Qのパルス数を計数して所定数を計数毎にデータ収
集パルス信号Nを出力するデータ収集カウンタ22と、
前記基準パルス信Q Qのパルス数を計数して所定数を
計数毎にX線発生パルス信@Mを出力し、かつこのx!
ii1発生パルス信号Mを所定パルス数だけ出力したな
らば一定期間X線発生パルス信号Mの出力を休止するデ
ータ収集カウンタ23と、このデータ収集カウンタ23
から出力されるデータ収集パルス信号Mを一定時間遅延
させる遅延回路24とから構成される。そして、X線発
生パルス信号量の出力周期がデータ収集パルス信号Nの
出力周期よりも短くなるようにXa発生カウンタ23と
データ収集カウンタ22が設計されている。
次に、本実施例装置の動作について第3図の出力タイミ
ング図を適時参照しながら説明する。本装置を用いて被
検査体1の断層像をi像する場合には、先ず被検査体1
が存在しない状態で制御コンソール部10によりX線制
御部12を制御してパルス状X線′rA4からX線ビー
ム5を放射させる。
そうすると、このときのX線強度がX線検出器6で検出
され、データ収集部7で収集されて空気補正用データと
してCPU8内蔵のメモリに格納される。
次に、被検査体1を回転テーブル3上に載置してスキャ
ンを開始する。すなわち、制御コンンール部10により
機構制御部11を制御して回転機構2を駆動させ、回転
テーブル3を一定速度で回転させる。そうすると、回転
[I2に設けられたロータリーエンコーダ(不図示)か
らエンコーダパルスPが発生され、パルス変換部13へ
出力される。パルス変換部13に与えられた上記エンコ
ーダパルスPは基準カウンタ21にて計数され、この基
準カウンタ21で例えば3パルス計数されたならばデー
タ収集カウンタ22およびX線発生カウンタ23に基準
パルスQが1パルス出力される。そして、データ収集カ
ウンタ22にて基準パルスQが例えば6パルス計数され
たならばデータ収集パルスNが1パルス出力される。ま
た、X線発生カウンタ23により基準パルスQが例えば
1パルス計数されるとX線発生パルス信号量が1パルス
出力され、かつX線発生パルス信号量が例えば4パルス
出力されたならば8パルス分だけX線発生パルス信号量
の出力が休止される。X線カウンタ23から出力される
X線発生パルス信号量は遅延回路24により所定時間を
秒だけ遅延される。
しかして、エンコーダパルスPが3パルス出力される毎
にt秒遅れてX線発生パルス信号量が1パルス出力され
、このXね発生パルス信号Mは4パルス出力されると8
パルス分だけ出力が休止される。また、エンコーダパル
スPが18パルス出力される毎にデータ収集パルス信Q
Nが1パルス出力される。
X線発生パルス信号量がX線制御部12に入力されると
、この信号入力に同期してパルス状X線源4からX線ビ
ーム5が放)jされ、X線ビーム5はその一部が被検査
体1の特定断面を透過してX線検出器6に至る。しかし
て、X線検出器6によってX線の強度に対応する検出出
力が得られ、この出力は前置増幅器にて増幅されて第3
図D1に示すような増幅器出力となり、データ収集部7
に送られる。
一方、データ収集部7ではデータ収集パルス信号Nの入
力に応じてデータ収集動作が実行され、つまりは第3図
E1に示すようにデータ収集パルス信号Nの周期を積分
区間とする積分器で前記増幅器出力が積分され、Xf1
投影データとして収集される。ここで、上記積分区間に
はX線ビーム5が4回放射される区間と全く放射されな
い区間とが交互に繰返される。したがって、データ収集
部7ではX線投影データとオフセットデータとが交n、
に収集される。
こうして、被検査体1が約1回転し、その間に約600
点のX線投影データとオフセットデータとが収集された
ならばスキャンが終了する。しかる後、このデータ収集
部7にて収集されたデータはCPU8に取込まれ、X線
投影データは空気?11正、オフセット補正等の前処理
が行なわれた後、再(14成処理が施され、被検査体1
の特定断面の断)tllがCRTディスプレイ9に表示
される。
このように、本実施例によれば、XrA検出器6の検出
出力に対する1回の積分区間にX線ご−ム5が複数回(
この19合は4回)放射されるので、収集するべくx5
1ωが増加する。したがって、X線投影データのS/N
比を十分に高め(q、画像ノイズの低減をはかり得る。
また、X線発生パルス信号量の出力に休止期間を設けて
X線投影データの収集と交互にオフセットデータを収集
するようにしたので、スキャン中にオフセットデータの
修正を行なうことができ、これによりX線吸収が大きい
被検査体1であってもオフセット加圧の誤差を小さくで
き、リング状アーチファクトの発生を防止できる。した
がって、画質の良好な断層像が常に得られるので、非破
壊検査の精面向上に寄与しうる。また、オフセットデー
タの収集時にはパルス状X線源4が休止状態となるので
、線源の負荷を抑制でき、X線源の長与命化をはかり得
る。
なお、本発明は前記実施例に限定されるものではない。
例えば、前記実施例ではX線発生パルス信号量とデータ
収集パルス信号Nとの出力タイミングを第3図に示すタ
イミングとしたが、これに限定されるものではなく、種
々変形可能である。
第4図はその一変形例を示しており、エンコーダパルス
Pが4パルス出力されると基準パルスQが1パルス出力
され、このMlパルスQの出力から1秒遅延されてXP
;1発生パルス信号Mが出力され、E4準信号Qが2パ
ルス出ツノされるとデータ収集パルス信号Nが1パルス
出力される。また、X線発生パルス信QMは5パルス出
力されると5パルス分出力が休止される。この場合、オ
フセットデータの収集時間がX線投影データの収集時間
よりも短くなるのでX線投影データを有効に収集できる
また、前記実施例ではX線CTスキャブに適用した場合
を示したが、他の放射線を使用した撮像装置にも適用で
きるのは言うまでもない。このほか、本発明の要旨を逸
脱しない範囲で種々変形実施可能であるのは勿論である
[発明の効果] 以上詳述したように、本発明によれば、画像ノイズの低
減をはかり得、画質の良好な断層像あるいは投影像を得
ることができる撮fIi装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】 第1図ないし第3図は本発明の一実施例を示す図であっ
て、第1図は全体構成を示す図、第2図はパルス変換部
の具体的構成図、第3図は動作タイミングを示す図、第
4図は本発明の動作タイミングの変形例を示す図、第5
図は従来の動作タイミングを示す図である。 1・・・被検査体、2・・・回転前溝、3・・・回転テ
ーブル、4・・・パルス状X線源、5・・・X線ビーム
、6・・・X線検出器、7・・・データ収集部、8・・
・CPU、9・・・CRTディスプレイ、10・・・a
i(I御コンソール部、11・・・前溝制御部、12・
・・X線制一部、13・・・パルス変換部。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図 第2図 第3図 ―: E2i→−1−g+−++1−4Ml−ml−1−4M
l−++1−第4図 第5図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被検査体にパルス状放射線源からのパルス状放射
    線を照射し、この被検査体の放射線投影データをデータ
    収集部で収集し、この収集した放射線投影データに基い
    て前記被検査体の断層像あるいは投影像を出力する撮像
    装置において、前記パルス状放射線源からのパルス状放
    射線の放射を指令するための放射線発生パルス信号を出
    力する放射線発生パルス信号出力手段と、前記データ収
    集部による放射線投影データの収集を指令するためのデ
    ータ収集パルス信号を出力するデータ収集パルス信号出
    力手段とを備え、前記データ収集パルス信号出力手段に
    よるデータ収集パルス信号の出力周期よりも放射線発生
    パルス信号出力手段による放射線発生パルス信号の出力
    周期を短くしたことを特徴とする撮像装置。
  2. (2)前記放射線発生パルス出力手段は、放射線発生パ
    ルス信号の出力を一定期間休止させる手段を設けたこと
    を特徴とする特許請求の範囲第(1)項記載の撮像装置
JP62074823A 1987-03-28 1987-03-28 撮像装置 Pending JPS63240835A (ja)

Priority Applications (1)

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JP62074823A JPS63240835A (ja) 1987-03-28 1987-03-28 撮像装置

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JP62074823A JPS63240835A (ja) 1987-03-28 1987-03-28 撮像装置

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JPS63240835A true JPS63240835A (ja) 1988-10-06

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ID=13558417

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JP62074823A Pending JPS63240835A (ja) 1987-03-28 1987-03-28 撮像装置

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JP (1) JPS63240835A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0562209U (ja) * 1991-09-18 1993-08-20 横河メディカルシステム株式会社 アジマストリガ変換装置
JP2006177841A (ja) * 2004-12-24 2006-07-06 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 非破壊検査装置および方法
JP2020022579A (ja) * 2018-08-06 2020-02-13 キヤノンメディカルシステムズ株式会社 X線コンピュータ断層撮影装置

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JPH0562209U (ja) * 1991-09-18 1993-08-20 横河メディカルシステム株式会社 アジマストリガ変換装置
JP2006177841A (ja) * 2004-12-24 2006-07-06 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 非破壊検査装置および方法
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