JPS63237486A - 半導体装置 - Google Patents
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- JPS63237486A JPS63237486A JP62072003A JP7200387A JPS63237486A JP S63237486 A JPS63237486 A JP S63237486A JP 62072003 A JP62072003 A JP 62072003A JP 7200387 A JP7200387 A JP 7200387A JP S63237486 A JPS63237486 A JP S63237486A
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 18
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 41
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims abstract description 23
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims description 20
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 20
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 14
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 14
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims 1
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 7
- 239000004020 conductor Substances 0.000 abstract description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 3
- 238000002955 isolation Methods 0.000 abstract description 3
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 description 6
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 5
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000005219 brazing Methods 0.000 description 3
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 3
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 2
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 2
- 229910017944 Ag—Cu Inorganic materials 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
Classifications
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L24/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L2224/05—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
- H01L2224/0554—External layer
- H01L2224/0555—Shape
- H01L2224/05552—Shape in top view
- H01L2224/05554—Shape in top view being square
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L2224/06—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of a plurality of bonding areas
- H01L2224/0601—Structure
- H01L2224/0603—Bonding areas having different sizes, e.g. different heights or widths
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/45001—Core members of the connector
- H01L2224/45099—Material
- H01L2224/451—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
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- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48225—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
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- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
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- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48225—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/48227—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
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- H01L2224/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
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- H01L2224/4905—Shape
- H01L2224/49051—Connectors having different shapes
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- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
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- H01L2224/4911—Disposition the connectors being bonded to at least one common bonding area, e.g. daisy chain
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- Photo Coupler, Interrupter, Optical-To-Optical Conversion Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は改良された高周波半導体装置用パッケージの構
造に関する。
造に関する。
従来、高周波半導体装置用パッケージ(以後パッケージ
と呼ぶ)の構造は、第1層セラミック基板の中央部にメ
タライズダイアタッチ部を設け、その上部に第2層セラ
ミック基板を積層し該基板上に複数本の放射状メタライ
ズパターンを形成し、更に該パターン上に第3層セラミ
ック基板を積層して該パターンを絶縁すると共にキャッ
プ搭載部を形成している。更に各積層された該基板の側
面に第2層セラミック基板上の放射状メタライズパター
ンから第1層セラミック基板底面まで印刷された複゛数
本のロウ材用メタライズパターンに金属リードをロウ付
したものであった。この様な構造のパッケージのダイア
タッチ部にチップを固着してチップとパッケージの放射
状メタライズパターンとの間をアルミ細線で接続したあ
とキャップ封止したものであった。次に従来の高周波半
導体装置用パッケージの構造について図面を参照して説
明する。
と呼ぶ)の構造は、第1層セラミック基板の中央部にメ
タライズダイアタッチ部を設け、その上部に第2層セラ
ミック基板を積層し該基板上に複数本の放射状メタライ
ズパターンを形成し、更に該パターン上に第3層セラミ
ック基板を積層して該パターンを絶縁すると共にキャッ
プ搭載部を形成している。更に各積層された該基板の側
面に第2層セラミック基板上の放射状メタライズパター
ンから第1層セラミック基板底面まで印刷された複゛数
本のロウ材用メタライズパターンに金属リードをロウ付
したものであった。この様な構造のパッケージのダイア
タッチ部にチップを固着してチップとパッケージの放射
状メタライズパターンとの間をアルミ細線で接続したあ
とキャップ封止したものであった。次に従来の高周波半
導体装置用パッケージの構造について図面を参照して説
明する。
第69図は従来のパッケージの平面図、第7図はその断
面図である。第1Mセラミック基板1の中央部にタング
ステンペーストを印刷してダイアタッチ部2とする。こ
の第1Mセラミック基板上の上部にダイアタッチ部2が
露出するように第2層セラミック枠基板3を積層し、該
セラミック枠基板3の上面にタングステンペーストを導
体とする放射状メタライズパターン4を印刷し、次にダ
イアタッチ部2の周辺の該メタライズパターン4の先端
が1 mm程度露出する様に第3層セラミック枠基板5
を積層し、該メタライズパターン4を絶縁保護すると共
にキャップ搭載部となるシールフレーム19を取付ける
。次に積層した基板側面に側面メタライズパターン6を
施す。この様な状態で1500〜1600℃の酸化雰囲
気で焼成するとタングステンペーストがセラミックと反
応しメタライズ化される。このメタライズ化したパター
ンにNiメッキとAuメッキを施して高周波半導体装置
用パッケージができあがる。このパッケージのダイアタ
ッチ部2にチップ7をAu−3iロウ材を用いて固着す
る。次にチップのパッドと放射状メタライズパターン4
の間をアルミワイヤー8で接続する。その次にキャップ
封止すると従来構造の半導体装置が完成する。
面図である。第1Mセラミック基板1の中央部にタング
ステンペーストを印刷してダイアタッチ部2とする。こ
の第1Mセラミック基板上の上部にダイアタッチ部2が
露出するように第2層セラミック枠基板3を積層し、該
セラミック枠基板3の上面にタングステンペーストを導
体とする放射状メタライズパターン4を印刷し、次にダ
イアタッチ部2の周辺の該メタライズパターン4の先端
が1 mm程度露出する様に第3層セラミック枠基板5
を積層し、該メタライズパターン4を絶縁保護すると共
にキャップ搭載部となるシールフレーム19を取付ける
。次に積層した基板側面に側面メタライズパターン6を
施す。この様な状態で1500〜1600℃の酸化雰囲
気で焼成するとタングステンペーストがセラミックと反
応しメタライズ化される。このメタライズ化したパター
ンにNiメッキとAuメッキを施して高周波半導体装置
用パッケージができあがる。このパッケージのダイアタ
ッチ部2にチップ7をAu−3iロウ材を用いて固着す
る。次にチップのパッドと放射状メタライズパターン4
の間をアルミワイヤー8で接続する。その次にキャップ
封止すると従来構造の半導体装置が完成する。
上述した従来構造のパッケージは、材料の誘電率が大き
く、隣接メタライズパターンのキャップが狭いのでリー
ド間の静電容量が大きくなりリード間のアイソレーショ
ンや利得が悪く、共振周波数が低いという欠点がある。
く、隣接メタライズパターンのキャップが狭いのでリー
ド間の静電容量が大きくなりリード間のアイソレーショ
ンや利得が悪く、共振周波数が低いという欠点がある。
本発明の半導体装置は、上述した従来のパッケージの入
出力信号用メタライズパターンとチップパッドとの間を
アルミ細線で接続する方法に対し、本発明は、入出力信
号用のメタライズパターンとチップパッドとの間を光フ
ァイバーを用いて電気信号から光信号に、光信号から電
気信号に変換して入力・出力の信号のやりとりを行わせ
るという独創的な内容を有する。
出力信号用メタライズパターンとチップパッドとの間を
アルミ細線で接続する方法に対し、本発明は、入出力信
号用のメタライズパターンとチップパッドとの間を光フ
ァイバーを用いて電気信号から光信号に、光信号から電
気信号に変換して入力・出力の信号のやりとりを行わせ
るという独創的な内容を有する。
本発明の高周波パッケージの構造は、信号の入出力に用
いられている金属導体の代りに光ファイバーを用いてチ
ップパッド部からプリント板の配線部へ直接接続する構
造を有している。
いられている金属導体の代りに光ファイバーを用いてチ
ップパッド部からプリント板の配線部へ直接接続する構
造を有している。
次に本発明について図面を用いて説明する。
第1図は本発明の第1実施例のキャップ封止前の平面図
、第2図、第3図はそれぞれキャップ封止した状態のA
−A’断面図、B−B’断面図である。半導体パッケー
ジの構造は、アルミナセラミックスはコバー等の金属基
板9にチップ7を搭載するダイアタッチ部2を形成し、
その上部に外部端子10を電源用端子と接地用端子とし
、信号用入出力光ファイバ一端子11を取り出す目的と
キャップシールの目的の為にアルミナセラミック枠部1
9を積層した構造である。外部端子10はコバー金属か
ら成りセラミック枠部19の績層部のタングステンメタ
ライズされたその上にAg−Cuロウ付けされている。
、第2図、第3図はそれぞれキャップ封止した状態のA
−A’断面図、B−B’断面図である。半導体パッケー
ジの構造は、アルミナセラミックスはコバー等の金属基
板9にチップ7を搭載するダイアタッチ部2を形成し、
その上部に外部端子10を電源用端子と接地用端子とし
、信号用入出力光ファイバ一端子11を取り出す目的と
キャップシールの目的の為にアルミナセラミック枠部1
9を積層した構造である。外部端子10はコバー金属か
ら成りセラミック枠部19の績層部のタングステンメタ
ライズされたその上にAg−Cuロウ付けされている。
この外部端子10は、半導体パッケージのダイアタッチ
部2の対辺に1本以上設けられていて、チップの駆動に
必要な電力を供給する電源端子と接地端子として用いら
れる。光ファイバー端子11は、端部に光変調器と光復
調器を備えていて信号入力用と信号出力用に分けて用い
られる。光ファイバー端子11の信号入力側は、外部か
ら電気信号が光ファイバー端子11の入口に取り付けら
れている光変調器12に入りレーザーダイオード又は発
光ダイオードから構成されている光変調器12又は光復
調器14は、1記ダイオードのバイアス電流に重畳する
ことによって容易に強度変調できる。変換された光信号
は、光ファイバー端子11内を通って該端子の端部に接
続されている光復調器14で受光し電気信号に変換され
た後に入力パッド13に接続された金属細線15を通っ
てチップ内部の回路に電気信号が入力される。パッド1
3から入力された電気信号は、チップ7の電子回路によ
り処理された後に出力すべき電気信号を出力パッド16
に導びき光変調器12を通りここで光信号に変換された
後に光ファイバー端子11を通ってパッケージ外部の該
端子の端部の光復調器14で光信号が電気信号に変換さ
れプリント板の導体へ電気信号が送り込まれる。入力パ
ッド13と出力パッド16は、光変調器12と光復調器
14を駆動する電源パッド2個1組が配置されそのうち
の片方のパッドに信号をバイアスして強度変調させる。
部2の対辺に1本以上設けられていて、チップの駆動に
必要な電力を供給する電源端子と接地端子として用いら
れる。光ファイバー端子11は、端部に光変調器と光復
調器を備えていて信号入力用と信号出力用に分けて用い
られる。光ファイバー端子11の信号入力側は、外部か
ら電気信号が光ファイバー端子11の入口に取り付けら
れている光変調器12に入りレーザーダイオード又は発
光ダイオードから構成されている光変調器12又は光復
調器14は、1記ダイオードのバイアス電流に重畳する
ことによって容易に強度変調できる。変換された光信号
は、光ファイバー端子11内を通って該端子の端部に接
続されている光復調器14で受光し電気信号に変換され
た後に入力パッド13に接続された金属細線15を通っ
てチップ内部の回路に電気信号が入力される。パッド1
3から入力された電気信号は、チップ7の電子回路によ
り処理された後に出力すべき電気信号を出力パッド16
に導びき光変調器12を通りここで光信号に変換された
後に光ファイバー端子11を通ってパッケージ外部の該
端子の端部の光復調器14で光信号が電気信号に変換さ
れプリント板の導体へ電気信号が送り込まれる。入力パ
ッド13と出力パッド16は、光変調器12と光復調器
14を駆動する電源パッド2個1組が配置されそのうち
の片方のパッドに信号をバイアスして強度変調させる。
次に金属キャップ17をシールフレーム18上に載置し
て抵抗溶接法に依り気密封止して本発明の半導体装置が
完成する。
て抵抗溶接法に依り気密封止して本発明の半導体装置が
完成する。
第4図は本発明の第2の実施例のキャップ封止前の平面
図、第5図はキャップ封止後のc−c’断面図である。
図、第5図はキャップ封止後のc−c’断面図である。
半導体パッケージの構造は、アルミナセラミックスはコ
バー等の金属基板9にチ・ンプ7を搭載するダイアタッ
チ部2を形成し、その上部に外部端子10を電源用端子
と接地用端子とし、信号用入出力光ファイバ一端子11
を取り出す目的とキャップシールの目的の為にアルミナ
セラミック枠部19を積層した構造である。外部端子1
0はコバー金属から成りセラミック枠部19の積層部の
タングステンメタライズされたその上にAg−Cuロウ
付けされている。この外部端子10は、半導体パッケー
ジのダイアタッチ部2の対辺に1本以上設けられていて
、チップの駆動に必要な電源端子と接地端子として用い
られる。光ファイバー端子11は、信号入力用と信号出
力用に分けて用いられる。信号入出力部は、それぞれ発
光ダイオードと受光ダイオードを用いてそれぞれ光変調
器と光復調器とに使用される。この光復調器および光変
調器の変換素子であるレーザーダイオード又は発光ダイ
オードが論理回路部を作る工程と同時に作り込まれてい
る。この様なチップ7をダイアタッチ部2にAu−5i
ロウ材で接着した後に光ファイバー端子11の光軸を該
入出力パッドのダイオードの発光部又は受光部の光軸に
合せて接着剤等で固定する。次に金属キャップ17をシ
ールフレーム18上に載置して抵抗溶接法に依り気密封
止して本発明の第2の実施例の半導体装置が完成する。
バー等の金属基板9にチ・ンプ7を搭載するダイアタッ
チ部2を形成し、その上部に外部端子10を電源用端子
と接地用端子とし、信号用入出力光ファイバ一端子11
を取り出す目的とキャップシールの目的の為にアルミナ
セラミック枠部19を積層した構造である。外部端子1
0はコバー金属から成りセラミック枠部19の積層部の
タングステンメタライズされたその上にAg−Cuロウ
付けされている。この外部端子10は、半導体パッケー
ジのダイアタッチ部2の対辺に1本以上設けられていて
、チップの駆動に必要な電源端子と接地端子として用い
られる。光ファイバー端子11は、信号入力用と信号出
力用に分けて用いられる。信号入出力部は、それぞれ発
光ダイオードと受光ダイオードを用いてそれぞれ光変調
器と光復調器とに使用される。この光復調器および光変
調器の変換素子であるレーザーダイオード又は発光ダイ
オードが論理回路部を作る工程と同時に作り込まれてい
る。この様なチップ7をダイアタッチ部2にAu−5i
ロウ材で接着した後に光ファイバー端子11の光軸を該
入出力パッドのダイオードの発光部又は受光部の光軸に
合せて接着剤等で固定する。次に金属キャップ17をシ
ールフレーム18上に載置して抵抗溶接法に依り気密封
止して本発明の第2の実施例の半導体装置が完成する。
以上説明したように本発明は、チップのパッドから引き
出される入出力信号に用いられる金属細線の代りに光フ
ァイバーを用いてプリント板の配線に直接接続する方法
である。その結果パッケージ材料や寸法に起因する静電
容量、メタライズパターンの導通抵抗ならびにインダク
タンスの影響によるスピード不良、アイソレーション、
利得。
出される入出力信号に用いられる金属細線の代りに光フ
ァイバーを用いてプリント板の配線に直接接続する方法
である。その結果パッケージ材料や寸法に起因する静電
容量、メタライズパターンの導通抵抗ならびにインダク
タンスの影響によるスピード不良、アイソレーション、
利得。
共振周波数の低下などが全くなくなる。その結果、上述
したパッケージ構成材料と寸法の制約がなくなり、パッ
ケージおよびプリント板回路の設計の自由度を増すとい
う効果がある。
したパッケージ構成材料と寸法の制約がなくなり、パッ
ケージおよびプリント板回路の設計の自由度を増すとい
う効果がある。
第1図、第2図、第3図は本発明の第1の実施例のそれ
ぞれ平面図、A−A’断面図、B−B’断面図、第4図
、第5図は本発明の第2の実施例のそれぞれ平面図とc
−c’断面図、第6図、第7図は従来構造のパッケージ
の平面図と断面図である。 1・・・第1層セラミック基板、2・・・ダイアタッチ
部、3・・・第2層セラミック基板、4・・・放射状メ
タライズパターン、5・・・第3層セラミック基板、6
・・・側面メタライズパターン、7・・・チップ、8・
・・アルミナワイヤー、9・・・セラミック又は金属基
板、10・・・外部端子、11・・・光ファイバー端子
、12・・・光変調器、13・・・入力パッド、14・
・・光復調器、15・・・金属細線、16・・・出力パ
ッド、17・・・金属キャップ、18・・・シールフレ
ーム、19・・・アルミナセラミック枠。
ぞれ平面図、A−A’断面図、B−B’断面図、第4図
、第5図は本発明の第2の実施例のそれぞれ平面図とc
−c’断面図、第6図、第7図は従来構造のパッケージ
の平面図と断面図である。 1・・・第1層セラミック基板、2・・・ダイアタッチ
部、3・・・第2層セラミック基板、4・・・放射状メ
タライズパターン、5・・・第3層セラミック基板、6
・・・側面メタライズパターン、7・・・チップ、8・
・・アルミナワイヤー、9・・・セラミック又は金属基
板、10・・・外部端子、11・・・光ファイバー端子
、12・・・光変調器、13・・・入力パッド、14・
・・光復調器、15・・・金属細線、16・・・出力パ
ッド、17・・・金属キャップ、18・・・シールフレ
ーム、19・・・アルミナセラミック枠。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、複数のセラミック基板をメタライズ化し積層させて
得られる半導体装置において、ダイアタッチ部に固着さ
れたチップの電源パッドと接地パッドは、ステッチ部に
対して金属細線で接続され、信号用入出力部は、光ファ
イバーが接続された光変調器又は光復調器が接続され、
入出力信号を前記光ファイバーによって入出力を行う事
を特徴とする半導体装置。 2、前記信号用入出力部は、入出力パッドと光変復調器
駆動用電源パッドとを備え、光ファイバー端部に設けら
れた光変調器又は光復調器の端子と前記パッドとが接続
され、入出力信号を光ファイバーによって入出力を行う
特許請求の範囲第1項記載の半導体装置。 3、信号用入出力部は、拡散工程でつくられた発光ダイ
オード又は受光ダイオードによる光変調器と光復調器を
備え、前記光変調器と光復調器に光ファバー端子を接続
して入出力信号を光ファイバー端子によって入出力する
特許請求の範囲第1項記載の半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7200387A JPH0734483B2 (ja) | 1987-03-25 | 1987-03-25 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7200387A JPH0734483B2 (ja) | 1987-03-25 | 1987-03-25 | 半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63237486A true JPS63237486A (ja) | 1988-10-03 |
JPH0734483B2 JPH0734483B2 (ja) | 1995-04-12 |
Family
ID=13476808
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7200387A Expired - Lifetime JPH0734483B2 (ja) | 1987-03-25 | 1987-03-25 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0734483B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5424573A (en) * | 1992-03-04 | 1995-06-13 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor package having optical interconnection access |
US6713755B1 (en) | 1999-09-06 | 2004-03-30 | Seiko Epson Corporation | Semiconductor device including a light-receiving element and an optical transfer device |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5350464A (en) * | 1976-10-18 | 1978-05-08 | Ibm | Multilayer ceramic module structure and method of producing same |
JPS56147490A (en) * | 1980-04-17 | 1981-11-16 | Mitsubishi Electric Corp | Signal sending and receiving system of semiconductor integrated circuit |
JPS6252961A (ja) * | 1985-09-02 | 1987-03-07 | Hitachi Ltd | 半導体装置 |
JPS6381985A (ja) * | 1986-09-26 | 1988-04-12 | Hitachi Vlsi Eng Corp | 光通信可能な半導体装置 |
-
1987
- 1987-03-25 JP JP7200387A patent/JPH0734483B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5350464A (en) * | 1976-10-18 | 1978-05-08 | Ibm | Multilayer ceramic module structure and method of producing same |
JPS56147490A (en) * | 1980-04-17 | 1981-11-16 | Mitsubishi Electric Corp | Signal sending and receiving system of semiconductor integrated circuit |
JPS6252961A (ja) * | 1985-09-02 | 1987-03-07 | Hitachi Ltd | 半導体装置 |
JPS6381985A (ja) * | 1986-09-26 | 1988-04-12 | Hitachi Vlsi Eng Corp | 光通信可能な半導体装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5424573A (en) * | 1992-03-04 | 1995-06-13 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor package having optical interconnection access |
US6713755B1 (en) | 1999-09-06 | 2004-03-30 | Seiko Epson Corporation | Semiconductor device including a light-receiving element and an optical transfer device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0734483B2 (ja) | 1995-04-12 |
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