JPS63221539A - イオンビ−ム中性化装置 - Google Patents

イオンビ−ム中性化装置

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Publication number
JPS63221539A
JPS63221539A JP5591587A JP5591587A JPS63221539A JP S63221539 A JPS63221539 A JP S63221539A JP 5591587 A JP5591587 A JP 5591587A JP 5591587 A JP5591587 A JP 5591587A JP S63221539 A JPS63221539 A JP S63221539A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ion beam
neutralization
filament
directing
electrons
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5591587A
Other languages
English (en)
Inventor
Masanao Eguchi
江口 雅直
Takashi Okabe
岡部 孝
Hirohisa Yamamoto
裕久 山本
Shintaro Matsuda
信太郎 松田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP5591587A priority Critical patent/JPS63221539A/ja
Publication of JPS63221539A publication Critical patent/JPS63221539A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は半導体製造等に用いられるイオン注入装置に
適用されるイオンビームを中性化する装置に関するもの
であり、特に、イオンビームを均一に中性化することが
できるイオンビームの中性化i置に関するものである。
[従来の技術] 第3図は半導体製造時に用いられるイオン注入装置に適
用されているイオンビームを中性化する装置である。図
において、1はイオンじ一部が通過するビームライン、
2はイオンを注入されるウェハ、3はウェハを固定し回
転する回転ディスク、4は電子を発生するフィラメント
、10は電子を引出す引出電極、11は2次電子を発生
させる標的、12は2次電子をウェハ外へ押えるサプレ
ッション電極、13は2次電子である。
次に動作について説明する。従来のイオンビーム中性化
装置はフィラメントから発生した電子を、引出電極によ
って引出すとともに加速する。加速された電子let 
傾いl= 4−的に衝突し、2次電池をウェハ外へ発生
させる。この2次電子を用い、イオン注入によってプラ
スに帯電しているウェハ表面を中性化している。
[発明が解決しようとする間色点] 従来のイオンビーム中性化装置は以上のように構成され
ているので、フイラメン1へがビームラインの外側に位
置し、これから発生された1次電子を用いて2次電子を
発生させ、この2次電子を用いてウェハ面上で中性化を
行なっている。この方法では、ウェハ面内を均一に中性
化することができなかったため、チャージアップエル象
を制御することが難しいなどの問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、イオンビームの効率良い中性化が可能で、ウ
ェハ注入面上でのチャージアップ現象を押えることがで
きるイオンビーム中性化装冒を得ることを目的とする。
L問題点を解決するための手段] この発明に係るイオンビーム中性化装置は、イオンビー
ムを中性化するための電子を放出する手段と、放出され
た電子をイオンビームの経路の途中の一部に向けて指向
する手段とから構成したものである。
[作用] この発明におけるイオンビーム中性化装置は、電子を放
出する手段から放出された電子をイオンビーム経路の途
中の一部に向けて指向することによって、電子をイオン
にトラップさせ、イオンビームを中性化する。
[発明の実施例」 以Fこの発明の実施例を図について説明する。
第1図において、1はイオンビームが通過するビームラ
イン、2はウェハ、3はウェハを固定し回転する回転デ
ィスク、4は熱電子を発生する円筒状のフィラメント、
5は電子をビーム側に押出す押出電極、6は中性化の割
合を測定する誘導コイル、7はイオンビームかフィラメ
ントおよび磁場コイルに当たらないようにビームを遮断
するビームストッパ、8は電子を閉込める磁場コイル、
9はイオンビームを示す図である。
次に動作について説明する。このイオンビーム中性化%
Mはビームライン内に位置し、回転ディスクの前に固定
される。イオンビームはビームストッパによってフィラ
メントの内径よりも細かくなり、フィラメントの中を通
過する。このときフィラメントが発生した電子は、押出
電極によりイオンビームへ押され、しかも磁場によって
閉込められているためイオンと衝突し、イオンにトラッ
プされる。このようにして、イオンビームは効率良く中
性化される。この中性化の制御はビームが誘導コイルを
通過するとき流れるM導電流がOになるようにフィラメ
ント電流およびfI:i場を’ANすることによって行
なう。このイオンビーム中性化装置は中性化する電子を
ビームの周囲から発生させるため、均一にビームを中性
化することができ、しかも電子を11場で閉込めている
ため中性化が効率良く行なえる。またビーム電流の変動
に対しても、常にビームは中性に保たれるため、チャー
ジアップ現象を抑えることができる。
[発明の効果コ 以上のように、この発明によるイオンビーム中性化装置
によれば、イオンビームを中性化するための電子の発生
源であるフィラメントのような電子の放出手段を、イオ
ンビームの経路の途中の一部を囲うように円筒状にする
とともに、発生した電子をイオンビーム側へ押出すよう
に押出電極やlff[!コイルのような放出電子をイオ
ンビームの経路の途中の一部に向けて指向させる手段に
よりフィラメントのような電子放出手段の内部に閉込め
るように構成したので、イオンビームの中性化がより効
率良くかつ均一に行なえ、ウェハ面上でのチャージアッ
プ現象を解消し得るという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明におけるイオンビーム中性化装置を示
す概略断面図であり、第2図(a>は第1図4のフィラ
メントの斜視図であり、第2図<b)はフィラメントの
断面図であり、第3図は従来装置の概略断面図である。 なお第1図では図解の便宜のためフィラメントは直線で
表わしている。詳細は第2図<a >  <b >に示
しである。 図において、1はビームライン′、2はウェハ、3は回
転ディスク、4はフィラメント、5は押出電極、6は誘
導コイル、7はビームストッパ、8は磁場コイル、9は
イオンビーム、10は引出電極、11は標的、12はサ
プレッション電極、13は2次電子を示す。 なお図中、同一符号は同一、または相当部分を示す。 代理人   大  岩  増  雄 (a) 第2i1 (b)

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)イオンビームを予め定められた方向へ指向して発
    生する手段と、前記イオンビームの下流において前記イ
    オンビームを受ける部分を備えるイオン注入装置におい
    て、 前記イオンビームの経路の途中の一部を囲み、電子を放
    出する手段と、前記電子放出手段に関連して設けられ、
    前記放出電子を前記経路の途中の一部に向けて指向させ
    る手段とからなるイオンビーム中性化装置。
  2. (2)前記電子放出手段が前記イオンビーム経路の途中
    を囲むように配置される円筒状導電部材と、前記導電部
    材を加熱する手段とからなる特許請求の範囲第1項記載
    のイオンビーム中性化装置。
  3. (3)前記指向手段が前記円筒状導電部材の外側に配置
    され、前記放出電子を前記円筒状部材の中心に向けて指
    向させる第1の手段からなる特許請求の範囲第1項また
    は第2項に記載のイオンビーム中性化装置。
  4. (4)前記指向手段は、前記円筒状導電部材のイオンビ
    ーム経路に対する上流および下流に設けられ、ビームを
    中に指向させる第2の手段とからなる特許請求の範囲第
    1項ないし第3項のいずれかに記載のイオンビーム中性
    化装置。
  5. (5)前記指向手段は前記第2の指向手段のさらに上流
    に設けられて、前記イオンビームのうち前記円筒状導電
    部材の内側へ入らないイオンビームを遮断する第3の手
    段とからなる特許請求の範囲第1項ないし第4項のいず
    れかに記載のイオンビーム中性化装置。
  6. (6)前記第2の指向手段のさらに下流に設けられて、
    前記イオンビームの経路を囲むように設けられ、前記イ
    オンビームの中性化の制御をするための手段とからなる
    特許請求の範囲第1項ないし第5項のいずれかに記載の
    イオンビーム中性化装置。
JP5591587A 1987-03-10 1987-03-10 イオンビ−ム中性化装置 Pending JPS63221539A (ja)

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JP5591587A JPS63221539A (ja) 1987-03-10 1987-03-10 イオンビ−ム中性化装置

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JPS63221539A true JPS63221539A (ja) 1988-09-14

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JP5591587A Pending JPS63221539A (ja) 1987-03-10 1987-03-10 イオンビ−ム中性化装置

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JP (1) JPS63221539A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05205691A (ja) * 1992-01-27 1993-08-13 Nec Yamagata Ltd イオン注入装置
US5703375A (en) * 1996-08-02 1997-12-30 Eaton Corporation Method and apparatus for ion beam neutralization
JP2007035370A (ja) * 2005-07-25 2007-02-08 Kyoto Univ イオンビーム照射装置および半導体デバイスの製造方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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US5703375A (en) * 1996-08-02 1997-12-30 Eaton Corporation Method and apparatus for ion beam neutralization
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