JPS63218600A - 半導体用単結晶母材の熱処理方法 - Google Patents
半導体用単結晶母材の熱処理方法Info
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- JPS63218600A JPS63218600A JP5268187A JP5268187A JPS63218600A JP S63218600 A JPS63218600 A JP S63218600A JP 5268187 A JP5268187 A JP 5268187A JP 5268187 A JP5268187 A JP 5268187A JP S63218600 A JPS63218600 A JP S63218600A
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Links
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Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野」
本発明は、半導体用単結晶母材の熱処理方法に関するも
のである。
のである。
[従来の技術1
近年、半絶縁性GaAs単結晶ウェハは、超高速デバイ
ス用とじての有用性が高まっている。
ス用とじての有用性が高まっている。
しかし、GaAS単結晶ウェハの場合は、原材料のイン
ゴット組織内でのばらつき、或は、ウェハ内でのばらつ
きが大きく、この対策としてその製造方法、製造条件等
の検討や、In等の電気的に中性な不純物を添加して結
晶の無転位化を計る等の試みがなされているが、満足な
結果は得られていない。
ゴット組織内でのばらつき、或は、ウェハ内でのばらつ
きが大きく、この対策としてその製造方法、製造条件等
の検討や、In等の電気的に中性な不純物を添加して結
晶の無転位化を計る等の試みがなされているが、満足な
結果は得られていない。
現在は、母材を700℃〜1000℃で熱処理すること
により、結晶組織の均一性を大幅に改善する方法が行わ
れている。
により、結晶組織の均一性を大幅に改善する方法が行わ
れている。
この熱処理方法としては、引上法等により製造した単結
晶インゴット母材を、そのまま石英アンプルに封じ入れ
、所定時間、所定の温度に保持する方法、或は、あらか
じめ単結晶インゴット母材を所定の直径に研削後、前記
同様の処理を行う等の方法がある。
晶インゴット母材を、そのまま石英アンプルに封じ入れ
、所定時間、所定の温度に保持する方法、或は、あらか
じめ単結晶インゴット母材を所定の直径に研削後、前記
同様の処理を行う等の方法がある。
即ち、石英アンプル内に単結晶インゴット母材を投首し
た場合に石英アンプル内部を真空にした後アンプルを封
じ切る方法、或は、熱処理温度において適当なASJモ
(10Torr前浚が多い)雰囲気となるように、あら
かじめ所定のAS源を石英アンプル内に入れた後アンプ
ルを封じ切る方法、又は、石英アンプルを開放状態にし
ておぎ、不活性ガスを常に流しながら行う方法等で熱処
理が行われる。
た場合に石英アンプル内部を真空にした後アンプルを封
じ切る方法、或は、熱処理温度において適当なASJモ
(10Torr前浚が多い)雰囲気となるように、あら
かじめ所定のAS源を石英アンプル内に入れた後アンプ
ルを封じ切る方法、又は、石英アンプルを開放状態にし
ておぎ、不活性ガスを常に流しながら行う方法等で熱処
理が行われる。
[発明が解決しようとする問題点]
上記従来の技術により単結晶インゴット母材を熱処理し
た場合には次のような欠点が生じる。即ち、単結晶イン
ゴット母材の外周を加工せずに熱処理を行った場合は、
その洗浄作業が困難なばかりで1.7 <、製作された
ウェハはその周辺部の特性が著しく劣化することがある
。又、単結晶インゴット母材の外径を所定の直径に研削
した場合は、洗浄作業が容易であり作業も安定するが、
製作されたウェハの周辺部の特性はやはり劣化し、再加
工を要することとなる。従って、研削作業が2度必要な
ばかりではなくウェハサイズが縮少する等の為問題とな
っていた。
た場合には次のような欠点が生じる。即ち、単結晶イン
ゴット母材の外周を加工せずに熱処理を行った場合は、
その洗浄作業が困難なばかりで1.7 <、製作された
ウェハはその周辺部の特性が著しく劣化することがある
。又、単結晶インゴット母材の外径を所定の直径に研削
した場合は、洗浄作業が容易であり作業も安定するが、
製作されたウェハの周辺部の特性はやはり劣化し、再加
工を要することとなる。従って、研削作業が2度必要な
ばかりではなくウェハサイズが縮少する等の為問題とな
っていた。
本発明の目的は、上記問題点を解決し、安定した熱処理
作業ができるとともに、周辺部に特性劣化のないウェハ
を製作可能にする半導体用単結晶母材の熱処理方法を提
供するにある。
作業ができるとともに、周辺部に特性劣化のないウェハ
を製作可能にする半導体用単結晶母材の熱処理方法を提
供するにある。
[問題点を解決するための手段]
上記目的は、単結晶母材を、該単結晶母材と同種の材料
からなる熱処理用外被治具により被覆状態にしてアンプ
ル内に設置し、該アンプルの外側から加熱する熱処理方
法を行うことにより達成される。
からなる熱処理用外被治具により被覆状態にしてアンプ
ル内に設置し、該アンプルの外側から加熱する熱処理方
法を行うことにより達成される。
[作 用]
本発明では、アンプル内に設置される単結晶母材が、該
単結晶母材と同種の材料の熱処理用外被治具により被覆
状態で加熱されるため、前記単結晶母材の外側周辺は同
種の材料により封じ込められた状態となって加熱される
ので材質的変化を生じない、従って、熱処理後の単結晶
母材から製作されたウェハは、その周辺部に特性劣化を
生ずることなく組織は均一性が保たれている。
単結晶母材と同種の材料の熱処理用外被治具により被覆
状態で加熱されるため、前記単結晶母材の外側周辺は同
種の材料により封じ込められた状態となって加熱される
ので材質的変化を生じない、従って、熱処理後の単結晶
母材から製作されたウェハは、その周辺部に特性劣化を
生ずることなく組織は均一性が保たれている。
[実 施 例]
図は本発明の一実施例の半導体用単結晶母材の熱処理方
法を実施する装置の断面図で、1は加熱ヒータ、2は石
英製反応管、3は反応管接続部、4は反応管ふた、5.
5′は石英製スペーサ、6は石英アンプル、7は熱処理
用外被治具、8は単結晶インゴット母材である。
法を実施する装置の断面図で、1は加熱ヒータ、2は石
英製反応管、3は反応管接続部、4は反応管ふた、5.
5′は石英製スペーサ、6は石英アンプル、7は熱処理
用外被治具、8は単結晶インゴット母材である。
この装置により、直径50#の半絶縁GaAS単結晶ウ
ェハを製作するための単結晶母材を得る熱処理方法につ
いて説明する。
ェハを製作するための単結晶母材を得る熱処理方法につ
いて説明する。
アンドープのGaAs単結晶インゴット母材8は、6N
又は7Nの原料から通常のLEC法により引き上げられ
、その後外周研削により外径が521Mに加工される。
又は7Nの原料から通常のLEC法により引き上げられ
、その後外周研削により外径が521Mに加工される。
その後王水により加二[面がエツチングされ、寸分な水
洗後乾燥して保管される。
洗後乾燥して保管される。
一方、上記と同種のアンドープGaAs単結晶の6N又
は7Nの原料から製造された熱処理用外被治具7を、そ
の内径が52MI外径が76amの円筒形状に加工し、
上記同様の洗浄処理を行なって保管した。
は7Nの原料から製造された熱処理用外被治具7を、そ
の内径が52MI外径が76amの円筒形状に加工し、
上記同様の洗浄処理を行なって保管した。
そして熱処理操作に当っては、図に示すように、単結晶
インゴット母材8を熱処理用外被治具7内に挿入し一体
化して石英アンプル6内に石英スペーサ5′を介して設
置した。又、熱処理温度において10 T o r r
前後のAs圧が加わるように秤量された金11ASを同
様に石英アンプル6内に入れ、石英アンプル6内をAr
ガスで十分に置換し、2X10’Torr以)の高真空
度に排気して石英アンプル6の両端を封じ切った。
インゴット母材8を熱処理用外被治具7内に挿入し一体
化して石英アンプル6内に石英スペーサ5′を介して設
置した。又、熱処理温度において10 T o r r
前後のAs圧が加わるように秤量された金11ASを同
様に石英アンプル6内に入れ、石英アンプル6内をAr
ガスで十分に置換し、2X10’Torr以)の高真空
度に排気して石英アンプル6の両端を封じ切った。
この状態の石英アンプル6を、石英スペーサ5を介して
加熱用の石英反応管2内に設けし、反応管ふた4で封じ
、この石英反応管2内にArガスをゆるやかに流しなが
ら加熱ヒータ1により、所定のプログラムに従って加熱
処理を施した。この場合の代表的な処理条件は、950
℃で12時間〜24時間である。そして、このときの昇
降温プログラムは特に重要であり、単結晶インゴット母
材8と熱処理用外被治具7の内外部の温度差が、過敏な
ストレスを単結晶インゴット母材8に与えないように注
意する必要がある。
加熱用の石英反応管2内に設けし、反応管ふた4で封じ
、この石英反応管2内にArガスをゆるやかに流しなが
ら加熱ヒータ1により、所定のプログラムに従って加熱
処理を施した。この場合の代表的な処理条件は、950
℃で12時間〜24時間である。そして、このときの昇
降温プログラムは特に重要であり、単結晶インゴット母
材8と熱処理用外被治具7の内外部の温度差が、過敏な
ストレスを単結晶インゴット母材8に与えないように注
意する必要がある。
熱処理終了後は、石英アンプル6を開封し、熱処理用外
被治具7を取り出してその内部から単結晶インゴット母
材8を抜き取る。この単結晶インゴット母材8を所定の
厚さにスライスして得られたウェハの外周を、ベベリン
グを付けながら外径50m+に仕上げる。このウェハの
表面と裏面とをラップ研磨により仕上げて製品ウェハと
した。
被治具7を取り出してその内部から単結晶インゴット母
材8を抜き取る。この単結晶インゴット母材8を所定の
厚さにスライスして得られたウェハの外周を、ベベリン
グを付けながら外径50m+に仕上げる。このウェハの
表面と裏面とをラップ研磨により仕上げて製品ウェハと
した。
この実施例において使用したアンドープGaΔS単結品
の熱処理用外被治具7は、洗浄して再使用が可能である
。このように単結晶インゴット母材8と熱処理用外被治
具7とを特に密着−・体化することにより、外周部から
の熱応力或は雰囲気からの汚染等もより良く防止されて
、ウェハ全面にわたって劣化の少ない組織の均一なウェ
ハが得られる。
の熱処理用外被治具7は、洗浄して再使用が可能である
。このように単結晶インゴット母材8と熱処理用外被治
具7とを特に密着−・体化することにより、外周部から
の熱応力或は雰囲気からの汚染等もより良く防止されて
、ウェハ全面にわたって劣化の少ない組織の均一なウェ
ハが得られる。
尚、熱処理用外被治具7は、単結晶インゴット母材8を
挿入後、その両端を同材質の包囲治具により封じること
により、内部の単結晶インゴット母材8の長手方向の特
性変化を少なくできる効果がある。
挿入後、その両端を同材質の包囲治具により封じること
により、内部の単結晶インゴット母材8の長手方向の特
性変化を少なくできる効果がある。
[発明の効果1
以上説明したように、本発明によれば、単結晶母材の熱
処理には、再使用可能に熱処理用外被治具が用いられ、
周辺部に特性劣化のないウェハを経済的に製作できる半
導体用単結晶母材を、安定した熱処理操作により得るこ
とができるという工業的に優れた効果を奏することがで
きる。
処理には、再使用可能に熱処理用外被治具が用いられ、
周辺部に特性劣化のないウェハを経済的に製作できる半
導体用単結晶母材を、安定した熱処理操作により得るこ
とができるという工業的に優れた効果を奏することがで
きる。
図は本発明の一実施例の半導体用単結晶母材の熱処理方
法を実施する装置の断面図である。 1:加熱ヒータ、 2:石英製反応管、 6:石英アンプル、 7:熱処理用外被治具、 8:単結晶インゴット母材。
法を実施する装置の断面図である。 1:加熱ヒータ、 2:石英製反応管、 6:石英アンプル、 7:熱処理用外被治具、 8:単結晶インゴット母材。
Claims (1)
- (1)半導体用単結晶母材をアンプル内に設置し、該ア
ンプルの外側から加熱して前記単結晶母材を熱処理する
前記半導体用単結晶母材の熱処理方法において、前記単
結晶母材を、該単結晶母材と同種の材料からなる熱処理
用外被治具により被覆状態にして前記アンプル内に設置
し、該アンプルの外側から加熱することを特徴とする半
導体用単結晶母材の熱処理方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5268187A JPS63218600A (ja) | 1987-03-06 | 1987-03-06 | 半導体用単結晶母材の熱処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5268187A JPS63218600A (ja) | 1987-03-06 | 1987-03-06 | 半導体用単結晶母材の熱処理方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63218600A true JPS63218600A (ja) | 1988-09-12 |
Family
ID=12921626
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5268187A Pending JPS63218600A (ja) | 1987-03-06 | 1987-03-06 | 半導体用単結晶母材の熱処理方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63218600A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012011373A1 (ja) | 2010-07-22 | 2012-01-26 | 日本結晶光学株式会社 | 蛍石の製造方法 |
-
1987
- 1987-03-06 JP JP5268187A patent/JPS63218600A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012011373A1 (ja) | 2010-07-22 | 2012-01-26 | 日本結晶光学株式会社 | 蛍石の製造方法 |
US9322954B2 (en) | 2010-07-22 | 2016-04-26 | Nihon Kessho Kogaku Co., Ltd. | Fluorite production method |
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