JPS63201502A - 容量型ひずみゲ−ジ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は容量型ひずみゲージ（変位計）に係り、特に、
高温環境で使用する際に、ひずみゲージの自重によりひ
ずみゲージ接触子先端部がクリープ変形することを防止
するのに好適な容量型ひずみゲージに関する。

〔従来の技術〕

従来の容量型ひずみゲージは１日本機械学会日立地方講
演会講演論文集（１９８４−９−２７）Ｐ　７の図３に
記載のように、ゲージベースは板状構造となっている。

ゲージベースは接触子を介し被測定物にスポット溶接で
設置することから、金属構造となっており、高温環境で
使用する点からも他の物質に置き換えることは困難であ
る。

〔発明が解決しようとする問題点〕

従来技術では容量型ひずみゲージを高温環境で使用する
際、しかも長期間にわたって使用する場合、被測定物に
ゲージ接触子をスポット溶接している端部でのクリープ
変形について考慮がなされておらず、ひずみゲージ自重
によるクリープ変形が生じていた。

本発明の目的はゲージ本体の重量を軽減し、ひずみゲー
ジを高温で長期間使用しても、ゲージ取付は部でクリー
プ変形が生じることを防止することにある。

〔問題点を解決するための手段〕

上記目的はゲージベースをフレーム構造とすることによ
り、ゲージの剛性を低下することなく、重量を軽減する
ことにより達成される。

〔作用〕

ひずみゲージベース１は電極板３を支える剛性をもつ必
要がある。また、支点板４をゲージベース１に接触子５
を被測定物にスポット溶接等によりそれぞれ取付ける構
造上金属が望ましい。金属は板状にした場合、重量が大
となり、特に、高温で長期間使用した場合、接触子５の
先端部で自重による荷重でクリープ変形が生じる可能性
が出てくる。本発明ではゲージベース１をフレーム構造
として、ゲージの重量を軽減し、しかも、ゲージの剛性
低下を防止している。

〔実施例〕

本発明の一実施例を第１図に示す。容量型ひずみゲージ
は被測定物１０の標点間距離Ｇ−Ｌの変形を二つの電極
板３の間の電気容量変化を利用して測定するものであり
、接触子５はスポット溶接で固定する。ゲージベース１
は接触子５の剛性を引き継ぎ電極板３を支える剛性をも
つ必要がある。

本発明はゲージベース１が従来、第２図に示すように、
板状であったものを第１図に示すように、フレーム状と
し、剛性低下はできる限り小さくし、重量のみを大幅低
減する構造としたものである。

本発明のフレーム構造とすることにより、高温環境中で
長期間にわたってひずみ計測する場合、接触子５の先端
でのひずみゲージの自重によるクリープ変形の発生を防
止することができる。従って高温でのひずみ値の信頼性
の向上がはかれる効果がある。ゲージベース１のフレー
ム構造は溶接タイプと板状ゲージベース１を放電加工に
より、フレーム状に加工する方法等があるが、本発明で
は後者の加工法による製作を行なって、ゲージベースの
加工変形を防止した。

図中２は絶縁体、６は電極ワイヤ、７は絶縁ケーブル、
８は容量アンプ、９は記録計である６〔発明の効果〕 本発明によれば、容量形ひずみゲージの重量が大幅に軽
減でき、しかも、剛性はあまり低下することがない。そ
のため、高温で長期間ひずみ計測する際に接触子先端で
生じる可能性のあるクリープ変形の発生が防げる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明のフレーム構造のゲージベースを有する
容量型ひずみゲージの斜視図、第２図は従来構造の容量
型ひずみゲージの一例を示す正面図、第３図は容量型ひ
ずみゲージを被測定物に取付け、測定している状態を示
す図である。 １、・・ゲージベース、２・・・絶縁体、３・・・電極
板、４・・・支点板、５・・接触子、６・・・電極ワイ
ヤ、７・・・絶縁ケーブル、８・・・容量アンプ、９・
・記録計、１０？ｌ／　　記 ！

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、対向する二枚の電極板間の電気容量変化を利用して
   二点間のひずみを計測するクリップ型ひずみゲージにお
   いて、 ゲージ本体をフレーム構造体とすることを特徴とする容
   量型ひずみゲージ。